JP2000211994A - シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法及びその育成装置 - Google Patents

シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法及びその育成装置

Info

Publication number
JP2000211994A
JP2000211994A JP11013361A JP1336199A JP2000211994A JP 2000211994 A JP2000211994 A JP 2000211994A JP 11013361 A JP11013361 A JP 11013361A JP 1336199 A JP1336199 A JP 1336199A JP 2000211994 A JP2000211994 A JP 2000211994A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
quartz crucible
polycrystalline silicon
silicon
single crystal
melting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11013361A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4221797B2 (ja
Inventor
Koji Hosoda
浩二 細田
Hitoshi Sasaki
斉 佐々木
Norimasa Naito
宣正 内藤
Shinrin Fu
森林 符
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Silicon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Materials Silicon Corp filed Critical Mitsubishi Materials Silicon Corp
Priority to JP01336199A priority Critical patent/JP4221797B2/ja
Publication of JP2000211994A publication Critical patent/JP2000211994A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4221797B2 publication Critical patent/JP4221797B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】多結晶シリコンの融解及び単結晶棒引上げ時に
おけるカーボンヒータによる電力消費を低減し、カーボ
ンヒータ及び石英るつぼの劣化を抑制する。 【解決手段】シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの
融解方法は、石英るつぼ13を包囲して支持するカーボ
ンサセプタ14の外底面の近傍にスピルトレイ21の上
面を配置させた状態で石英るつぼに所定量未満の多結晶
シリコンを入れてカーボンヒータ18により融解した
後、スピルトレイの位置を維持した状態で所定量残部の
多結晶シリコン20を1回又は2回以上に分けて石英る
つぼ13内に補給してカーボンヒータ18により融解す
る。育成装置は、石英るつぼに多結晶シリコンを補給可
能に構成された原料補給装置31が設けられ、多結晶シ
リコンの融解からシリコン融液に種結晶26が接触し始
めるときまで、サセプタの外底面の近傍にトレイ上面が
位置するようにスピルトレイが設けられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリコン単結晶棒
を引上げて育成する装置におけるシリコン単結晶育成前
の多結晶シリコンの融解方法及びその育成装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来、図4に示すように、シリコン単結
晶棒を育成する装置には、チャンバ1内に設けられ石英
るつぼ2を包囲して支持するカーボンサセプタ3と、こ
のサセプタ3を包囲してチャンバ内1に設けられ石英る
つぼ2内の多結晶シリコン4を融解しかつ石英るつぼ2
内に貯留されたシリコン融液を加熱するカーボンヒータ
5と、サセプタ3の下方のチャンバ1内に設けられたス
ピルトレイ6とを備えたものが知られている。また、こ
のような装置にはサセプタ3の支軸7aを介して石英る
つぼ2を上昇又は下降させるるつぼ昇降手段7と、この
石英るつぼ2をカーボンヒータ5とともに包囲する保温
筒8と、引上げるシリコン単結晶棒の外径より僅かに大
きな内径を有する筒状の熱遮蔽体9とが更に備えられ
る。このシリコン単結晶の育成装置では、カーボンヒー
タ5で多結晶シリコン4を融解することにより石英るつ
