CS243347B1 - Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek - Google Patents

Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek Download PDF

Info

Publication number
CS243347B1
CS243347B1 CS851250A CS125085A CS243347B1 CS 243347 B1 CS243347 B1 CS 243347B1 CS 851250 A CS851250 A CS 851250A CS 125085 A CS125085 A CS 125085A CS 243347 B1 CS243347 B1 CS 243347B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
protective
insulating
annealing
semi
insulating layer
Prior art date
Application number
CS851250A
Other languages
English (en)
Other versions
CS125085A1 (en
Inventor
Frantisek Deml
Original Assignee
Frantisek Deml
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Frantisek Deml filed Critical Frantisek Deml
Priority to CS851250A priority Critical patent/CS243347B1/cs
Publication of CS125085A1 publication Critical patent/CS125085A1/cs
Publication of CS243347B1 publication Critical patent/CS243347B1/cs

Links

Landscapes

  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

Nanášení a testování a poimplantačního žíhání aIIIbV látek při testování materiálu a při přípravě výroby integrovaných obvodů. Podstata řešení spočívá v tom, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku,.'nebo jejich kombinací chemickými reakcemi, nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z aIIIbv látek, a žíhání poloizolačních podložek z AI:tIBv látek a poloizolačních podložek z aii:cBv látek s implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhacím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášení .ochrany né a izolační vrstvy se zahajuje již v náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.

Description

(54) Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek
Nanášení a testování a poimplantačního žíhání aIIIbV látek při testování materiálu a při přípravě výroby integrovaných obvodů. Podstata řešení spočívá v tom, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku,.'nebo jejich kombinací chemickými reakcemi, nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z aIIIbv látek, a žíhání poloizolačních podložek z AI:tIBv látek a poloizolačních podložek z aii:cBv látek s implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhacím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášení .ochrany né a izolační vrstvy se zahajuje již v náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
Vynález se týká způsobu nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek s použitím poimplantačního nebo testovacího žíhání jednak poloizolačních podložek z AI:IIBV látek a dále poloizolačních podložek z A^^B^ látek s implantovanými vrstvami.
Jedním z důležitých technologických procesů při přípravě integrovaných obvodů na bázi galiumarsenidu nebo jiných AIII:bV látek je žíhání. Používá se při temperování, testování tepelné odolnosti a k aktivaci iontů implantovaných do poloizolačního galiumarsenidu.
Provádí se obvykle při teplotách v rozmezí 1 023 až 1 173 K. Zahříváním galiumarsenidu nad teplotu 873 K však dochází k vypařování arsenu z povrchu podložky, a tím ke změně složení a nežádoucí změně elektrických parametrů povrchové vrstvy.
K zamezení rozkladu galiumarsenidu za zvýšené teploty se používá řada způsobů. Mezi nejúčinnější patří způsob, při kterém se galiumarsenid pokryje tenkou, řádově 101 až 10^ nanometrů tlustou ochrannou a izolační vrstvou kysličníku křemíku, nitridu křemíku nebo kysličníku hliníku.
Tyto ochranné a izolační vrstvy se nanášejí v samostatném technologickém cyklu ve speciálních, k tomu účelu zkonstruovaných deposičních zařízeních při teplotě nižší než 873 K, a to termálním rozkladem napařováním nebo naprašováním příslušných sloučenin.
V průběhu dalšího, zcela samostatného technologického cyklu se na jiném zařízení podložka z galiumarsenidu, nebo poloizolační podložka s implantovanými ionty žíhá při teplotě 1 023 až 1 173 K v inertní atmosféře vodíku, argonu nebo dusíku po dobu řádově 101 min.
Nevýhodou stávajícího způsobu je skutečnost, že se jednotlivé operace, to je jednak nanášení ochranné a izolační vrstvy a dále žíhání provádějí samostatně v nejméně dvou speciálních, pro tyto účely zkonstruovaných zařízeních - reaktorech, a že je časově i energeticky poměrně náročný.
Při stávajícím pracovním způsobu v nejméně dvou cyklech dochází také k vícenásobnému tepelnému namáhání materiálu, přičemž zvláště při nahřívání podložky s izolační vrstvou na teplotu žíhání dochází vzhledem k rozdílnému koeficientu roztažnosti k pnuti, které může mít za následek porušení povrchové vrstvy poloizolační podložky, nebo její implantované části.
Výše uvedené nedostatky odstraňuje způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podlož ky z látek, podle vynálezu, s použitím poimplantačního nebo testovacího žíhání jednak poloizolačních podložek z AII:CBV látek s implantovanými vrstvami.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku, nebo jejich kombinací chemickými reakcemi, nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z AIIJ:BV látek a na implantované vrstvy na izolačních podložkách z AI:!:ibV látek a žíhání poloizolačních podložek z AIIXBV látek a poloizolačních podložek z AIITBV látek s implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhaoím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášení ochranné a izolační vrstvy se zahajuje již v průběhu náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
Výhodou pracovního způsobu podle vynálezu je skutečnost, že podložka z galiumarsenidu je tepelně namáhána poměrně kratší dobu, než tomu bylo u dosavadních způsobů, a nárůst izolační vrstvy probíhá ve stejném časovém průběhu jako žíhání.
Protože teplota je při nanášení izolační a ochranné vrstvy vyšší než 773 K, jsou výsledné izolační a ochranné vrstvy kompaktnější, než byly ochranné a izolační vrstvy, vytvoené za nižších teplot.
Způsob podle vynálezu je rychlý, snadno realizovatelný, soustavně reprodukovatelný a lze jej s výhodou používat při testování tepelné odolnosti poloizolačních podložek z gali» umarsenidu nebo jiných látek, dále k testování funkce implantovaných vrstev a také při vlastním procesu výroby integrovaných obvodů.
Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AXIIBV látek podle vynálezu bude následovně blíže popsán ve dvou příkladových provedeních:
Příklad 1
Způsob testování tepelné odolnosti poloizolačních podložek z galiumarsenidu:
Povrchově upravená poloizolační podložka z galiumarsenidu se zasune do držáku umístěného v žíhacím reaktoru. Reaktor se uzavře a propláchne inertním plynem a začne vyhřívat.
Jakmile teplota dosáhne 673 až 723 K, vpustí se do reaktoru směs silanu a kyslíku, přičemž se teplota dále zvyšuje až na teplotu 1 123 K. Přitom dochází k termálnímu rozkladu silanu a kyslíku, při kterém narůstá na poloizolační podložce z galiumarsenidu vrstva kysličníku křemíku.
Jakmile tlouštka této vrstvy dosáhne 100 až 150 nanometrů, nárůst izolační vrstvy se zastavením dávkování silanu a kyslíku přeruší. Poloizolační podložka z galiumarsenidu se potom dále žíhá jen v inertní atmosféře po dobu 30 min při teplotě 1 123 K takzvaným Rockwellov ským testem.
Po ochlazení se podložka vyjme z reaktoru a ochranná a izolační vrstva se odleptá a provede se měření elektrických parametrů poloizolačního galiumarsenidu.
Příklad 2
Způsob lokální implantace implantovaných iontů a nanášení ochranné a izolační vrstvy při výrobě integrovaných obvodů:
Na povrchově upravené podložce poloizolačního galiumarsenidu se postupně vytvoří známou technologií požadované motivy a provede se implantace iontů do lokálně ohraničených oblastí, například do MESFE tranzistorů, načež se po odstranění fotoresistu provede kontrolní měření implantované dávky.
Poloizolační podložky z galiumarsenidu s naimplantovanými motivy se uloží na držák umístěný v žíhacím reaktoru. Reaktor se uzavře a postupem uvedeným v příkladu 1 se provádí žíhání, při kterém nastává aktivace implantovaných iontů, přičemž se na podložku s implantovanou vrstvou současně nanese požadovaná tlouštka ochranné a izolační vrstvy kysličníku křemíku, nitridu křemíku, nebo kysličníku hlinitého.
Po ochlazení a vyjmutí podložky s implantovanou vrstvou z reaktoru se z podložky galiumarsenidu postupným odstraněním ochranné a izolační vrstvy odhalí naimplantované části, na kterých se zhotoví známým způsobem kontakty a Schottkyho přechody.

