ATE372507T1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der polarisationseigenschaften von licht, das durch ein material emittiert, reflektiert oder durchgelassen wird, durch verwendung eines laser- scan-mikroskops - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der polarisationseigenschaften von licht, das durch ein material emittiert, reflektiert oder durchgelassen wird, durch verwendung eines laser- scan-mikroskops

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ATE372507T1
ATE372507T1 AT01996722T AT01996722T ATE372507T1 AT E372507 T1 ATE372507 T1 AT E372507T1 AT 01996722 T AT01996722 T AT 01996722T AT 01996722 T AT01996722 T AT 01996722T AT E372507 T1 ATE372507 T1 AT E372507T1
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Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7251029B2 (en) * 2002-07-01 2007-07-31 Canon Kabushiki Kaisha Birefringence measurement apparatus, strain remover, polarimeter and exposure apparatus
US7038848B2 (en) * 2002-12-27 2006-05-02 Olympus Corporation Confocal microscope
US7369234B2 (en) * 2003-02-03 2008-05-06 Rudolph Technologies, Inc. Method of performing optical measurement on a sample
JP2005017282A (ja) * 2003-05-30 2005-01-20 Olympus Corp 受光ユニットおよびそれを含む測定装置
DE602004031941D1 (de) 2003-05-30 2011-05-05 Olympus Co Messvorrichtung umfassend eine lichtaufnahmeeinheit
US7317517B2 (en) * 2003-07-31 2008-01-08 Intel Corporation Birefringence profiler
FR2872287B1 (fr) * 2004-06-28 2007-03-16 Cis Bio Internat Sa Procede d'amelioration de la detection des signaux de fluorescence lors d'un transfert d'energie non radiatif
US7630075B2 (en) * 2004-09-27 2009-12-08 Honeywell International Inc. Circular polarization illumination based analyzer system
RU2285279C1 (ru) * 2005-01-21 2006-10-10 Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "ЭконЦНИИМаш" (ООО НТЦ "ЭконЦНИИМаш") Лазерный сканирующий микроскоп
US7412175B2 (en) * 2005-06-20 2008-08-12 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Interferometric polarization control
JP4899169B2 (ja) * 2006-02-02 2012-03-21 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 円二色性蛍光顕微鏡
JP4921090B2 (ja) * 2006-09-25 2012-04-18 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定方法及び測定装置
JP5189301B2 (ja) 2007-03-12 2013-04-24 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
EP1988373A1 (de) * 2007-05-02 2008-11-05 National University of Ireland Galway Vektorielles Polarimetrieverfahren und Vorrichtung zum Analysieren des aus der Interaktion zwischen einem fokussierten Beleuchtungsfeld und einer zu beobachtenden Probe resultierenden dreidimensionalen elektromagnetischen Feldes
HUP0700635A2 (en) * 2007-09-28 2009-05-28 Mta Szegedi Biolog Koezpont Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes
KR20100010137A (ko) * 2008-07-22 2010-02-01 삼성전기주식회사 프로젝션 디스플레이 장치
WO2012014778A1 (ja) 2010-07-26 2012-02-02 オリンパス株式会社 発光プローブを用いて溶液中の希薄粒子を検出する方法
CN103221806B (zh) 2010-09-10 2015-11-25 奥林巴斯株式会社 使用两个以上的波长带的光的测量的光学分析方法
WO2012032981A1 (ja) 2010-09-10 2012-03-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光強度を用いた光分析方法
CN103210302B (zh) * 2010-10-19 2015-05-27 奥林巴斯株式会社 观测单个发光粒子的偏振特性的光分析装置、光分析方法
DE102010049751B4 (de) * 2010-10-29 2020-11-05 "Stiftung Caesar" (Center Of Advanced European Studies And Research) Optischer Strahlteiler zur simultanen Aufnahme eines Z-Stapels auf einem Halbleiterchip, Bausatz zum Aufbau eines optischen Strahlteilers und Lichtmikroskop
WO2012070414A1 (ja) 2010-11-25 2012-05-31 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光の波長特性を用いた光分析装置及び光分析方法
WO2012099234A1 (ja) 2011-01-20 2012-07-26 オリンパス株式会社 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置
EP2669376B1 (de) 2011-01-26 2017-08-16 Olympus Corporation Verfahren zur identifizierung von polymorphismen von nukleinsäuremolekülen
JP5856984B2 (ja) 2011-01-26 2016-02-10 オリンパス株式会社 核酸分子の多型識別方法
JP5904996B2 (ja) 2011-03-29 2016-04-20 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム
EP2706346A4 (de) 2011-04-13 2014-11-19 Olympus Corp Photoanalysevorrichtung mit erkennung einzelner lichtemittierender teilchen, photoanalyseverfahren und computerprogramm zur photoanalyse
EP2700935A4 (de) 2011-04-18 2014-10-22 Olympus Corp Quantitatives bestimmungsverfahren für zielpartikel, photometrische analysevorrichtung und computerprogramm für photometrische analysen
EP2743682B1 (de) 2011-08-11 2017-05-31 Olympus Corporation Verfahren zum nachweis von zielpartikeln
EP2746748B1 (de) 2011-08-15 2017-12-06 Olympus Corporation Fotometrische analysevorrichtung mit erkennung einzelner lichtemittierender partikel, verfahren für fotometrische analyse und computerprogramm für fotometrische analyse
CN103765196B (zh) 2011-08-26 2016-03-02 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法
CN103765195B (zh) 2011-08-26 2018-06-01 奥林巴斯株式会社 利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序
JP6010034B2 (ja) 2011-08-30 2016-10-19 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