ぼ2内に貯留されたシリコン融液に種結晶1aを接触さ
せ、その種結晶1aを引上げて種結晶1aの下方にシリ
コン単結晶棒を育成している。
【0003】更に上記従来の装置では、石英るつぼ2の
周囲に設けられたカーボンヒータ5は石英るつぼ2内の
シリコン融液を加熱して所定温度に維持し、るつぼ昇降
手段7は、支軸7aを介して石英るつぼ2を上昇させる
ことによりシリコン単結晶棒の引上げに伴うシリコン融
液表面の低下を防止し、シリコン融液の表面を所定位置
に維持して高品質のシリコン単結晶棒を得ている。ま
た、熱遮蔽体9はシリコン融液の熱が引上げるシリコン
単結晶棒に到達しないように遮蔽し、保温筒8は石英る
つぼ2をカーボンヒータ5とともに包囲して、シリコン
融液の熱が外部に放散しないように遮蔽している。
【0004】一方、石英るつぼ2に当初供給される多結
晶シリコン4は塊状物であるため、塊状物と塊状物との
間に存在する空間がその多結晶シリコン4を融解すると
ともに消滅し、多結晶シリコン4を融解して得られるシ
リコン融液の液面は石英るつぼ2に当初供給された多結
晶シリコン4の上面より下降する。このため従来では、
塊状物である多結晶シリコン4を一括して入れた石英る
つぼ2を、シリコン融液に種結晶1aを接触させる位置
よりも下方の位置まで下降させて支持し、石英るつぼ2
に当初充填された所定量の多結晶シリコン4が熱遮蔽体
9と干渉することを防止しており、多結晶シリコン4が
カーボンヒータ5により融解してシリコン融液が石英る
つぼ2に貯留された後に、るつぼ昇降手段7は種結晶1
aを接触させるべき正規の位置まで石英るつぼ2を上昇
させている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、多結晶シリコ
ン4の融解に際しるつぼ昇降手段7による石英るつぼ2
の下降を可能にするためには、カーボンサセプタ3、カ
ーボンヒータ5及びスピルトレイ6により囲まれるカー
ボンヒータ5が加熱すべき空間、いわゆるホットゾーン
が石英るつぼ2の下降を考慮して大きく形成されなけれ
ばならない。従来の多結晶シリコンの融解方法は、ホッ
トゾーンが大きいため、石英るつぼ2に入れられたシリ
コン多結晶4を融解する際のカーボンヒータ5の電力消
費量、及びシリコン多結晶4が融解した後のシリコン融
液を所定温度に維持するための電力消費量が比較的多大
になる不具合がある。また、この電力消費量の多大さに
起因してカーボンヒータ5自体、及びシリコン融液を貯
留する石英るつぼ2自体が熱ストレスを受けてその寿命
が低下する問題点がある。
【0006】本発明の目的は、ホットゾーンを縮小して
シリコン多結晶の融解時及びシリコン単結晶棒引上げ時
におけるカーボンヒータによる電力消費を低減し得るシ
リコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法及びそ
の育成装置を提供することにある。本発明の別の目的
は、カーボンヒータによる電力消費量を低減してカーボ
ンヒータ及び石英るつぼの劣化を抑制し得るシリコン単
結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法及びその育成装
置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
図3に示すように、石英るつぼ13を包囲して支持する
カーボンサセプタ14の外底面の近傍にスピルトレイ2
1の上面を配置させた状態で石英るつぼ13に所定量未
満の多結晶シリコン20を入れてカーボンヒータ18に
より融解してシリコン融液12にした後、図2に示すよ
うに、スピルトレイ21の位置を維持した状態で所定量
の残部の多結晶シリコン20を1回又は2回以上に分け
て石英るつぼ13内に補給してカーボンヒータ18によ
り融解することを特徴とするシリコン単結晶育成前の多
結晶シリコンの融解方法である。カーボンヒータ18に
より所定量未満の多結晶シリコン20の融解と所定量の
残部の多結晶シリコン20の融解をスピルトレイ21の
位置を維持した状態で行うことにより、種結晶26が接
触し始めるときの石英るつぼ13の位置から更に石英る
つぼ13を下降させることなく多結晶シリコン20を融
解する。この結果、従来多結晶シリコン20を融解させ
る際に必要としていた石英るつぼ13が下降するための
空間を本発明では不要にする。
【0008】請求項2に係る発明は、図1〜図3に示す
ように、チャンバ11内に設けられ石英るつぼ13を包
囲して支持するカーボンサセプタ14と、サセプタ14
を包囲してチャンバ11内に設けられ石英るつぼ13内
の多結晶シリコン20を融解しかつ石英るつぼ13内に
貯留されたシリコン融液12を加熱するカーボンヒータ
18と、サセプタ14の下方の前記チャンバ11内に設
けられたスピルトレイ21とを備え、種結晶26をシリ
コン融液12に接触させて引上げることによりシリコン
単結晶棒25を育成するシリコン単結晶の育成装置の改
良である。その特徴ある構成は、石英るつぼ13に多結
