WO2017129212A1 - Procede et dispositif de test d'un capteur de detection pour vehicule automobile - Google Patents

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Definitions

  • the present invention relates to the field of detection sensor tests for a motor vehicle and more particularly relates to a method and a system for testing a sensor for detecting a target attached to a drive shaft of a motor vehicle.
  • the invention finds particular application in the detection of a target attached to a crank shaft, a camshaft or a transmission shaft of a motor vehicle.
  • a drive shaft In a motor vehicle, it is known to use sensors called “detection" to determine the position of a drive shaft or its rotational speed.
  • a shaft may for example be a crank shaft, a camshaft or a drive shaft of a motor vehicle.
  • the sensor is mounted opposite a target coaxially fixed on the drive shaft.
  • This target is in a known manner in the form of a ring made of a ferromagnetic material and comprising a succession of teeth and depressions.
  • the senor comprises an electrical supply connector by which it is supplied with DC voltage, for example 5 V, to operate in the vehicle, an electrical output connector and a ground connector.
  • DC voltage for example 5 V
  • the senor comprises an integrated circuit configured to measure the magnetic field variations generated by the passage of teeth and troughs of the target in front of the sensor.
  • the sensor thus generates a digital output signal representing the passages of the teeth and troughs characterizing the position or the speed of rotation of the shaft.
  • This signal is supplied via the output connector to a vehicle computer which analyzes it to determine the position or speed of rotation of the shaft.
  • test device that communicates information with the sensor via a test protocol.
  • the tests performed on the sensor may consist in collecting samples of the sensor output signal representing the periodic variations of the magnetic field generated by the rotation of the target in front of the sensor at a given speed, for example several samples per period of the signal.
  • the test device In order to send test commands to the sensor, the test device generates a test signal including test information that is sent to the sensor power line.
  • the sensor when used in the vehicle in operation, it is powered by a DC voltage supply signal, for example of a value of the order of 5 V, but when the sensor must be tested by the device test, it delivers on the sensor supply line a pulse voltage test signal defined by a test protocol and representative of the test information.
  • this test signal (denoted “VG” in the figure) can consist of exchanging bit information of type 0 or 1, for example encoded in pulse width in the form of high states EH of width 1/3 to represent the binary value 1 alternating with low states EB of width 2/3 to represent the binary value 0.
  • the high states EH have a value of the order of 17 V and the low states EB have a value of around 6 V so that they can easily be distinguished from each other.
  • the sensor detects a high state EH of the test signal when it exceeds a predetermined high state detection threshold SDH (of 14 V in FIG. 1).
  • a low state EB may be detected when the value of the test signal is below a predetermined low state detection threshold SDB (of 9 V in FIG. 1).
  • test signal When it is desired to test the sensor for rotational speeds of the high shaft, for example greater than 500 RPM, it is necessary to deliver a test signal whose frequency is high enough to allow to collect several samples per signal period. representative of magnetic field variations, for example at least 20 kHz.
  • the test signal can be significantly attenuated by the filter circuit (the filtered test signal is denoted "VRU" in FIG. 1) so that it can not cross the detection threshold of predetermined high SDH states.
  • the sensor can not determine if binary test information is contained in the test signal, which prevents the test device from collecting the samples and therefore has a major disadvantage.
  • the object of the invention is to overcome at least part of these disadvantages by proposing a simple, reliable and efficient solution for testing detection sensors at high frequencies.
  • the invention firstly relates to a method of testing a detection sensor arranged opposite a target attached to a drive shaft intended to be mounted in a motor vehicle, said sensor detection being configured to measure magnetic field variations generated by the passage of the target in front of the sensor and for generating an output signal representative of said variations, said method comprising the steps of:
  • a crimped voltage test signal comprising high states whose value is greater than a predetermined high state detection threshold and low states whose value is lower than a predetermined high state detection threshold, the high states and the low states encoding test information for collecting data relating to the output signal of the sensor,
  • the amplification of the high states of the generated test signal makes it possible to ensure that the high states of the filtered test signal are greater than the predetermined high state detection threshold so that the sensor can interpret correctly the binary information contained in the test signal generated.
  • the filtering being characterized by a predetermined filtering coefficient
  • the amplification is performed by an amplification coefficient equal to the inverse of the predetermined filtering coefficient
  • the method further comprises a step of collecting and analyzing data relating to the output signal generated by the sensor.
  • the invention also relates to a system for testing a target detection sensor fixed on a drive shaft intended to be mounted in a motor vehicle, said system comprising:
  • a generation module configured to generate a crimped voltage test signal comprising high states whose value is greater than a predetermined high state detection threshold and low states whose value is below a detection threshold of predetermined high state, the high states and the low states encoding test information for collecting data relating to the output signal of the sensor,
  • An amplification module electrically connected to the generation module in order to receive a test signal generated by said generation module and configured to amplify the high states of said received test signal
  • a drive shaft on which a target is mounted and A detection sensor arranged opposite said target and electrically connected to the amplification module in order to receive a test signal amplified by said amplification module, said sensor comprising a filtering circuit configured to filter said amplified test signal and a circuit integrated circuit configured to measure the magnetic field variations generated by the passage of the target in front of the sensor, to generate an output signal representative of said variations and to detect, beyond the predetermined high state detection threshold, high states of a test signal filtered by the filter circuit and, below a predetermined low state detection threshold, low states of the test signal filtered by the filter circuit for testing the sensor.
  • the filter circuit is characterized by a predetermined filtering coefficient and the amplification module is configured to amplify the generated test signal by an amplification coefficient equal to the inverse of the predetermined filtering coefficient.
  • the amplification module comprises an operational amplifier receiving on its negative input the generated test signal and a filter circuit, identical to the filter circuit of the integrated circuit of the sensor, the input of which is connected to the output of the operational amplifier and whose output is connected to the positive input of the operational amplifier.
  • the amplification module further comprises a current amplification sub-module disposed between the output of the operational amplifier and the input of the filter circuit of the amplification module.
  • the filter circuit of the sensor consists of a resistor and a capacitance.
  • system further comprises a management module configured to receive and analyze data relating to the output signal of the sensor to determine the operating state.
  • the invention also relates to a motor vehicle comprising a test system in which are mounted the drive shaft and the detection sensor.
