JP2000221077A - 振動計測装置 - Google Patents
振動計測装置Info
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- JP2000221077A JP2000221077A JP11024541A JP2454199A JP2000221077A JP 2000221077 A JP2000221077 A JP 2000221077A JP 11024541 A JP11024541 A JP 11024541A JP 2454199 A JP2454199 A JP 2454199A JP 2000221077 A JP2000221077 A JP 2000221077A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、移動する被測定体上の定点の振動を
計測する振動計測装置に関し、移動する被測定体の振動
を確実に計測する。 【解決手段】レーザドプラ振動計10から出力されたレ
ーザ光の照射点Pを4分割センサ14を用いてモニタ
し、その照射位置を調整する。
計測する振動計測装置に関し、移動する被測定体の振動
を確実に計測する。 【解決手段】レーザドプラ振動計10から出力されたレ
ーザ光の照射点Pを4分割センサ14を用いてモニタ
し、その照射位置を調整する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、移動する被測定体
上の定点の振動を計測する振動計測装置に関する。
上の定点の振動を計測する振動計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば工業製品等の振動の計
測用として加速度センサが多用されている。この加速度
センサは通常は簡便に使用することができ、かつ十分な
精度を持っている。ところが、例えば生産ラインの最終
段階に製品の振動検査工程を置こうとしたとき、加速度
センサを採用した場合、次々と完成してくる製品にその
製品の流れに合わせて加速度センサを取り付けて測定し
ては取り外す必要があり、しかも、製品が運ばれている
途中、すなわち製品が動いている間にその測定を行なう
必要があり、通常の場合、大きな困難を伴う。
測用として加速度センサが多用されている。この加速度
センサは通常は簡便に使用することができ、かつ十分な
精度を持っている。ところが、例えば生産ラインの最終
段階に製品の振動検査工程を置こうとしたとき、加速度
センサを採用した場合、次々と完成してくる製品にその
製品の流れに合わせて加速度センサを取り付けて測定し
ては取り外す必要があり、しかも、製品が運ばれている
途中、すなわち製品が動いている間にその測定を行なう
必要があり、通常の場合、大きな困難を伴う。
【0003】これに対し、振動を非接触で測定する装置
として、従来よりレーザドプラ振動計が知られている。
このレーザドプラ振動計を使えば次々と流れてくる製品
に順次にレーザ光を照射することは容易に可能である。
として、従来よりレーザドプラ振動計が知られている。
このレーザドプラ振動計を使えば次々と流れてくる製品
に順次にレーザ光を照射することは容易に可能である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、レーザドプ
ラ振動計の場合、測定用のレーザ光を製品に当てれば振
動測定が可能という訳ではなく、製品に当てたレーザ光
の微妙な反射方向等によって測定が不能となってしまう
という問題があり、したがってある製品のある領域内で
振動計測可能点をさがし、一旦振動計測可能点をみつけ
たら振動計測を行なっている間は、製品の動きに合わせ
て振動計測可能な状態を維持する必要がある。
ラ振動計の場合、測定用のレーザ光を製品に当てれば振
動測定が可能という訳ではなく、製品に当てたレーザ光
の微妙な反射方向等によって測定が不能となってしまう
という問題があり、したがってある製品のある領域内で
振動計測可能点をさがし、一旦振動計測可能点をみつけ
たら振動計測を行なっている間は、製品の動きに合わせ
て振動計測可能な状態を維持する必要がある。
【0005】これを実現するにあたり、測定用レーザ光
の照射点をCCDカメラ等でモニタし、計測可能点を一
旦見つけたらレーザ光が常にその同一点に照射されるよ
うにフィードバックすることが考えられる。ところが、
製品が動いている場合CCDカメラが製品を睨む角度は
時間経過に応じて変化し、かならずしも同一点へのレー
ザ光の照射を維持することはできず、さらに、製品が動
いていることからレーザドプラ振動計と製品との相対的
な位置関係も時間経過に応じて変化するため、必ずしも
同一点にレーザ光を照射し続けるのがよいとも限らな
い。
の照射点をCCDカメラ等でモニタし、計測可能点を一
旦見つけたらレーザ光が常にその同一点に照射されるよ
うにフィードバックすることが考えられる。ところが、
製品が動いている場合CCDカメラが製品を睨む角度は
時間経過に応じて変化し、かならずしも同一点へのレー
ザ光の照射を維持することはできず、さらに、製品が動
いていることからレーザドプラ振動計と製品との相対的
な位置関係も時間経過に応じて変化するため、必ずしも
同一点にレーザ光を照射し続けるのがよいとも限らな
い。
【0006】本発明は、上記事情に鑑み、移動する被測
定体の振動を確実に計測することができる振動計測装置
を提供することを目的とする。
定体の振動を確実に計測することができる振動計測装置
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の振動計測装置は、移動する被測定体上の定点の振動
を計測する振動計測装置において、レーザドプラ振動計
と、レーザドプラ振動計から出射したレーザ光を反射す
る、所定の制御信号に応じて所定のx方向の反射角度が
調整される第1の可動ミラーと、レーザドプラ振動計か
ら出射し第1の可動ミラーで反射したレーザ光をさらに
反射する、所定の制御信号に応じて、上記x方向とは異
なる所定のy方向が反射角度の調整される第2の可動ミ
ラーと、第2の可動ミラーで反射し、被測定体で反射
し、さらに第2の可動ミラーおよび第1の可動ミラーで
反射してレーザドプラ振動計に向かって戻ってきた戻り
光の一部を、レーザドプラ振動計に戻る光路とは異なる
光路に分岐させるハーフミラーと、そのハーフミラーで
分岐した戻り光を受光してその戻り光のx方向、y方向
への移動に応じて変化する受光信号を生成する受光セン
サと、受光センサで生成された受光信号に基づいて、第
1の可動ミラーおよび第2の可動ミラーによる、レーザ
光の、それぞれx方向およびy方向の反射角度を制御す
るための各制御信号を生成する制御回路部とを備えたこ
とを特徴とする。
明の振動計測装置は、移動する被測定体上の定点の振動
を計測する振動計測装置において、レーザドプラ振動計
と、レーザドプラ振動計から出射したレーザ光を反射す
る、所定の制御信号に応じて所定のx方向の反射角度が
調整される第1の可動ミラーと、レーザドプラ振動計か
ら出射し第1の可動ミラーで反射したレーザ光をさらに
反射する、所定の制御信号に応じて、上記x方向とは異
なる所定のy方向が反射角度の調整される第2の可動ミ
ラーと、第2の可動ミラーで反射し、被測定体で反射
し、さらに第2の可動ミラーおよび第1の可動ミラーで
反射してレーザドプラ振動計に向かって戻ってきた戻り
光の一部を、レーザドプラ振動計に戻る光路とは異なる
光路に分岐させるハーフミラーと、そのハーフミラーで
分岐した戻り光を受光してその戻り光のx方向、y方向
への移動に応じて変化する受光信号を生成する受光セン
サと、受光センサで生成された受光信号に基づいて、第
1の可動ミラーおよび第2の可動ミラーによる、レーザ
光の、それぞれx方向およびy方向の反射角度を制御す
るための各制御信号を生成する制御回路部とを備えたこ
とを特徴とする。
【0008】ここで、上記受光素子としては、4分割セ
ンサが好適に用いられる。
ンサが好適に用いられる。
【0009】本発明の振動計測装置は、上記の受光セン
サを用いて被測定体への照射レーザ光の照射位置を制御
するようにしたため、振動計測を確実に行なうことがで
きる。
サを用いて被測定体への照射レーザ光の照射位置を制御
するようにしたため、振動計測を確実に行なうことがで
きる。
【0010】照射光の位置を制御するにあたり、ハーフ
ミラーで光の一部を分岐してその光を受光しそれにより
得られた受光信号を用いてその照射位置のサーボを行な
うことは様々な技術分野で行なわれていることである。
その場合、光の照射位置が目的とする位置からずれたと
きに受光信号が変化するよう、照射対象に何らかの特別
な工夫(例えばマークを付けるなど)を施しておくのが
通常である。これに対し、ここでは被測定体にはマーク
を付するなどの特別の工夫は行なっていない。したがっ
て通常は、例えば4分割センサで照射位置をモニタする
ことはできないと考えがちである。ところが、ここで
は、以下に説明するように、サーボが可能であることを
見い出し、本発明に至ったのである。
ミラーで光の一部を分岐してその光を受光しそれにより
得られた受光信号を用いてその照射位置のサーボを行な
うことは様々な技術分野で行なわれていることである。
その場合、光の照射位置が目的とする位置からずれたと
きに受光信号が変化するよう、照射対象に何らかの特別
な工夫(例えばマークを付けるなど)を施しておくのが
通常である。これに対し、ここでは被測定体にはマーク
を付するなどの特別の工夫は行なっていない。したがっ
て通常は、例えば4分割センサで照射位置をモニタする
ことはできないと考えがちである。ところが、ここで
は、以下に説明するように、サーボが可能であることを
見い出し、本発明に至ったのである。
【0011】図1は、移動中の被測定体で反射した戻り
光の信号レベルの模式図である。
光の信号レベルの模式図である。
【0012】この図1は、照射点のサーボを行なわなか
った場合の戻り光の信号レベルの時間変化、すなわち移
動中の被測定体上の、移動方向に沿う一次元的な照射点
の変化に対する戻り光の信号レベルの変化を示してい
る。ここに示したある信号レベル以上であれば振動計測
が可能、それ以下であれば振動計測不能である。
った場合の戻り光の信号レベルの時間変化、すなわち移
動中の被測定体上の、移動方向に沿う一次元的な照射点
の変化に対する戻り光の信号レベルの変化を示してい
る。ここに示したある信号レベル以上であれば振動計測
が可能、それ以下であれば振動計測不能である。
【0013】ここでは、移動中の被測定体にレーザ光を
照射し、被測定体が多少移動する間に振動測定可能な計
測点Pを見つけたとする。被測定体が移動するとこの計
測点Pも移動する。被測定体上の計測点Pには特別のマ
ーク等を付している訳ではないが、本発明によればこの
計測点Pを含むローカルなピーク位置をサーボすること
ができ、したがって振動計測中は、その計測可能な点に
レーザ光を照射し続けることができる。
照射し、被測定体が多少移動する間に振動測定可能な計
測点Pを見つけたとする。被測定体が移動するとこの計
測点Pも移動する。被測定体上の計測点Pには特別のマ
ーク等を付している訳ではないが、本発明によればこの
計測点Pを含むローカルなピーク位置をサーボすること
ができ、したがって振動計測中は、その計測可能な点に
レーザ光を照射し続けることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。
説明する。
【0015】図2は、モータ100がコンテナ110に
載せられて順次に運ばれてくる様子を示した模式図であ
る。ここでは、これら順次運ばれてくるモータ100そ
れぞれを振動計測の対象としている。ここでは、モータ
100のケースのP点の振動を計測しようとしている。
そこで、後述するレーザドプラ振動計からのレーザ光を
移動中のモータ100に照射し最初の計測可能なローカ
ルのピーク位置Pを見つける。その後はそのピーク値を
維持するように照射位置のサーボを行なう。
載せられて順次に運ばれてくる様子を示した模式図であ
る。ここでは、これら順次運ばれてくるモータ100そ
れぞれを振動計測の対象としている。ここでは、モータ
100のケースのP点の振動を計測しようとしている。
そこで、後述するレーザドプラ振動計からのレーザ光を
移動中のモータ100に照射し最初の計測可能なローカ
ルのピーク位置Pを見つける。その後はそのピーク値を
維持するように照射位置のサーボを行なう。
【0016】図3は、本発明の振動計測装置の一実施形
態の構成図である。
態の構成図である。
【0017】レーザドプラ振動計10から出射したレー
ザ光はハーフミラー11をそのまま透過し、ガルバノメ
ータミラー12で反射し、さらにもう1つのガルバノメ
ータミラー13で反射して測定対象(ここでは図1に示
すモータ100)の測定点Pを照射する。ここで、ガル
バノメータミラー12では、制御信号に応じてx方向の
反射角度が調整され、もう1つのガルバノメータミラー
13では、制御信号に応じてy方向の反射角度が調整さ
れる。したがって測定対象のモータ100上ではそのケ
ースの表面上でレーザ光の二次元的な照射位置制御が行
なわれる。
ザ光はハーフミラー11をそのまま透過し、ガルバノメ
ータミラー12で反射し、さらにもう1つのガルバノメ
ータミラー13で反射して測定対象(ここでは図1に示
すモータ100)の測定点Pを照射する。ここで、ガル
バノメータミラー12では、制御信号に応じてx方向の
反射角度が調整され、もう1つのガルバノメータミラー
13では、制御信号に応じてy方向の反射角度が調整さ
れる。したがって測定対象のモータ100上ではそのケ
ースの表面上でレーザ光の二次元的な照射位置制御が行
なわれる。
【0018】ガルバノメータミラー13で反射し、測定
点Pで反射し、さらにもう一度ガルバノメータミラー1
3およびガルバノメータミラー12で反射してレーザド
プラ振動計10に向かって戻ってきた戻り光は、そのほ
とんどはハーフミラー11を透過してレーザドプラ振動
計10に戻るが、ハーフミラー11での反射成分は4分
割センサ14に達し4分割センサ14を構成する4つの
受光素子それぞれで受光される。4分割センサ14を構
成する4つの受光素子で得られた受光信号は、制御回路
部15を構成するx方向誤差アンプ151とy方向誤差
アンプ152の双方に入力される。尚、ここでは、4分
割センサ14と制御回路部15とを結ぶ信号線は図示の
繁雑を避けるため1本のみ示されているが、4分割セン
サ14を構成する4つの受光素子それぞれの受光信号全
てが制御回路部15に伝達される。制御回路部15のx
方向誤差アンプ151およびy方向誤差アンプ152で
は、それぞれローカルのピーク位置P(図1参照)のx
方向,y方向のずれ量が検出される。4分割センサ14
を用いx方向,y方向の各ずれ量を検出するアルゴリズ
ムは広く知られており、ここでは説明は割愛する。
点Pで反射し、さらにもう一度ガルバノメータミラー1
3およびガルバノメータミラー12で反射してレーザド
プラ振動計10に向かって戻ってきた戻り光は、そのほ
とんどはハーフミラー11を透過してレーザドプラ振動
計10に戻るが、ハーフミラー11での反射成分は4分
割センサ14に達し4分割センサ14を構成する4つの
受光素子それぞれで受光される。4分割センサ14を構
成する4つの受光素子で得られた受光信号は、制御回路
部15を構成するx方向誤差アンプ151とy方向誤差
アンプ152の双方に入力される。尚、ここでは、4分
割センサ14と制御回路部15とを結ぶ信号線は図示の
繁雑を避けるため1本のみ示されているが、4分割セン
サ14を構成する4つの受光素子それぞれの受光信号全
てが制御回路部15に伝達される。制御回路部15のx
方向誤差アンプ151およびy方向誤差アンプ152で
は、それぞれローカルのピーク位置P(図1参照)のx
方向,y方向のずれ量が検出される。4分割センサ14
を用いx方向,y方向の各ずれ量を検出するアルゴリズ
ムは広く知られており、ここでは説明は割愛する。
【0019】x方向誤差アンプ151およびy方向誤差
アンプ152から出力された各誤差信号は、それぞれ各
サーボアンプ153,154に入力され、各サーボアン
プ153,154からは、それぞれ各ガルバノメータミ
ラー12,13のミラー角度調整用の各制御信号が出力
され、それら各制御信号は各ガルバノメータミラー1
2,13に伝達される。各ガルバノメータミラー12,
13では、伝達されてきた各制御信号に応じて各ミラー
の反射角度が調整され、その結果測定点Pがローカルの
ピーク位置に調整される。
アンプ152から出力された各誤差信号は、それぞれ各
サーボアンプ153,154に入力され、各サーボアン
プ153,154からは、それぞれ各ガルバノメータミ
ラー12,13のミラー角度調整用の各制御信号が出力
され、それら各制御信号は各ガルバノメータミラー1
2,13に伝達される。各ガルバノメータミラー12,
13では、伝達されてきた各制御信号に応じて各ミラー
の反射角度が調整され、その結果測定点Pがローカルの
ピーク位置に調整される。
【0020】図4は、レーザドプラ振動計の一例を示す
ブロック図である。レーザドプラ振動計自体については
既に公知の技術であるため、ここでは簡単な説明にとど
める。
ブロック図である。レーザドプラ振動計自体については
既に公知の技術であるため、ここでは簡単な説明にとど
める。
【0021】レーザ光源21から射出されたレーザ光2
2は、ビームスプリッタ23により透過光と反射光とに
2分割される。このビームスプリッタ23の透過光22
aは偏光ビームスプリッタ(PBS)24に達する。こ
のPBS24はもともと偏光しているレーザ光22(透
過光22a)を透過するように配置されており、透過光
22aはこのPBS24を透過し、レンズ25、λ/4
板26、対物レンズ27を通り、被測定体(図2に示す
モータ100)の照射点Pを照射する。ここで照射点P
は、この照射光の光路に対し角度θだけ傾いたA−B方
向に繰り返し振動しているものとする。
2は、ビームスプリッタ23により透過光と反射光とに
2分割される。このビームスプリッタ23の透過光22
aは偏光ビームスプリッタ(PBS)24に達する。こ
のPBS24はもともと偏光しているレーザ光22(透
過光22a)を透過するように配置されており、透過光
22aはこのPBS24を透過し、レンズ25、λ/4
板26、対物レンズ27を通り、被測定体(図2に示す
モータ100)の照射点Pを照射する。ここで照射点P
は、この照射光の光路に対し角度θだけ傾いたA−B方
向に繰り返し振動しているものとする。
【0022】この照射光の光路に対し角度θだけ傾いた
A−B方向に繰り返し振動しているものとする。
A−B方向に繰り返し振動しているものとする。
【0023】上記照射光は照射点Pで反射され、この反
射光(この反射光を「物体光」と称する。)は再び対物
レンズ27、λ/4板26を通る。ここで照射点Pを照
射する光はλ/4板26を一度通過することにより円偏
光に変換された光であり、この照射点Pで反射しλ/4
板26を再度通過した光はλ/4板26を二度通過した
ことになるため、この物体光はPSB24から出射した
ときの光とはその偏光方向が90度重なった直線偏光光
となる。このλ/4板26を通った物体光は、レンズ2
5によりコリメートされ、PBS24に入射する。この
物体光は前述したように偏光方向が90度回転している
ためこのPBS24で反射し、この物体光のうちビーム
スプリッタ28を透過した成分が信号処理部50内の光
検出器51に入射する。
射光(この反射光を「物体光」と称する。)は再び対物
レンズ27、λ/4板26を通る。ここで照射点Pを照
射する光はλ/4板26を一度通過することにより円偏
光に変換された光であり、この照射点Pで反射しλ/4
板26を再度通過した光はλ/4板26を二度通過した
ことになるため、この物体光はPSB24から出射した
ときの光とはその偏光方向が90度重なった直線偏光光
となる。このλ/4板26を通った物体光は、レンズ2
5によりコリメートされ、PBS24に入射する。この
物体光は前述したように偏光方向が90度回転している
ためこのPBS24で反射し、この物体光のうちビーム
スプリッタ28を透過した成分が信号処理部50内の光
検出器51に入射する。
【0024】一方、ビームスプリッタ23で反射した光
は、物体光側の光路長とほぼ同一の光路長にして上記物
体光との干渉性を保持するため、以下の光路を経由して
光検出器51に入射される。即ち、このビームスプリッ
タ23で反射した光(以下この光を「参照光」と称す
る。)は、PBS29を透過し、レンズ30を透過し、
λ/4板31を通過することにより円偏光に変換され、
参照光用レンズ32を通り、参照ミラー33に照射され
る。この参照ミラー33で反射した参照光は再び参照光
用レンズ32を通り、λ/4板31を通過する。このと
き参照光は、上記照射光(物体光)の場合と同様に、そ
の偏光方向が90度回転している。このλ/4板31を
通った参照光は、さらにレンズ30によりコリメートさ
れてPBS29に入射する。このPBS29に入射した
参照光は前述したように偏光方向が90度回転している
ためこのPBS29により反射され、信号処理部50内
のドライバー52により駆動される音響光学的光変調器
34を通過することにより周波数がシフトされ、ビーム
スプリッタ28により反射された成分が前述した物体光
とともに光検出器51に入射する。上記のようにして光
検出器51に入射した物体光と参照光はこの光検出器5
1上で干渉し、この干渉した光がこの光検出器51で検
出されることにより周波数fbのビート信号が得られ、
プリアンプ53で増幅された後、図示しない信号処理回
路に入力され、被測定体上の照射点Pの振動周波数や振
幅が求められる。
は、物体光側の光路長とほぼ同一の光路長にして上記物
体光との干渉性を保持するため、以下の光路を経由して
光検出器51に入射される。即ち、このビームスプリッ
タ23で反射した光(以下この光を「参照光」と称す
る。)は、PBS29を透過し、レンズ30を透過し、
λ/4板31を通過することにより円偏光に変換され、
参照光用レンズ32を通り、参照ミラー33に照射され
る。この参照ミラー33で反射した参照光は再び参照光
用レンズ32を通り、λ/4板31を通過する。このと
き参照光は、上記照射光(物体光)の場合と同様に、そ
の偏光方向が90度回転している。このλ/4板31を
通った参照光は、さらにレンズ30によりコリメートさ
れてPBS29に入射する。このPBS29に入射した
参照光は前述したように偏光方向が90度回転している
ためこのPBS29により反射され、信号処理部50内
のドライバー52により駆動される音響光学的光変調器
34を通過することにより周波数がシフトされ、ビーム
スプリッタ28により反射された成分が前述した物体光
とともに光検出器51に入射する。上記のようにして光
検出器51に入射した物体光と参照光はこの光検出器5
1上で干渉し、この干渉した光がこの光検出器51で検
出されることにより周波数fbのビート信号が得られ、
プリアンプ53で増幅された後、図示しない信号処理回
路に入力され、被測定体上の照射点Pの振動周波数や振
幅が求められる。
【0025】以上のように構成されたレーザドップラ振
動計において、レーザ光源から射出したレーザ光22の
波長,周波数をそれぞれλ,foとし、被測定体の照射
点Pの振動速度をV(時刻tの関数)としたとき、被測
定体23から反射した物体光の、レーザ光22からの周
波数シフト量fdは、 fd=(2・V/λ)・cosθ ……(1) と表わされ、従って物体光の周波数fsは、 fs=fo+fd=fo+(2・V/λ)・cosθ ……(2) となる。
動計において、レーザ光源から射出したレーザ光22の
波長,周波数をそれぞれλ,foとし、被測定体の照射
点Pの振動速度をV(時刻tの関数)としたとき、被測
定体23から反射した物体光の、レーザ光22からの周
波数シフト量fdは、 fd=(2・V/λ)・cosθ ……(1) と表わされ、従って物体光の周波数fsは、 fs=fo+fd=fo+(2・V/λ)・cosθ ……(2) となる。
【0026】また参照光は、前述したように音響光学的
光変調器34で周波数シフトを受けるため、この音響光
学的光変調器34の変調周波数をfmとすると、この音
響光学的光変調器34を通過した後の参照光の周波数f
rは、 fr=fo+fm ……(3) となる。
光変調器34で周波数シフトを受けるため、この音響光
学的光変調器34の変調周波数をfmとすると、この音
響光学的光変調器34を通過した後の参照光の周波数f
rは、 fr=fo+fm ……(3) となる。
【0027】光検出器51では上記物体光と参照光とが
干渉するため、上記(2)式と(3)式との和の周波数
と差の周波数とが現われるが、光検出器51ではこの差
の周波数が検出され、この差の周波数fbは、上記
(2),(3)式から fb=|fr−fs| =|fm−(2・V/λ)・cosθ| ……(4) となる。この差の周波数fbがビート信号として検出さ
れ、これにより被測定体上の照射点Pの、照射光の光軸
方向の速度Vcosθが検出される。
干渉するため、上記(2)式と(3)式との和の周波数
と差の周波数とが現われるが、光検出器51ではこの差
の周波数が検出され、この差の周波数fbは、上記
(2),(3)式から fb=|fr−fs| =|fm−(2・V/λ)・cosθ| ……(4) となる。この差の周波数fbがビート信号として検出さ
れ、これにより被測定体上の照射点Pの、照射光の光軸
方向の速度Vcosθが検出される。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
移動する被測定体の定点の振動を正確に計測することが
できる。
移動する被測定体の定点の振動を正確に計測することが
できる。
【図1】移動中の被測定体で反射した戻り光の信号レベ
ルの模式図である。
ルの模式図である。
【図2】モータがコンテナに載せられて順次に運ばれて
くる様子を示した模式図である。
くる様子を示した模式図である。
【図3】本発明の振動計測装置の一実施形態の構成図で
ある。
ある。
【図4】レーザドプラ振動計の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
【符号の説明】 10 レーザドプラ振動計 11 ハーフミラー 12,13 ガルバノメータミラー 14 4分割センサ 15 制御回路部 21 レーザ光源 22 レーザ光 23 ビームスプリッタ 24 偏光ビームスプリッタ(PBS) 25 レンズ 26 λ/4板 27 対物レンズ 28 ビームスプリッタ 29 PBS 30 レンズ 31 λ/4板 32 参照光用レンズ 33 参照ミラー 34 音響光学的光変調器 50 信号処理部 51 光検出器 52 ドライバー 53 プリアンプ 151 x方向誤差アンプ 152 y方向誤差アンプ 153,154 サーボアンプ
Claims (2)
- 【請求項1】 移動する被測定体上の定点の振動を計測
する振動計測装置において、 レーザドプラ振動計と、 前記レーザドプラ振動計から出射したレーザ光を反射す
る、所定の制御信号に応じて所定のx方向の反射角度が
調整される第1の可動ミラーと、 前記レーザドプラ振動計から出射し前記第1の可動ミラ
ーで反射したレーザ光をさらに反射する、所定の制御信
号に応じて、前記x方向とは異なる所定のy方向の反射
角度が調整される第2の可動ミラーと、 前記第2の可動ミラーで反射し、被測定体で反射し、さ
らに前記第2の可動ミラーおよび前記第1の可動ミラー
で反射して前記レーザドプラ振動計に向かって戻ってき
た戻り光の一部を、該レーザドプラ振動計に戻る光路と
は異なる光路に分岐させるハーフミラーと、 前記ハーフミラーで分岐した戻り光を受光して該戻り光
のx方向、y方向への移動に応じて変化する受光信号を
生成する受光センサと、 前記受光センサで生成された受光信号に基づいて、前記
第1の可動ミラーおよび前記第2の可動ミラーによる、
レーザ光の、それぞれx方向およびy方向の反射角度を
制御するための各制御信号を生成する制御回路部とを備
えたことを特徴とする振動計測装置。 - 【請求項2】 前記受光センサが、4分割センサである
ことを特徴とする請求項1記載の振動計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11024541A JP2000221077A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 振動計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11024541A JP2000221077A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 振動計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000221077A true JP2000221077A (ja) | 2000-08-11 |
Family
ID=12141020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11024541A Pending JP2000221077A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 振動計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000221077A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004138590A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Graphtec Corp | レーザドップラ振動計 |
| WO2007065643A1 (de) * | 2005-12-09 | 2007-06-14 | Diehl Bgt Defence Gmbh & Co. Kg | Vibrometer |
| JP2017049185A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | 株式会社小野測器 | レーザドップラ振動計 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6261021A (ja) * | 1985-09-12 | 1987-03-17 | Hitachi Ltd | ガルバノミラ−の制御装置 |
| JPH07167609A (ja) * | 1993-10-20 | 1995-07-04 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光学式振動検出装置 |
-
1999
- 1999-02-02 JP JP11024541A patent/JP2000221077A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6261021A (ja) * | 1985-09-12 | 1987-03-17 | Hitachi Ltd | ガルバノミラ−の制御装置 |
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|---|---|---|---|---|
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| WO2007065643A1 (de) * | 2005-12-09 | 2007-06-14 | Diehl Bgt Defence Gmbh & Co. Kg | Vibrometer |
| JP2017049185A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | 株式会社小野測器 | レーザドップラ振動計 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051209 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061201 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061212 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070410 |