DD149747B1 - Abtastvorrichtung zur pruefung von intergrierten schaltkreisen auf leiterplatten - Google Patents
Abtastvorrichtung zur pruefung von intergrierten schaltkreisen auf leiterplatten Download PDFInfo
- Publication number
- DD149747B1 DD149747B1 DD21999280A DD21999280A DD149747B1 DD 149747 B1 DD149747 B1 DD 149747B1 DD 21999280 A DD21999280 A DD 21999280A DD 21999280 A DD21999280 A DD 21999280A DD 149747 B1 DD149747 B1 DD 149747B1
- Authority
- DD
- German Democratic Republic
- Prior art keywords
- scanning device
- circuit
- pcb
- examining
- receptacle
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 14
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 claims description 11
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 2
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004870 electrical engineering Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000005405 multipole Effects 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
Erfinder: Günter Sprengel Berlin, den 24.03.80
Zustellungsbevollm«: Institut für
Regelungstechnik im Kombinat YSB Slektro-Apparate-V/erke Berlin 1055 Berlin, Storkower Str. 101 Pat.-Ing. Peter läitteloerger
-4- 219992
Abtastvorrichtung zur Prüfung von integrierten Schaltkreisen auf Leiterplatten
H C5 Z 13/00 7/12
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft eine Abtastvorrichtung zur Prüfung von integrierten Schaltkreisen auf Leiterplatten, die in 'ieräten und Anlagen der Elektrotechnik/Elektronik eingesetzt v/erden.
Charakteristik der bekannten technischen Lesungen
ЗепаіЗ 3D-#? 136 327 und DD-'CP 137 7S2 sind Zontaktierungseinricatungen zum Prüfen von elektronischen S с aalt kr eis bauelementen bekannt, sit denen vor Einbau der Schaltkreise eine Prüfung der elektrischen Parameter-erfolgt. Nachteilig ist ins wesentlichen dabei, dai3 mit den Vorricatungsn keine funktionelle Prüfung möglich ist.
2um allgemein bekannten Stand der Technik gehört vveiterhin, daß zur Fehlerlokalisierung mittels geführtem Prüfstift eins 3inzelstiftabtastung vorgenommen wird. Lie Einzelstiftabta— stung ermöglicht jedoch keine rationelle Fehlerlokalisierung, setzt umfangreiches technisches Wissen voraus, ist arbeitsaufwendig und erfordert rechneraufbereitete Fehlerkataloge.
Weiterhin gehört zum allgemein bekannten Stand der Technik, daß mittels einer Abtastvorrichtung eine Fahlerlokalisierung vorgenommen wird, indem gleichzeitig eine Adaptierung aller
2ШІ1980*86О74С
^19992
Kontakte eines Schaltkreises und Vergleich mit einem fehlerhaften Muster erfolgt·
Nacht-eilig ist hierbei die kraftschlüssige Halterung, die Abhängigkeit des Einsatzes der Vorrichtung von der Packungsdichte der Schaltkreise und der Lage der Leiterplatten sowie der Zwischenadaptierung· Die Zwischenadaptierung ermöglicht zwar eine bessere Zugänglichkeit der Kontakte, erfordert jedoch eine weitere Ädaptierung, erhöht dadurch die Kontaktzahl pro Signal« leitung und erschwert somit eine funktionssichere Prüfung der Schaltkreise·
Nachteilig ist ferner, daß mit jeweils einer Vorrichtung nur eine Schaltkreisgröße geprüft werden kann und diese nicht selbsthaltend ist·
Bekannt ist weiterhin gemäß DE-GM 7409 940 ein Adapter zum lötseitigen Kontaktieren von in Leiterplatten eingelöteten Bauelementen mit mehreren Anschlüssen zu Prüfzwecken nit in einem Kopf eines Adaptergehäuses angeordneten, in Stifthülsen federnd gelagerten Kontaktstiften·
Mit dem Adapter ist nur eine lötseitige Kontaktierung und somit ein begrenzter Einsatz möglich. Der wesentliche Mangel ist die fehlende Selbsthaltung und die Abhängigkeit der Zentrierung von der Sauberkeit der Lötstellen und der damit verbundenen Kurzschlußgefahr·
Weiterhin ist aus der DD-PS 62 362 eine federnde Haltekralle zur Halterung und Verriegelung mehrpoliger Kontaktanordnungen bekannt .
Durch Druck auf die Betätigungsansätze werden die mittels Pederwirkung über Drehpunkte angeordneten Hasthebel nach außen gespreizt und gewährleisten nach dem Loslassen durch die Feder UEd die Verriegelungsnase am- Hasthebel einen formscblüssigen Singriff.
- 7,fö ν 11E'' * i "*: & **· iJ «*
2 19992
Ziel der Erfindung
Der nützliche Effekt der Erfindung besteht darin, daß unabhängig von der Packungsdichte mit geringem Aufwand eine rationelle funktionssichere Prüfung der integrierten Schaltkreise zentrisch in jeder Lage der Leiterplatte ermöglicht wird, wobei sich die Abtastvorrichtung wegen der Eignung zur Prüfung unterschiedlicher Größen von integrierten Schaltkreisen durch einen hohen Wiederholteilgrad auszeichnet.
Darlegung des Wesens der Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, unter Vermeidung einer Zwischenadaptierung eine formschlüssig selbsthaltende Abtastvorrichtung mit geringer Eigenmasse zu entwickeln, mit der auf Leiterplatten eingelötete, integrierte Schaltkreise unterschiedlicher Größen in Funktion sicher geprüft werden können·
Erfindungsgemäß besteht die Abtastvorrichtung zur Prüfung von integrierten Schaltkreisen unter Verwendung von bekannten Kontaktfedem, einer bekannten Eabelzugentlastung sowie einer bekannten Haltekralle aus einem Körper, in den zentrisch eine Bohrung zur Aufnahme eines Stößels vorhanden ist, an dessen einem Ende eine Aufnahme und an dem anderen Ende eine federnd gelagerte Scheibe angebracht ist. Der Körper ist mit Bohrungen und Nuten versehen, in denen die Haltekralle gelagert ist.
Die Aufnahme ist entsprechend der Größe des Schaltkreisgehäuses mit einer Zentrierung versehen und besitzt einen Kragen zum Auseinanderspreizen der Kontaktfedern.
Die Torrichtung wird bei gleichzeitigem Druck auf die Druckstücke, wodurch die Ealtekrallen nach außen gespreizt werden, so auf den integrierten Schaltkreis gesetzt, daß die Zentrierung der Aufnahme den Schaltkreis allseitig umschließt. Nach dem Loslassen der Druckstücke greifen durch Einwirkung einer Feder die Haltekrallen unter den Schaltkreis, wodurch unter
219992
Federdruck der Körper und die Aufnahme auseinandergedrückt werden, sodaß sich, die Vorrichtung auf dem Schaltkreis lageunabhängig formschlüssig hält. Der Kragen der Aufnahme gibt die Kontaktfedarn frei, die durch ihre Torspannkraft mit den Kontaktfüßen des Schaltkreises kontaktieren.
Ausführungsbeispiel
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels erläutert. In der zugehörigen Zeichnung zeigen:
Fig. 1: erfindungsgemäße Torrichtung mit Abtastfedern in Ruhestellung
Fig. 2: erfindungsgemäße Torrichtung auf Prüfling aufgesetzt mit Abtastfedern in Funktion
Fig. 3: erfindungsgemäße Torrichtung mit Ealtekrallen Fig. 4: erfindungsgemäße Torrichtung - Gesamtansicht
Die nachstehenden Ausführungen beziehen sich auf die Figuren 1 bis 4, wobei die Bezugszeichen in derjenigen Figur der Zeichnung enthalten sind, welche die jeweilige 3inzelheit am besten erkennen läßt.
Die Torrichtung -.vird auf den Prüfling aufgesetzt, wobei durch Druck auf die Druckstücke 9 die Haltekrallen 8 gespreizt werden und die Zentrierung 15 den Prüfling allseitig umschließt.. Die Torrichtung ist weiter in Richtung Prüfling zu drücken bis zu einem spürbaren Anschlag. Dabei werden die Sontaktfedern durch den Kragen 16 freigegeben und drücken durch ihre Torspannkraft gegen die Lötfüße des Prüflings. Durch Loslassen der Druckstücke 9 greifen die Haltekrallen 8 durch Druck der Feder 7 unter den Prüfling. Durch'die Druckkraft der Feder 5 werden der Körper 1 und die Aufnahme 2 auseinandergedrückt und damit die Haltekrallen 8 gegen den Prüfling gezogen, wodurch die Torrichtung auf dem Prüfling selbsttätig gehalten wird.
Die Aufnahme 2 besitzt Kammern 17, in welchen die Eontaktfedern 11 gegen mechanische Beschädigungen geschützt liegen· Mittig ist eine Bohrung angeordnet, in welcher der Stößel 3 fest eingebettet ist.
219992
_ 5 —
Der Körper 1 ist so ausgebildet, daß er in entsprechenden Ausnehmungen die für den Prüfling notwendige Anzahl von Kontaktfedern 11 aufnehmen kann. Die Zontaktfedern 11 sind durch zwei Abkröpfungen 18 vertikal und durch zwei Platten 12, die am Körper 1 verschraubt sind, horizontal fixiert. Mittig besitzt der Körper 1 eine Bohrung, in welcher der Stößel 3 gleitet. Auf dem Stößel 3 sitzt eine Scheibe 4, die in Ruhestellung ein Auseinanderdrücken des Körpers 1 und der Aufnahme 2 verhindert und als Anlage für die Feder 5 dient. Unterhalb des Körpers 1 sind Bohrungen angeordnet, in welchen mittels Stiften 10 die Haltekrallen S entsprechend der Größe des Prüflings versetzt angeordnet werden können. Im Durchbruch der Haltekrallen 8 können ebenfalls entsprechend der Prüflingsgröße unterschiedliche Druckstücke 9 eingesetzt werden.
Oberhalb des Körpers 1 ist eine Kopfplatte 6 angebracht, welche Kabelschachtβ 14 für Sandkabel aufweist. In diesen Kabalschächten 14 ist je eine Druckplatte 13 angeordnet» Jede dieser Platten wird mit zwei Schrauben 'an die bandkabel gedrückt und diese damit zugentlastet.
Zum Schutz der Anschlußenden der Kontaktfeder!; 11- und dar Kabel wird über den Körper 1 eire Schutzkappe 19 geschoben und befestigt.
Zie Vorrichtung zeichnet sich durch sine geringe Eigenmasse aus, die bewirkt, daß sich die Torrichtung im aufgesteckten Zustand auf dem Gehäuse des Schaltkreises in jeder Lage der Leiterplatte selbsttätig hält und eine einwandfreie Kontaktsabs gewährleistet.
Zurch federnde Haltekrallan ist die Vorrichtung auf dem Gehäuse des Schaltkreises selbsthaltend, wodurch während der Funktionsprüfung neben der .Ausführung von anderen Arbeitsoperationen durch den Bedienenden eine sichere Kcntaktgabe aller Lötfäße des Schaltkreises in jsd3r Lage der Leiterplatte gewährleistet ist. Per untere Tail der Torrichtung ist so ausgebildet, daß bei einem Mindestabstand von 2 mm zwischen Schaltkreis und angrenzenden Bauelementen und einer
219992
Höhe von 13 пш dieser Bauelemente ein Aufsetzen der Vorrichtung auf den Schaltkreis noch möglich ist. Die Verrichtung ist so gestaltet, daß durch geringfügige Veränderungen und Teileaustausch mit einer minimalen Anzahl von Einzelteilen und Baugrößen alle vorkommenden integrierten Schaltkreise geprüft werden können.
Claims (1)
- 219992_7_ErfindungsanspruchAbtastvorrichtung zur Prüfung von integrierten Schaltkreisen auf Leiterplatten unter Verwendung von Kontaktfedern, einer Haltekralle und Kabelzugentlastung, gekennzeichnet dadurch, daß zentrisch im Körper (1) eine Bohrung zur Aufnahme eines Stößels (3) vorhanden ist, an dessen einem En-de eine Aufnahme (2·) und an dem anderen Ende eine federnd gelagerte Scheibe angebracht ist, daß der Körper (1) mit Bohrungen und Nuten versehen ist, in denen(ite. bekannte Haltekralle (8) gelagert ist und daß die Aufnahme (2) entsprechend der Größe des Schaltkreisgehäuses mit einer Zentrierung (15) und einem Kragen (16) zum Spreizen der Kontaktfedern (11) versehen ist·Hserzu.._il?._„S8iien Zeichnungen
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD21999280A DD149747B1 (de) | 1980-03-28 | 1980-03-28 | Abtastvorrichtung zur pruefung von intergrierten schaltkreisen auf leiterplatten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD21999280A DD149747B1 (de) | 1980-03-28 | 1980-03-28 | Abtastvorrichtung zur pruefung von intergrierten schaltkreisen auf leiterplatten |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DD149747A1 DD149747A1 (de) | 1981-07-22 |
| DD149747B1 true DD149747B1 (de) | 1984-11-28 |
Family
ID=5523384
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DD21999280A DD149747B1 (de) | 1980-03-28 | 1980-03-28 | Abtastvorrichtung zur pruefung von intergrierten schaltkreisen auf leiterplatten |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DD (1) | DD149747B1 (de) |
-
1980
- 1980-03-28 DD DD21999280A patent/DD149747B1/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DD149747A1 (de) | 1981-07-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0026824B2 (de) | Adapter für eine Vorrichtung zur elektronischen Prüfung von Leiterplatten | |
| EP0858726A1 (de) | Elektrische verbindungseinrichtung | |
| DE19626611C2 (de) | Transportvorrichtung für Halbleitervorrichtungen | |
| DE202012001645U1 (de) | Vorrichtung zur Kontaktierung einer Leiterplatte | |
| DE69131266T2 (de) | Universal Mehrfach-Kontakt-Verbindung zwischen einer EWS-Probekarte und eine Testkarte oder einer Siliciumscheiben-Teststation | |
| DE102008036117A1 (de) | Halbleitervorrichtungssockel | |
| DD149747B1 (de) | Abtastvorrichtung zur pruefung von intergrierten schaltkreisen auf leiterplatten | |
| DE102020133736B3 (de) | Einzelkontaktierungseinrichtung für eine prüfvorrichtung zum durchgangsprüfen eines steckverbinders und prüfvorrichtung | |
| DE2051052A1 (de) | Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten | |
| DE3839539A1 (de) | Multikompatible halteeinrichtung fuer zu pruefende leiterplatten bzw. flachbaugruppen, und fuer kontaktstift-traegerplatten und niederhalteplatten zur verwendung in pruefgeraeten | |
| WO2005078460A1 (de) | Vorrichtung und verfarhen zum prüfen eines halbleiterbauteils mit kontaktflächen auf beiden seiten | |
| EP3009852B1 (de) | Testkontaktor, verwendung eines testkontaktors und verfahren zum prüfen einer leiterplatte | |
| DE3405566C2 (de) | Verriegelungseinrichtung für eine Vorrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen | |
| DE3148285A1 (de) | Pruefadapter zum ankontaktieren von zu pruefenden elektronik-flachbaugruppen (leiterplatten) an ein universal-pruefgeraet | |
| DE19814312C2 (de) | Vorrichtung zum automatischen Testen von Baugruppen oder Bauateilen | |
| DE3405567A1 (de) | Einrichtung zur lagegenauen positionierung von flachbaugruppen auf pruefadaptern (pendelnde fuehrungsnadeln) | |
| DE102005030551B3 (de) | Vorrichtung zum Übertragen von elektrischen Signalen zwischen einem Tester und einem Prüfadapter | |
| AT526936B1 (de) | Vorrichtung zum elektrischen Prüfen von Halbleiterbauelementen | |
| DD214724A1 (de) | Elektrische steckverbindung | |
| DE3248796C2 (de) | Pneumatische Kontaktiereinrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen | |
| DE19716945A1 (de) | Prüfadapter für elektrische Flachbaugruppen | |
| DD274759A3 (de) | Kontaktiereinrichtung | |
| DE4405527C1 (de) | Einrichtung zum Testen von Halbleiterwafern | |
| DD259707A1 (de) | Vorrichtung zum loesbaren verbinden elektrischer leitungen | |
| DE102010062689A1 (de) | Vorrichtung zum Kontaktieren wenigstens einer Kontaktfläche einer Haushaltsgeräte-Elektronik |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| ENJ | Ceased due to non-payment of renewal fee |