ITTO980962A1 - Circuito di lettura analogico ad alta precisione per celle di memorianon volatile, in particolare analogiche o multilavello flash o eeprom. - Google Patents

Circuito di lettura analogico ad alta precisione per celle di memorianon volatile, in particolare analogiche o multilavello flash o eeprom. Download PDF

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Description

D E S C R I Z I O N E
del brevetto per invenzione industriale
La presente invenzione si riferisce ad un circuito di lettura analogico ad alta precisione per celle di memoria non volatile, in particolare analogiche o multilivello flash o EEPROM.
Come è noto e illustrato in figura 1, una matrice 1 di memoria flash comprende una pluralità di celle 2 disposte su righe e colonne. I terminali di porta delle celle disposte su una stessa riga sono collegati ad una rispettiva linea di parola 3, mentre ì terminali di pozzo delle celle appartenenti ad una stessa colonna sono collegati ad una rispettiva linea di bit 4. Le linee di parola 3 sono collegate ad un decodificatore di riga 5 e le linee di bit 4 sono collegate ad un decodificatore di colonna 6. Una unità di comando 7, collegata con i decodificatori 5 e 6, trasmette ai decodificatori segnali di indirizzo e di comando per selezionare, di volta in volta, una sola linea di parola 3 e una sola li ea bit 4. In questo modo è quindi possibile accedere alla cella 2 collegata con la linea di parola e la linea di bit selezionate .
In particolare, la lettura di una cella 2 può essere effettuata ponendo la linea di parola 3 selezionata ad un prefissato potenziale Vcpx (ad esempio 6-7 V) e forzando nella linea di bit 4 selezionata una corrente di polarizzazione If. Polarizzando inoltre la cella selezionata in modo che questa operi in zona lineare, il valore della corrente If è espresso dalla seguente equazione :
(1)
in cui K è una costante legata al processo di fabbricazione della cella, W/L è il rapporto dimensionale larghezza/lunghezza della cella, Vth è la tensione di soglia della cella (ovvero la minima differenza di potenziale da applicare fra i terminali di porta e di sorgente della cella perché la stessa inizi a condurre corrente), VDS è la caduta di tensione pozzo-sorgente della cella e il termine (Vcpx - Vth) è l'overdrive della cella.
Polarizzando opportunamente la cella, la differenza di potenziale VDS risulta costante e il termine V<2>DS/2 è trascurabile. Pertanto, nelle condizioni descritte, la corrente If fluente attraverso la cella dipende linearmente dalla tensione di soglia Vth.
La linea di bit 4 è a sua volta collegata con un circuito amplificatore ("sense amplifier") avente il compito di rilevare la corrente If fluente nella cella e, nel caso di lettura analogica, è in grado di fornire in uscita un segnale correlato alla tensione di soglia della cella 2.
Sono note diverse soluzioni per la realizzazione di circuiti amplificatori per la lettura di celle di memoria flash.
Una prima soluzione è relativa ai cosiddetti circuìti amplificatori a lettura diretta, in cui il terminale di pozzo della cella da leggere è collegato ad un eiemento di carico attraverso un transistore di polarizzazione. In questo caso, l'uscita del circuito amplificatore è data dal potenziale esistente su un terminale dell'elemento di carico, normalmente costituito da un transistore MOS collegato a diodo (ossia con i terminali di porta e di pozzo collegati in corto circuito). Il transistore di polarizzazione limita la caduta di potenziale fra i terminali di pozzo e di sorgente della cella da leggere, in modo che la cella stessa lavori in zona lineare e sia inoltre evitato il fenomeno del "soft programming", cioè della scrittura indesiderata della cella durante la fase di lettura.
Circuiti amplificatori di questo genere sono di semplice realizzazione, ma sono soggetti a inconvenienti che ne limitano la precisione. In particolare, essi, oltre a risentire di variazioni di processo, e essere sensibili a variazioni di temperatura e di tensione di alimentazione, presentano una dinamica ridotta e scarsa linearità a causa della presenza di un transistore MOS in configurazione a diodo.
Una seconda soluzione comprende circuiti amplificatori con architettura differenziale. In questo caso, la corrente che fluisce nella cella da leggere viene confrontata con la corrente di un ramo di riferimento, che comprende una cella flash, vergine, identica a quelle della matrice di memoria. La cella da leggere e la cella di riferimento vengono polarizzate in modo da presentare tensioni porta-sorgente e pozzo-sorgente rispettivamente uguali. Le celle sono collegate a rispettivi carichi attraverso transistori di polarizzazione, con topologia analoga a quella degli amplificatori a lettura diretta. Le tensioni presentì sui nodi di collegamento dei carichi alle rispettive celle, la cui differenza dipende dalla differenza fra la tensione di soglia della cella di riferimento e la tensione di soglia della cella da leggere, vengono alimentate in ingresso ad un amplificatore operazionale. L'uscita di quest'ultimo può essere pertanto posta in relazione con la tensione di soglia della cella da leggere.
Questa seconda soluzione ha il vantaggio di ridurre la dipendenza dalla temperatura e dalle variazioni di processo, ma mal si presta alla lettura di tipo analogico a causa dell'amplificatore operazionale che lavora in anello aperto; inoltre, essa presenta un ingombro considerevole a causa della presenza del ramo di riferimento e, specificamente, della cella flash di riferimento. Infatti, per ottenere prestazioni affidabili è necessario, utilizzare una cella interna di una piccola matrice di celle flash, poiché una cella singola risente di effetti di bordo.
Una. terza soluzione è descritta nella domanda di brevetto europeo N. 97830172.9 depositata il 15.4.97 a nome della richiedente, dal titolo "Circuito di lettura analogico ad alta precisione per matrici di memoria, in particolare matrici di memoria analogiche flash", ove viene descritto un circuito ad anello chiuso che presenta un primo ramo comprendente la cella da leggere ed un secondo ramo comprendente una cella di riferimento. Per mezzo di uno specchio di corrente, nei due rami vengono forzate correnti uguali. Le tensioni dei terminali di pozzo dei transistori dello specchio di corrente vengono alimentate in ingresso ad un amplificatore operazionale, la cui uscita è collegata con il terminale di porta della cella di riferimento. La configurazione circuitale descritta impone che la cella da leggere e la cella di riferimento abbiano la stessa tensione di overdrive, per cui la tensione sul terminale di uscita dell'amplificatore operazionale (e quindi sul terminale di porta della cella di riferimento) dipende linearmente dalla tensione di soglia della cella da leggere. Questa soluzione presenta gli stessi inconvenienti legati alla presenza di transistori di carico in configurazione a diodo dei circuiti realizzati secondo la prima soluzione e alla presenza di celle di riferimento dei circuiti realizzati secondo la seconda soluzione.
Scopo della presente invenzione è realizzare un circuito di lettura di celle di memoria non volatili che risulti privo degli inconvenienti descritti.
Secondo la presente invenzione viene realizzato un circuito di lettura analogico ad alta precisione per celle di memoria non volatile, come definito nella rivendicazione 1.
Per una migliore comprensione dell'invenzione, viene ora descritta una sua forma preferita di realizzazione, a puro titolo di esempio non limitativo e con riferimento ai disegni allegati, nei quali:
- la figura 1 illustra uno schema circuitale semplificato di una matrice di memòria analogica flash di tipo noto;
- la figura 2 presenta uno schema circuitale sem-plificato di lettura per matrici di memoria realizzato secondo la presente invenzione; e
- la figura 3 illustra uno schema circuitale più dettagliato del circuito di figura 2.
In figura 2 è mostrato un circuito di lettura 10 per una cella di memoria 2 appartenente alla matrice di memoria 1 di figura 1, non mostrata completamente in fig.
2 .
La cella da leggere 2 presenta un terminale di pozzo 2a, un terminale di porta 2b collegato ad un primo generatore di tensione 12, fornente la tensione di lettura Vcpx, e un terminale di sorgente 2c collegato a massa.
Un primo transistore di polarizzazione 13, di tipo NMOS, presenta un terminale di pozzo 13a collegato ad un nodo 24, un terminale di porta 13b e un terminale di sorgente 13c collegato al terminale di pozzo 2a della cella da leggere 2.
Un primo buffer analogico 14 presenta un ingresso invertente collegato ad un secondo generatore di tensione 15, fornente una tensione di polarizzazione VBp, ed uh ingresso non invertente collegato con il terminale di sorgente 13c del transistore di polarizzazione 13; il buffer 14 presenta, inoltre, un'uscita collegata con il terminale di porta 13b del transistore di polarizzazione 13.
Un secondo transistore di polarizzazione 16, di tipo PMOS, presenta un terminale di pozzo 16a collegato al nodo 24, un terminale di porta 16b ed un terminale di sorgente 16c.
Un secondo buffer analogico 17 presenta un ingresso non invertente collegato con un terzo generatore di tensione 18, fornente una tensione di polarizzazione VBp, ed un ingresso invertente collegato con il terminale di sorgente 16c del transistore di polarizzazione 16; il buffer 17 presenta, inoltre, un'uscita collegata con il terminale di porta 16c del transistore di polarizzazione 16.
Un transistore di uscita 19, di tipo PMOS, presenta un terminale di pozzo 19a collegato con il terminale di sorgente 16c, un terminale di porta 19b collegato ad un morsetto di uscita 23 del circuito di lettura 10 e un terminale di sorgente 19c collegato con una linea di alimentazione 20.
Un amplificatore operazionale 21 presenta un ingresso non invertente 21a collegato con il terminale di pozzo 13a del primo transistore di polarizzazione 13, un ingresso invertente 21b collegato con un quarto generatore di tensione 22, fornente una tensione di riferimento VR, ed un'uscita 21c collegata al morsetto di uscita 23 fornente una tensione di uscita Vo.
In pratica, l'amplificatore operazionale 21, il transistore di uscita 19 e il secondo transistore di polarizzazione 16 definiscono un anello di retroazione 25.
Il funzionamento del circuito di lettura 10 di fig. 2 è il seguente.
I circuiti dì polarizzazione formati dagli elementi 13, 14 e 15 e dagli elementi 16, 17 e 18 hanno la funzione di mantenere in zona lineare rispettivamente la cella da leggere 2 e il transistore di uscita 19; inoltre il potenziale del terminale di pozzo 2a deve essere mantenuto ad un livello sufficientemente basso da evitare il citato fenomeno del "soft programming" della cella 2. A tale scopo, i terminali di pozzo 2a della cella 2 e 19a del transistore di uscita 19 sono polarizzati alle tensioni VBn e VBp, fornite rispettivamente dal secondo e dal terzo generatore di tensione 15 e 18. In particolare, il terminale di pozzo 2a della cella 2 è collegato al secondo generatore di tensione 15 attraverso il buffer analogico 14 e il primo transistore di polarizzazio-ne 13, mentre il terminale di pozzo 19a del transistore di uscita 19 è collegato al terzo generatore di tensione 18 attraverso il secondo buffer analogico 17 e il secondo transistore di polarizzazione 16. Le tensioni VBn e VBp vengono scelte in modo che le differenze di poten-ziale fra il terminale di pozzo 2a della cella 2 e la massa e fra il terminale di pozzo 19a del transistore di uscita 19 e l’alimentazione 20 siano, in valore assoluto, uguali e preferibilmente pari all’incirca a 0,2 V. Supponendo ad esempio che la tensione di alimentazione Vs sia di 10 V, vantaggiosamente VBn è scelta pari a 0,2 V, mentre VBp è scelta pari a 9,8 V.
Durante la fase di lettura, il primo generatore di tensione 12 fornisce al terminale di porta 2b della cella 2 la tensione Vcpx, pari ad esempio a 6 V. Di conseguenza, nella cella 2 fluisce una corrente il cui valore è dato dalla seguente equazione:
(2)
in cui Kf è una costante legata al processo di fabbricazione, (W/L)f è il rapporto dimensionale larghezza/lunghezza, Vthf è la tensione di soglia, VDSf è la caduta di tensione pozzo-sorgente e il termine (Vcpx - Vthf) è l'overdrive della cella da leggere 2.
Nelle condizioni di polarizzazione imposte, il termine V<2>DSf/2 risulta trascurabile rispetto al termine e la (2) si riduce a:
( 3 )
L’amplificatore operazionale 21, agendo , in retroazione sul terminale di porta 19b del transistore di uscita 19, ne modifica la tensione porta-sorgente, in modo che in esso fluisca una corrente I19 pari alla corrente If portata dalla cella da leggere 2. La corrente del transistore di uscita 19 è data dall'equazione:
(4)
in cui i termini hanno lo stesso significato sopra indicato, a parte il pedice 19 riferito al transistore di uscita 19.
Nuovamente, per le condizioni di polarizzazione del transistore 19, il termine V<2>DS19/2 risulta trascurabile rispetto al termine (Vs - V0 - Vthi9) *VDSi9 e la ( 4 ) si riduce a :
( 5)
Inoltre, per effetto delle condizioni di polarizzazione imposte al circuito, le tensioni pozzo-sorgente VDSf della cella 2 e VDS19 del transistore 19 sono note e risultano costanti.
Pertanto, dal momento che le correnti If e I19 sono di pari valore, uguagliando i secondi membri della (3) e della (5) e ponendo
(6)
si ottiene l'equazione
(7 )
Dalla (7) si ricava l'espressione che fornisce il valore della tensione di soglia Vthf della cella 2 in funzione della tensione di uscita Vo del circuito di lettura 10, secondo la seguente relazione:
( 8)
Ne consegue che la lettura della tensione Vo fornisce il valore Vthf di soglia cercato, dato che la tensio-ne di soglia Vth19 del transistore di uscita 19, così co-me Vcpx e Vs, sono noti.
In pratica, il circuito di lettura 10 di figura 2 è un amplificatore a due stadi, in cui, in particolare, il primo stadio è rappresentato dall'amplificatore operazionale 21 e il secondo dal transistore di uscita 19 ed entrambi sono contenuti nell'anello di retroazione 25. Inoltre, l'anello di retroazione 25 comprende il transistore di polarizzazione 16, che agisce come elemento cascode, fornendo elevata impedenza all'ingresso non invertente 21a dell'amplificatore operazionale 21.
L'amplificatore a due stadi può essere compensato secondo lo schema circuitale più dettagliato mostrato in figura 3.
In dettaglio, il circuito di lettura 10 comprende gli stessi componenti di figura 2 ed inoltre un condensatore di compensazione 30, un transistore di compensazione 31 e un generatore di corrente 32. Il condensatore 30 è collegato fra il morsetto di uscita 23 ed un nodo 33; il transistore di compensazione 31, di tipo NMOS, presenta terminale di pozzo 31a collegato con la linea di alimentazione 20, terminale di porta 31b collegato con il terminale di pozzo 13a del primo transistore di polarizzazione 13, e terminale dì sorgente 31c collegato con il nodo 33; mentre il generatore di corrente 32 è collegato fra il nodo 33 e massa. -Il condensatore di compensazione 30, in accordo con il teorema di Miller, modifica la funzione di trasferimento dell'amplificatore formato dagli elementi 16, 19, 21 e 30 (si trascura per ora l'elemento 31). Pertanto, tale funzione di trasferimento presenta frequenza a guadagno unitario FCOMP pari a:
dove GITIOP-AMP è la transconduttanza dell'amplificatore operazionale 21 e CCOMP è la capacità del condensatore di compensazione 30.
La funzione di trasferimento dell’amplificatore presenta, inoltre, un secondo polo alla frequenza
.
dove Gm19 è la transconduttanza del transistore di uscita 19 e C24 è la capacità associata al nodo 24.
Per ragioni di stabilità del circuito di lettura 10, la frequenza a guadagno unitario FCOMP può al massimo assumere un valore pari alla metà della frequenza FI del secondo polo che, pertanto, risulta essere l'effettivo elemento che limita la velocità del circuito. La transconduttanza del transistore di uscita 19 è bassa rispetto alla transconduttanza dell'amplificatore operazionale 21, ma, dal momento .che il terminale di pozzo 19a non presenta alcun carico, anche la capacità C24 associata al nodo 24 è molto bassa. Di conseguenza, il circuito permette di ottenere velocità di lettura elevate.
Il condensatore di compensazione 30 dà origine anche ad uno zero nel semipiano destro ad una frequenza Fz pari a
Come è noto al tecnico del ramo, tale zero causa un ritardo di 90° nell'anello di retroazione 25, che perciò diverrebbe instabile. Il problema viene risolto grazie al transistore di compensazione 31, che, operando come buffer in configurazione ad inseguimento di sorgente (source follower), disaccoppia il secondo stadio di amplificazione (transistore di uscita 19) dal condensatore di compensazione 30.
Il circuito di lettura descritto permette di ottenere i seguenti vantaggi. In primo luogo, rispetto ai circuiti noti a lettura diretta, il transistore di uscita 19 non è in configurazione a diodo, ma, in base alla (5), opera come elemento amplificatore lineare facente parte dell'anello di retroazione 25. Da ciò derivano una maggiore linearità e una maggiore dinamica del circuito di lettura 10. Inoltre, in tali circuiti noti, il transistore MOS in configurazione a diodo presenta capacità parassite che devono essere caricate durante la fase di lettura della cella, allungando i tempi di lettura. L'eliminazione di tale transistore MOS nel circuito di lettura 10 consente dunque di migliorare anche la velocità di lettura.
Rispetto alla soluzione descritta nella citata domanda di brevetto europeo N. 97830172.9, il circuito di lettura 10 descritto risulta più veloce dato che esso presenta un ramo in meno e la cella flash (e la relativa linea di bit 4) non sono comprese nell'anello di retroazione. Inoltre, la struttura descritta è circuitalmente più semplice, dato che non sono presenti rami di riferimento, e presenta ingombro ridotto, dato che non è necessario prevedere una matrice di celle di riferimento.
Risulta infine evidente che al circuito di lettura descritto possono essere apportate modifiche e varianti, senza uscire dall'ambito della presente invenzione.
In particolare, i circuiti di polarizzazione formati dagli elementi 13, 14 e 15 e dagli elementi 16, 17 e 18, la cui funzione è sostanzialmente quella di fissare le tensioni dei terminali di pozzo 2a e 19a per mantenere re in zona lineare la cella 2 e, rispettivamente, il transistore di uscita 19, possono essere sostituiti con generatori di tensione di diverso tipo. Ad esempio, i buffer analogici 14 e 17 possono essere sostituiti da porte di somma logica invertente o porte NOR, presentanti uscita collegata con il terminale di porta del relativo transistore di polarizzazione, un primo ingresso collegato con il terminale di sorgente del transistore di polarizzazione stesso e riceventi, ad un secondo ingresso, segnali costanti e corrispondenti, rispettivamente, ad uno 0 e ad un 1 logici.

Claims (10)

  1. R I V E N D I C A Z I O N I 1. Circuito di lettura (10) analogico ad alta precisione per una cella di memoria (2) avente un primo ed un secondo terminale (2a, 2c) ed un terminale di controllo (2b), comprendente un anello di retroazione negativa (25) includente un circuito amplificatore (21) definente un primo ed un secondo ingresso ed un'uscita (23) definente un'uscita di detto circuito di lettura, caratterizzato dal fatto che detto anello di retroazione comprende inoltre mezzi amplificatori lineari di uscita (19) aventi un primo terminale (19a) collegato con detto primo terminale (2a) di detta cella di memoria (2), un secondo terminale (19c) collegato con una prima linea a potenziale di riferimento (20) ed un terminale di comando (19b) collegato a detta uscita (23) e dal fatto che detto primo ingresso (21a) di detto circuito amplificatore (21) è collegato a detto primo terminale (2a) di detta cella di memoria (2) e detto secondo ingresso (21b) di detto circuito amplificatore (21) è collegato ad un terminale di riferimento (22).
  2. 2. Circuito secondo la rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che detta cella di memoria (2) è collegata esternamente a detto anello di retroazione (25).
  3. 3. Circuito secondo la rivendicazione 1 o 2, caratterizzato dal fatto che detti mezzi amplificatori lineari di uscita (19) comprendono un primo transistore MOS.
  4. 4. Circuito secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detto circuito amplificatore (21) comprende un amplificatore operazionale avente un ingresso non invertente (21a) collegato a detto primo terminale (2a) di detta cella di memoria (2) ed un ingresso invertente (21b) collegato a detto terminale di riferimento (22).
  5. 5. Circuito secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto di comprendere primi mezzi generatori di tensione (13), collegati fra detto primo ingresso (21a) di detto circuito amplificatore (21) e detto primo terminale (2a) di detta cella di memoria (2) e secondi mezzi generatori di tensione (16), collegati fra detto primo ingresso (21a) di detto circuito amplificatore (21) e detto primo terminale (19a) di detti mezzi amplificatori lineari di uscita U9) .
  6. 6. Circuito secondo la rivendicazione 5, caratterizzato dal fatto che detti primi e secondi mezzi generatori di tensione (13, 16) comprendono rispettivamente un secondo e, rispettivamente, un terzo transistore MOS aventi terminali di porta collegati a rispettive tensioni di polarizzazione (VBn, VBp) costanti.
  7. 7. Circuito secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti/ caratterizzato dal fatto che detto secondo transistore (13) è di tipo NMOS, detto terzo transistore (16) è di tipo PMOS e detti mezzi amplificatori lineari di uscita (19) comprendono un transistore PMOS.
  8. 8. Circuito secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto di comprendere un circuito di compensazione (30-32) interposto fra detto primo terminale (2a) di detta cella di memoria (2) e detta uscita (23) di detto circuito amplificatore (21) . -
  9. 9. Circuito secondo la rivendicazione 8, caratterizzato dal fatto che detto circuito di compensazione (30-32) comprende un condensatore di compensazione (30) ed un transistore di compensazione (31); detto condensatore di compensazione (30) essendo interposto fra detta uscita (23) detto circuito amplificatore (21) ed un primo terminale (31c) di detto transistore di compensazione (31); detto transistore di compensazione (31) presentando un secondo terminale (31b) collegato a detto primo ingresso (21a) di detto circuito amplificatore (21).
  10. 10. Circuito di lettura analogico ad alta precisione, sostanzialmente come descritto con riferimento alle figure allegate.
IT1998TO000962A 1998-11-13 1998-11-13 Circuito di lettura analogico ad alta precisione per celle di memorianon volatile, in particolare analogiche o multilivello flash o eeprom. IT1305182B1 (it)

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