  • FIG. 1 schematically illustrates a generated test signal sent to a detection sensor for testing and the test signal thus received filtered by the sensor, as a function of time.
  • FIG. 1 schematically illustrates an embodiment of the system according to the invention.
  • FIG. 3 is a partial view of the system of Figure 1, the amplification module and the filter circuit have been detailed.
  • FIG. 4 schematically illustrates a test signal generated as a function of time and the corresponding filtered test signal in the system of FIG. 3.
  • FIG. 5 schematically illustrates a test signal generated as a function of time, the corresponding amplified test signal and the corresponding filtered test signal in the system of FIG.
  • FIG. 6 illustrates an embodiment of the method according to the invention.
  • the test system according to the invention makes it possible to test a sensor for detecting a target fixed on a drive shaft for a motor vehicle, in particular by enabling the collection of data relating to the output signal delivered by said sensor, such as, for example the value of the magnetic field measured by the sensor.
  • the system 1 comprises a drive shaft 10 on which a target 12 is mounted, a detection sensor 20 arranged opposite said target 12, a generation module 30 and a amplification module 40.
  • the tests may be performed with a detection sensor 20 mounted on a test bench opposite a target 12 of a test drive shaft 1 0 for simulating the operation of a drive shaft of a motor vehicle or with a detection sensor 20 already mounted in a motor vehicle.
  • the drive shaft 10 may, for example, be a crank shaft, a camshaft or a transmission shaft.
  • test signal is a crimped voltage signal comprising alternating high states with low states of the test signal representative of test information enabling the sensor 20 to collect data relating to its output signal.
  • this VG slot voltage test signal comprises high states EH at 1 7 V and low states EB at 6 V.
  • the high states EH are coded in pulse width so to transmit binary information, for example 1 when the width of the generated test signal G in the high state EH is one-third of a period, and 0 when the width of the test signal generated VG in the high state EH is two third of period.
  • the drive shaft 10 comprises a target 12 associated with the detection sensor 10.
  • the target 12 is in the form of a metal ring fixedly secured to the drive shaft 1 0.
  • This target 12 includes on its periphery a plurality of teeth ⁇ , T2, T 3 (three teeth in this non-limiting example), the height h, h3, the length h to and the spacings (troughs) Ci to C3, respectively, can vary substantially.
  • the sensor 20 perceives a series of variations in the magnetic field representative of the length at 13 of the teeth ⁇ , T 2 , T 3 passing in front of it and their spacing Ci, C2, C3.
  • the detection sensor 20 is arranged facing the target 12 and is electrically connected to the amplification module 40 in order to receive an amplified test signal (V A in FIGS. 3 and 5) by said amplification module 40 as will be described below.
  • the detection sensor 20 comprises a ferromagnetic element 21 making it possible to generate a magnetic field near the target 12.
  • the rotation of the target 12 modulates this magnetic field as a function of the passage of the teeth Ti, T2, T3 and hollow Ci, C2, C3.
  • the detection sensor 20 also comprises a magnetic field detection module 22, a power supply connector 23, an output connector 24 and a ground connector 25.
  • This detection module 22 comprises, for example, a Hall effect cell enabling detecting the magnetic field variations generated by the target 12 and outputting an output signal representative of said variations.
  • the magnetic field detection module 22 also comprises a filter circuit 26 and an integrated circuit 28 (see FIG.
  • the filtering circuit 26 is configured to receive and to filter the amplified test signal V A by the amplification module 40 to obtain a filtered test signal VF (with reference to FIGS. 4 and 5).
  • filtering and “filtering” is meant that attenuates the high-frequency signals, such a filtering making it possible to attenuate the high-frequency external disturbances present on the power connector 23 in a manner known per se.
  • the filter circuit 26 comprises a resistor R1 and a capacitor C1.
  • the resistor R1 is connected on the one hand to the supply connector 23 of the sensor 20 and on the other hand the capacitor C1.
  • the capacitor C1 is connected on the one hand to the resistor R1 and on the other hand to the ground connector 25.
  • the value of the resistor R1 may be 47 Ohm and the value of the capacitor C1 may be 470 nF.
  • the filtering circuit 26 is characterized by a predetermined filtering coefficient corresponding, for example, to a reduction by a predetermined factor, as a function of the values of the resistor R1 and of the capacitor C1, of the maximum amplitude of the signal received at the input of the filter. .
  • the integrated circuit 28 is firstly configured to measure the magnetic field variations generated by the passage of the target 12 in front of the sensor 20 and to generate an output signal representative of the variations of the measured magnetic field, this output signal being delivered via the output connector 24.
  • the output signal is delivered to a computer of the vehicle (not shown) which analyzes it in order, for example, to determine the position or speed of rotation of the shaft 10.
  • the integrated circuit 28 is configured to detect, beyond a predetermined high state detection threshold SDH, high states EH of the filtered test signal VF by the circuit for filtering 26 and, below a predetermined low state detection threshold SDB, EB low states of the filtered test signal VF by the filter circuit 26.
  • the integrated circuit 28 is configured to detect the high states EH of the filtered test signal VF by the filter circuit 26 when the voltage value of the test signal exceeds a predetermined high state detection threshold SDH, for example of the in the order of 14 V.
  • a predetermined high state detection threshold SDH for example of the in the order of 14 V.
  • the integrated circuit 28 detects a high state EH and can determine the value of the binary information (0 or 1) depending on whether the width of the high state is one-third or two-thirds of the signal period.
  • the integrated circuit 28 is configured to detect the low states EB of the filtered test signal VF by the filter circuit 26 when the voltage value of the signal VF is lower than a predetermined low-level detection threshold SDB, for example of the order of 9 V.
  • a predetermined low-level detection threshold SDB for example of the order of 9 V.
  • the integrated circuit 28 detects a low state EB and can determine the value of the binary information (0 or 1) according to whether the width of the low state EB is one third or two thirds of the signal period and thus ensure the correct interpretation of the binary information contained in the filtered test signal VF by the circuit integrated 28.
  • Such detection enables the integrated circuit 28 to determine the bit information contained in the filtered test signal VF in order to collect data relating to the output signal to provide them to a management module (not shown).
  • This module of management is configured to analyze this received data to determine its operating status.
  • the integrated circuit 28 is configured to collect the data relating to the output signal from coded test messages in a test signal received and filtered V F by the filter circuit 26.