JP6010035B2 (ja) 2011-08-30 2016-10-19 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
WO2013069504A1 (ja) 2011-11-10 2013-05-16 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
CN104115001B (zh) 2012-02-17 2016-08-24 奥林巴斯株式会社 利用单个粒子检测的光分析装置、光分析方法
CN104115003B (zh) 2012-02-22 2016-03-23 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
JP6095645B2 (ja) 2012-03-21 2017-03-15 オリンパス株式会社 標的核酸分子の検出方法
WO2013157319A1 (ja) 2012-04-18 2013-10-24 オリンパス株式会社 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム
JP5940651B2 (ja) 2012-04-18 2016-06-29 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
JP6087751B2 (ja) * 2013-07-05 2017-03-01 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム
EP3029505A4 (de) 2013-07-31 2017-03-15 Olympus Corporation Optische mikroskopvorrichtung, mikroskopieverfahren und computerprogramm zur mikroskopie mit einer technologie zur erkennung einzelner lichtemittierender partikel
US9989454B2 (en) 2013-10-04 2018-06-05 Axometrics, Inc. Method and apparatus for measuring parameters of optical anisotropy
JP6313776B2 (ja) 2013-10-07 2018-04-18 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
US9689661B2 (en) 2013-12-03 2017-06-27 The General Hospital Corporation Apparatus and method to compensate for input polarization mode variation
CN103940537A (zh) * 2014-04-10 2014-07-23 中国科学院半导体研究所 材料的微区应力测试系统
GB201411478D0 (en) * 2014-06-27 2014-08-13 Univ Salford Entpr Ltd Measuring polarisation
TWI542864B (zh) * 2014-12-30 2016-07-21 財團法人工業技術研究院 異向性量測系統、異向性量測方法及其校正方法
CN105518711B (zh) * 2015-06-29 2019-11-29 北京旷视科技有限公司 活体检测方法、活体检测系统以及计算机程序产品
GB201515862D0 (en) 2015-09-08 2015-10-21 Univ Southampton Polarisation microscope
WO2017098597A1 (ja) 2015-12-09 2017-06-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析方法及び光分析装置
EP3538941B1 (de) 2016-11-10 2025-04-23 The Trustees of Columbia University in the City of New York Schnelles hochauflösendes bildgebungsverfahren für grosse proben
JP6351893B1 (ja) * 2018-02-26 2018-07-04 日本分光株式会社 位相差制御装置
US11592393B2 (en) * 2018-11-21 2023-02-28 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Wide-field nanosecond imaging methods using wide-field optical modulators
CN110261319B (zh) * 2019-06-24 2021-11-16 西安理工大学 基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法
EP3907492A1 (de) * 2020-05-08 2021-11-10 ETH Zurich Messungen der optischen aktivität mit frequenzmodulation
US12235091B2 (en) * 2022-07-22 2025-02-25 Onto Innovation Inc. Apparatus to characterize substrates and films
CN120522670B (zh) * 2025-07-25 2025-09-16 东海实验室 一种消除噪声光干扰的测海激光雷达数据处理方法和装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4306809A (en) * 1979-03-26 1981-12-22 The Board Of Regents Of The University Of Nebraska Polarimeter
US5257092A (en) * 1990-06-27 1993-10-26 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring polarization and birefringence
JPH063594A (ja) * 1992-06-18 1994-01-14 Nikon Corp コンフォーカルレーザ走査微分干渉顕微鏡
US5457536A (en) * 1994-04-04 1995-10-10 California Institute Of Technology Polarization modulation laser scanning microscopy
JPH08160305A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Nikon Corp レーザー走査顕微鏡
US5764363A (en) * 1995-06-30 1998-06-09 Nikon Corporation Apparatus for observing a surface using polarized light
WO1997002476A1 (en) * 1995-06-30 1997-01-23 Furukawa Denki Kogyo Kabushiki Kaisha Method of evaluating and measuring polarization state, polarization state and polarization mode dispersion and apparatus therefor
WO1998013676A1 (en) * 1996-09-24 1998-04-02 Laboratory Of Molecular Biophotonics Method and instrument for polarization measurement
FR2755254B1 (fr) * 1996-10-25 1999-01-15 Centre Nat Rech Scient Composant optique de modulation, polarimetre et ellipsometre de mueller comprenant un tel composant optique, procede de calibrage de cet ellipsometre et procede de mesure ellipsometrique
US6134011A (en) * 1997-09-22 2000-10-17 Hdi Instrumentation Optical measurement system using polarized light
JPH1195114A (ja) * 1997-09-24 1999-04-09 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡装置
US6097488A (en) * 1998-06-22 2000-08-01 Princeton University Method and apparatus for measuring micro structures, anisotropy and birefringence in polymers using laser scattered light
CA2380492A1 (en) * 1999-07-27 2001-02-01 Thomas E. Furtak Parallel detecting, spectroscopic ellipsometers/polarimeters
US6356036B1 (en) * 2000-12-01 2002-03-12 Laser Diagnostic Technologies, Inc. System and method for determining birefringence of anterior segment of a patient's eye

Also Published As

Publication number Publication date
EP1334339B1 (de) 2007-09-05
EP1334339A1 (de) 2003-08-13
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HU226937B1 (en) 2010-03-29
HUP0004571A2 (hu) 2002-07-29
DE60130356D1 (de) 2007-10-18
US20030058442A1 (en) 2003-03-27
DE60130356T2 (de) 2008-05-08
US6856391B2 (en) 2005-02-15
HU0004571D0 (de) 2001-02-28

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