ATE459077T1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der aufzeichnungsparameter von optischen platten - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der aufzeichnungsparameter von optischen platten

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ATE459077T1
ATE459077T1 AT05780819T AT05780819T ATE459077T1 AT E459077 T1 ATE459077 T1 AT E459077T1 AT 05780819 T AT05780819 T AT 05780819T AT 05780819 T AT05780819 T AT 05780819T AT E459077 T1 ATE459077 T1 AT E459077T1
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determining
optimal
recording
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Fulong Tang
Jianyi Zhong
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Koninkl Philips Electronics Nv
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