JP2000123391A - 光導波路ユニット、およびこれを用いた光学ヘッド - Google Patents

光導波路ユニット、およびこれを用いた光学ヘッド

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JP2000123391A
JP2000123391A JP10295125A JP29512598A JP2000123391A JP 2000123391 A JP2000123391 A JP 2000123391A JP 10295125 A JP10295125 A JP 10295125A JP 29512598 A JP29512598 A JP 29512598A JP 2000123391 A JP2000123391 A JP 2000123391A
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JP
Japan
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optical waveguide
optical
light
waveguide element
semiconductor laser
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JP10295125A
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Hiroyuki Yamamoto
裕之 山本
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Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の構成では、光ピックアップを構成した
ときに光導波路素子が斜めに立て掛けられた配置となっ
ていたため、光導波路素子の3次元的位置調整や電気的
配線の工程を複雑になっていたので、これらを解決す
る。 【解決手段】 光導波路ユニット1は、パッケージ2内
に、半導体レーザ等の光源6、光被照射物からの反射光
を光導波路を介して光検出素子で検出する光導波路素子
5、およびこの光導波路素子5の前記光導波路に反射光
を結合する光反射手段10が実装配置されており、光導
波路素子5は、光導波路が形成された基板表面15aが
反射光の光軸に対して垂直になるように配置されてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光情報記録再生装
置の光ピックアップや光集積回路、光センサ等に応用さ
れる集積型光導波路素子を実装した光導波路ユニット、
およびこれを用いた光学ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】光ピックアップで光磁気ディスクからの
信号を検出するとき、一般に半導体レーザからの光を光
磁気ディスクで反射させ、その反射光をサーボエラー信
号検出用の光と、光磁気信号検出用の光とに分離して、
それぞれの目的に使用する。このとき、光を分離するた
めにビームスプリッタが利用される。
【0003】図8は、そのような構成を備えた光磁気デ
ィスク装置用の光ピックアップの一例を示す平面図で、
たとえば、特開平8−171747号公報に開示されて
いる。
【0004】図8において、パッケージ2内に設けられ
た半導体レーザ6から出射されたレーザ光は、グレーテ
ィング25によってメインビームとトラッキングビーム
とに分けられ、ホログラム27を透過して、ビームスプ
リッタ26に入射される。ビームスプリッタ26は、平
板ガラス43とプリズム44とを張り合わせてなり、入
射光は、平板ガラス43とプリズム44との境界面にあ
るミラー面M1で反射され、コリメートレンズ22を透
過した後、立ち上げミラー23で図面に対して垂直に上
方に反射されて、対物レンズ24により図示しない光磁
気ディスク上に集光される。
【0005】光磁気ディスクで反射された光は、再び対
物レンズ24、立ち上げミラー23およびコリメートレ
ンズ22を通ってビームスプリッタ26に入射し、平板
ガラス43の上下の各界面のミラー面M1,M2でそれ
ぞれ反射される。一方のミラー面M1で反射される光
は、サーボエラー信号検出光L1としてホログラム27
に入射し、ここで回折されてフォトダイオード7(図1
1参照)に導かれて、サーボエラー信号として検出され
る。
【0006】また、他方のミラー面M2で反射された光