  • the generation module 30 is configured to generate a VG slot voltage test signal comprising high states EH whose value is greater than a predetermined high state detection threshold SDH and low states EB whose value is less than one.
  • predetermined high state detection threshold SDB, the high states EH and the low states EB encoding test information for collecting data relating to the output signal of the sensor 20, as described above.
  • the amplification unit 40 is arranged between the generation unit 30 and the sensor 20. It is electrically connected to generator module 30 for receiving a test signal VG generated by said generating module 30, the sensor ef "2Q via the power line 23, to provide it with an amplified test signal VA.
  • the amplification module 40 is configured to amplify the high states EH of said generated test signal VG received from the generation module 30 with a sufficiently high coefficient or amplification factor to ensure that the high states EH of the test signal will always be higher than the predetermined high state detection threshold SDH of the sensor 20 when the amplified test signal VA has been filtered by the filtering circuit 26 of the sensor 20 so that the integrated circuit 28 can correctly decode the binary information contained in the filtered test signal V F to collect data relating to the output signal of the sensor 20.
  • the amplification module 40 comprises an operational amplifier 410 and a filtering circuit 420.
  • the operational amplifier 410 is powered by two supply voltages Vcc and Vee in a manner known per se, for example 40 V and 40 V, respectively.
  • the operational amplifier 410 receives on its positive input the test signal generated VG by the generation module 30.
  • the filter circuit of the amplification module 40 consists of a resistor R2 disposed between the negative input and the output of the operational amplifier 410 and a capacitor C2 arranged between the negative input of the operational amplifier 410. is the mass M.
  • the resistance values R2 and capacitance C2 of the filtering circuit 420 of the amplification module 30 are identical to the resistance values R1 and capacitance C1 of the filtering circuit 26 of the sensor 20 in order to simulate the filtering of the amplified signal by the operational amplifier 410 in a loop making it possible to ensure that the amplification coefficient of the test signal generated by the generation module 30 is sufficient for the high states EH of the test signal filtered by the filtering circuit 26 of the sensor 20 or greater than the predetermined high state detection threshold SDH.
  • the amplification of the generated test signal VG is performed, at least on a portion of the high states EH, with an amplification coefficient at least equal to the inverse of the predetermined filtering coefficient.
  • the amplification module 40 furthermore comprises an optional assembly 430 consisting of an NPN type transistor Q1 and a superimposed PNP type transistor Q2.
  • This arrangement 430 arranged between the operational amplifier 410 and the filter circuit 420, is connected on the one hand to the supply voltage Vcc and on the other hand to the reference voltage Vee as illustrated in FIG. mounting 430 makes it possible to increase the maximum value of the output current of the operational amplifier in order to provide a greater current to the filtering circuit 26 of the sensor 20 to enable fast charging and discharging of the capacitor C, and therefore the fronts of the rapid transition of the filtered test signal VF between low states EB and high states EH.
  • the voltage gain of this transistor is equal to 1 in order not to modify the value of the output voltage of the amplification module 40.
  • the method according to the invention makes it possible to test the detection sensor from a crimped voltage test signal comprising test information coded in high states EH whose value is greater than the predetermined high state detection threshold SDH of the sensor 20 and low states EB whose value is below the predetermined high state detection threshold SDB of the sensor 20.
  • FIG. 4 only shows the generated test signal VG and the filtered test signal VF while FIG. 5 illustrates the generated test signal VG, the signal VA amplified test and VF filtered test signal.
  • the generation module 30 first generates a test signal VG in a step E1 (see FIG. 6) and transmits it to the amplification module 40.
  • the amplification module 40 then amplifies the generated test signal VG, in a step E2, in particular its high states EH, as illustrated in FIG. 5, and then transmits the thus amplified test signal V A to the sensor 20 via its power supply line. 23.
  • the filter circuit 26 of the sensor 20 receives and filters, in a step E3, the amplified test signal V A received from the amplification module 40 so as to obtain a filtered test signal V F having high states EH whose voltage value is greater than the predetermined high state detection threshold SDH and low states EB whose voltage value is lower than the predetermined low state detection threshold SDB, as illustrated in FIG. 4.
  • the filtered test signal V F is then supplied to the integrated circuit 28 which decodes it, in a step E4, to obtain the test information contained in said filtered test signal V F in order to collect data relating to the output signal of the sensor and the provide to the management module that analyzes these data to determine the operating state of the sensor 20, in a step E5.

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Abstract

La présente invention a pour objet procédé de test d'un capteur de détection disposé en regard d'une cible fixée sur un arbre d'entraînement destiné à être monté dans un véhicule automobile. Un filtre ayant un coefficient de filtrage prédéterminé et prévu entre les connecteurs du capteur et un circuit intégré, pour satisfaire aux normes de compatibilité électromagnétique. Le procédé comprend les étapes de génération (El) d'un signal test de tension en créneaux, d'amplification (E2) des états hauts dudit signal test généré, de transmission du signal de test amplifié via la ligne d'alimentation, de filtrage (E3) du signal test amplifié de sorte à obtenir un signal test en tension présentant des états hauts dont la tension est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé et des états bas dont la tension est inférieure à un seuil de détection d'état bas prédéterminé et de détection (E4) des états hauts et des états bas du signal test filtré afin de tester le capteur. L'amplificateur est adapté aux caractéristiques prédéterminées du filtre, de manière que l'amplification correspond à l'inverse de l'atténuation effectuée par le filtre. Ainsi, la tension des états hauts du signal reçu est supérieure à un seuil de détection prédéterminé.

Description

Procédé et dispositif de test d'un capteur de détection pour véhicule automobile
La présente invention se rapporte au domaine des tests de capteurs de détection pour véhicule automobile et concerne plus particulièrement un procédé et un système de test d'un capteur de détection d'une cible fixée sur un arbre d'entraînement d'un véhicule automobile.
L'invention trouve notamment son application dans la détection d'une cible fixée sur un arbre de vilebrequin, un arbre à cames ou un arbre de transmission d'un véhicule automobile.
Dans un véhicule automobile, il est connu d'utiliser des capteurs dits « de détection » pour déterminer la position d'un arbre d'entraînement ou bien sa vitesse de rotation. Un tel arbre peut par exemple être un arbre de vilebrequin, un arbre à cames ou un arbre de transmission d'un véhicule automobile.