晶シリコン20を補給可能に構成された原料補給装置3
1が設けられ、多結晶シリコン20の融解からシリコン
融液12に種結晶26が接触し始めるときまで、サセプ
タ14の外底面の近傍にトレイ21上面が位置するよう
にスピルトレイ21が設けられたところにある。
【0009】多結晶シリコン20の融解からシリコン融
液12に種結晶26が接触し始めるときまで、サセプタ
14の外底面の近傍にトレイ21上面が位置するように
スピルトレイ21を設たので、従来多結晶シリコン20
を融解させる際に必要としていた石英るつぼ13が下降
する範囲をなくしてカーボンヒータ18が加熱すべき空
間であるホットゾーンを縮小させる。この結果、石英る
つぼ13に入れられた多結晶シリコン20の融解及び融
解後におけるシリコン融液12の温度を維持する際のカ
ーボンヒータ18の電力消費量を低減させる。カーボン
ヒータ18が加熱すべき空間を縮小させることに伴い、
融解当初石英るつぼ13に入れた多結晶シリコン20が
所定量に満たない場合には、所定量未満の多結晶シリコ
ン20が融解した後、原料補給装置31により所定量の
残部に相当する多結晶シリコン20を補給する。
【0010】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面に
基づいて説明する。図1〜図3に示すように、シリコン
単結晶の育成装置10のチャンバ11内には、シリコン
融液12を貯留する石英るつぼ13が設けられ、この石
英るつぼ13の外面はカーボンサセプタ14により被覆
される。石英るつぼ13の下面はカーボンサセプタ14
を介して支軸16の上端に固定され、この支軸16の下
部はるつぼ昇降手段17に接続される。るつぼ昇降手段
17は図示しないが石英るつぼ13を回転させる第1回
転用モータと、石英るつぼ13を昇降させる昇降用モー
タとを有し、これらのモータにより石英るつぼ13が所
定の方向に回転し得るとともに、上下方向に移動可能と
なっている。
【0011】サセプタ14の下方のチャンバ11の内部
にはスピルトレイ21が設けられ、スピルトレイ21は
多結晶シリコン20(図3)の融解からシリコン融液1
2に種結晶26が接触し始めるときまで、サセプタ14
の外底面の近傍に上面が位置するように設けられる。図
示しないが、スピルトレイ21は環状のカーボンのケー
シングの内部に断熱材を充填することにより作られ、ス
ピルトレイ21はカーボンヒータ18からの放熱を反射
しかつその熱を蓄熱し、石英るつぼ13周囲の熱がスピ
ルトレイ21の下方に放散するのを防ぐように構成され
る。石英るつぼ13の外周面は石英るつぼ13から所定
の間隔をあけてカーボンヒータ18により包囲され、こ
のカーボンヒータ18は保温筒19により包囲される。
カーボンヒータ18及び保温筒19はスピルトレイ21
の上部に取付けられ、カーボンヒータ18は石英るつぼ
13に投入された高純度のシリコン多結晶20(図3)
を加熱・融解してシリコン融液12にする。
【0012】またチャンバ11の上端には円筒状のケー
シング22が接続される。このケーシング22には引上
げ手段23が設けられる。引上げ手段23はケーシング
22の上端部に水平状態で旋回可能に設けられた引上げ
ヘッド(図示せず)と、このヘッドを回転させる第2回
転用モータ(図示せず)と、ヘッドから石英るつぼ13
の回転中心に向って垂下されたワイヤケーブル24と、
上記ヘッド内に設けられワイヤケーブル24を巻取り又
は繰出す引上げ用モータ(図示せず)とを有する。ワイ
ヤケーブル24の下端にはシリコン融液12に浸してシ
リコン単結晶棒25(図1)を引上げるための種結晶2
6が取付けられる。
【0013】引上げられるシリコン単結晶棒25(図
1)の外周面と石英るつぼ13の内周面との間には、シ
リコン単結晶棒25を包囲する筒状の熱遮蔽体27(図
1〜図3)が設けられる。熱遮蔽体27はシリコン融液
12の熱がシリコン単結晶棒25に到達しないようにこ
れを遮蔽するために設けられ、この熱遮蔽体27の上縁
には外方に略水平方向に張り出すフランジ部27aが連
設される。このフランジ部27aを保温筒19上に載置
することにより熱遮蔽体27はチャンバ11内に固定さ
れ、熱遮蔽体27の下縁は石英るつぼ13に貯留された
シリコン融液12表面から所定の距離だけ上方に位置す
るように構成される。
【0014】引上げ手段23における引上げ用モータの
出力軸(図示せず)にはロータリエンコーダ(図示せ
ず)が設けられ、るつぼ昇降手段17には石英るつぼ1
3内のシリコン融液12の重量を検出する重量センサ
(図示せず)と、支軸16の昇降位置を検出するリニヤ
エンコーダ(図示せず)とが設けられる。更にこの育成
装置10にはシリコン融液12の融液面温度を検出する
図示しない温度センサが設けられる。ロータリエンコー
ダ、重量センサ、リニヤエンコーダ及び温度センサの各
検出出力はコントローラ(図示せず)の制御入力に接続
され、コントローラの制御出力は引上げ手段23の引上
げ用モータ、るつぼ昇降手段17の昇降用モータにそれ