は、光磁気信号検出光L2としてホログラム27の右側
方を透過してパッケージ2内に導かれてプリズム10に
入射される。
【0007】なお、4はパッケージ2を外部に電気的に
取り出すためのリードピンである。
【0008】図9および図10はパッケージ2内におい
てプリズム10と光導波路素子5を含む部分をそれぞれ
示しており、図9は断面図、図10は平面図である。
【0009】光導波路素子5は、ビームスプリッタ26
で分岐された光磁気信号検出光L2の偏光面の回転を検
出するもので、シリコン基板15上に光導波路17、偏
光分離素子11、および光検出素子12が一体的に形成
されている。
【0010】偏光分離素子11としては、たとえば、各
偏光の屈折角の差を利用するモードスプリッタが用いら
れる(たとえば、特開平6−82644号公報参照)。ま
た、光検出素子12はフォトダイオードとして作用す
る。
【0011】光導波路素子5の上には、台形のプリズム
10が配置され、さらにこのプリズム10の上にマイク
ロレンズ47が設けられている。
【0012】上記のようにしてパッケージ2内に導かれ
た光磁気信号検出光L2は、マイクロレンズ47で平行
光に変換された後、プリズム10に導かれて所定の角度
で反射されて光導波路17に結合される。
【0013】この光導波路17に導かれた光は、偏光分
離素子11によりTE光とTM光に分離され、光検出素
子12で光磁気信号が検出される。
【0014】図11は、図8に示される光導波路素子
5、半導体レーザ6およびサーボエラー信号検出用のフ
ォトダイオード7を光の入出射方向(Z軸方向)から見た
正面図である。
【0015】半導体レーザ6から図中Z軸方向に出射さ
れるレーザ光の偏光方向は、ここではX軸に平行に設定
してある。一方、光磁気信号検出光L2は、カー効果に
よって偏光面が1〜2°回転している。しかし、その回
転角は微小であるため、光磁気信号検出光L2に対して
は、光磁気ディスクに集光される光の偏光方向に対して
±45°の方向となる偏光成分を検出し、その差動信号
を検出するのが望ましい。そこで、図に示すように、光
導波路素子5の光導波路17をY軸に対して45°傾け
て配置すると、光導波路17内のTEモードとTMモー
ドは半導体レーザ6からの出射光の偏光方向に対して±
45°の方向の偏光成分に対応するようになり、S/N
の高い再生信号が得られる。
【0016】ところが、上記のような構成の光ピックア
ップでは、ビームスプリッタ26がコリメートレンズ2
2とホログラム27との間に配置された構成であるた
め、光源である半導体レーザ6とビームスプリッタ26
間の距離が長くなり、その結果、ビームスプリッタ26
内で光の通過する範囲(必要有効径)が大きくなってい
た。
【0017】これに伴い、光磁気信号検出光L2の収束
点がグレーティング25が形成された部材の下面に近付
いた位置になり、光磁気信号検出光L2を直接に光導波
路17上に結合させることができなかった。
【0018】その対策として、上記のようにマイクロレ
ンズ47を設けることで、発散光となった光磁気信号検
出光L2を平行光に変換してから光導波路17上に結合
させていた。
【0019】ここで、マイクロレンズ47の焦点距離は
1mm程度であり、このように焦点距離の短いレンズをプ
リズム10上に作製するのは容易ではなかった。
【0020】また、この構成の光ピックアップでは、半
導体レーザ6、フォトダイオード7、光導波路素子5が
L字状に平面配置されており(図11参照)、光ピックア
ップを構成したときの厚さになるX軸方向の長さが、フ
ォトダイオード7の配置の分だけ大きくなっている。こ
のことが光ピックアップの薄型化の障害となっていた。
【0021】そこで、これらの不都合を改善するため、
本出願人は、図12〜図14に示すような構成の光ピッ
クアップを提案した(たとえば、特願平9−04051
7号参照)。
【0022】図12は光ピックアップの平面図であり、
図8に示した構成と対応する部分には同一の符号を付し
ている。
【0023】この光ピックアップでは、グレーティング
25によって半導体レーザ6からの光束を1つのメイン
ビームと2つのトラッキングビームとからなる3つの光
束に分割するようになっている。また、ホログラム27
は、図外の光磁気ディスクからの反射光の一部を回折さ
せるものである。
【0024】また、光磁気ディスクで反射された光が再
度グレーティング25を通過すると、トラッキング用ビ
ームとメインビームが重なり合い、正しく情報が再生で
