DE60219792T2 - Glanzsensor mit schmutzkompensationsvorrichtung und -verfahren - Google Patents

Glanzsensor mit schmutzkompensationsvorrichtung und -verfahren Download PDF

Info

Publication number
DE60219792T2
DE60219792T2 DE60219792T DE60219792T DE60219792T2 DE 60219792 T2 DE60219792 T2 DE 60219792T2 DE 60219792 T DE60219792 T DE 60219792T DE 60219792 T DE60219792 T DE 60219792T DE 60219792 T2 DE60219792 T2 DE 60219792T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
gloss
collimator
mirror
gloss sensor
sensor according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60219792T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60219792D1 (de
Inventor
Edward San Fransisco BELOTSERKOVASKY
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honeywell International Inc
Original Assignee
Honeywell International Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell International Inc filed Critical Honeywell International Inc
Publication of DE60219792D1 publication Critical patent/DE60219792D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60219792T2 publication Critical patent/DE60219792T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/57Measuring gloss

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft Glanzsensoren zum Messen der Oberflächeneigenschaften von Papierlagen und insbesondere die Messung von Glanz unter Verwendung einer einzelnen Vorrichtung, die eine Kompensation für den Schmutzaufbau bereitstellt.
  • 2. Beschreibung des Stands der Technik
  • Bei einem der beim Bestimmen der Qualität einer Oberfläche verwendeten Parameter handelt es sich um den Oberflächenschimmer oder den Glanz der Oberfläche. Zum Beispiel werden die verschiedenen Papiersorten bei der Papierherstellung mit unterschiedlichem Oberflächenglanz versehen, damit sie sich für bestimmte Anwendungen eignen. Während der Papierherstellung ist es erwünscht, den Glanz der Oberfläche des Papiers periodisch oder kontinuierlich zu messen, um zu gewährleisten, dass die Papieroberfläche den gewünschten Glanz aufweist.
  • Typischerweise wird der Oberflächenglanz des Papiers während des letzten Schritts der Papierherstellung vor der Verpackung und dem Versand des fertigen Papiers unter Verwendung eines Glanzmessgeräts gemessen. Die Papierrollen werden dann an Hersteller von Papierprodukten versandt, die die Papierlage entsprechend der beabsichtigten Verwendung verarbeiten.
  • Vorrichtungen zum Bestimmen des Glanzes von Papieroberflächen verwenden ein optisches System, das die Intensität eines von einer Papieroberfläche reflektierten Lichtstrahls misst. Typischerweise wird der Glanz der Papieroberfläche bestimmt, indem sein Reflektionsvermögens mit dem Reflektionsvermögen eines bekannten Glanzstandards, wie einer Glasfliese mit einer polierten Oberfläche mit einem bekannten Glanz ver glichen wird.
  • Speziell wird beim Messen des Reflektionsvermögens der Papieroberfläche Licht auf die Oberfläche projiziert und ein für die Lichtintensität empfindlicher Sensor in Position gebracht, um die Intensität des von der Papieroberfläche reflektierten Lichts zu messen. Das Glanzmessgerät misst das Reflektionsvermögen der Fliesenoberfläche in derselben Weise, indem die Fliesenoberfläche für die Papieroberfläche ersetzt wird. Das Reflektionsvermögen der Papieroberfläche wird mit dem Reflektionsvermögen der Fliesenoberfläche in Bezug gesetzt, wodurch eine Messung des Glanzes der Papieroberfläche bereitgestellt wird. In der Praxis wird die Messung des Reflektionsvermögens der Fliesenoberfläche periodisch, lagenverschoben und zwischen Abtastungen durchgeführt, während das Glanzmessgerät die Oberfläche in Rückwärts- und Vorwärtsrichtung abtastet. Das Glanzmessgerät wird während einer jeden derartigen Messung mit dem bekannten Reflektionsvermögen der Fliesenoberfläche kalibriert.