Claims (1)

  1. pRedmět VYNÁLEZU
    Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AII:IBV látek s použitím poimplantačního nebo testovacího žíhání jednak poloizolačních podložek z AI:tIBV látek, a dále poloizolačních podložek z AIIIBV látek s implantovanými vrstvami, vyznačený tím, že nanášení ochranné a izolační vrstvy na bázi nitridu, případně kysličníku křemíku nebo hliníku, nebo jejich kombinací chemickými reakcemi nebo termálním rozkladem na poloizolační podložky z ΑΙΣΙΒν látek a na implantované vrstvy na izolačních podložkách z AI:IIBV látek a žíhání poloizolačních podložek z AIIIBV látek a poloizolačních podložek z AI:tIBV látek s Implantovanými vrstvami se provádí v jednom žíhacím zařízení v průběhu jednoho pracovního cyklu, přičemž nanášeni ochranné a izolační vrstvy se zahajuje již v průběhu náběhu žíhání před dosažením teploty 873 K.
CS851250A 1985-02-21 1985-02-21 Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek CS243347B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS851250A CS243347B1 (cs) 1985-02-21 1985-02-21 Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS851250A CS243347B1 (cs) 1985-02-21 1985-02-21 Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS125085A1 CS125085A1 (en) 1985-08-15
CS243347B1 true CS243347B1 (cs) 1986-06-12

Family

ID=5346393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS851250A CS243347B1 (cs) 1985-02-21 1985-02-21 Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS243347B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS125085A1 (en) 1985-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE369624T1 (de) Verfahren zur hochtemperatur- kurzzeithärtung von materialen mit niedrieger dielektrizitätskonstante unter verwendung eines schnellen thermischen prozesses
Sachse et al. Electrical properties of platinum-hydrogen complexes in silicon
US4661177A (en) Method for doping semiconductor wafers by rapid thermal processing of solid planar diffusion sources
Von Allmen et al. Phase transformations in laser‐irradiated Au‐Si thin films
Wemple et al. Long-term and instantaneous burnout in GaAs power FET's: Mechanisms and solutions
Wesch Ion implantation in III–V compounds
Yeow et al. An investigation of the influence of low-temperature annealing treatments on the interface state density at the Si-SiO2
Levy et al. Formation of palladium silicide by rapid thermal annealing
Wood et al. Melting model of pulsed laser processing
Kwong et al. Pulsed laser heating of silicon: The coupling of optical absorption and thermal conduction during irradiation
Deneuville et al. Influence of preparation conditions on forward‐bias currents of amorphous silicon Schottky diodes
CS243347B1 (cs) Způsob nanášení ochranné a izolační vrstvy na podložky z AIIIBV látek
Licoppe et al. Direct measurement of solid‐phase epitaxial growth kinetics in GaAs by time‐resolved reflectivity
US3156593A (en) Fabrication of semiconductor devices
GB2230607A (en) Temperature- controlled bodies
Levy et al. Formation of palladium and titanium silicides by rapid thermal annealing
JPS60239400A (ja) 化合物半導体のアニ−ル法
Micheli et al. Laser microfabrication of thin films: Part one
JPS57102053A (en) Semiconductor device
US3469308A (en) Fabrication of semiconductive devices
JPS57166025A (en) Heat treatment method for compound semiconductor device
US4302278A (en) GaAs Crystal surface passivation method
Lojek The Behavior of Free-Carriers During Rapid Thermal Annealing of Doped Silicon
US3384518A (en) Method for making semiconductor devices
Drowley et al. Formation of Shallow P+ Junctions Using Two-StepAnneals