きなくなるので、ビームスプリッタ26は、ホログラム
27とグレーティング25の間に配置されている。これ
により、ビームスプリッタ26は、図8の構成の場合と
異なり、ホログラム27よりも半導体レーザ6側により
近接している。
【0025】そして、このビームスプリッタ26は、ホ
ログラム27で回折されなかった光磁気ディスクからの
反射光の一部を反射する第1の反射面26aと、この第
1の反射面26aと平行に配置されて第1反射面26aか
らの反射光を再度反射させる第2の反射面26bとが形
成されている。
【0026】なお、22はコリメートレンズ、23は立
ち上げミラー、24は対物レンズであり、これらの構成
は図8に示した場合と同様である。
【0027】上記のビームスプリッタ26は、パッケー
ジ28に取り付けられている。このパッケージ28は、
ベース13、キャップ3、およびカバーガラス46を有
し、このパッケージ2内に半導体レーザ6、光導波路素
子5、およびフォトダイオード7が設けられている。
【0028】半導体レーザ6とフォトダイオード7と
は、ベース13に直接配置され、また、光導波路素子5
は、くさび状のブロック62を介してベース13上に配
置されている。さらに、光導波路素子5の上には台形の
プリズム10が配置されている。
【0029】図13に示すように、光磁気ディスクから
の反射光がプリズム10の斜面に対して垂直に入射する
とともに、導波路素子5に対して所定の入射角が得られ
るように、ブロック62の形状が設計されている。つま
り、プリズム10の斜面の角度とブロック62の斜面の
角度は互いに対応していて、プリズム10の斜面は、ベ
ース13の平面と平行(入射光の光軸に対しては垂直)に
なっている。
【0030】上記構成において、半導体レーザ6から放
射された光は、グレーティング25によって2つのトラ
ッキングビームと1つのメインビームの3つの光束に分
割され、コリメートレンズ22、立ち上げミラー23、
対物レンズ24により図示しない光磁気ディスク上に各
トラッキングビームスポットとメインビームスポットと
を形成する。
【0031】光磁気ディスクで反射された光は、再び対
物レンズ24、立ち上げミラー23、コリメートレンズ
22を通過し、ホログラム27によってその一部が回折
され、その回折された光はビームスプリッタ26の第1
の反射面26aを透過した後、グレーティング25の右
側を通過してフォトダイオード7でサーボエラー信号検
出光L1として検出される。
【0032】一方、ホログラム27で回折されなかった
光束は、ビームスプリッタ26の第1の反射面26aお
よび第2の反射面26bを介してグレーティング25の
左側を透過した後、プリズム10の斜面に対して垂直に
入射する。
【0033】プリズム10に入射した光は、導波路素子
5に対して所定の入射角で結合される。光導波路素子5
の光導波路17に入射した光は、図7に示した構成のも
のと同様に、素子内に形成された偏光分離素子11によ
りTE光とTM光に分離された後、光検出素子12で光
磁気信号検出光L2として検出される。
【0034】図14は、図12および図13に示される
光導波路素子5、半導体レーザ6およびフォトダイオー
ド7を光の入出射方向(Z軸方向)から見た正面図であ
る。
【0035】半導体レーザ6から図中Z軸方向に出射さ
れるレーザ光の偏光方向は、ここではY軸に平行に設定
してある。
【0036】この場合も、図8ないし図11に示した構
成のものと同様に、光導波路素子5の光導波路17をY
軸に対して45°傾けて配置すると、光導波路17のT
E光およびTM光は半導体レーザ6から出射される光の
偏光方向に対して±45°の方向の偏光成分に対応する
ようになり、S/N比の高い再生信号が得られる。
【0037】このように、図12ないし図14に示した
構成にすれば、図8ないし図11に示した構成のものに
比べて、ビームスプリッタ26が半導体レーザ6側に一
層近付いた位置にあるため、ビームスプリッタ26内で
光の通過する範囲(必要有効径)を小さくでき、結果とし
て光磁気ディスクからの反射光を図9に示したようなマ
イクロレンズ47を介さずに直接に光導波路素子5に結
合させることができ、光ピックアップ全体を小型化する
ことができる。
【0038】しかも、半導体レーザ6、光導波路素子
5、フォトダイオード7がY軸に沿って直線状に配置さ
れているため(図14参照)、光ピックアップを構成した
ときの厚さになるX軸方向の長さを短くでき、薄型化を
図ることができるなどの利点を有する。
【0039】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図12
ないし図14に示す構成のものでは、前述のように、光
導波路素子5をブロック62上に斜めに立て掛けた配置
とするため、光導波路素子5の3次元的位置調整が難し
かった。
【0040】また、光導波路素子5の光検出素子12か
らの検出出力を取り出すためには、電気的配線を行う必
要があるが、上記のように、光導波路素子5はブロック
62上に斜めに立て掛けられているために、ワイヤボン
ディングなどの工程が複雑になるなどの課題を残してい
た。
【0041】本発明は、薄型で安価で、しかも、光導波
路素子の3次元的配置や電気的配線の接続などを容易に
行える光導波路ユニットおよびこれを用いた光学ヘッド
を提供することを目的とする。
【0042】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、請求請1記載の発明にかかる光導波路ユニットで
は、パッケージ内に、半導体レーザ等の光源、光被照射
物からの反射光を光導波路を介して光検出素子で検出す
る光導波路素子、およびこの光導波路素子の前記光導波
路に反射光を結合する光反射手段が実装配置されてお
り、前記光導波路素子は、前記光導波路が形成された基
板表面が前記反射光の光軸に対して垂直になるように配
置されていることを特徴としている。
【0043】これにより、光源、光導波路素子等を含む
パッケージを最も低い高さで実装することができ、パッ
ケージの側面部から光の出入射を行える。また、光導波
路素子は斜めに立て掛けることなく、平面的に配置でき
るため、光導波路素子の取り付けや光学的調整が容易と
なる。
【0044】また、請求項2記載の発明にかかる光導波
路ユニットでは、請求項1記載の構成において、前記パ
ッケージ内には、配線中継用の配線パターンが形成され
たブロックが配置されていることを特徴としている。
【0045】これにより、各素子のボンディング部分と
ブロックに形成された配線パターンとの段差が少なくな
り、また、光導波路素子も平板的に配置されているた
め、パッケージ内での配線が容易となる。
【0046】さらに、請求項3記載の発明にかかる光学
ヘッドでは、請求項1または請求項2記載の光導波路ユ
ニットを搭載したことを特徴としている。
【0047】これにより、光学ヘッドが薄型となる。
【0048】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施形態にかかる
光導波路ユニットを備えた光学ヘッドを示す平面図であ
り、図8ないし図14に示した従来技術に対応する部分
には同一の符号を付す。
【0049】図1において、符号1は光導波路ユニッ
ト、22はコリメートレンズ、23は立ち上げミラー、
24は対物レンズである。また、25はグレーティン
グ、26はビームスプリッタ、26aは第1反射面、2
6bは第2反射面、27はホログラムであり、これらの
構成、および作用は図12に示した従来技術の場合と同
様であるからここでは詳しい説明は省略する。
【0050】本発明の特徴は、光導波路ユニット1の構
成にある。したがって、以下では、光導波路ユニット1
についてさらに詳しく説明する。
【0051】図2は図1の光学ヘッドを構成する光導波
路ユニットのみを取り出して示す斜視図、図3は図2の
光導波路ユニットを光の入出射方向から見た正面図であ
り、図8ないし図14に示した従来技術に対応する部分
には同一の符号を付す。
【0052】この光導波路ユニット1は、パッケージ2
を有する。このパッケージ2は、リードフレーム型プリ
モールドタイプであり、平板状のベース13の上に一辺
が開口された方形のフレーム20が固定され、このフレ
ーム20にリードピン4を整列した状態で埋め込んで一
体に樹脂成型され、さらに、このフレーム20にキャッ
プ3が取り付けられている。
【0053】上記のベース13は、そのほぼ中央に中央
ブロック14が突出形成されており、この中央ブロック
14は、半導体レーザ6の放熱の役目も兼用できるよう
に熱伝導性のよい金属で製作されている。
【0054】キャップ3は、アクリルなどの透明材料で
形成されており、フレーム20の開口側に位置する側面
部3aと、これに直交配置された上面部3bとで断面L字
形になっていて、熱硬化性あるいは光硬化性などの接着
剤を用いてフレーム20に接着固定されている。上記の
側面部3aは、グレーティング25が形成されていて、
入出射する光が透過できるように透明になっている。な
お、必要に応じて側面部3aの内側や外側に反射防止コ
ートを施すことにより光の透過率を向上することができ
る。また、上面部3bは、必ずしも透明にする必要はな
く、むしろ外部からの光を遮断するために不透明にする
のが望ましい。さらに、光導波路ユニット1を単体で使
用する場合には、気密シールのため側面部3aが必要で
あるが、フレーム20の開口側に光学部品を直接に接着
して使用する場合は側面部3aは省略することもでき
る。
【0055】上記のリードピン4は、そのフレーム20
内方側の端部が電気的接続のためのワイヤのボンディン
グ部4aとされ、フレーム20よりも外方に突出した端
部4bは、光導波路ユニット1が配置される図外の回路
基板と電気的に接続するために、ベース13の底面と同
じ高となるように折り曲げられている。
【0056】パッケージ2の内部には、半導体レーザ
6、光磁気信号検出光L2を受光する光導波路素子5、
サーボエラー信号検出光L1を受光するフォトダイオー
ド7、半導体レーザ6の出力モニタ用のフォトダイオー
ド8、および配線中継用の複数(本例では3つ)のブロッ
ク9a,9b,9cがそれぞれ配置されている。
【0057】各ブロック9a,9b,9cは、樹脂あるい
はセラミック基材でできており、その所定の表面に配線
パターン29が形成されている。そして、各配線パター
ン29のボンディング面は、ワイヤをボンディングする
際の作業性を考慮して、リードピン4のボンディング部
4aとほぼ同じ高さになるように設定されている。これ
より、ワイヤボンディングする際に、ワイヤがブロック
9a,9b,9cやパッケージの縁できれたりすることが
防止できる。
【0058】そして、中央ブロック14の両側に左右の
ブロック9a,9cが、また、中央ブロック14の上面に
中央のブロック9bが配置されており、右側のブロック
9aの前面に光導波路素子5が固定されている。また、
中央ブロック14の前面には半導体レーザ6の出力モニ
タ用のフォトダイオード8が配置され、さらに、その中
央ブロック14の前方に位置する箇所に半導体レーザ6
が配置されている。この場合の半導体レーザ6からの出
射光の偏光方向はY軸に平行となる。左側のブロック9
cの前面にはトラッキングサーボ検出用のフォトダイオ
ード7が取り付けられている。
【0059】このように、この実施形態の光導波路ユニ
ット1は、パッケージ2の厚さ方向(X軸方向)に直交す
る方向(Y軸方向)に沿って光導波路素子5、半導体レー
ザ6、フォトダイオード7が直線状に配置されるため、
光導波路ユニット1全体の高さを低く設定できる。
【0060】図4は、ブロック9aに光導波路素子5を
配置した状態を示す平面図、図5は光導波路素子5の部
分を示す断面図である。
【0061】光導波路素子5は、シリコン基板15の上
に光学的バッファ層16および光導波路17、偏光分離
素子11、光検出素子12が一体形成されている。この
偏光分離素子11から光検出素子12に至る構成は、た
とえば、特開平10−78522号公報に示されている
ものが利用できる。さらに、シリコン基板15上には、
ボンディングパッド18とマーカ19とが形成されてい
る。なお、マーカー19は、光導波路素子5をウェハの
状態からチップに切り分ける際のダイシング用の基準を
与えるものである。
【0062】さらに、シリコン基板15の光導波路17
上の位置には、同路17内に光を結合するためのプリズ
ム10が配置されている。このプリズム10は、内部に
ミラー面M0が形成された、いわゆる反射型カプラープ
リズムで、プリズム10を接着する際やその他の作業に
よってミラー面M0が汚れることがないため、常に所定
の反射率を確保することできる。
【0063】この構成の光導波路素子5においては、プ
リズム10に入射した光磁気信号検出光L2は、そのミ
ラー面M0で反射されて光導波路17へ所定の角度で結
合され、光導波路17に入射した光L2は、偏光分離部
11を通過するときに屈折を受けてTE光とTM光とに
分離され、各光が光検出素子12で検出される。この場
合、光検出素子12の周辺では光学的バッファ層16は
徐々に薄くなっており、これによって、光検出素子12
に近付くにつれて光はシリコン基板15側へ漏れ始め、
光検出器12へ結合される。そして、光検出素子12の
出力がボンディングパッド18に伝えられ、さらにブロ
ック9aの配線パターン29を介してリードピン4のボ
ンディング部4aに伝えられる。なお、図4において
は、ボンディングパッド18と配線パターン29を電気
