CH248841A - Tiefenmikrometer. - Google Patents

Description

  



     Tiefenmikrometer.   



   Die Erfindung betrifft einen   Tiefen-    mikrometer mit das   Mikrogewinde    tragender Hülse und in dieser   verschieb-und      feststell-    bar angeordneter   MeBstange.    Sie besteht darin, daB eine Büchse fest mit der das Mikrogewinde tragenden Hülse verbunden ist, und daB eine zweite, mit einer   Noniuseintei-    lung versehene Büchse so mit der   erstgenann-      ten Büchse verbunden    ist, daB sie gegenüber dieser nach Überwindung eines Widerstandes gedreht werden kann.



   Im folgenden wird an Hand der   Zeich-      nung    ein Ausführungsbeispiel der Erfindung erlÏutert. Fig.   1    zeigt ein   Tiefenmikrometer    in einem Schnitt entlang der Achse und Fig. 2 eine Ansicht von oben. Die senkrecht zur gelÏppten Me?flÏche des Fu?es A stehende, geschliffene Bohrung dient entweder zur Lagerung der Me?stange E oder zur Lagerung einer der Büchsen   K,    welche in den Fig. 3 und 4 ersichtlich sind. Die Skalab chse B besitzt eine Skala von 0 bis 25 Millimeter und ist im FuB   A eingepreBt    ; in ihr ist die   Mikrosehraubenmutter    F fest gelagert.

   Die   Messstange    E ist einerseits in der in der Büchse H eingepreBten, das Mikrogewinde tragenden Hülse C gelagert, welche zu einer Spannzange ausgebildet ist ; durch Anziehen der Klemmutter J kann die   Messstange    E mit Hilfe der Spannzange in der Hülse C festgeklemmt werden. Die in der Büchse H mit   Haftsitz    eingepasste, mit einer Noniuseinteilung versehene Büchse D ist auf der LÏnge des   Haftsitzes    derart mit Schlitzen versehen, daB sie von Hand gerade noch in der Büchse   H gedreht werden    kann. Dies ermöglicht ein rasches und genaues Einstellen, z.

   B. so, da? wenn die   Messstangenstimf lache    mit der Messfläche des FuBes A übereinstimmt, auch die   Ausgangsstellungen    Null der Skalabüchse B und der Noniusbüchse D übereinstimmen.



   Will man z. B. Messungen im Bereiche von 25 bis 50 Millimeter vornehmen, so wird die   Noniusbüohse    D auf die Ausgangsstellung Null gebracht, die gelöste MeBstange E mittels eines KontrollmaBes so eingestellt, da? sie um 25 Millimeter  ber den FuB A   vor-    steht und festgeklemmt. Durch das Festklemmen tritt aber eine kleine Verschiebung der Stange E in der Hülse   C    auf. Um diese Differenz zu beheben, dreht man die Hülse H, bis die Stange E wieder auf die einzustellende Messlänge von 25 Millimeter gebracht ist. Durch eine entgegengesetzte Drehung der Noniusbüchse D gegenüber der Hülse   H    erreicht man wieder die Ausgangsstellung Null.



   Die   Mikroschraubenmutter    F, welche in der   Skalabüchse    B   eingepreBt    ist, ist   eben-    falls zu einer Spannzange ausgebildet, zu dem Zwecke, um das durch das Auslaufen des Mikrogewindes der H lse C und der   Mutter E eingetretene    Spiel durch Anziehen der Einstellmutter G zu beheben.



   Um Messungen von schmalen Sahlitzen und Bohrungen vornehmen zu können, sind   entsprechende Messstangen    E mitzugehörigen Biichsen E und   L    vorgesehen. Die   Biiehse    K wird in der Bohrung des Fusses A mit Hilfe   fines    Exzenters arretiert. Die Büchse L ist   der-t    mit einem Schlitz versehen, dass sie durch Anziehen der Klemmutter J in der Spannzange der Hülse C die betreffende MeBstange E festklemmt.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH : Tiefenmikrometer mit das Mikrogewinde tragender Hülse und in dieser verschieb-und feststellbar angeordneter Messstange, dadurch gekennzeichnet, dass eine Büchse (E) fest mit der das Mikrogewinde tragenden Hülse (C) verbunden ist, und daB eine zweite, mit einer Noniuseinteilung versehene Büchse (D) so mit der erstgenannten Büchse (H) verbunden ist, dal3 gegeniiber dieser nach Über- windung eines Widerstandes gedreht werden kann.

   UNTERANSPRUCH : Tiefenmikrometer nach Patentanspruch, gekennzeichnet durch dazugeh¯rende, an der Stelle der MeBstange einzusetzende Lager büehsen, zu dem Zwecke, MeBstangen mit kleineren Durchmessern verwenden zu k¯nnen.