ぞれ接続される。またコントローラにはメモリ(図示せ
ず)が設けられ、このメモリにはロータリエンコーダの
検出出力に対するワイヤケーブル24の巻取り長さ、即
ちシリコン単結晶棒25の引上げ長さが第1マップとし
て記憶され、重量センサの検出出力に対する石英るつぼ
13内のシリコン融液12の液面レベルが第2マップと
して記憶される。コントローラは重量センサの検出出力
に基づいて石英るつぼ13内のシリコン融液12の液面
を常に一定のレベルに保つように、るつぼ昇降手段17
の昇降用モータを制御するように構成される。
【0015】チャンバ11には石英るつぼ13に粒状の
多結晶シリコン20を補給可能に構成された原料補給装
置31が設けられる。図2及び図3に示すように、本実
施の形態における原料補給装置31は、下端が石英るつ
ぼ13の内部に臨むようにチャンバ11の上部に貫通し
て設けられた供給管32と、その供給管32の上部に開
口部33aを有する下部が接続して設けられた原料タン
ク33と、その原料タンク33に貫通して設けられ原料
タンク33の開口部33aを塞ぐ蓋部34aが下部に形
成された開閉ロッド34と、原料タンク33内部を真空
に維持する図示しない真空ポンプとを有する。この原料
補給装置31では、開閉ロッド34を下方に移動させる
ことにより原料タンク33の開口部が開放され、原料タ
ンク33の内部に充填された粒状の多結晶シリコン22
がその開口部33aから放出され、供給管32を介して
石英るつぼ13に補給されるように構成される。なお、
この原料補給装置31は図に示すものに限らず、石英る
つぼ13に多結晶シリコン20を補給可能であればどの
ような構造及び形式のものでもよい。
【0016】このように構成された装置による本発明に
よるシリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法
を説明する。図3に示すように、塊状物である多結晶シ
リコン20を所定量未満入れた石英るつぼ13を、シリ
コン融液12に種結晶26を接触させる位置、即ちカー
ボンサセプタ14の外底面の近傍にスピルトレイ21の
上面を配置させるようにるつぼ昇降手段17が支軸16
を介して支持する。この状態で石英るつぼ13に入れら
れた所定量未満の多結晶シリコン20をカーボンヒータ
により融解する。最初に所定量未満の多結晶シリコン2
0を石英るつぼ13に入れて融解させることにより、石
英るつぼ13の必要以上の下降を不要にしつつ石英るつ
ぼ13に充填された多結晶シリコン20が熱遮蔽体27
と干渉することを防止する。
【0017】図2に示すように、所定量未満の多結晶シ
リコン20が融解してシリコン融液12が石英るつぼ1
3に貯留された後、カーボンサセプタ14の位置を維持
した状態で所定量の残部として粒状の多結晶シリコン2
0を原料供給装置31から1回又は2回以上に分けて石
英るつぼ13内に補給してカーボンヒータ18により融
解する。原料供給装置31から所定量の残部の粒状の多
結晶シリコン20を補給することにより当初投入された
所定量未満の多結晶シリコン20が融解したシリコン融
液12の液面を上昇させる。この所定量未満の塊状の多
結晶シリコン20の融解及び所定量の残部の粒状の多結
晶シリコン20の融解を、石英るつぼ13を移動させる
ことなくカーボンサセプタ14の外底面の近傍にスピル
トレイ21の上面を配置させた状態で行うことにより、
いわゆるホットゾーンを従来より縮小し、石英るつぼ1
3に当初入れられた所定量未満の多結晶シリコン20及
びその後補給された所定量の残部の多結晶シリコン20
を融解する際のカーボンヒータ18の電力消費量を低減
させる。
【0018】シリコン多結晶が融解して石英るつぼ13
にシリコン融液12が貯留された後、図1の実線矢印で
示すように供給管32を引上げ、シリコン単結晶棒25
を引上げるシリコン融液12の融液面温度を所定の温度
に調整する。この温度調整は、カーボンヒータ18によ
る所定時間の加熱により行われるが、ホットゾーンが従
来より縮小していることに起因してカーボンヒータ18
の電力消費量は従来より低減する。
【0019】シリコン融液12の融液面温度を調整した
後、引上げ手段の図示しない引上げ用モータによりワイ
ヤ24を繰出して種結晶26を降下させてその先端部を
シリコン融液12に接触させる。その後種結晶26を徐
々に引上げて種絞り部25aを形成した後、図1に示す
ように、更に種結晶26を引上げて種絞り部25aの下
部にシリコン単結晶棒25を育成させる。なお、シリコ
ン単結晶棒25の育成とともにシリコン融液12は減少
し、この融液12の量に応じて図示しない昇降用モータ
はるつぼ13を上昇させ、種結晶26の引上げとともに
低下するシリコン融液12の表面を所定位置に維持させ
る。
【0020】
【実施例】次に本発明の実施例を比較例とともに詳しく
説明する。 <実施例1>図1〜図3に示すように、内径が24イン
チの石英るつぼ13を有するシリコン単結晶の育成装置
10に原料供給装置31を設けた。多結晶シリコン20
の融解からシリコン融液12に種結晶26が接触し始め