  • Zwei Glanzsensorstandards wurden unter dieser Technik industriell entwickelt. Der erste Standard, umrissen unter DIN 54502, für regelmäßige Glanzmessungen spezifiziert, dass die Messungen unter Verwendung eines Winkels von 75° für den einfallenden Lichtstrahl von einer zur gemessenen Oberfläche senkrechten Linie durchzuführen sind. Für Hochglanzmessungen werden die Messungen unter Verwendung eines Winkels von 45° für den einfallenden Lichtstrahl von einer zur zu messenden Oberfläche senkrechten Linie durchgeführt. Sind beide Messungen durchzuführen, werden im Allgemeinen zwei getrennte und gesonderte Sensoren verwendet. Der zweite Standard, umrissen unter TAPPI T480, spezifiziert, dass die Messungen nur unter Verwendung eines Winkels von 75° für einen einfallenden Lichtstrahl von einer zur gemessenen Oberfläche senkrechten Linie durchzuführen sind.
  • Bei einem mit den erhältlichen Glanzsensoren verbundenen Problem handelt es sich um deren Unvermögen, richtig zu arbeiten, wenn die Sensorfenster schmutzig werden. Zum Beispiel wird während der Herstellung ein feiner Papierstaub erzeugt. Dieser feine Papierstaub überzieht die Bezugsfliese oder die Sensorfenster, wodurch eine ungenaue Ablesung erzeugt wird, wenn der Sensor durch Abtasten der Bezugsfliese zurückgesetzt wird oder wenn ein Lichtstrahl durch schmutzige Sensorfenster läuft. Deshalb wird der Glanz des Papiers nicht hinreichend nachgewiesen.
  • Deshalb besteht Bedarf für einen Glanzsensor, der unabhängig vom Schmutzaufbau während der Herstellung genaue Glanzmessungsergebnisse erzeugen kann.
  • Es besteht auch Bedarf für einen Glanzsensor, der kompakter ist und weniger Teile verwendet, wodurch er weniger Wartung erfordert, als gegenwärtig erhältliche Sensoren.
  • US 4 124 803 offenbart einen Oberflächenfinish-Monitor, der zum Anzeigen der Oberflächeneigenschaften, wie Glätte und daraus resultierende Bedruckbarkeit, eines sich schnell bewegenden Materialstreifens, wie Papier, angeordnet ist. Zum Erzielen dessen wird das Herstellungsverfahren ohne Fehler aufgrund von Umweltbedingungen, wie Staub und Schmutz auf optischen Oberflächen, Temperatureinflüssen, Lampenschwächung usw. kontinuierlich überwacht. Ein Hinweis auf die Bedruckbarkeit in Bezug auf die Glätte wird durch Integrieren der Plateauflächen im optischen Gesichtsfeld erhalten. Eine Kombination von Zugangswinkel, ausgewählter Wellenlänge der Infrarotstrahlung, horizontaler Polarisation eines Suchstrahls und Verwendung von vier optischen Wegen zum Erhalt einer mathematischen Modelläquivalenz wird eingesetzt.
  • KURZDARSTELLUNG DER ERFINDUNG
  • Die Erfindung stellt einen wie durch Anspruch 1 definierten Glanzsensor bereit.
  • Der Sensor kann die Merkmale von einem oder mehreren beliebigen der abhängigen Ansprüche 2 bis 12 einschließen.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die Erfindung wird nun mit Bezug auf die bevorzugten Ausführungsformen detaillierter beschrieben, die in den beiliegenden Zeichnungen veranschaulicht sind, in welchen gleiche Elemente gleiche Bezugsnummern tragen und wobei:
  • 1 eine schematische Veranschaulichung des Glanzsensors der vorliegenden Erfindung ist;
  • 2 eine schematische Veranschaulichung einer alternativen Ausführungsform eines Aufbaukorrektursystems für den Glanzsensor der vorliegenden Erfindung ist; und
  • 3 ein Funktionsdiagramm des Schmutzaufbaukorrekturmechanismus der vorliegenden Erfindung ist.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Das in 1 veranschaulichte schematische Diagramm ist ein Diagramm eines Glanzsensorsystems, das zum Durchführen von DIN-Glanzmessungen in Position gebracht ist.