Le capteur est monté en regard d'une cible fixée de manière coaxiale sur l'arbre d'entraînement. Cette cible se présente de manière connue sous la forme d'une couronne réalisée en un matériau ferromagnétique et comportant une succession de dents et des creux.
Toujours de manière connue, le capteur comprend un connecteur électrique d'alimentation par lequel il est alimenté en tension continue, par exemple 5 V, pour fonctionner dans le véhicule, un connecteur électrique de sortie et un connecteur de masse.
Afin de déterminer la position ou la vitesse de l'arbre, le capteur comporte un circuit intégré configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage des dents et de creux de la cible devant le capteur.
Le capteur génère ainsi un signal de sortie, digital, représentant les passages des dents et des creux caractérisant la position ou la vitesse de rotation de l'arbre. Ce signal est fourni, via le connecteur de sortie, à un calculateur du véhicule qui l'analyse afin de déterminer la position ou la vitesse de rotation de l'arbre.
Afin de permettre à un tel capteur de satisfaire aux normes de compatibilité électromagnétique, il est connu d'atténuer le signal d'alimentation du capteur en montant un circuit de filtrage dans le capteur, entre les connecteurs et le circuit intégré.
Par ailleurs, il est connu de procéder à des tests sur ce type de capteur à l'aide d'un dispositif de test qui communique des informations avec le capteur via un protocole de test.
Les tests pratiqués sur le capteur peuvent consister à collecter des échantillons du signal de sortie du capteur représentant les variations périodiques du champ magnétique générées par la rotation de la cible devant le capteur à une vitesse donnée, par exemple plusieurs échantillons par période du signal. Afin d'envoyer des commandes de test au capteur, le dispositif de test génère un signal de test comportant des informations de test qui est envoyé sur la ligne d'alimentation du capteur. Ainsi, lorsque le capteur est utilisé dans le véhicule en fonctionnement, il est alimenté par un signal d'alimentation en tension continue, par exemple d'une valeur de l'ordre de 5 V, mais lorsque le capteur doit être testé par le dispositif de test, ce dernier délivre sur la ligne d'alimentation du capteur un signal test de tension en créneaux défini par un protocole de test et représentatif des informations de test.
Comme illustré à la figure 1 , ce signal test (noté « VG » sur la figure) peut consister à échanger des informations binaires de type 0 ou 1 , par exemple codées en largeur d'impulsion sous la forme d'états hauts EH de largeur 1/3 pour représenter la valeur binaire 1 alternant avec des états bas EB de largeur 2/3 pour représenter la valeur binaire 0. Sur la figure 1 , les états hauts EH ont une valeur de l'ordre de 17 V et les états bas EB ont une valeur de l'ordre de 6 V afin de pouvoir les distinguer aisément les uns des autres. Toutefois, ces valeurs pouvant varier, le capteur détecte un état haut EH du signal test lorsque celui-ci dépasse un seuil SDH de détection d'état haut prédéterminé (de 14 V sur la figure 1 ). De même, un état bas EB peut être détecté lorsque la valeur du signal test est inférieure à un seuil SDB de détection d'état bas prédéterminé (de 9 V sur la figure 1 ).
Lorsque l'on souhaite tester le capteur pour des vitesses de rotation de l'arbre élevée, par exemple supérieures à 500 RPM, il est nécessaire de délivrer un signal test dont la fréquence est suffisamment élevée pour permettre de collecter plusieurs échantillons par période du signal représentatif des variations de champ magnétique, par exemple au moins 20 kHz.
Cependant, à de telles fréquences, le signal test peut se trouver significativement atténué par le circuit de filtrage (le signal test filtré étant noté « VRU » sur la figure 1 ) de sorte qu'il peut ne pas franchir le seuil de détection d'états haut prédéterminé SDH. Dans ce cas, le capteur ne peut pas déterminer si des informations binaires de test sont contenues dans le signal test, ce qui empêche le dispositif de test de collecter les échantillons et présente par conséquent un inconvénient majeur.
L'invention a pour but de remédier au moins en partie à ces inconvénients en proposant une solution simple, fiable et efficace permettant de tester des capteurs de détection à des fréquences élevées.
A cette fin, l'invention a tout d'abord pour objet un procédé de test d'un capteur de détection disposé en regard d'une cible fixée sur un arbre d'entraînement destiné à être monté dans un véhicule automobile, ledit capteur de détection étant configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage de la cible devant le capteur et pour générer un signal de sortie représentatif desdites variations, ledit procédé comprenant les étapes de :
• génération d'un signal test de tension en créneaux comprenant des états hauts dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé et des états bas dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé, les états hauts et les états bas codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur,
• amplification des états hauts dudit signal test généré,
• filtrage du signal test amplifié de sorte à obtenir un signal test filtré présentant des états hauts dont la tension est supérieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé et des états bas dont la tension est inférieure au seuil de détection d'état bas prédéterminé, et
• détection des états hauts et des états bas du signal test filtré afin de tester le capteur.
Ainsi, avec le procédé selon l'invention, l'amplification des états hauts du signal test généré permet de s'assurer que les états hauts du signal test filtré sont supérieurs au seuil de détection d'état haut prédéterminé afin que le capteur puisse interpréter correctement les informations binaires contenues dans le signal test généré.
De préférence, le filtrage étant caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé, l'amplification est réalisée d'un coefficient d'amplification égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé.
De préférence encore, le procédé comprend en outre une étape de collecte et d'analyse de données relatives au signal de sortie généré par le capteur.
L'invention concerne aussi un système de test d'un capteur de détection d'une cible fixée sur un arbre d'entraînement destiné à être monté dans un véhicule automobile, ledit système comprenant :
• un module de génération configuré pour générer un signal test de tension en créneaux comprenant des états hauts dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé et des états bas dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé, les états hauts et les états bas codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur,
• un module d'amplification relié électriquement au module de génération afin de recevoir un signal test généré par ledit module de génération et configuré pour amplifier les états hauts dudit signal test reçu,
• un arbre d'entraînement sur lequel est montée une cible, et • un capteur de détection disposé en regard de ladite cible et connecté électriquement au module d'amplification afin de recevoir un signal test amplifié par ledit module d'amplification, ledit capteur comprenant un circuit de filtrage configuré pour filtrer ledit signal test amplifié et un circuit intégré configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage de la cible devant le capteur, pour générer un signal de sortie représentatif desdites variations et pour détecter, au-delà du seuil de détection d'état haut prédéterminé, des états hauts d'un signal test filtré par le circuit de filtrage et, en dessous d'un seuil de détection d'état bas prédéterminé, des états bas du signal test filtré par le circuit de filtrage afin de tester le capteur.
De préférence, le circuit de filtrage est caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé et le module d'amplification est configuré pour amplifier le signal test généré d'un coefficient d'amplification égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé.
Dans une forme de réalisation préférée, le module d'amplification comprend un amplificateur opérationnel recevant sur son entrée négative le signal test généré et un circuit de filtrage, identique au circuit de filtrage du circuit intégré du capteur, dont l'entrée est reliée à la sortie de l'amplificateur opérationnel et dont la sortie est reliée à l'entrée positive de l'amplificateur opérationnel.
De manière préférée, le module d'amplification comprend en outre un sous- module d'amplification de courant disposé entre la sortie de l'amplificateur opérationnel et l'entrée du circuit de filtrage du module d'amplification.
De préférence encore, le circuit de filtrage du capteur est constitué d'une résistance et d'une capacité.
De manière avantageuse, le système comprend en outre un module de gestion configuré pour recevoir et analyser des données relatives au signal de sortie du capteur afin d'en déterminer l'état de fonctionnement.
L'invention concerne également un véhicule automobile comprenant un système de test dans lequel sont montés l'arbre d'entraînement et le capteur de détection.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront lors de la description qui suit faite en regard des figures annexées données à titre d'exemples non limitatifs et dans lesquelles des références identiques sont données à des objets semblables.
- La figure 1 (art antérieur) illustre schématiquement un signal test généré envoyé à un capteur de détection pour le tester et le signal test ainsi reçu filtré par le capteur, en fonction du temps.
- La figure 2 illustre schématiquement une forme de réalisation du système selon l'invention. - La figure 3 est une vue partielle du système de la figure 1 dont le module d'amplification et le circuit de filtrage ont été détaillés.
- La figure 4 illustre schématiquement en fonction du temps un signal test généré et le signal test filtré correspondant dans le système de la figure 3. - La figure 5 illustre schématiquement en fonction du temps un signal test généré, le signal test amplifié correspondant et le signal test filtré correspondant dans le système de la figure 3.
- La figure 6 illustre un mode de réalisation du procédé selon l'invention.
Le système de test selon l'invention permet de tester un capteur de détection d'une cible fixée sur un arbre d'entraînement pour véhicule automobile, notamment en permettant la collecte de données relatives au signal de sortie délivré par ledit capteur, comme par exemple la valeur du champ magnétique mesuré par le capteur.
A cette fin, en référence à la figure 2, le système 1 comprend un arbre 10 d'entrainement, sur lequel est montée une cible 12, un capteur 20 de détection disposé en regard de ladite cible 12, un module de génération 30 et un module d'amplification 40.
Les tests peuvent être réalisés avec un capteur de détection 20 monté sur un banc de test en regard d'une cible 12 d'un arbre d'entrainement 1 0 de test permettant de simuler le fonctionnement d'un arbre d'entrainement de véhicule automobile ou bien avec un capteur de détection 20 déjà monté dans un véhicule automobile. Dans ce dernier cas, l'arbre d'entrainement 10 peut, par exemple, être un arbre de vilebrequin, un arbre à cames ou un arbre de transmission.
Afin de réaliser ces tests, il est nécessaire de générer un signal test comme cela sera décrit ci-après. Ce signal test est un signal de tension en créneaux comprenant des états hauts alternant avec des états bas du signal de test représentatifs d'informations de test permettant au capteur 20 de collecter des données relatives à son signal de sortie.
Dans l'exemple non limitatif illustré à la figure 4, ce signal test de tension en créneaux VG comporte des états hauts EH à 1 7 V et des états bas EB à 6 V. Les états hauts EH sont codés en largeur d'impulsion afin de transmettre des informations binaires, par exemple 1 lorsque la largeur du signal test généré G à l'état haut EH est d'un tiers de période, et 0 lorsque la largeur du signal test généré VG à l'état haut EH est de deux tiers de période.
L'arbre d'entrainement 10 comprend une cible 12 associée au capteur de détection 10.
Dans l'exemple illustré à la figure 2, la cible 12 se présente sous la forme d'une couronne métallique fixé de manière solidaire l'arbre d'entrainement 1 0. Cette cible 12 comporte à sa périphérie une pluralité de dents Τι, T2, T3 (trois dents dans cet exemple non limitatif) dont la hauteur hi,
Figure imgf000008_0001
h3, la longueur h à et les espacements (creux) Ci à C3, respectivement, peuvent varier sensiblement.
Ces longueurs et espacements variables constituent, de manière connue en soi, un codage, mesuré par le capteur 20 et décodé par le calculateur central. Le fonctionnement d'un tel ensemble capteur 20 plus cible 12 est décrit ci-après.
Lorsque la cible 12 est entraînée en rotation (flèche F) par l'arbre d'entrainement 10, le capteur 20 perçoit une suite de variations du champ magnétique représentatif de la longueur à I3 des dents ΤΊ, T2, T3 passant devant lui et de leur espacement Ci , C2, C3.
Ce fonctionnement étant connu, il ne sera pas davantage détaillé ici.
Toujours en référence à la figure 2, le capteur de détection 20 est disposé en regard de la cible 12 et est connecté électriquement au module d'amplification 40 afin de recevoir un signal test amplifié (VA sur les figures 3 et 5) par ledit module d'amplification 40 comme cela sera décrit ci-après.
Dans cet exemple non limitatif, le capteur de détection 20 comporte un élément ferromagnétique 21 permettant de générer un champ magnétique à proximité de la cible 12. La rotation de la cible 12 module ce champ magnétique en fonction du passage des dents T-i , T2, T3 et des creux Ci , C2, C3.
Le capteur de détection 20 comporte aussi un module de détection du champ magnétique 22, un connecteur d'alimentation 23, un connecteur de sortie 24 et un connecteur de masse 25. Ce module de détection 22 comprend par exemple une cellule à effet Hall permettant de détecter les variations du champ magnétiques générées par la cible 12 et de délivrer un signal de sortie représentatif desdites variations.
Le module de détection du champ magnétique 22 comprend également un circuit de filtrage 26 et un circuit intégré 28 (cf. figure 3).
Le circuit de filtrage 26 est configuré pour recevoir et pour filtrer le signal test amplifié VA par le module d'amplification 40 afin d'obtenir un signal test filtré VF (en référence aux figures 4 et 5). Par les termes « filtrer » et « filtrage », on entend qui atténue les signaux hautes-fréquences, un tel filtrage permettant d'atténuer les perturbations extérieures hautes-fréquences présentes sur le connecteur d'alimentation 23 de manière connue en soi.
A cette fin, le circuit de filtrage 26 comprend une résistance R1 et une capacité C1. La résistance R1 est reliée d'une part au connecteur d'alimentation 23 du capteur 20 et d'autre part la capacité C1. La capacité C1 est reliée d'une part à la résistance R1 et d'autre part au connecteur de masse 25. A titre d'exemple non limitatif, la valeur de la résistance R1 peut être de 47 Ohm et la valeur de la capacité C1 peut être de 470 nF.
Le circuit de filtrage 26 est caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé correspondant par exemple une réduction d'un facteur prédéterminé, en fonction des valeurs de la résistance R1 et de la capacité C1 , de l'amplitude maximale du signal reçu en entrée du filtre.
Le circuit intégré 28 est tout d'abord configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage de la cible 12 devant le capteur 20 et pour générer un signal de sortie représentatif des variations du champ magnétique mesuré, ce signal de sortie étant délivré via le connecteur de sortie 24.
Lors du fonctionnement du véhicule, le signal de sortie est délivré à un calculateur du véhicule (non représenté) qui l'analyse afin, par exemple, de déterminer la position ou la vitesse de rotation de l'arbre 10.
En phase de test, en référence aux figures 4 et 5, le circuit intégré 28 est configuré pour détecter, au-delà d'un seuil SDH de détection d'état haut prédéterminé, des états hauts EH du signal test filtré VF par le circuit de filtrage 26 et, en dessous d'un seuil SDB de détection d'état bas prédéterminé, des états bas EB du signal test filtré VF par le circuit de filtrage 26.
Plus précisément, le circuit intégré 28 est configuré pour détecter les états hauts EH du signal test filtré VF par le circuit de filtrage 26 lorsque la valeur de tension du signal test dépasse un seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH, par exemple de l'ordre de 14 V. Ainsi, lorsque la valeur de tension du signal test filtré VF est supérieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH, le circuit intégré 28 détecte un état haut EH et peut déterminer la valeur de l'information binaire (0 ou 1 ) selon que la largeur de l'état haut est d'un tiers ou de deux tiers de la période du signal.
De même, le circuit intégré 28 est configuré pour détecter les états bas EB du signal test filtré VF par le circuit de filtrage 26 lorsque la valeur de tension du signal VF est inférieure à un seuil SDB de détection d'état bas prédéterminé, par exemple de l'ordre de 9 V. Ainsi, lorsque la valeur de tension du signal test filtré VF est inférieure au seuil de détection prédéterminé d'état bas SDB, le circuit intégré 28 détecte un état bas EB et peut déterminer la valeur de l'information binaire (0 ou 1 ) selon que la largeur de l'état bas EB est d'un tiers ou de deux tiers de période du signal et assurer ainsi la bonne interprétation des informations binaires contenues dans le signal test filtré VF par le circuit intégré 28.
Une telle détection permet au circuit intégré 28 de déterminer les informations binaires contenues dans le signal test filtré VF afin de collecter des données relatives au signal de sortie pour les fournir à un module de gestion (non représenté). Ce module de gestion est configuré pour analyser ces données reçues afin d'en déterminer l'état de fonctionnement.
Le circuit intégré 28 est configuré pour collecter les données relatives au signal de sortie à partir de messages de test codés dans un signal test reçu et filtré VF par le circuit de filtrage 26.
Le module de génération 30 est configuré pour générer un signal test de tension en créneaux VG comprenant des états hauts EH dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH et des états bas EB dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé SDB, les états hauts EH et les états bas EB codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur 20, comme décrit ci-avant.
Le module d'amplification 40 est disposé entre le module de génération 30 et le capteur 20. Il est connecté électriquement au module de génération 30, afin de recevoir un signal test généré VG par ledit module de génération 30, ef au capteur»2Q, via la ligne d'alimentation 23, afin de lui fournir un signal test amplifié VA.
A cette fin, le module d'amplification 40 est configuré pour amplifier les états hauts EH dudit signal test généré VG reçu du module de génération 30 d'un coefficient ou facteur d'amplification suffisamment élevé pour garantir que les états hauts EH du signal test seront toujours supérieurs au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH du capteur 20 lorsque le signal test amplifié VA aura été filtré par le circuit de filtrage 26 du capteur 20 de sorte que le circuit intégré 28 puisse décoder correctement les informations binaires contenues dans le signal test filtré VF afin de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur 20.
De préférence, comme illustré à la figure 3, le module d'amplification 40 comprend un amplificateur opérationnel 410 et un circuit de filtrage 420.
L'amplificateur opérationnel 410 est alimenté par deux tensions d'alimentation Vcc et Vee de manière connue en soi, par exemple respectivement de 40 V et - 40 V.
L'amplificateur opérationnel 410 reçoit sur son entrée positive le signal test généré VG par le module de génération 30.
Le circuit de filtrage du module d'amplification 40 est constitué d'une résistance R2 disposée entre l'entrée négative et la sortie de l'amplificateur opérationnel 410 et d'une capacité C2 disposée entre l'entrée négative de l'amplificateur opérationnel 410 est la masse M.
Les valeurs de résistance R2 et de capacité C2 du circuit de filtrage 420 du module d'amplification 30 sont identiques aux valeurs de résistance R1 et de capacité C1 du circuit de filtrage 26 du capteur 20 afin de simuler le filtrage du signal amplifié par l'amplificateur opérationnel 410 dans une boucle permettant de s'assurer que le coefficient d'amplification du signal test généré par le module de génération 30 soit suffisant pour que les états hauts EH du signal test filtré par le circuit de filtrage 26 du capteur 20 soit supérieurs au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH.
On notera qu'on peut également utiliser des valeurs de résistance R2 et de capacité C2 du circuit de filtrage 420 du module d'amplification 30 différentes des valeurs de résistance R1 et de capacité C1 du circuit de filtrage 26 du capteur 20, mais produisant un filtrage identique. Pour ce faire, la constante de temps des deux circuits de filtrage 26, 420 doit être la même. La constante de temps T d'un circuit de filtrage RC étant égale à R*C, on pourra choisir un couple de valeur (R2, 02) ayant la même constante de temps que R1 *C1 , soit R2*C2 = R1 *C1 .
Afin de s'assurer que le coefficient d'amplification du signal test généré par le module de génération 30 soit suffisant pour que les états hauts EH du signal test filtré par le circuit de filtrage 26 du capteur 20 soit supérieurs au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH, l'amplification du signal test généré VG est réalisée, au moins sur une portion des états hauts EH, d'un coefficient d'amplification au moins égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé.
Dans la forme de réalisation illustrée à la figure 3, le module d'amplification 40 comprend en outre un montage 430, optionnel, formé d'un transistor Q1 de type NPN et un transistor Q2 de type PNP superposés. Ce montage 430, disposé entre l'amplificateur opérationnel 410 et le circuit de filtrage 420, est connecté d'une part à la tension d'alimentation Vcc et d'autre part à la tension de référence Vee comme illustré sur la figure 3. Ce montage 430 permet d'augmenter la valeur maximale du courant de sortie de l'amplificateur opérationnel afin de fournir un courant plus important au circuit de filtrage 26 du capteur 20 pour permettre une charge et décharge rapide de la capacité C , et donc des fronts de transition rapides du signal test filtré VF entre les états bas EB et les états hauts EH. Le gain en tension de ce transistor est égal à 1 afin de ne pas modifier la valeur de la tension de sortie du module d'amplification 40.
Le procédé selon l'invention permet de tester le capteur de détection à partir d'un signal test de tension en créneaux comprenant des informations de test codées dans des états hauts EH dont la valeur est supérieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH du capteur 20 et des états bas EB dont la valeur est inférieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDB du capteur 20.
Le procédé va notamment être décrit en référence aux figures 4 et 5. A des fins de clarté, la figure 4 illustre uniquement le signal test généré VG et le signal test filtré VF tandis que la figure 5 illustre le signal test généré VG, le signal test amplifié VA et le signal test filtré VF. Le module de génération 30 génère tout d'abord un signal test VG dans une étape E1 (cf. figure 6) et le transmet au module d'amplification 40.
Le module d'amplification 40 amplifie ensuite le signal test généré VG, dans une étape E2, notamment ses états hauts EH, comme illustré sur la figure 5, puis transmet le signal test ainsi amplifié VA au capteur 20 via sa ligne d'alimentation 23.
Le circuit de filtrage 26 du capteur 20 reçoit et filtre, dans une étape E3, le signal test amplifié VA reçu du module d'amplification 40 de sorte à obtenir un signal test filtré VF présentant des états hauts EH dont la valeur de tension est supérieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé SDH et des états bas EB dont la valeur de tension est inférieure au seuil de détection d'état bas prédéterminé SDB, comme illustré à la figure 4.
Le signal test filtré VF est ensuite fourni au circuit intégré 28 qui le décode, dans une étape E4, pour obtenir les informations de test contenues dans ledit signal test filtré VF afin de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur et les fournir au module de gestion qui analyse ces données pour déterminer l'état de fonctionnement du capteur 20, dans une étape E5.
Il est précisé, en outre, que la présente invention n'est pas limitée aux exemples décrits ci-dessus et est susceptible de nombreuses variantes accessibles à l'homme de l'art.

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé de test d'un capteur de détection (20) disposé en regard d'une cible (12) fixée sur un arbre d'entrainement (10) destiné à être monté dans un véhicule automobile, ledit capteur de détection (20) étant configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage de la cible (12) devant le capteur (20) et pour générer un signal de sortie représentatif desdites variations, ledit procédé comprenant les étapes de :
génération (E1 ) d'un signal test (VG) de tension en créneaux comprenant des états hauts (EH) dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH) et des états bas (EB) dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDB), les états hauts (EH) et les états bas
(EB) codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur (20),
- amplification (E2) des états hauts dudit signal test généré (VG),
- filtrage (E3) du signal test amplifié (VA), le filtrage (E3) étant caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé, l'amplification (E2) est réalisée d'un coefficient d'amplification égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé de sorte à obtenir un signal test filtré (VF) présentant des états hauts dont la tension est supérieure au seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH) et des états bas dont la tension est inférieure au seuil de détection d'état bas prédéterminé (SDB), et
- détection (E4) des états hauts et des états bas du signal test filtré (VF) afin de tester le capteur (20).
2. Procédé selon la revendication précédente, dans lequel, comprenant en outre une étape (E5) de collecte et d'analyse de données relatives au signal de sortie généré par le capteur (20).
3. Système (1 ) de test d'un capteur de détection (20) d'une cible (12) fixée sur un arbre d'entrainement (10) destiné à être monté dans un véhicule automobile, ledit système (1 ) comprenant :
un module (30) de génération configuré pour générer un signal test (VG) de tension en créneaux comprenant des états hauts (EH) dont la valeur est supérieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH) et des états bas (EB) dont la valeur est inférieure à un seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDB), les états hauts (EH) et les états bas (EB) codant des informations de test permettant de collecter des données relatives au signal de sortie du capteur (20), un module (40) d'amplification relié électriquement au module de génération afin de recevoir un signal test généré par ledit module de génération et configuré pour amplifier les états hauts dudit signal test reçu,
- un arbre d'entraînement (10) sur lequel est montée une cible (12), et
- un capteur de détection (20) disposé en regard de ladite cible (12) et connecté électriquement au module d'amplification (40) afin de recevoir un signal test amplifié (VA) par ledit module d'amplification (40), ledit capteur (20) comprenant :
o un circuit de filtrage (26) configuré pour filtrer ledit signal test amplifié (VA), caractérisé par un coefficient de filtrage prédéterminé et le module d'amplification (40) étant configuré pour amplifier le signal test généré (VG) d'un coefficient d'amplification égal à l'inverse du coefficient de filtrage prédéterminé, et
o un circuit intégré (28) configuré pour mesurer les variations de champ magnétique générées par le passage de la cible (12) devant le capteur (20), pour générer un signal de sortie représentatif desdites variations et pour détecter, au-delà du seuil de détection d'état haut prédéterminé (SDH), des états hauts d'un signal test filtré (VF) par le circuit de filtrage (26) et, en dessous d'un seuil de détection d'état bas prédéterminé (SDB), des états bas du signal test filtré (VF) par le circuit de filtrage (26) afin de tester le capteur (20).
4. Système de test selon la revendication précédente, dans lequel le module d'amplification (40) comprend un amplificateur opérationnel recevant sur son entrée négative le signal test généré et un circuit de filtrage, identique au circuit de filtrage du circuit intégré du capteur, dont l'entrée est reliée à la sortie de l'amplificateur opérationnel et dont la sortie est reliée à l'entrée positive de l'amplificateur opérationnel.
5. Système de test selon l'une quelconque des revendications 3 à 4, dans lequel le module d'amplification (40) comprend en outre un sous-module d'amplification de courant disposé entre la sortie de l'amplificateur opérationnel et l'entrée du circuit de filtrage du module d'amplification (40).
6. Système de test selon l'une quelconque des revendications 3 à 5, dans lequel le circuit de filtrage (26) du capteur (20) est constitué d'une résistance (R1 ) et d'une capacité (C1 ).
7. Système de test selon l'une quelconque des revendications 3 à 6, comprenant en outre un module de gestion configuré pour recevoir et analyser des données relatives au signal de sortie du capteur (20) afin d'en déterminer l'état de fonctionnement.
8. Système de test selon l'une quelconque des revendications 3 à 7, comprenant un véhicule automobile dans lequel sont montés l'arbre d'entrainement (10) et le capteur de détection (20).
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CL2016003404A1 (es) * 2016-12-30 2017-12-15 Univ De Santiago De Chile Usach Un sistema autónomo de monitoreo basado en variación de campo magnético, que permite predecir, prevenir y detectar en tiempo real material inchancable, tal como metal y/o material de “minería vieja” o faenas anteriores y/o partes o piezas de los equipos de minería, todos los anteriores cuerpos metálicos extraños e inchancables, para equipos de extracción minera y/o de carga; método de instalación; método de operación; y diente, elemento de desgaste o parte de un equipo de extracción minera y/o de carga, q
CN111190029B (zh) * 2019-12-20 2022-02-18 福建福清核电有限公司 一种核电厂汽动泵转速传感器交叉比较的系统及方法
FR3108975B1 (fr) * 2020-04-01 2022-02-25 Vitesco Technologies Procédé de diagnostic capteur vitesse/position
CN111537815A (zh) * 2020-04-03 2020-08-14 中国第一汽车股份有限公司 一种电磁兼容性测试方法、装置、系统及存储介质
CN115096175B (zh) * 2022-06-21 2023-05-16 河北航天晟达精密机械有限公司 一种集成式霍尔测角装调系统
CN115979322B (zh) * 2022-12-28 2025-09-09 湖南菲尔斯特传感器有限公司 模拟量传感器及其标定装置与标定方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19634714A1 (de) * 1996-08-28 1998-03-05 Teves Gmbh Alfred Anordnung für ein Kraftfahrzeug-Regelungssystem
US6590384B1 (en) * 1999-11-19 2003-07-08 Infineon Technologies Ag Method of communicating with a built-in sensor, in particular a rotational speed sensor
EP1331744A1 (fr) * 2002-01-23 2003-07-30 Lg Electronics Inc. Appareil de communication par lignes de puissance

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4989686A (en) * 1988-07-07 1991-02-05 Borg-Warner Automotive, Inc. System for controlling torque transmission in a four wheel drive vehicle
US6557131B1 (en) * 1999-12-23 2003-04-29 Cirrus Logic, Inc. Apparatus and method for automated testing of integrated analog to digital converters
CN101424699A (zh) * 2008-12-09 2009-05-06 宁波思创机电有限公司 一种用于主动式轮速传感器性能检测系统的电路
CN201340430Y (zh) * 2008-12-09 2009-11-04 宁波思创机电有限公司 轮速传感器综合性能检测系统
JP5099522B2 (ja) * 2009-01-09 2012-12-19 三菱電機株式会社 加速度または角速度センサの自己診断装置および自己診断方法、加速度または角速度センサ、ならびに加速度または角速度センサの初期設定方法
WO2011011479A1 (fr) * 2009-07-22 2011-01-27 Allegro Microsystems, Inc. Circuits et procédés pour mettre en place un mode de fonctionnement de diagnostic dans un capteur de champ magnétique
FR2953295B1 (fr) * 2009-12-02 2012-05-18 Sagem Defense Securite Procede de detection de panne d'un capteur frequentiel et circuit pour la mise en oeuvre de ce procede
US8564285B2 (en) * 2010-07-28 2013-10-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with improved differentiation between a sensed magnetic field signal and a noise signal
FR2999363B1 (fr) * 2012-12-10 2018-12-07 Continental Automotive France Ensemble de detection de position a tension de decalage diminuee et procede utilisant un tel ensemble
US9716453B2 (en) * 2014-08-08 2017-07-25 Johnson Electric S.A. Magnetic sensor and an integrated circuit
FR3047318B1 (fr) * 2016-01-29 2019-05-03 Continental Automotive France Procede et dispositif de test d'un capteur de detection pour vehicule automobile
DE102017108974A1 (de) * 2016-04-29 2017-11-02 Johnson Electric S.A. Magnetsensor-Integrierte-Schaltung, Motoranordnung und Gebrauchsgerät

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19634714A1 (de) * 1996-08-28 1998-03-05 Teves Gmbh Alfred Anordnung für ein Kraftfahrzeug-Regelungssystem
US6590384B1 (en) * 1999-11-19 2003-07-08 Infineon Technologies Ag Method of communicating with a built-in sensor, in particular a rotational speed sensor
EP1331744A1 (fr) * 2002-01-23 2003-07-30 Lg Electronics Inc. Appareil de communication par lignes de puissance

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180108736A (ko) * 2016-01-29 2018-10-04 콘티넨탈 오토모티브 프랑스 자동차용 검출 센서를 테스트하기 위한 방법 및 디바이스
KR102699696B1 (ko) 2016-01-29 2024-08-27 콘티넨탈 오토모티브 프랑스 자동차용 검출 센서를 테스트하기 위한 방법 및 디바이스

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