WO2009015404A3 - Procédé et dispositif de détermination des valeurs de capacité de détecteurs capacitifs - Google Patents

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Abstract

L'invention concerne un dispositif et un procédé de détermination étalonnée des capacités partielles de détecteurs capacitifs qui présentent plusieurs capacités partielles (Ci), avec une source de signaux (SG) dont le signal de sortie peut être amené sélectivement aux différentes électrodes (T1, T2) d'un détecteur, un ensemble amplificateur (AMP, DEM) pour des signaux de mesure (SE) prélevés sur au moins une électrode (E1) et une mémoire non volatile (NVM). Le circuit de commande et d'évaluation (STG) ainsi que le circuit de calcul (RS) sont conçus pour enregistrer des valeurs de mesure (YKi) lors d'une phase d'étalonnage, les valeurs relatives des capacités (cKi) de chaque paire d'électrodes étant connues pour au moins deux mesures, pour placer dans la mémoire non volatile (NVM) ces valeurs de mesure (YKi) ou des valeurs qui en sont déduites et enregistrer au cours d'une première étape, dans une phase ultérieure de mesure qui suit, des valeurs de mesure (YMi), déterminer à partir de ces dernières dans une autre étape un facteur de proportionnalité (k) en recourant à au moins une valeur relative de capacité (cmj) et dans une autre étape, déterminer les valeurs relatives de capacité (cmi) à partir des valeurs de mesure (YMi,), du facteur de proportionnalité (k) et des valeurs (Yki) de la mémoire non volatile ou de grandeurs qui en sont déduites.
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