的に接続するワイヤは省略している。
【0064】このように、この実施形態では、光導波路
素子5がブロック9aの平坦な側面に直接取り付けられ
ていて、そのシリコン基板15の表面15aが光の出入
射の光軸oに対して垂直になっていて、図12および図
13に示した従来技術のように、光導波路素子5が斜め
に立て掛けられて配置していないので、光導波路素子5
の配置作業や光学的な調整を極めて容易に行える。
【0065】次に、本発明の光導波路ユニットの製作工
程について、図6を参照して説明する。
【0066】図6(a)に示すように、ベース13の中央
付近に中央ブロック14が取り付けられる。この中央ブ
ロック14は、金属であればプレス加工により作製する
ことができる。
【0067】次に、図6(b)に示すように、中央ブロッ
ク14に半導体レーザ6およびモニター用のフォトダイ
オード8を固定する。
【0068】続いて、図6(c)に示すように、予めブロ
ック9aに前以てプリズム10の固定された光導波路素
子5を固定し、さらにワイヤボンディングを施してお
き、このブロック9aをベース13に固定する。
【0069】次に、図6(d)に示すように、ブロック9c
を固定する。
【0070】この後、図6(e)に示すように、ブロック
9cに、サーボ用のフォトダイオード7を固定し、ワイ
ヤボンディングを施す。ここで、半導体レーザ6および
モニター用光検出器8にも併せてワイヤボンディングを
施す。
【0071】その後、図6(f)に示すように、フレーム
20を接着し、リードピン4のボンディング部4aと各
ブロック9a,9b,9cの配線パターン29間をワイヤ
ボンディングで接続する。
【0072】最後に、図6(g)に示すように、キャップ
3をフレーム20に接着して、工程を完了する。
【0073】図7は、本発明の光導波路ユニットの他の
実施形態を示す斜視図であり、図1に示した部分と対応
する部分には同一の符号を付す。
【0074】この実施形態の光導波路ユニットでは、リ
ードピン4の形状と配列とが図1に示した場合と相違し
ている。
【0075】すなわち、図1の場合では、リードピン4
がフレーム20の周壁から側方に突出しているが、図7
の実施形態の場合は、リードピン4をベース13の下方
に突出するようにし、また、各リードピン4はフレーム
20の一辺側にまとめて配置している。このような構成
によれば、パッケージ2の外形寸法を小さくすることが
できる。
【0076】
【発明の効果】本発明によれば、次の効果を奏する。
【0077】(1) 請求項1記載の発明では、光源、光
導波路素子等を含むパッケージを最も低い高さで実装す
ることができ、光導波路ユニットを小型かつ薄型にする
ことができる。また、光導波路素子は斜めに立て掛ける
ことなく、平面的に配置できるため、光導波路素子の取
り付けや光学的調整が容易となる (2) 請求項2記載の発明では、パッケージ内での配線
が容易となるので、光導波路ユニット作製のコストダウ
ンが図れる。
【0078】(3) 請求項3記載の発明では、上記光導
波路ユニットを搭載して光学ヘッドを構成することによ
り、光学ヘッドが小型かつ薄型となり、かつ、光学ヘッ
ド作製のコストダウンが図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態にかかる光導波路ユニットを
備えた光学ヘッドを示す平面図
【図2】図1に示す光学ヘッドに使用される光導波路ユ
ニットの斜視図
【図3】図2の光導波路ユニットを光の入出射方向(Z
軸方向)から見た正面図
【図4】図2の光導波路ユニットにおいて、光導波路素
子を配線パターン付きのブロックに取り付けた状態を示
す平面図
【図5】図2の光導波路ユニットで使用される光導波路
素子とプリズムの部分を示す断面図
【図6】本発明の光導波路ユニットの作製工程を示す説
明図
【図7】本発明の他の実施形態にかかる光導波路ユニッ
トの斜視図
【図8】従来の光磁気ディスク装置用の光ピックアップ
の一例を示す平面図
【図9】図8の光ピックアップで使用される光導波路素
子とプリズムの部分を示す断面図
【図10】図8の光ピックアップで使用される光導波路
素子とプリズムの部分を示す平面図
【図11】図8に示される半導体レーザや光導波路素子
等を光の入出射方向(Z軸方向)から見た正面図
【図12】従来の他の光磁気ディスク装置用の光ピック
アップの一例を示す平面図
【図13】図12に示される光導波路素子とプリズムの
部分を示す平面図
【図14】図12に示される半導体レーザや光導波路素
子等を光の入出射方向(Z軸方向)から見た正面図
【符号の説明】
1…光導波路ユニット、2…パッケージ、5…光導波路
素子、6…半導体レーザ、7…サーボ用のフォトダイオ
ード、8…モニタ用のフォトダイオード、9a,9b,9
c…配線パターン付きのブロック、11…偏光分離素
子、12…光検出素子、15…シリコン基板、15a…
基板表面、17…光導波路、22…コリメートレンズ、
23…立ち上げミラー、24…対物レンズ、25…グレ
ーティング、26…ビームスプリッタ、27…ホログラ
ム、L1…サーボエラー信号検出光、L2…光磁気信号
検出光。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージ内に、半導体レーザ等の光
    源、光被照射物からの反射光を光導波路を介して光検出
    素子で検出する光導波路素子、およびこの光導波路素子
    の前記光導波路に反射光を結合する光反射手段が実装配
    置されており、前記光導波路素子は、前記光導波路が形
    成された基板表面が前記反射光の光軸に対して垂直にな
    るように配置されていることを特徴とする光導波路ユニ
    ット。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の光導波路ユニットにおい
    て、 前記パッケージ内には、配線中継用の配線パターンが形
    成されたブロックが配置されていることを特徴とする光
    導波路ユニット。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の光導波路
    ユニットを搭載した光学ヘッド。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003133626A (ja) * 2001-10-19 2003-05-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発光素子用パッケージ及び発光素子の封止方法
JP2005141891A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Samsung Electronics Co Ltd 薄型光ピックアップ
JP2009152330A (ja) * 2007-12-20 2009-07-09 Panasonic Corp 半導体装置、半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置および光ピックアップ装置ならびに光ディスクドライブ装置
JP2014531132A (ja) * 2011-10-20 2014-11-20 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram OptoSemiconductors GmbH 放射放出部品
EP3651191B1 (en) * 2017-07-06 2025-01-01 Fujikura Ltd. Optical module and method for manufacturing same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003133626A (ja) * 2001-10-19 2003-05-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発光素子用パッケージ及び発光素子の封止方法
JP2005141891A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 Samsung Electronics Co Ltd 薄型光ピックアップ
JP2009152330A (ja) * 2007-12-20 2009-07-09 Panasonic Corp 半導体装置、半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置および光ピックアップ装置ならびに光ディスクドライブ装置
JP2014531132A (ja) * 2011-10-20 2014-11-20 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram OptoSemiconductors GmbH 放射放出部品
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