  • In Bezug nun auf 1 ist hier ein Diagramm eines Glanzsensors 100 der vorliegenden Erfindung dargestellt. Der Glanzsensor 100 schließt einen ersten Kollimator 102, einen Strahlenteiler 160, einen ersten Spiegel 165, eine Mehrzahl von Fenstern 162 und 162', einen zweiten Spiegel 165', einen Prismenreflektor 150, einen zweiten Kollimator 104 und eine Luftwirbelklemme 170 ein. Zudem kann der Glanzsensor 100 mit einem abgedichteten Gehäuse 90 versehen sein, wodurch der gesamte Glanzsensor 100 vor Kontamination abgeschirmt ist.
  • Der erste Kollimator 102 schließt eine Beleuchtungsquelle 110, einen Bezugsdetektor 120, einen Diffusor 130 und ein Diaphragma 140 ein. Der zweite Kollimator 104 schließt einen Filter 135 und einen Detektor 127 ein. Der erste Kollimator 102 und der zweite Kollimator 104 sind gemäß den Standards von DIN 54502 konstruiert.
  • Die Lichtquelle 110 kann eine Glühlampe, eine Metallhalogenidlichtquelle, eine Xenonlichtquelle oder stärker bevorzugt eine zusätzliche Helllicht emittierende Diode (LED) umfassen. Die Lichtquelle 110 wird derart elektronisch reguliert, dass eine starke Strahlung im sichtbaren (450-650 nm) Bereich mit einer Spitzenintensität von etwa 540-550 nm erzeugt wird. Die Lichtquelle kann ferner derart reguliert werden, dass eine Lichtenergie mit ersten und zweiten Frequenzen bereitgestellt wird. Die Lichtenergie der ersten Frequenz ist dazu geeignet, um durch den Strahlenteiler 160 zu laufen, während die Lichtenergie, wie detaillierter nachstehend beschrieben, der zweiten Frequenz in einer zweiten Richtung vom Strahlenteiler 160 reflektiert wird. Die Verwendung einer einzelnen Lichtquelle und eines Strahlenteilers 160 ermöglicht einen kompakteren Glanzsensor 100. Zudem können die Gesamtkosten des Glanzsensors 100 aufgrund des weniger komplexen Aufbaus des Glanzsensors der vorliegenden Erfindung geringer sein als diejenigen der gegenwärtig bekannten vergleichbaren Glanzsensoren.
  • Zum Bereitstellen von Glanzmessungen nach DIN (75°) gemäß dem Standard DIN 54502 wird die durch die Lichtquelle 110 erzeugte Lichtenergie durch den ersten Kollimator 102 zu einem parallelen Strahl 115 kollimiert. Wie vorstehend erklärt, enthält die durch die Lichtquelle erzeugte Lichtenergie Lichtenergie einer ersten und einer zweiten Frequenz. Der innerhalb des ersten Kollimators 102 angeordnete Bezugsdetektor 120 überträgt ein Signal 125, das Informationen hinsichtlich der Eigenschaften der durch die Lichtquelle 110 erzeugten Lichtenergie enthält. Das Bezugssignal 125 wird zum Vergleichen des Reflektionsvermögens der Papieroberfläche mit der Intensität der durch die Lichtquelle 110 erzeugten Lichtenergie mit der in 3 dargestellten und nachstehend detaillierter beschriebenen Aufbaukompensationsapparatur verwendet.
  • Wie in 1 dargestellt, läuft der parallele Strahl 115 durch den Strahlenteiler 160, wo die Lichtenergie der zweiten Frequenz von dem parallelen Strahl 115 in den Strahl 117 aufgeteilt und mit einem Winkel von etwa 90° zu dem parallelen Strahl 115 zurückgelenkt wird. Der parallele Strahl 115 enthält nach dem Durchleiten durch den Strahlenteiler 160 die Lichtenergie der ersten Frequenz, die vom Spiegel 165 durch Fenster 162 zum Papier 105 reflektiert wird. Der Spiegel 165 ist mit einem Winkel von etwa 37,5° in Bezug auf die zur gemessenen Oberfläche senkrechte Linie eingestellt, wodurch der parallele Strahl 115 zum Papier 105 auf das Papier 105 gelenkt wird. Der parallele Strahl 115 wird dann vom Papier 105 reflektiert, wobei die Stärke der von der Papieroberfläche reflektierten Lichtenergie den Glanz der Papieroberfläche darstellt.
  • Der vom Papier 105 reflektierte parallele Strahl 115 wird durch Fenster 162' vom zweiten Spiegel 165' empfangen. Der zweite Spiegel 165' ist mit einem Winkel von etwa 37,5° positioniert und dadurch dazu geeignet, den Strahl 115 zum zweiten Kollimator 104 zu lenken. Der zweite Kollimator 104 kondensiert die Lichtenergie des parallelen Strahls 115 auf den Detektor 127, nachdem er durch den Filter 135 geleitet wurde. Wie in 1 dargestellt, wird der parallele Strahl 115 mit einem Winkel von etwa 75° in Bezug auf die zur Papierebene senkrechten Linie auf das Papier 105 gelenkt. Der Reflektionskoeffizient von der Papieroberfläche 105 ist proportional zum Papierglanz.
  • Der Glanzsensor 100 der vorliegenden Erfindung schließt ferner eine Schmutzaufbaukompensationsvorrichtung ein. Die Schmutzaufbaukompensationsvorrichtung umfasst einen Prismenreflektor 150, einen Fensterdetektor 124 und eine Mehrzahl von Kombinationsvorrichtungen 310, 320 und 330 (die Kombinationsvorrichtungen 310, 320 und 330 sind in 3 dargestellt). Wie in 1 dargestellt, teilt der Strahlenteiler 160 die im parallelen Strahl 115 enthaltene Lichtenergie der zweiten Frequenz in einen Strahlenanteil 117 auf, der zum parallelen Strahl 115 mit einem Winkel von etwa 90° vorliegt. Der Strahl 117 wird durch den Prismenreflektor 150 zum Spiegel 165 reflektiert. Der Strahl 117 wird dann vom Spiegel 165 durch die beiden Fenster 162, 162' reflektiert. Der Strahl 117 wird dann vom Spiegel 165' derart reflektiert, dass der Strahl 117 vom Prismenreflektor 150 empfangen und zum Fensterdetektor 124 reflektiert wird. Der Fensterdetektor 124 bildet zur wie detailliert nachstehend beschriebenen Verwendung ein Schmutzaufbaukompensationssignal 126 aus. Der Prismenreflektor 150 ist innerhalb des Glanzsensors 100 derart einstellbar, dass die Reflektionswinkel des zweiten Strahls 117 entsprechend eingestellt werden können.
  • Wie in 1 dargestellt, werden durch den Glanzsensor 100 der vorliegenden Erfindung drei unterschiedliche Signale ausgebildet, die zwei Bezugssignale und ein Messsignal einschließen. Das erste Bezugssignal 125 wird innerhalb des ersten Kollimators 102 ausgebildet. Das zweite Bezugssignal wird durch den Fensterdetektor 124 als Schmutzaufbaukompensationssignal 126 ausgebildet. Wie in 1 dargestellt, stammt das Signal 126 vom Strahl 117 und wird zum Messen der Schmutzaufbaumenge auf den Fenstern 162, 162' verwendet. Ein drittes Signal 129 ist ein Messsignal, das innerhalb des zweiten Kollimators 104 durch den Detektor 127 ausgebildet wird.
  • In Bezug nun auf 2 ist eine alternative Ausführungsform des Schmutzaufbaukorrekturmechanismus 300 der vorliegenden Erfindung dargestellt. Wie in 2 dargestellt, wurde der Prismenreflektor 150 des Glanzsensors 100 durch Spiegel 250 und 252 ersetzt. Die Spiegel 250 und 252 sind derart einstellbar, dass der richtige Reflektionswinkel des Strahls 117 entsprechend eingestellt werden kann.