るときまでのサセプタ14の外底面の近傍にトレイ21
上面が位置するようにスピルトレイ21を設けた。この
スピルトレイ21は円板状の断熱材の表面にカーボンを
コーティングすることにより作られたものを使用した。
このように構成された育成装置10を実施例1とした。 <比較例1>図4に示すように、多結晶シリコン4の融
解に際し石英るつぼ2が下降する凹部6aをスピルトレ
イ6に形成したこと、及び原料補給装置を設けないこと
を除いて、育成装置を上記実施例1と同一に構成した。
この育成装置を比較例1とした。
【0021】<比較試験及び評価>実施例1の育成装置
では、予め所定量未満の60kgの塊状の多結晶シリコ
ン20を入れた石英るつぼ13をカーボンヒータ18に
より融解してシリコン融液12にした後、原料供給装置
31により所定量の残部である50kgの粒状の多結晶
シリコン20を1回で石英るつぼ13内に補給してカー
ボンヒータ18により所定量である110kgの多結晶
シリコンを融解させた。比較例1の育成装置では、所定
量の110kgの塊状の多結晶シリコン4一括して入れ
た石英るつぼ2を下降させた状態で支持し、カーボンヒ
ータ5により融解してシリコン融液12にした。
【0022】この場合のそれぞれのカーボンヒータ5及
び18による電力消費量を熱伝導解析プログラムにてシ
ミュレーション計算して比較を行った。この結果、実施
例1のカーボンヒータ18における電力消費量が約6
3.5kWであったのに対して、比較例1のカーボンヒ
ータ5の消費電力量は約84.8kWであった。このよ
うに実施例1のカーボンヒータ18の電力消費量が比較
例1のカーボンヒータ5の消費電力量より小さくなった
のは、実施例1のカーボンヒータ18が加熱すべき空間
が、比較例1のカーボンヒータ5が加熱すべき空間より
小さいことに起因するものと考えられる。
【0023】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、石
英るつぼに所定量未満の多結晶シリコンを入れてシリコ
ン融液にした後、多結晶シリコンの残部を1回又は2回
以上に分けて石英るつぼ内に補給して融解させるので、
所定量未満の多結晶シリコン及び所定量の残部の多結晶
シリコンの融解をサセプタの位置を維持した状態で行う
ことができる。このため、種結晶が接触し始めるときの
石英るつぼの位置から更に石英るつぼを下降させること
なく多結晶シリコンを融解することができる。この結
果、従来多結晶シリコンを融解させる際に必要としてい
た石英るつぼが下降する空間を不要にしてホットゾーン
を小さくすることができる。
【0024】また、石英るつぼに多結晶シリコンを補給
可能に構成された原料補給装置を設け、多結晶シリコン
の融解からシリコン融液に種結晶が接触し始めるときま
で、サセプタの外底面の近傍にトレイ上面が位置するよ
うにスピルトレイを設けたので、従来多結晶シリコンを
融解させる際に必要としていた石英るつぼが下降する範
囲をなくしてカーボンヒータが加熱すべき空間であるホ
ットゾーンを縮小させることができる。この結果、石英
るつぼに入れられた多結晶シリコンの融解及び融解後に
おけるシリコン融液の温度を維持する際のカーボンヒー
タの電力消費量を低減させることができ、カーボンヒー
タによる電力消費量が低減することによりカーボンヒー
タ及び石英るつぼの劣化を抑制することもできる。ま
た、石英るつぼの劣化を抑制できる結果、石英るつぼが
長時間の引上げに耐えられることになり、比較的大型の
石英るつぼを使用して大口径のシリコン単結晶棒を育成
することもスムーズに行えるとともに、シリコン融液の
歩留りを向上させることもできる。更に、本発明により
不要になった石英るつぼが下降する空間にまで断熱材で
あるスピルトレイを厚く形成すれば、ホットゾーンの保
温性を更に向上させることができ、それに伴い小型のカ
ーボンヒータを使用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の育成装置のシリコン単結晶棒引上げ時
における断面構成図。
【図2】原料補給装置の多結晶シリコンの補給状態を示
す図1に対応する断面構成図。
【図3】所定量未満の多結晶シリコンの融解状態を示す
図1に対応する断面構成図。
【図4】従来例を示す育成装置の断面構成図。
【符号の説明】
10 シリコン単結晶の育成装置 11 チャンバ 12 シリコン融液 13 石英るつぼ 14 カーボンサセプタ 18 カーボンヒータ 20 多結晶シリコン 21 スピルトレイ 25 シリコン単結晶棒 26 種結晶 31 原料補給装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内藤 宣正 東京都千代田区大手町1丁目5番1号 三 菱マテリアルシリコン株式会社内 (72)発明者 符 森林 東京都千代田区大手町1丁目5番1号 三 菱マテリアルシリコン株式会社内 Fターム(参考) 4G077 AA02 BA04 CF05 EG01 EG18 EG20 EG27

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 石英るつぼ(13)を包囲して支持するカー
    ボンサセプタ(14)の外底面の近傍にスピルトレイ(21)の
    上面を配置させた状態で前記石英るつぼ(13)に所定量未
    満の多結晶シリコン(20)を入れてカーボンヒータ(18)に
    より融解してシリコン融液(12)にした後、前記スピルト
    レイ(21)の位置を維持した状態で所定量の残部の多結晶
    シリコン(20)を1回又は2回以上に分けて前記石英るつ
    ぼ(13)内に補給して前記カーボンヒータ(18)により融解
    することを特徴とするシリコン単結晶育成前の多結晶シ
    リコンの融解方法。
  2. 【請求項2】 チャンバ(11)内に設けられ石英るつぼ(1
    3)を包囲して支持するカーボンサセプタ(14)と、前記サ
    セプタ(14)を包囲して前記チャンバ(11)内に設けられ前
    記石英るつぼ(13)内の多結晶シリコン(20)を融解しかつ
    前記石英るつぼ(13)内に貯留されたシリコン融液(12)を
    加熱するカーボンヒータ(18)と、前記サセプタ(14)の下
    方の前記チャンバ(11)内に設けられたスピルトレイ(21)
    とを備え、 種結晶(26)を前記シリコン融液(12)に接触させて引上げ
    ることによりシリコン単結晶棒(25)を育成するシリコン
    単結晶の育成装置において、 前記石英るつぼ(13)に前記多結晶シリコン(20)を補給可
    能に構成された原料補給装置(31)が設けられ、 前記多結晶シリコン(20)の融解から前記シリコン融液(1
    2)に前記種結晶(26)が接触し始めるときまで、前記サセ
    プタ(14)の外底面の近傍にトレイ(21)上面が位置するよ
    うに前記スピルトレイ(21)が設けられたことを特徴とす
    るシリコン単結晶の育成装置。
JP01336199A 1999-01-21 1999-01-21 シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法 Expired - Fee Related JP4221797B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP01336199A JP4221797B2 (ja) 1999-01-21 1999-01-21 シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP01336199A JP4221797B2 (ja) 1999-01-21 1999-01-21 シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000211994A true JP2000211994A (ja) 2000-08-02
JP4221797B2 JP4221797B2 (ja) 2009-02-12

Family

ID=11830971

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP01336199A Expired - Fee Related JP4221797B2 (ja) 1999-01-21 1999-01-21 シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4221797B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006021973A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Sumco Corp 原料供給装置
JP2009274920A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Sumco Corp シリコン単結晶の製造方法
US8449674B2 (en) 2008-08-27 2013-05-28 Amg Idealcast Solar Corporation System and method for liquid silicon containment
JP2013224224A (ja) * 2012-04-19 2013-10-31 Shin Etsu Handotai Co Ltd シリコン単結晶の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006021973A (ja) * 2004-07-09 2006-01-26 Sumco Corp 原料供給装置
JP2009274920A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Sumco Corp シリコン単結晶の製造方法
US8449674B2 (en) 2008-08-27 2013-05-28 Amg Idealcast Solar Corporation System and method for liquid silicon containment
JP2013224224A (ja) * 2012-04-19 2013-10-31 Shin Etsu Handotai Co Ltd シリコン単結晶の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4221797B2 (ja) 2009-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000211994A (ja) シリコン単結晶育成前の多結晶シリコンの融解方法及びその育成装置
JP2005001977A (ja) チョクラルスキー法による原料供給装置および原料供給方法
JP3428625B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JP3428626B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JP3428624B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ方法
JP3642174B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JPH04154687A (ja) 半導体単結晶製造装置
JP2001010892A (ja) シリコン単結晶引上げ装置の多結晶シリコンの融解方法
JPH11255577A (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JP3642176B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置
US20070240634A1 (en) Crystal growing apparatus having a crucible for enhancing the transfer of thermal energy
JP3719336B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ装置及びその引上げ方法
JP3557872B2 (ja) シリコン単結晶の育成装置
JP4304608B2 (ja) シリコン単結晶引上げ装置の熱遮蔽部材
JP3719329B2 (ja) シリコン単結晶用引上げ装置
TWI806139B (zh) 單結晶製造裝置
JPH11209196A (ja) シリコン単結晶の引上げ装置
JP2747626B2 (ja) 単結晶製造装置
JP3598800B2 (ja) シリコン単結晶の引上げ方法
JPH05139879A (ja) 単結晶成長装置及び単結晶成長方法
JPH09202685A (ja) 単結晶引き上げ装置
JPH089169Y2 (ja) 単結晶製造装置
JP2024504533A (ja) 単結晶成長用の熱場調整装置及び方法
JPH06340493A (ja) 単結晶育成装置および育成方法
JP2001213693A (ja) シリコン単結晶の引上げ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051019

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080430

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080812

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080925

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081028

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081110

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111128

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121128

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131128

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees