BR112012018564A2 - aparelho de inspeção de defeitos - Google Patents

aparelho de inspeção de defeitos

Info

Publication number
BR112012018564A2
BR112012018564A2 BR112012018564A BR112012018564A BR112012018564A2 BR 112012018564 A2 BR112012018564 A2 BR 112012018564A2 BR 112012018564 A BR112012018564 A BR 112012018564A BR 112012018564 A BR112012018564 A BR 112012018564A BR 112012018564 A2 BR112012018564 A2 BR 112012018564A2
Authority
BR
Brazil
Prior art keywords
light source
lip section
defect inspection
reflected
inspection region
Prior art date
Application number
BR112012018564A
Other languages
English (en)
Other versions
BR112012018564B1 (pt
Inventor
Anayama Kazunori
Sakai Kenta
Ikeda Masami
Suzuma Toshiyuki
Nakao Yoshiyuki
Original Assignee
Sumitomo Metal Ind
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Ind filed Critical Sumitomo Metal Ind
Publication of BR112012018564A2 publication Critical patent/BR112012018564A2/pt
Publication of BR112012018564B1 publication Critical patent/BR112012018564B1/pt

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

aparelho de inspeção de defeitos trata-se de um dispositivo de inspeção de defeito que pode detectar precisamente defeitos na superfície de carga de um cano que tem uma superfície de carga inclinada para longe da extremidade de cano e defeitos em uma região de inspeção entre rosas de parafuso. sendo que o dito dispositivo de inspeção de defeito, o qual também pode detectar defeitos na superfície externa de uma seção de lábio , é caracterizado pelo fornecimento de: uma primeira fonte de luz (20; um primeiro meio de imageamento (3) que imagea a superfície externa de uma seção de lábio (102) mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da primeira fonte de luz e refletida para longe da superfície externa da dita seção de lábio ; uma segunda fonte de luz (7); um segundo meio de imageamento (8) que imageia uma superfície de carga ( 103) mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da segunda fonte de luz e refletida para longe da superfície de carga; uma terceira fonte de luz (9) ; um terceiro meio de imageamento (10) que iamgeia uma região de inspeção (106) entre as roscas de parafuso mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da terceira fonte de luz e refletida para longe da dita região de inspeção ; e um meio de inspeção que executa o processamento de imagem nas imagens obtidas pelo primeiro até o terceiro meio de imageamento com a finalidade de detecar defeitos na superfície externa da seção de lábio , na superfície de carga , e na região de inspeção entre as roscas de parafuso.
BR112012018564-0A 2010-01-29 2011-01-27 Aparelho de inspeção de defeitos BR112012018564B1 (pt)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010-017909 2010-01-29
JP2010017909 2010-01-29
PCT/JP2011/051583 WO2011093372A1 (ja) 2010-01-29 2011-01-27 欠陥検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
BR112012018564A2 true BR112012018564A2 (pt) 2018-07-31
BR112012018564B1 BR112012018564B1 (pt) 2019-07-02

Family

ID=44319355

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
BR112012018564-0A BR112012018564B1 (pt) 2010-01-29 2011-01-27 Aparelho de inspeção de defeitos

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9121833B2 (pt)
EP (1) EP2530457B1 (pt)
JP (1) JP4789028B2 (pt)
AR (1) AR080079A1 (pt)
BR (1) BR112012018564B1 (pt)
WO (1) WO2011093372A1 (pt)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111595266A (zh) * 2020-06-02 2020-08-28 西安航天发动机有限公司 空间复杂走向导管视觉识别方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103148809B (zh) * 2013-02-26 2016-06-08 西安理工大学 石油管外锥管螺纹参数测量装置及测量方法
KR101639043B1 (ko) 2015-09-23 2016-07-12 인제대학교 산학협력단 나사부 치수 측정 장치
US20190238796A1 (en) 2017-05-11 2019-08-01 Jacob Nathaniel Allen Object Inspection System And Method For Inspecting An Object
KR20230024390A (ko) 2020-06-17 2023-02-20 이노비전 소프트웨어 솔루션즈, 인크. 결함 복원을 위한 시스템 및 방법
US12293506B2 (en) 2021-07-20 2025-05-06 Inovision Software Solutions, Inc. Method to locate defects in e-coat
CN119338754B (zh) * 2024-09-20 2025-08-26 苏州苏南捷迈得医疗器械有限公司 基于图像处理的金属接骨螺钉缺陷检测方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60190841A (ja) * 1984-03-12 1985-09-28 Inatetsuku:Kk 鋳造品の表面の巣を検出する装置
JPS60250235A (ja) * 1984-05-25 1985-12-10 Kawasaki Steel Corp ねじ表面の検査方法及び検査装置
JPS6191507A (ja) * 1984-10-12 1986-05-09 Sumitomo Metal Ind Ltd 傾斜角測定装置
JPS6191506A (ja) * 1984-10-12 1986-05-09 Sumitomo Metal Ind Ltd 傾斜面の長さ・傾斜角測定装置
JPS61225610A (ja) * 1985-03-29 1986-10-07 Sumitomo Metal Ind Ltd ねじの表面検査装置
JPS6269113A (ja) * 1985-09-20 1987-03-30 Sumitomo Metal Ind Ltd ネジ表面検査装置
JPS63191007A (ja) * 1987-02-02 1988-08-08 Nippon Steel Corp ネジの検査測定方法
JPS63212808A (ja) * 1987-02-27 1988-09-05 Sumitomo Metal Ind Ltd ネジ形状測定装置
JPH0258588A (ja) 1988-08-23 1990-02-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd フタロシアニンlb膜およびその製法
JPH03135753A (ja) * 1989-09-22 1991-06-10 Sumitomo Metal Ind Ltd ねじ表面疵検査装置の検出能チェック方法
JP4350497B2 (ja) * 2003-12-17 2009-10-21 株式会社椿本チエイン 特殊形状物品の形状計測装置
DE10359837A1 (de) * 2003-12-19 2005-07-21 Kamax-Werke Rudolf Kellermann Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen eines Gewindes eines Verbindungselements auf Beschädigungen
JP4706356B2 (ja) * 2005-06-29 2011-06-22 Jfeスチール株式会社 ねじ形状測定装置
AR071076A1 (es) * 2008-03-27 2010-05-26 Sumitomo Metal Ind Aparato, disposicion y metodo para medir caracteristicas de una rosca en un extremo de cano o tuberia
JP5146181B2 (ja) * 2008-07-31 2013-02-20 Jfeスチール株式会社 油井管ねじ形状全周測定における周方向起点位置の設定装置
JP5146180B2 (ja) * 2008-07-31 2013-02-20 Jfeスチール株式会社 油井管ねじ形状全周測定装置
JP5251617B2 (ja) * 2009-03-06 2013-07-31 Jfeスチール株式会社 ねじ形状測定装置およびねじ形状測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111595266A (zh) * 2020-06-02 2020-08-28 西安航天发动机有限公司 空间复杂走向导管视觉识别方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2530457B1 (en) 2021-03-17
EP2530457A4 (en) 2018-01-24
JPWO2011093372A1 (ja) 2013-06-06
EP2530457A1 (en) 2012-12-05
JP4789028B2 (ja) 2011-10-05
US9121833B2 (en) 2015-09-01
WO2011093372A1 (ja) 2011-08-04
AR080079A1 (es) 2012-03-14
US20120327217A1 (en) 2012-12-27
BR112012018564B1 (pt) 2019-07-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BR112012018564A2 (pt) aparelho de inspeção de defeitos
BR112012013696A8 (pt) Equipamento para geração de imagem de contraste de fase, sistema de raios x, método para adquirir informações de imagem de contraste de fase e uso de um equipamento para geração de imagem de contraste de fase
PH12013000288A1 (en) System and method for inspecting a wafer
EP2579100A3 (en) Inspection apparatus, lithographic apparatus, and device manufacturing method
BR112015019969A2 (pt) sistemas de célula de fluxo e métodos para análise de partículas em amostras de sangue
MY151213A (en) Apparatus, system and method for measuring thread features on pipe or tube end
BR112014032112A2 (pt) sistema de aquisição de imagem; e método para aquisição de imagem multimodal
TW200736599A (en) Defect inspection device for inspecting defect by image analysis
SG10201900569TA (en) A microscope module for imaging a sample
MY142862A (en) System for image inspection of movable object and dodging method
WO2012091344A3 (ko) 비전검사장치
BR112014009088A2 (pt) sistema e método para controlar a qualidade de um objeto
EP3889590A3 (en) Apparatus for inspecting a substrate for a foreign substance
MX2015004816A (es) Aparato y metodo para determinar la desviacion de posicion objetivo de dos cuerpos.
SG158756A1 (en) Hole inspection method and apparatus
BR112012025983A2 (pt) método para detecção de defeitos em artigos de vidro e instalação para implantação do dito método
BR112018011850A2 (pt) método e aparelho para verificar um pneu
TW200604517A (en) Method and system for the inspection of a wafer
CN202083644U (zh) 一种基于全景成像技术的钢管内壁检测系统
MX386493B (es) Dispositivo optico para detectar un defecto interno de un sustrato transparente y metodo para el mismo.
BR112014017144A8 (pt) aparelho de geração de imagens; aparelho de ressecção para a realização de um procedimento de ressecção; método de geração de imagens; método de ressecção para a realização de um procedimento de ressecção; programa de computador de geração de imagens; e programa de computador de ressecção para a realização de um procedimento de ressecção
WO2009031612A1 (ja) 観察装置および観察方法、並びに検査装置および検査方法
BR112013033824A2 (pt) inspeção ótica de recipientes
BR112016022572A2 (pt) Dispositivo de processamento de informação, projetor e método para processamento de informação
MY148191A (en) System and method for inspection of semiconductor packages

Legal Events

Date Code Title Description
B25A Requested transfer of rights approved

Owner name: NIPPON STEEL AND SUMITOMO METAL CORPORATION (JP)

B06F Objections, documents and/or translations needed after an examination request according art. 34 industrial property law
B09A Decision: intention to grant
B16A Patent or certificate of addition of invention granted

Free format text: PRAZO DE VALIDADE: 20 (VINTE) ANOS CONTADOS A PARTIR DE 27/01/2011, OBSERVADAS AS CONDICOES LEGAIS. (CO) 20 (VINTE) ANOS CONTADOS A PARTIR DE 27/01/2011, OBSERVADAS AS CONDICOES LEGAIS

B25D Requested change of name of applicant approved

Owner name: NIPPON STEEL CORPORATION (JP)