WO2003106918A2 - Oberflächenmessvorrichtung und verfahren zur mechanischen sowie berührungslosen-optischen untersuchung von objektoberflächen - Google Patents

Oberflächenmessvorrichtung und verfahren zur mechanischen sowie berührungslosen-optischen untersuchung von objektoberflächen

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WO2003106918A2
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    • G01Q20/02—Monitoring the movement or position of the probe by optical means

Definitions

  • the invention relates to a surface measuring device for mechanical and non-contact optical examination of object surfaces with a probe for mechanical measurement.
  • the invention further relates to methods for the mechanical and non-contact optical examination of object surfaces with such a surface measuring device.
  • the geometry of objects can be examined contactlessly using a wide variety of measurement methods or mechanically using sensors that interact with the surface of the object to be examined.
  • a combined mechanical and non-contact optical measuring device is known from US Pat. No. 5,955,661, in which an optical profilometer is integrated in a device together with a mechanical profilometer. By moving the object to be examined or the measuring head to the side or by exchanging the measuring heads, it is possible to switch between the non-contact optical and the mechanical measuring mode.
  • An object surface can thus be examined relatively quickly using the non-contact optical method, and critical areas of the object surface can later be measured relatively precisely using the mechanical measuring method.
  • a surface measuring device for examining object surfaces in which a spectrographic analysis with a non-contact optical or mechanical measurement is linked.
  • the measurement result can be improved by correlating the topographical information from the non-contact optical or mechanical measurement with an associated spectrographic information, for example from a Raman filter.
  • WO 99/53268 describes a surface measuring device for non-contact optical and mechanical measurement of object surfaces, in which the focus of a lens zoom lens is set either on the surface to be examined for non-contact optical measurement or on a probe element for mechanical measurement.
  • the lens groups are shifted axially. Switching between the measurement modes is relatively time-consuming and inaccurate.
  • the measuring head with the lens groups is relatively large.
  • the object of the invention was therefore to provide an improved surface measuring device for the mechanical and non-contact optical examination of object surfaces, which can be designed with a relatively compact measuring head and a quick and precise change between the two measuring modes, namely the mechanical and the non-contact optical Measurement allowed.
  • the object is achieved with the generic surface measuring device according to the invention by a mirror and / or lens arrangement for focusing light beams in such a way that the focal point of the light beams formed by the mirror and / or lens arrangement is either on the probe for mechanical measurement or on the surface to be examined can be adjusted for non-contact optical measurement.
  • a mirror or equivalent lens arrangement whose focus can be set either on the probe or on the surface to be examined, the measuring head can be made very compact. It has also turned out that the focus of a mirror or lens arrangement can be adjusted precisely and quickly.
  • the light beams focused on the probe penetrate the probe and exit locally at a tip of the probe, a local optical examination of the surface can take place. After an interaction with the surface to be examined, the light rays can be collected and evaluated again through the tip of the probe (e.g. according to the type of optical near-field microscopy).
  • the mirror or lens arrangement is preferably mounted such that it can be tilted by an actuator, the tilting being effected, for example, by piezo actuators or electric motors.
  • the storage and tilting of the mirror or lens arrangement by means of piezo actuators has the advantage that they can be adjusted with high precision and are relatively insensitive to wear.
  • the lens arrangement or individual lenses thereof can also be displaceable in the direction of the axis of the mirror or lens arrangement on which the focus lies in order to adjust the focus.
  • the focal point is set with means for adjusting the angle of incidence of the light beams on the mirror or lens arrangement.
  • the light beam should be as close as possible to the axis in the direction of the axis of the mirror or lens arrangement. be judged.
  • the focus can then be shifted laterally onto the probe for mechanical measurement.
  • the focal point can also be set by adjusting the divergence or convergence of the light beams directed onto the mirror or lens arrangement.
  • an image field is illuminated in the measurement plane. It is thus possible to carry out an imaging or simultaneous examination of the larger area of the surface. Imaging methods with, for example, interferential evaluation can be used for the simultaneous examination of the surface. In addition, the probe and the measurement object can be observed at the same time.
  • the illumination of an image field and the generation of a focus point can also be carried out simultaneously, for example, by using different radiation sources and / or beam paths (divergent or convergent and parallel beams).
  • mirror and lens optics can be regarded as equivalent. Even with lens optics, switching between the measurement modes e.g. B. by tilting the optics, tilting the beams, or by focusing / defocusing.
  • the mirror or lens arrangement and the probe are preferably arranged in a compact measuring head.
  • a compact measuring head can advantageously, in contrast to a lens arrangement, can be realized by the mirror or lens arrangement, the focus of which can be adjusted.
  • the probe can also be provided for the mechanical processing of the surface to be examined.
  • Another object of the invention was to provide an improved method for the mechanical and non-contact optical examination of object surfaces.
  • the object is achieved with the generic method according to the invention by adjusting the focal point of the mirror or lens arrangement on the probe for mechanical measurement or on the surface to be examined for non-contact optical measurement.
  • FIG. 1 a - surface measuring device with a mirror displaced vertically in the direction of the axis of the mirror arrangement with a focal point on a probe for mechanical measurement;
  • FIG. 1 b surface measuring device from FIG. 1 a with a mirror displaced vertically in the direction of the axis of the mirror arrangement with a focal point on the object surface;
  • FIG. 2 surface measuring device with tiltable mirror arrangement for setting the focal point
  • Figure 3 Surface measuring arrangement with variable angle of incidence of the light beams for setting the focal point.
  • FIGS. 1 a and 1 b show schematic representations of a surface measuring device, with which object surfaces 1 are optionally available using contactless optical measuring methods known per se or mechanical ones
  • Measuring methods can be examined.
  • the roughness, waviness and the shape of the object surface 1 can be determined.
  • scanning force, scanning tunnel or near-field microscopes or other known profilometers or coordinate measuring devices with a probe 2 can be used for the mechanical measurement.
  • the probe 2 does not necessarily have to be designed as a tip on a bar and aligned horizontally, but can also be, for example, as Stylus to be designed with a ball.
  • quartz crystals with measuring tips can also be used.
  • the probe 2 can also be provided for mechanical processing of the object surface to be examined.
  • a light beam 3 is focused either on the object surface 1 or on the probe 2 via a mirror arrangement 4a, 4b.
  • a mirror arrangement 4a, 4b For this purpose, at least one of the mirrors 4a or 4b of the mirror arrangement 4 can be displaced along the arrow direction in the direction of the axis X of the mirror arrangement 4.
  • FIG. 1 b the focal point for non-contact optical measurement is directed onto the object surface 1.
  • FIG. 1 a shows the measurement mode in which the focus point on the probe 2 for mechanical measurement is set, in which the mirror 4 a of the mirror arrangement 4 has been moved downward in the X direction.
  • the design of the profilometer for mechanical or non-contact optical measurement and the evaluation of the measurement data for determining the object surface 1 are sufficiently known and will not be explained further.
  • the mirror optics according to the invention with axial movement of one of the mirrors 4a, 4b enable a rapid variation of the focus position, as is used in dynamic microscopy and profilometry methods (confocal microscopy, laser focus sensors, etc.).
  • FIG. 2 shows another embodiment of the surface measuring device with an actuator that can be tilted transversely to the axis of the mirror arrangement 4 recognize mirror 4a stored. It becomes clear that by tilting the mirror 4a by the angle ⁇ , the focus point F ⁇ can be shifted from the object surface 1 to a focus point F 2 , which lies on the probe head 2.
  • the tilting of the mirror 4a can, for example, be carried out with high precision using piezo actuators.
  • the mirror 4a can also be mounted on electric motors and can be tilted by them.
  • mirror 4b is tilted in addition to the mirror 4a or instead of the mirror 4a.
  • the mirrors 4a, 4b can also have a multiplicity of individually adjustable mirror elements.
  • FIG. 3 shows a further embodiment of the surface measuring device according to the invention, in which the focus point is set either on the object surface 1 or on the probe head 2 by adjusting the angle of incidence of the light beams 3.
  • the movement of the probe 2 on the object surface 1 can be detected, for example, via the quadrant photodiode 5.
  • the unit shown consisting of mirror arrangement 4 and probe 2 can be installed, for example, in the turret of a conventional optical microscope instead of an objective.
  • larger object surfaces in particular can first be examined relatively quickly using the non-contact optical measurement method.
  • scattered light methods can also be used on a larger surface.
  • Detected irregularities can then be analyzed more precisely using the more precise mechanical measuring method.
  • submicroscopic defects on extensive, curved or planar surfaces such as. B. ultra-precise surfaces of mirrors or optics can be examined relatively quickly and precisely.
  • the roughness in trenches and on plateaus can be determined locally using the mechanical measuring method (e.g. scanning probe microscopy mode), with the orientation and positioning of the measuring head on the component With the help of the non-contact optical measurement method.
  • the mechanical measuring method e.g. scanning probe microscopy mode

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Abstract

Eine Oberflächenmessvorrichtung zur mechanischen sowie berührungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen mit einem Tastkopf (2) zur mechanischen Messung hat eine Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) zur Fokussierung von Lichtstrahlen (3) derart, dass der Fokuspunkt (F) der von der Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) gebündelten Lichtstrahlen (3) wahlwei­se entweder auf den Tastkopf (2) zur Messung der Position oder Verlagerung des Tastkopfes (2) zur mechanischen Messung oder auf die zu untersuchende Objektoberfläche (1) zur berührungslosen-optischen Messung einstellbar ist.

Description

Oberflächenmessvorrichtung und Verfahren zur mechanischen sowie beruhrungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen
Die Erfindung betrifft eine Oberflächenmessvorrichtung zur mechanischen sowie beruhrungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen mit einem Tastkopf zur mechanischen Messung.
Die Erfindung betrifft weiterhin Verfahren zur mechanischen sowie zur beruhrungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen mit einer solchen Oberflächenmessvorrichtung.
Die Untersuchung der Geometrie von Objekten kann mit verschiedensten Messmethoden berührungslos oder mechanisch mit Sensoren, die in einer Kraftwechselwirkung mit der zu untersuchenden Objektoberfläche stehen, erfolgen.
In der DE 199 47 287 A1 ist ein Rastersondenmikroskop zur mechanischoptischen Messung von Objektoberflächen beschrieben, bei der eine Spiegeloptik auf eine Messspitze fokussiert ist, die in Kontakt mit der zu untersu- chenden Objektoberfläche steht. Die Spiegeloptik sowie die Messspitze sind in einem Wechselobjektiv eingebaut. Mit Hilfe der fokussierenden Optik kann Strahlung in die Messspitze eingekoppelt werden, aber nicht die Position oder Bewegung der Messspitze gemessen werden.
Ebenfalls sind in den US-Patenten 5,641 ,896 und 5, 138, 1 59 Rastersondenmikroskope beschrieben, bei denen die Fokussierung von Lichtstrahlen auf eine Messspitze mit Spiegelanordnungen erfolgt. Derartige Mikroskope sind relativ genau. Die Messgeschwindigkeit ist jedoch nachteilig eingeschränkt. Zudem ist die Abtastung von elastischem oder weichem Material nur begrenzt möglich. Daher sind auch separate optische Profilometer verfügbar, mit denen Objektoberflächen berührungslos untersucht werden können.
Aus dem US-Patent 5,955,661 ist ein kombiniertes mechanisches und berüh- rungsloses-optisches Messgerät bekannt, bei dem ein optisches Profilometer zusammen mit einem mechanischen Profilometer in einem Gerät integriert sind. Durch seitliches Verschieben des zu untersuchenden Objektes oder des Messkopfes oder durch Austausch der Messköpfe kann zwischen dem beruhrungslosen-optischen und dem mechanischen Messmodus gewechselt werden.
Damit kann eine Objektoberfläche durch das berührungslose-optische Verfahren relativ schnell untersucht werden und kritische Bereiche der Objektoberfläche später relativ genau durch das mechanische Messverfahren vermessen werden.
Weiterhin ist aus der WO 92/22805 eine Oberflächenmessvorrichtung zur Untersuchung von Objektoberflächen bekannt, bei dem eine spektrographische Analyse mit einer beruhrungslosen-optischen oder mechanischen Messung verknüpft wird. Durch Korrelation der topographischen Informationen aus der beruhrungslosen-optischen oder mechanischen Messung mit einer zugehörigen spektrographischen Information bspw. aus einem Raman-Filter kann das Messergebnis verbessert werden.
Weiterhin ist in der WO 99/53268 eine Oberflächenmessvorrichtung zur beruhrungslosen-optischen und mechanischen Messung von Objektoberflächen beschrieben, bei der der Fokus einer Linsen-Zoomoptik entweder auf die zu untersuchende Oberfläche zur beruhrungslosen-optischen Messung oder auf ein Tastelement zur mechanischen Messung eingestellt wird. Hierzu werden die Linsengruppen axial verschoben. Der Wechsel zwischen den Messmodi ist hierbei relativ zeitaufwändig und ungenau. Zudem ist der Messkopf mit den Linsengruppen relativ groß.
Aufgabe der Erfindung war es daher, eine verbesserte Oberflächenmessvorrichtung zur mechanischen sowie beruhrungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen zu schaffen, die mit einem relativ kompakten Messkopf ausgebildet werden kann und einen schnellen und präzisen Wechsel zwischen den beiden Messmodi, nämlich der mechanischen und der berührungslosen- optischen Messung erlaubt.
Die Aufgabe wird mit der gattungsgemäßen Oberflächenmessvorrichtung erfindungsgemäß gelöst durch eine Spiegel- und/oder Linsenanordnung zur Fo- kussierung von Lichtstrahlen derart, dass der Fokuspunkt der von der Spiegel- und/oder Linsenanordnung gebildeten Lichtstrahlen wahlweise entweder auf den Tastkopf zur mechanischen Messung oder auf die zu untersuchende Oberfläche zur beruhrungslosen-optischen Messung einstellbar ist. Durch die Verwendung einer Spiegel- bzw. gleichwirkenden Linsenanordnung deren Fokus entweder auf den Tastkopf oder auf die zu untersuchende Oberfläche einstellbar ist, kann der Messkopf sehr kompakt ausgebildet sein. Zudem hat sich herausgestellt, dass der Fokus einer Spiegel- oder Linsenanord- nung präzise und schnell justierbar ist.
Wenn die auf den Tastkopf fokussierten Lichtstrahlen den Tastkopf durchdringen und an einer Spitze des Tastkopfes lokal austreten kann eine lokale optische Untersuchung der Oberfläche erfolgen. Dabei können die Lichtstrahlen nach einer Wechselwirkung mit der zu untersuchenden Oberfläche durch die Spitze des Tastkopfes wieder eingesammelt und ausgewertet werden (z.B. nach Art der optischen Nahfeldmikroskopie).
Die Spiegel- bzw. Linsenanordnung ist vorzugsweise aktorisch kippbar gela- gert, wobei die Verkippung beispielsweise durch Piezoaktoren oder Elektromotoren erfolgt. Die Lagerung und Verkippung der Spiegel- bzw. Linsenanordnung durch Piezoaktoren hat den Vorteil, dass diese hoch präzise einstellbar und relativ verschleißunempfindlich sind.
Die Spiegelanordnung oder einzelne Spiegel davon oder eine gleichwirkende
Linsenanordnung oder einzelne Linsen davon können aber auch in Richtung der Achse der Spiegel- oder Linsenanordnung, auf der der Fokus liegt, verschiebbar sein, um den Fokus einzustellen.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Fokuspunkt mit Mitteln zur Einstellung des Einstrahlwinkels der Lichtstrahlen auf die Spiegel- oder Linsenanordnung eingestellt wird. Bei der optischen Messung sollte der Lichtstrahl möglichst achsennah in Richtung der Achse der Spiegel- oder Linsenanordnung ausge- richtet sein. Durch Verkippung des Einfallwinkels des Lichtstrahls kann zur mechanischen Messung der Fokus dann seitlich auf den Tastkopf verlagert werden.
Der Fokuspunkt kann allerdings auch durch Einstellung der Divergenz oder Konvergenz der auf die Spiegel- oder Linsenanordnung gerichteten Lichtstrahlen eingestellt werden.
Durch Einstellung der Divergenz oder Konvergenz der auf die Spiegel- oder Lin- senanordnung gerichteten Lichtstrahlen kann auch erreicht werden, dass in der Messebene ein Bildfeld ausgeleuchtet wird. So ist es möglich, eine Abbildung oder simultane Untersuchung des größeren Bereiches der Oberfläche durchzuführen. Zur simultanen Untersuchung der Oberfläche können bildgebende Verfahren mit beispielsweise interferentieller Auswertung eingesetzt werden. Zu- sätzlich können der Tastkopf und das Messobjekt gleichzeitig beobachtet werden. Die Ausleuchtung eines Bildfeldes und die Erzeugung eines Fokuspunktes kann zum Beispiel durch die Verwendung unterschiedlicher Strahlungsquellen und/oder Strahlgänge (divergente oder konvergente sowie parallele Strahlen) auch simultan erfolgen.
Zumindest im sichtbaren Spektralbereich sind Spiegel- und Linsenoptiken als gleichwertig anzusehen. Auch mit Linsenoptiken kann ein Umschalten zwischen den Messmodi z. B. durch Kippung der Optik, Kippung der Strahlen, oder durch Fokussierung/Defokussierung realisiert werden.
Die Spiegel- oder Linsenanordnung und der Tastkopf sind vorzugsweise in einem kompakten Messkopf angeordnet. Ein solcher kompakter Messkopf kann vorteilhafterweise im Unterschied zu einer Linsenanordnung durch die Spiegeloder Linsenanordnung realisiert werden, deren Fokus einstellbar ist.
Der Tastkopf kann zusätzlich zur mechanischen Bearbeitung der zu untersu- chenden Oberfläche vorgesehen sein.
Aufgabe der Erfindung war es weiterhin, ein verbessertes Verfahren zur mechanischen sowie zur beruhrungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen zu schaffen.
Die Aufgabe wird mit dem gattungsgemäßen Verfahren erfindungsgemäß gelöst durch Einstellung des Fokuspunktes der Spiegel- oder Linsenanordnung auf den Tastkopf zur mechanischen Messung oder auf die zu untersuchende Oberfläche zur beruhrungslosen-optischen Messung.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Figur 1 a - Oberflächenmessvorrichtung mit vertikal in Richtung der Achse der Spiegelanordnung verschobenem Spiegel mit Fokuspunkt auf einem Tastkopf zur mechanischen Messung;
Figur 1 b - Oberflächenmessvorrichtung aus der Figur 1 a mit vertikal in Richtung der Achse der Spiegelanordnung verschobenem Spiegel mit Fokuspunkt auf der Objektoberfläche;
Figur 2 - Oberflächenmessvorrichtung mit verkippbarer Spiegelanordnung zur Einstellung des Fokuspunktes;
Figur 3 - Oberflächenmessanordnung mit veränderlichem Einstrahlwinkel der Lichtstrahlen zur Einstellung des Fokuspunktes.
Die Figuren 1 a und 1 b lassen schematische Darstellungen einer Oberflächenmessvorrichtung erkennen, mit der Objektoberflächen 1 wahlweise mit an sich bekannten beruhrungslosen-optischen Messverfahren oder mechanischen
Messverfahren untersucht werden können. Dabei kann die Rauigkeit, Welligkeit und die Form der Objektoberfläche 1 bestimmt werden. Für die mechanische Messung können beispielsweise Rasterkraft-, Rastertunnel- oder Nahfeldmikroskope oder andere bekannte Profilometer oder Koordinatenmessgerä- te mit einem Tastkopf 2 eingesetzt werden.
Der Tastkopf 2 muss nicht zwangsläufig als Spitze an einem Balken ausgeführt und horizontal ausgerichtet sein, sondern kann auch beispielsweise als Taststift mit Tastkugel ausgebildet sein. Beispielsweise sind auch Schwingquarze mit Messspitzen einsetzbar. Der Tastkopf 2 kann zusätzlich auch zur mechanischen Bearbeitung der zu untersuchenden Objektoberfläche vorgesehen sein.
Für die Messung wird ein Lichtstrahl 3 über eine Spiegelanordnung 4a, 4b wahlweise entweder auf die Objektoberfläche 1 oder auf den Tastkopf 2 fo- kussiert. Hierzu ist mindestens einer der Spiegel 4a oder 4b der Spiegelanordnung 4 entlang der Pfeilrichtung in Richtung der Achse X der Spiegelanord- nung 4 verschiebbar.
In der Figur 1 b ist der Fokuspunkt zur beruhrungslosen-optischen Messung auf die Objektoberfläche 1 gerichtet. Hingegen ist in der Figur 1 a der Messmodus dargestellt, in dem der Fokuspunkt auf den Tastkopf 2 zur mechanischen Mes- sung eingestellt ist, in dem der Spiegel 4a der Spiegelanordnung 4 in X- Richtung nach unten verfahren worden ist.
Die Ausgestaltung der Profilometer zur mechanischen bzw. beruhrungslosen- optischen Messung sowie die Auswertung der Messdaten zur Bestimmung der Objektoberfläche 1 ist hinreichend bekannt und wird nicht weiter erläutert.
Durch die erfindungsgemäße Spiegeloptik mit axialer Bewegung eines der Spiegel 4a, 4b ist eine schnelle Variation der Fokusposition möglich, wie sie bei dynamischen Mikroskopie- und Profilometrieverfahren eingesetzt wird (kon- fokale Mikroskopie, Laserfokussensoren, etc.).
Die Figur 2 lässt eine andere Ausführungsform der Oberflächenmessvorrichtung mit einem aktorisch quer zur Achse der Spiegelanordnung 4 verkippbar gelagerten Spiegel 4a erkennen. Es wird deutlich, dass durch Verkippen des Spiegels 4a um den Winkel α der Fokuspunkt F^ von der Objektoberfläche 1 zu einem Fokuspunkt F2 verlagert werden kann, der auf dem Tastkopf 2 liegt. Die Verkippung des Spiegels 4a kann beispielsweise mit Piezoaktoren hochgenau erfolgen. Alternativ hierzu kann der Spiegel 4a auch an Elektromotoren gelagert und durch diese verkippbar sein.
Es ist auch denkbar, dass zusätzlich zu dem Spiegel 4a oder anstelle des Spiegels 4a der Spiegel 4b verkippt wird. Die Spiegel 4a, 4b können auch eine Vielzahl einzeln verstellbarer Spiegelelemente haben.
Die Figur 3 lässt eine weitere Ausführungsform der erfindungsgemäßen Oberflächenmessvorrichtung erkennen, bei der der Fokuspunkt durch Einstellung des Einstrahlwinkels der Lichtstrahlen 3 entweder auf die Objektoberfläche 1 oder auf den Tastkopf 2 eingestellt wird.
Es wird deutlich, dass durch Verkippen des Einstrahlwinkels der Lichtstrahlen 3 um den Winkel ß, die Lichtstrahlen 3 durch die Spiegelanordnung 4 von der Objektoberfläche 1 weg auf den Tastkopf 2 fokussiert werden.
Dann kann wiederum die Bewegung des Tastkopfes 2 auf der Objektoberfläche 1 beispielsweise über die Quadrantenfotodiode 5 detektiert werden.
Denkbar ist auch die Divergenz bzw. Konvergenz der eingekoppelten Licht- strahlen 3 zu verändern. Hierdurch ergibt sich eine Verschiebung des Fokuspunktes F in vertikaler Richtung, d. h. in Richtung der Achse X der Spiegelanordnung. Die dargestellte Einheit aus Spiegelanordnung 4 und Tastkopf 2 kann beispielsweise anstelle eines Objektivs in den Revolver eines konventionellen optischen Mikroskops eingebaut werden.
Beispielsweise können insbesondere größere Objektoberflächen zunächst mit dem beruhrungslosen-optischen Messverfahren relativ schnell untersucht werden. Bei dieser beruhrungslosen-optischen Messung sind auch Streulichtverfahren auf einer größeren Oberfläche einsetzbar. Detektierte Unregelmäßigkeiten können dann anschließend mit dem genaueren mechanischen Messverfah- ren genauer analysiert werden. Auf diese Weise können beispielsweise submikroskopische Defekte auf ausgedehnten, gekrümmten oder planaren Oberflächen, wie z. B. ultrapräzisen Oberflächen von Spiegeln oder Optiken relativ schnell und präzise untersucht werden.
Bei der Untersuchung von Bauteilen der Mikrosystemtechnik oder integrierten elektronischen Schaltungen kann mit der Oberflächenmessvorrichtung beispielsweise die Rauheit in Gräben und auf Plateaus lokal mit Hilfe der mechanischen Messmethode (z. B. Rastersondenmikroskopiemodus) bestimmt werden, wobei die Orientierung und Positionierung des Messkopfs auf dem Bauteil mit Hilfe der beruhrungslosen-optischen Messmethode erfolgt.
Weiterhin können bei der Analyse der Informationen auch zusätzliche Verfahren, wie z. B. eine spektroskopische Analyse eingesetzt werden.

Claims

Patentansprüche
1 . Oberflächenmessvorrichtung zur mechanischen sowie beruhrungslosen- optischen Untersuchung von Objektoberflächen (1 ) mit einem Tastkopf (2) zur mechanischen Messung, gekennzeichnet durch eine Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) zur Fokussierung von Lichtstrahlen (3) derart, dass der Fokuspunkt (F) der von der Spiegelanordnung (4) gebildeten Lichtstrahlen (3) wahlweise entweder auf den Tastkopf (2) zur Messung der Position oder der Verlagerung des Tastkopfes (2) zur me- chanischen Messung oder auf die zu untersuchende Oberfläche (1 ) zur beruhrungslosen-optischen Messung einstellbar ist.
2. Oberflächenmessvorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet dass die fokussierten Lichtstrahlen (3) den Tastkopf (2) durchdringen und an einer Spitze des Tastkopfes (2) lokal austreten.
3. Oberflächenmessvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet dass die Lichtstrahlen (3) nach einer Wechselwirkung mit der zu untersuchenden Oberfläche (1 ) durch die Spitze des Tastkopfes (2) einge- sammelt werden.
4. Oberflächenmessvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) oder einzelne Spiegel und/oder Linsen davon aktorisch kippbar gelagert sind.
5. Oberflächenmessvorrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch Piezoaktoren zur Lagerung und Verkippung der Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4).
6. Oberflächenmessvorrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch Elektromotoren zur Verkippung der Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4).
7. Oberflächenmessvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprü- ehe, dadurch gekennzeichnet, dass die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) oder einzelne Spiegel und/oder Linsen davon in Richtung der Achse der Spiegel-/Linsenanordnung (4), auf der der Fokus liegt, verschiebbar sind.
8. Oberflächenmessvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Mittel zur Einstellung des Einstrahlwinkels der Lichtstrahlen (3) auf die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) zur Einstellung des Fokuspunktes (F).
9. Oberflächenmessvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Mittel zur Einstellung der Divergenz oder Konvergenz der auf die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) gerichteten Lichtstrahlen (3) zur Einstellung des Fokuspunktes (F).
10. Oberflächenmessvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) und der Tastkopf (2) in einem kompakten Messkopf angeordnet sind.
1 1. Verfahren zur mechanischen sowie zur beruhrungslosen-optischen Untersuchung von Objektoberflächen (1 ) mit einer Oberflächenmessvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Einstellung des Fokuspunktes (F) der Spiegel- und/oder Linsenanordnung
(4) auf den Tastkopf (2) zur Messung der Position oder Verlagerung des Tastkopfes (2) zur mechanischen Messung oder auf die zu untersuchende Oberfläche (1 ) zur beruhrungslosen-optischen Messung.
12. Verfahren nach Anspruch 1 1 , gekennzeichnet durch Verkippung oder
Verschiebung der Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) zur Einstellung des Fokuspunktes (F).
13. Verfahren nach Anspruch 1 1 , gekennzeichnet durch Verändern des Ein- Strahlwinkels der auf die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) gerichteten Lichtstrahlen (3) zur Einstellung des Fokuspunktes (F).
14. Verfahren nach Anspruch 1 1 , gekennzeichnet durch Verändern der Divergenz oder Konvergenz der auf die Spiegel- und/oder Linsenanordnung (4) gerichteten Lichtstrahlen (3) des Fokuspunktes (F).
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