  • In Bezug nun auf 3 ist ein Funktionsdiagramm dargestellt, das die Funktion der Schmutzaufbaukorrekturvorrichtung 300 der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. Die Korrekturvorrichtung 300 schließt eine erste Kombinationsvorrichtung 310, eine zweite Kombinationsvorrichtung 320 und eine dritte Kombinationsvorrichtung 330 ein. Jede der Kombinationsvorrichtungen 310, 320 und 330 ist dazu geeignet, die durch die Detektoren des Glanzsensors 100 gebildeten Signale zu empfangen. Wie in 3 dargestellt, empfängt die erste Kombinationsvorrichtung 310 das erhaltene Messsignal 129 und das erste Bezugssignal 125. Die Signale 129 und 125 werden durch die Kombinationsvorrichtung 310 kombiniert und als Signal 340 ausgegeben. Das ausgegebene Signal 340 stellt die Messung des unkorrigierten Glanzes des Papiers 105 dar. Die zweite Kombinationsvorrichtung 320 ist dazu geeignet, das auf den Schmutzaufbau auf den Fenstern 162 und 162' hinweisende Schmutzaufbaukompensationssignal 126 und das erste Bezugssignal 125 zu empfangen. Die Signale 126 und 125 werden durch die zweite Kombinationsvorrichtung 320 kombiniert und als Schmutzkorrektursignal 360 ausgegeben. Das unkorrigierte Glanzsignal 340 und das Schmutzkorrektursignal 360 werden dann von der Kombinationsvorrichtung 330 empfangen und als korrigiertes Glanzsignal 370 ausge geben.
  • Das durch die Fenster 162 und 162' geleitete Schmutzaufbaukompensationssignal 126 enthält Informationen hinsichtlich des Aufbaus von Schmutz auf den Fenstern. Zum Beispiel kann sich während des Papierherstellungsverfahrens Staub auf den Fenstern 162 und 162' aufbauen; und deshalb würde das Messsignal 129 die Glanzmessung nicht genau repräsentieren, wenn das Glanzmesssignal nicht für diesen Staubaufbau korrigiert worden ist. Signal 126 kompensiert auch den Staub in der Luft, der die Messung von Signal 129 abändern kann.
  • Infolge der Schmutzkompensationsvorrichtung 300 benötigt der Glanzsensor 100 der vorliegenden Erfindung keinen wie detaillierter nachstehend beschriebenen Standardisierungsvorgang. Weiterhin erfordert der Glanzsensor 100 keine mechanische Standardisierungseinheit; weshalb der Glanzsensor 100 kompakter gemacht werden kann, als schon bestehende Sensoren mit typischerweise in gegenwärtig bekannten Glanzsensoren zu findenden weniger beweglichen Teilen.
  • Typischerweise kann eine Standardisierungseinheit (nicht dargestellt) aus einer bekannten glänzenden Oberfläche zusammengesetzt sein, wobei der Glanzsensor oder die bekannte glänzende Oberfläche derart bewegt wird, dass der Glanzsensor eine Ablesung der bekannten glänzenden Oberfläche durchführt. Zum Beispiel kann die bekannte glänzende Oberfläche eine Fliese umfassen, wobei der Glanzsensor von einer über einer Papieroberfläche angeordneten Position zu einer über der glänzenden Oberfläche angeordneten Position bewegt wird, wobei der Glanzsensor entsprechend der bekannten glänzenden Oberfläche kalibriert werden würde. Alternativ dazu kann die Standardisierungseinheit eine zweite Lichtquelle oder eine Lichtleitung, die von der ersten Lichtquelle entspringt, umfassen, wobei die Lichtquelle mit einem Winkel auf die bekannte glänzende Oberfläche gelenkt wird, wobei die Reflektion von einem Detektor empfangen wird. Dieses Signal wird dann zum entsprechenden Kalibrieren des Glanzsensors verwendet.
  • In einer alternativen Ausführungsform (nicht dargestellt) können der parallele Strahl 115 und der Strahl 117 mit zwei verschiedenen Frequenzen f1 und f2 moduliert werden, um die Glanz- und Schmutzaufbaumessungen zu trennen.
  • Der Glanzsensor 100 der vorliegenden Erfindung kann auch zum genauen Messen der Glätte der Papieroberfläche verwendet werden. Es ist dem Fachmann klar, dass die Glätte einer Papieroberfläche auch mit dem Glanz des Papiers in Beziehung gesetzt werden kann.
  • Wenngleich die vorliegende Erfindung für einen Sensor zur Durchführung einer Hochglanzmessung (75° in Bezug auf eine zur Papierebene senkrechte Linie) beschrieben worden ist, können die Apparatur und die Verfahren der vorliegenden Erfindung ferner auch effektiv zur Durchführung von standardmäßigen Glanzmessungen verwendet werden. Standardmäßige Glanzmessungen werden mit einem Winkel von 45° in Bezug auf eine zur Papierebene senkrechte Linie durch Umpositionieren und/oder Umlokalisieren der Spiegel 165, 165', derart, dass der parallele Strahl 115 mit einem Winkel von 45° in Bezug auf eine zur Papierebene 105 senkrechte Linie gelenkt und vereinigt wird, durchgeführt. Zudem können die Elemente des Glanzsensors 100 der vorliegenden Erfindung dupliziert werden, wodurch ein Glanzsensor hergestellt wird, der sowohl Glanz(45°)- als auch Hoch-glanz(75°)-Messungen gleichzeitig oder mit einer zyklischen Geschwindigkeit durchführen kann.
  • Es ist dem Fachmann klar, dass der Glanzsensor 100 der vorliegenden Erfindung ferner derart modifiziert werden kann, dass Glanzmessungen bei 20°, 60° und 80° gemäß den Standards von ISO 2.813 oder TAPPI-75°-Messungen gemäß dem Standard von TAPPI T480 bereitgestellt werden.
  • Obwohl die vorliegende Erfindung in Bezug auf spezifische Ausführungsformen beschrieben worden ist, ist es dem Fachmann klar, dass verschiedene Veränderungen und Modifikationen innerhalb des Umfangs der anhängigen Ansprüche ohne Abweichen von der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden können.

Claims (12)

  1. Glanzsensor (100) zum optischen Messen des Glanzes einer Probenoberfläche, wobei der Glanzsensor umfasst: eine Beleuchtungsquelle (110); einen ersten Kollimator (102) zum Empfangen der Beleuchtungsquelle zum Bilden eines kollimierten Lichtstrahls, wobei der kollimierte Lichtstrahl von einem ersten Ende des ersten Kollimators emittiert wird; einen ersten Detektor (120) innerhalb des ersten Kollimators zum Ausbilden eines Bezugssignals; einen Strahlenteiler (160), der neben dem ersten Ende des Kollimators angeordnet ist, wobei der Strahlenteiler den kollimierten Strahl in einen ersten Strahl und einen zweiten Strahl aufteilt; eine Reflektionsvorrichtung (150) zum Empfangen des zweiten Strahls; einen ersten Spiegel (165), der neben einem ersten Fenster (162) positioniert ist, um den ersten Strahl auf eine zu messende Oberfläche zu reflektieren, wobei der erste Spiegel ferner derart positioniert ist, dass er den von der Reflektionsvorrichtung reflektierten zweiten Lichtstrahl empfängt; einen zweiten Spiegel (165'), der neben einem zweiten Fenster (162') positioniert ist, um den von der zu messenden Oberfläche reflektierten ersten Strahl zu empfangen und den durch den ersten Spiegel durch das erste Fenster und das zweite Fenster reflektierten zweiten Strahl zu empfangen, wobei der zweite Spiegel mit einem derartigen Winkel positioniert ist, dass er den zweiten Strahl zurück zur Reflektionsvorrichtung reflektiert; einen zweiten Kollimator (104), der derart positioniert ist, dass er den vom zweiten Spiegel reflektierten Strahl empfängt; einen zweiten Detektor (127), der innerhalb des zweiten Kollimators angeordnet ist, wobei der zweite Detektor dazu geeignet ist, den ersten Strahl zu empfangen; und einen dritten Detektor (124), der neben der Reflektionsvorrichtung angeordnet ist, wobei der dritte Detektor dazu geeignet ist, den zweiten Strahl zu empfangen.
  2. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei die Beleuchtungsquelle (110) eine zusätzliche Helllicht emittierende Diode umfasst.
  3. Glanzsensor nach Anspruch 2, wobei die Beleuchtungsquelle (110) derart elektronisch moduliert ist, dass eine starke Strahlung mit einer Spitzenintensität zwischen etwa 540 nm und 550 nm erzeugt wird.
  4. Glanzsensor nach Anspruch 3, wobei die starke Strahlung im sichtbaren Bereich zwischen etwa 450 nm und etwa 650 nm erzeugt wird.
  5. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei die Beleuchtungsquelle (110) eine Metallhalogenidbirne umfasst.
  6. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei die Beleuchtungsquelle (110) eine mit Xenongas ge füllte Quelle umfasst.
  7. Glanzsensor nach Anspruch 2, wobei die Beleuchtungsquelle (110) derart moduliert ist, dass eine erste Frequenz und eine zweite Frequenz erzeugt werden, wobei die erste Frequenz der erste Strahl und die zweite Frequenz der zweite Strahl ist.
  8. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei das Reflektionsmittel (150) ein Prismenreflektor ist.
  9. Glanzsensor nach Anspruch 8, wobei der Prismenreflektor (150) einstellbar ist.
  10. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei das Reflektionsmittel (150) eine Mehrzahl an einstellbaren Spiegeln ist.
  11. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei der zweite Detektor ein Messsignal erzeugt, der dritte Detektor ein Schmutzkompensationssignal erzeugt und der Glanzsensor ferner einschließt: ein Signalkorrekturmittel (300) zum Erzeugen einer Glanzablesung durch Korrigieren des Messsignals mit dem Bezugssignal und dem Schmutzkompensationssignal.
  12. Glanzsensor nach Anspruch 1, wobei der zweite Kollimator (104) neben dem ersten Kollimator (102) angeordnet ist.
DE60219792T 2001-07-16 2002-07-16 Glanzsensor mit schmutzkompensationsvorrichtung und -verfahren Expired - Lifetime DE60219792T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US906516 2001-07-16
US09/906,516 US6507403B1 (en) 2001-07-16 2001-07-16 Gloss sensor having dirt buildup compensation apparatus and method
PCT/US2002/022625 WO2003008947A1 (en) 2001-07-16 2002-07-16 Gloss sensor having dirt buildup compensation apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60219792D1 DE60219792D1 (de) 2007-06-06
DE60219792T2 true DE60219792T2 (de) 2008-01-17

Family

ID=25422578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60219792T Expired - Lifetime DE60219792T2 (de) 2001-07-16 2002-07-16 Glanzsensor mit schmutzkompensationsvorrichtung und -verfahren

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6507403B1 (de)
EP (1) EP1407249B1 (de)
JP (1) JP3908222B2 (de)
AT (1) ATE360811T1 (de)
CA (1) CA2454202C (de)
DE (1) DE60219792T2 (de)
WO (1) WO2003008947A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010017211A1 (de) 2010-06-02 2011-12-08 Vorwerk & Co. Interholding Gmbh Basisstation für ein selbsttätig verfahrbares Bodenreinigungsgerät sowie Verfahren zur Reinigung eines Bodens mittels eines solchen Bodenreinigungsgerätes

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7423758B1 (en) * 2007-07-27 2008-09-09 Voith Patent Gmbh Gloss sensor for a paper machine
US7619740B2 (en) 2007-10-11 2009-11-17 Honeywell International Inc. Microgloss measurement of paper and board
CN103983614A (zh) * 2014-05-28 2014-08-13 爱彼思(苏州)自动化科技有限公司 一种检测角度可调的光泽度检测装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3636361A (en) * 1970-05-28 1972-01-18 Kenneth Bowers Radiation-sensitive glossmeter with means to compensate for environmental contaminants
US4124803A (en) * 1976-12-22 1978-11-07 Kenneth Bowers Surface finish monitor
DE2853458C3 (de) * 1978-09-29 1981-04-02 Gebrüder Bühler AG, 9240 Uzwil Verfahren und Vorrichtung zur Messung der relativen Helligkeit einer Probe
JPH0420845A (ja) * 1990-05-15 1992-01-24 Jujo Paper Co Ltd 光沢むらの測定方法
US6233053B1 (en) * 1997-07-29 2001-05-15 Honeywell International Inc Dual standard gloss sensor
US6134011A (en) * 1997-09-22 2000-10-17 Hdi Instrumentation Optical measurement system using polarized light
JP4166340B2 (ja) * 1997-09-24 2008-10-15 オリンパス株式会社 基板検査装置
US5978441A (en) * 1997-12-01 1999-11-02 Advanced Micro Devices, Inc. Extreme ultraviolet lithography mask blank and manufacturing method therefor
US6380529B1 (en) * 1999-09-29 2002-04-30 Hewlett-Packard Company Position sensing device having a movable photosensing element

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010017211A1 (de) 2010-06-02 2011-12-08 Vorwerk & Co. Interholding Gmbh Basisstation für ein selbsttätig verfahrbares Bodenreinigungsgerät sowie Verfahren zur Reinigung eines Bodens mittels eines solchen Bodenreinigungsgerätes
DE102010017211B4 (de) 2010-06-02 2024-12-19 Vorwerk & Co. Interholding Gmbh Basisstation für ein selbsttätig verfahrbares Bodenreinigungsgerät sowie Verfahren zur Reinigung eines Bodens mittels eines solchen Bodenreinigungsgerätes

Also Published As

Publication number Publication date
CA2454202C (en) 2011-06-21
JP2004536305A (ja) 2004-12-02
WO2003008947A1 (en) 2003-01-30
US20030011785A1 (en) 2003-01-16
JP3908222B2 (ja) 2007-04-25
EP1407249A1 (de) 2004-04-14
DE60219792D1 (de) 2007-06-06
EP1407249B1 (de) 2007-04-25
CA2454202A1 (en) 2003-01-30
ATE360811T1 (de) 2007-05-15
US6507403B1 (en) 2003-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3873563T2 (de) Planspiegelinterferometer.
DE69505749T2 (de) Dickenmessverfahren für transparentes material
DE4115704C2 (de) Verfahren zum Messen von Glanzprofilen
DE69722193T2 (de) Verfahren und vorrichtung für optische ausrichtung eines messkopfes auf einer koordinatenfläche
US4306151A (en) Method of measuring the amount of substance associated with a material in the presence of a contaminant
EP0210263B1 (de) Vorrichtung zur optischen ermittlung von gestaltsfehlern niedriger ordnung
JPS60256033A (ja) 透明材料中の欠陥検出方法
DE102007043937B4 (de) Verfahren zur Bestimmung der Dicke und des Brechungsindex von optisch transparenten Schichten auf optisch transparenten planparallelen Substraten
CN1057832C (zh) 非接触测量透明材料制成的被测物厚度的设备
DE60219792T2 (de) Glanzsensor mit schmutzkompensationsvorrichtung und -verfahren
DE3685631T2 (de) Absorptionsmesser zur bestimmung der dicke, feuchte oder anderer parameter eines films oder einer beschichtung.
DE102004010311A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Dicke einer transparenten Probe
DE4229313A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Abstandsmessung von Oberflächen
DE4105509C2 (de) Streulichtmeßanordnung zur Untersuchung der Oberflächenrauheit
DE19725337C1 (de) Verfahren zur Bestimmung der Oberflächenstruktur einer Körperoberfläche
DE4229349C2 (de) Verfahren und Anordnung zur Messung der optischen Oberflächengüte von spiegelnden Materialien und der optischen Güte transparenter Materialien
DE19816359A1 (de) Fasersensor zum Erkennen von Oberflächenstrukturen
EP0356563A1 (de) Verfahren und Messvorrichtung zur Ermittlung von Risslängen und/oder von Dehnungen an Bauteilen, Proben oder dgl.
EP1055114A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der beschichtungsmenge auf einem sichbewegenden substrat
DE3643723A1 (de) Verfahren und anordnung zur optischen messung des rollwinkels eines bewegten maschinenteils
KR100277075B1 (ko) 전기방전 가공롤에 의한 주기적인 표면 거칠기를 가지는 강판의 표면 거칠기 측정방법
GB1483215A (en) Infrared measuring circuits
SU1163218A1 (ru) Способ измерени коэффициента пропускани образца оптического материала
US20030132387A1 (en) Method and device for measuring the amount of coating on a moving substrate
DE1472251C (de) Refraktometer zur Bestimmung des Bre chungsindex von festen Korpern oder defor mierbaren Medien

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition