JP2000252103A - サーミスタ素子 - Google Patents
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Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 突入電流印加時の外部電極周縁部における部
分的な熱破壊を抑制することができ、コンデンサ耐量を
高め得るサーミスタ素子を提供する。 【解決手段】 サーミスタ素体2の両主面に外部電極
3,4が形成されているサーミスタ素子において、外部
電極3,4と平行に、かつサーミスタ素体2内において
外部電極3または4側に寄せられて形成された第1,第
2の内部導電層5,6を備え、内部導電層5,6を設け
たことによりサーミスタ素体2内の電位分布の平均化が
果たされる、サーミスタ素子1。
分的な熱破壊を抑制することができ、コンデンサ耐量を
高め得るサーミスタ素子を提供する。 【解決手段】 サーミスタ素体2の両主面に外部電極
3,4が形成されているサーミスタ素子において、外部
電極3,4と平行に、かつサーミスタ素体2内において
外部電極3または4側に寄せられて形成された第1,第
2の内部導電層5,6を備え、内部導電層5,6を設け
たことによりサーミスタ素体2内の電位分布の平均化が
果たされる、サーミスタ素子1。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば突入電流抑
制用NTCサーミスタ素子のようなサーミスタ素子に関
し、より詳細には、サーミスタ素体の両主面に外部電極
が形成されており、外部電極周辺におけるサーミスタ素
体の破壊が生じ難い構造を備えたサーミスタ素子に関す
る。
制用NTCサーミスタ素子のようなサーミスタ素子に関
し、より詳細には、サーミスタ素体の両主面に外部電極
が形成されており、外部電極周辺におけるサーミスタ素
体の破壊が生じ難い構造を備えたサーミスタ素子に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、電源回路の起動時に平滑コンデン
サに充電される突入電流を抑制するためなどに、NTC
サーミスタ素子が多用されている。
サに充電される突入電流を抑制するためなどに、NTC
サーミスタ素子が多用されている。
【0003】図6は、従来のNTCサーミスタ素子の一
例を示す断面図である。NTCサーミスタ素子51は、
負の抵抗温度特性を示す半導体セラミックスよりなる板
状のサーミスタ素体52を有する。サーミスタ素体52
の上面には、第1の外部電極53が、下面には第2の外
部電極54が形成されている。第1,第2の外部電極5
3,54は、サーミスタ素体52の上面及び下面におい
て、周囲にギャップ領域を残すようにサーミスタ素体5
2の上面及び下面よりも小さな面積を有するように形成
されている。外部電極53,54は、AgまたはAg−
Pd合金などにより構成されている。
例を示す断面図である。NTCサーミスタ素子51は、
負の抵抗温度特性を示す半導体セラミックスよりなる板
状のサーミスタ素体52を有する。サーミスタ素体52
の上面には、第1の外部電極53が、下面には第2の外
部電極54が形成されている。第1,第2の外部電極5
3,54は、サーミスタ素体52の上面及び下面におい
て、周囲にギャップ領域を残すようにサーミスタ素体5
2の上面及び下面よりも小さな面積を有するように形成
されている。外部電極53,54は、AgまたはAg−
Pd合金などにより構成されている。
【0004】外部電極53,54の周囲に上記ギャップ
領域を形成するのは、外部電極53,54間のAgマイ
グレーションの進行を防止するためである。
領域を形成するのは、外部電極53,54間のAgマイ
グレーションの進行を防止するためである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】NTCサーミスタ素子
は、例えば電源回路の起動時に平滑コンデンサに充電さ
れる突入電流を抑制する用途に広く用いられている。と
ころが、上記NTCサーミスタ素子51では、突入電流
が通電された場合、外部電極53,54周辺のサーミス
タ素体部分において部分的な熱破壊が生じることがあっ
た。そのため、大きなコンデンサ耐量を望めなかった。
は、例えば電源回路の起動時に平滑コンデンサに充電さ
れる突入電流を抑制する用途に広く用いられている。と
ころが、上記NTCサーミスタ素子51では、突入電流
が通電された場合、外部電極53,54周辺のサーミス
タ素体部分において部分的な熱破壊が生じることがあっ
た。そのため、大きなコンデンサ耐量を望めなかった。
【0006】これは、突入電流が通電された際に、図7
に略図的断面図で示すように、サーミスタ素体52内に
おいて、等電位線Aで示すように電位分布が生じ、電位
分布が外部電極53,54の周辺部で密になるためと考
えられる。
に略図的断面図で示すように、サーミスタ素体52内に
おいて、等電位線Aで示すように電位分布が生じ、電位
分布が外部電極53,54の周辺部で密になるためと考
えられる。
【0007】本発明の目的は、突入電流印加時に、外部
電極周辺部における素子の部分的な熱破壊を効果的に抑
制することが可能とされており、コンデンサ耐量を高め
ることができるサーミスタ素子を提供することにある。
電極周辺部における素子の部分的な熱破壊を効果的に抑
制することが可能とされており、コンデンサ耐量を高め
ることができるサーミスタ素子を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に係るサーミスタ
素子は、半導体セラミックスよりなる板状のサーミスタ
素体と、前記サーミスタ素体の両主面において、該主面
の周縁にギャップ領域を残すように該主面よりも小さな
面積に形成されている第1,第2の外部電極と、前記サ
ーミスタ素体内において前記第1,第2の外部電極と平
行に形成されており、かつサーミスタ素体中心よりも外
部電極側に寄せられて形成された内部導電層とを備える
ことを特徴とする。
素子は、半導体セラミックスよりなる板状のサーミスタ
素体と、前記サーミスタ素体の両主面において、該主面
の周縁にギャップ領域を残すように該主面よりも小さな
面積に形成されている第1,第2の外部電極と、前記サ
ーミスタ素体内において前記第1,第2の外部電極と平
行に形成されており、かつサーミスタ素体中心よりも外
部電極側に寄せられて形成された内部導電層とを備える
ことを特徴とする。
【0009】本発明に係るサーミスタ素子では、上記内
部導電層は、好ましくは、貫通孔を有する導電膜または
網目状導電膜により形成される。また、本発明に係るサ
ーミスタ素子は、突入電流抑制用NTCサーミスタ素子
に好適に用いることができ、その場合、サーミスタ素体
が負の抵抗温度特性を有する半導体セラミックスにより
構成され、それによってNTCサーミスタとされる。
部導電層は、好ましくは、貫通孔を有する導電膜または
網目状導電膜により形成される。また、本発明に係るサ
ーミスタ素子は、突入電流抑制用NTCサーミスタ素子
に好適に用いることができ、その場合、サーミスタ素体
が負の抵抗温度特性を有する半導体セラミックスにより
構成され、それによってNTCサーミスタとされる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ、本発明
の具体的な実施例を挙げることにより、本発明をより詳
細に説明する。
の具体的な実施例を挙げることにより、本発明をより詳
細に説明する。
【0011】図1(a)及び(b)は、本発明の一実施
例に係るNTCサーミスタ素子を示す断面図及び外観斜
視図である。NTCサーミスタ素子1は、矩形板状のサ
ーミスタ素体2を用いて構成されている。サーミスタ素
体2は、負の抵抗温度特性を示す半導体セラミックスに
より構成されている。サーミスタ素体2の上面2a上に
は、第1の外部電極3が形成されており、下面2b上に
は第2の外部電極4が形成されている。外部電極3,4
は、AgやAg−Pdなどの導電ペーストの塗布・焼付
により形成される。もっとも、外部電極3,4は、他の
導電性材料を、蒸着、メッキもしくはスパッタリング等
で付与することにより形成してもよい。
例に係るNTCサーミスタ素子を示す断面図及び外観斜
視図である。NTCサーミスタ素子1は、矩形板状のサ
ーミスタ素体2を用いて構成されている。サーミスタ素
体2は、負の抵抗温度特性を示す半導体セラミックスに
より構成されている。サーミスタ素体2の上面2a上に
は、第1の外部電極3が形成されており、下面2b上に
は第2の外部電極4が形成されている。外部電極3,4
は、AgやAg−Pdなどの導電ペーストの塗布・焼付
により形成される。もっとも、外部電極3,4は、他の
導電性材料を、蒸着、メッキもしくはスパッタリング等
で付与することにより形成してもよい。
【0012】外部電極3,4は、上面2a及び下面2b
よりも小さな面積を有し、かつ周囲に矢印Bで示すギャ
ップ領域を残すように形成されている。外部電極3,4
がAgを含む場合、外部電極3,4間のマイグレーショ
ンを防止するために、上記ギャップ領域Bが形成されて
いる。
よりも小さな面積を有し、かつ周囲に矢印Bで示すギャ
ップ領域を残すように形成されている。外部電極3,4
がAgを含む場合、外部電極3,4間のマイグレーショ
ンを防止するために、上記ギャップ領域Bが形成されて
いる。
【0013】他方、サーミスタ素体2内には、内部導電
層5,6が形成されている。内部導電層5,6は、外部
電極3,4と平行に、かつサーミスタ素体2の厚み方向
中心よりも外部電極3側または4側に寄せられて形成さ
れている。本実施例では、内部導電層5,6は、サーミ
スタ素体2の外側面に至るように形成されているが、内
部導電層5,6は、外側面に至らないようにサーミスタ
素体2内に埋設されていてもよい。
層5,6が形成されている。内部導電層5,6は、外部
電極3,4と平行に、かつサーミスタ素体2の厚み方向
中心よりも外部電極3側または4側に寄せられて形成さ
れている。本実施例では、内部導電層5,6は、サーミ
スタ素体2の外側面に至るように形成されているが、内
部導電層5,6は、外側面に至らないようにサーミスタ
素体2内に埋設されていてもよい。
【0014】また、内部導電層5,6は、Ag−Pdや
Ptなどの適宜の導電性材料により形成することができ
る。本実施例のNTCサーミスタ素子1では、内部導電
層5,6が形成されたサーミスタ素体2が用いられてい
るが、このようなサーミスタ素体2は、周知の積層セラ
ミックス一体焼成技術を用いて得ることができる。この
製造方法の一例を、図2を参照して説明する。
Ptなどの適宜の導電性材料により形成することができ
る。本実施例のNTCサーミスタ素子1では、内部導電
層5,6が形成されたサーミスタ素体2が用いられてい
るが、このようなサーミスタ素体2は、周知の積層セラ
ミックス一体焼成技術を用いて得ることができる。この
製造方法の一例を、図2を参照して説明する。
【0015】先ず、サーミスタ素体2を構成する半導体
セラミック粉末を主体とするセラミックスラリーを用
い、内部導電層5,6間に配置される未焼成のシート2
Aを得る。シート2Aを得るにあたっては、薄いグリー
ンシートを積層することにより得てもよく、シート2A
をセラミックスラリーから直接成形することにより得て
もよい。
セラミック粉末を主体とするセラミックスラリーを用
い、内部導電層5,6間に配置される未焼成のシート2
Aを得る。シート2Aを得るにあたっては、薄いグリー
ンシートを積層することにより得てもよく、シート2A
をセラミックスラリーから直接成形することにより得て
もよい。
【0016】シート2Aの両面に、Ag−PdやPt粉
末を含む導電ペーストをスクリーン印刷し、内部導電層
5,6を形成する。しかる後、内部導電層5,6の外側
に、サーミスタ素体2を構成する半導体セラミック粉末
を含むセラミックスラリーをシート成形することにより
得られたグリーンシート2B,2Cを積層し、厚み方向
に加圧し、積層体を得る。得られた積層体を焼成するこ
とにより、サーミスタ素体2を得ると共に、内部導電層
5,6を焼付けにより完成する。しかる後、得られたサ
ーミスタ素体2の両面に、Agを主成分とする導電ペー
ストをスクリーン印刷し、乾燥し、焼き付けることによ
り、外部電極3,4を形成する。
末を含む導電ペーストをスクリーン印刷し、内部導電層
5,6を形成する。しかる後、内部導電層5,6の外側
に、サーミスタ素体2を構成する半導体セラミック粉末
を含むセラミックスラリーをシート成形することにより
得られたグリーンシート2B,2Cを積層し、厚み方向
に加圧し、積層体を得る。得られた積層体を焼成するこ
とにより、サーミスタ素体2を得ると共に、内部導電層
5,6を焼付けにより完成する。しかる後、得られたサ
ーミスタ素体2の両面に、Agを主成分とする導電ペー
ストをスクリーン印刷し、乾燥し、焼き付けることによ
り、外部電極3,4を形成する。
【0017】なお、量産に際しては、上記積層体を得る
工程までをマザーの状態で行い、マザーの積層体を個々
のNTCサーミスタ素子1単位に厚み方向に切断し、そ
れによって積層体を効率良く量産することができる。
工程までをマザーの状態で行い、マザーの積層体を個々
のNTCサーミスタ素子1単位に厚み方向に切断し、そ
れによって積層体を効率良く量産することができる。
【0018】次に、本実施例のNTCサーミスタ素子1
の作用を説明する。NTCサーミスタ素子1では、上記
内部導電層5,6が設けられているため、突入電流印加
時の部分的な熱破壊が生じ難い。
の作用を説明する。NTCサーミスタ素子1では、上記
内部導電層5,6が設けられているため、突入電流印加
時の部分的な熱破壊が生じ難い。
【0019】すなわち、図3に略図的断面図で示すよう
に、NTCサーミスタ素子1において、突入電流が印加
された場合、電位分布は等電位線Cで示すとおりとな
る。内部導電層5,6が設けられているので、内部導電
層5,6間では等電位線Cが内部導電層5,6と平行に
なり、内部導電層5,6の外側のサーミスタ素体部分に
おいて等電位線Cが外部電極3,4の周縁部に近づくよ
うに現れる。
に、NTCサーミスタ素子1において、突入電流が印加
された場合、電位分布は等電位線Cで示すとおりとな
る。内部導電層5,6が設けられているので、内部導電
層5,6間では等電位線Cが内部導電層5,6と平行に
なり、内部導電層5,6の外側のサーミスタ素体部分に
おいて等電位線Cが外部電極3,4の周縁部に近づくよ
うに現れる。
【0020】従って、内部導電層5,6間に位置する等
電位線が外部電極3,4の周縁部に近づかないため、外
部電極周縁部における素子の部分的熱破壊を抑制するこ
とができる。
電位線が外部電極3,4の周縁部に近づかないため、外
部電極周縁部における素子の部分的熱破壊を抑制するこ
とができる。
【0021】よって、NTCサーミスタ素子1を、電源
回路の起動時に平滑コンデンサに充電される突入電流を
抑制する用途に使用した場合、上記NTCサーミスタ素
子1において部分的な熱破壊が生じ難いので、コンデン
サ耐量を高めることができる。
回路の起動時に平滑コンデンサに充電される突入電流を
抑制する用途に使用した場合、上記NTCサーミスタ素
子1において部分的な熱破壊が生じ難いので、コンデン
サ耐量を高めることができる。
【0022】図4は、本発明の第2の実施例に係るNT
Cサーミスタ素子を示す断面図であり、図5はその分解
斜視図である。NTCサーミスタ素子11は、内部導電
層15,16の形状が変更されていることを除いては、
第1の実施例に係るNTCサーミスタ素子1と同様に構
成されている。すなわち、サーミスタ素体2内におい
て、内部導電層15,16が配置されているが、内部導
電層15,16は、それぞれ、多数の貫通孔15a,1
6aを有するように構成されている。
Cサーミスタ素子を示す断面図であり、図5はその分解
斜視図である。NTCサーミスタ素子11は、内部導電
層15,16の形状が変更されていることを除いては、
第1の実施例に係るNTCサーミスタ素子1と同様に構
成されている。すなわち、サーミスタ素体2内におい
て、内部導電層15,16が配置されているが、内部導
電層15,16は、それぞれ、多数の貫通孔15a,1
6aを有するように構成されている。
【0023】製造に際しては、サーミスタ素体2の構成
する半導体セラミック粉末を主体とするシート2Aの上
面及び下面に、図5に示されているような貫通孔15a
が多数形成されるように導電ペーストをスクリーン印刷
する。しかる後、内部導電層15,16の外側に、サー
ミスタ素体2を構成する半導体セラミックスよりなるグ
リーンシート2B,2Cを積層し、厚み方向に加圧す
る。このようにして得られた積層体を焼成することによ
りサーミスタ素体2が得られるが、内部導電層15,1
6が貫通孔15a,16aを有するため、シート2A
と、グリーンシート2B,2Cとの密着性が高められ、
それによって焼成後のデラミネーションと称されている
層間剥離現象を抑制することができる。
する半導体セラミック粉末を主体とするシート2Aの上
面及び下面に、図5に示されているような貫通孔15a
が多数形成されるように導電ペーストをスクリーン印刷
する。しかる後、内部導電層15,16の外側に、サー
ミスタ素体2を構成する半導体セラミックスよりなるグ
リーンシート2B,2Cを積層し、厚み方向に加圧す
る。このようにして得られた積層体を焼成することによ
りサーミスタ素体2が得られるが、内部導電層15,1
6が貫通孔15a,16aを有するため、シート2A
と、グリーンシート2B,2Cとの密着性が高められ、
それによって焼成後のデラミネーションと称されている
層間剥離現象を抑制することができる。
【0024】すなわち、内部導電層15,16に貫通孔
15a,16aが形成されているので、内部導電層1
5,16の両側のセラミック層の密着強度が高められ
る。この場合においても、内部導電層15,16が、第
1の実施例のNTCサーミスタ素子における内部導電層
5,6と同様に作用し、サーミスタ素体2内における電
位分布の平均化を果たすことができ、外部電極3,4の
周縁部における熱破壊を確実に抑制することができる。
15a,16aが形成されているので、内部導電層1
5,16の両側のセラミック層の密着強度が高められ
る。この場合においても、内部導電層15,16が、第
1の実施例のNTCサーミスタ素子における内部導電層
5,6と同様に作用し、サーミスタ素体2内における電
位分布の平均化を果たすことができ、外部電極3,4の
周縁部における熱破壊を確実に抑制することができる。
【0025】なお、第2の実施例のNTCサーミスタ素
子11では、内部導電層15,16として、多数の貫通
孔15a,16aが形成されているものを用いたが、貫
通孔15a,16aが1つずつ形成されてもよく、ま
た、内部導電層15,16全体を網目状としてもよく、
その場合においても、内部導電層15,16の両側のセ
ラミック層の密着強度を高めることができると共に、外
部電極3,4の周縁部における部分的熱破壊を抑制する
ことができる。
子11では、内部導電層15,16として、多数の貫通
孔15a,16aが形成されているものを用いたが、貫
通孔15a,16aが1つずつ形成されてもよく、ま
た、内部導電層15,16全体を網目状としてもよく、
その場合においても、内部導電層15,16の両側のセ
ラミック層の密着強度を高めることができると共に、外
部電極3,4の周縁部における部分的熱破壊を抑制する
ことができる。
【0026】第1,第2の実施例では、矩形板状のNT
Cサーミスタ素子1,11を構成したが、NTCサーミ
スタ素子の平面形状については矩形のものに限定され
ず、円板状など他の形状のものであってもよい。
Cサーミスタ素子1,11を構成したが、NTCサーミ
スタ素子の平面形状については矩形のものに限定され
ず、円板状など他の形状のものであってもよい。
【0027】さらに、本発明は、NTCサーミスタ素子
だけでなく、正の抵抗温度特性を示すPTCサーミスタ
素子にも適用することができる。
だけでなく、正の抵抗温度特性を示すPTCサーミスタ
素子にも適用することができる。
【0028】
【発明の効果】本発明に係るサーミスタ素子では、サー
ミスタ素体の両主面に第1,第2の外部電極が形成され
ている構造において、サーミスタ素体内において第1,
第2の外部電極と平行に形成されており、かつサーミス
タ素体中心よりも外部電極側に寄せられて形成された内
部導電層を備えるため、内部導電層よりも内側のサーミ
スタ素体部分において電位分布が平均化され、内部電極
周縁部における電位集中を抑制することができる。
ミスタ素体の両主面に第1,第2の外部電極が形成され
ている構造において、サーミスタ素体内において第1,
第2の外部電極と平行に形成されており、かつサーミス
タ素体中心よりも外部電極側に寄せられて形成された内
部導電層を備えるため、内部導電層よりも内側のサーミ
スタ素体部分において電位分布が平均化され、内部電極
周縁部における電位集中を抑制することができる。
【0029】従って、例えば、突入電流などの大きな電
流が印加された際の外部電極周縁部における部分的熱破
壊を効果的に抑制することができる。また、内部導電層
は、貫通孔を有する導電膜または網目状導電膜により形
成されている場合には、内部導電層の両側のセラミック
層の密着強度が高められる。すなわち、内部導電層を有
するサーミスタ素体をセラミック積層一体焼成技術を用
いて得た場合、貫通孔を有する導電膜や網目状導電膜に
より内部導電層を構成することにより、内部導電層の両
側のセラミック層のデラミネーションを効果的に抑制す
ることができる。
流が印加された際の外部電極周縁部における部分的熱破
壊を効果的に抑制することができる。また、内部導電層
は、貫通孔を有する導電膜または網目状導電膜により形
成されている場合には、内部導電層の両側のセラミック
層の密着強度が高められる。すなわち、内部導電層を有
するサーミスタ素体をセラミック積層一体焼成技術を用
いて得た場合、貫通孔を有する導電膜や網目状導電膜に
より内部導電層を構成することにより、内部導電層の両
側のセラミック層のデラミネーションを効果的に抑制す
ることができる。
【0030】また、サーミスタ素体として、負の抵抗温
度特性を有する半導体セラミックスを用い、それによっ
てNTCサーミスタとした場合には、例えば電源回路の
突入電流抑制用NTCサーミスタとして用いた場合、突
入電流印加時のNTCサーミスタ素子の部分的な熱破壊
を抑制することができるので、コンデンサ耐量を高める
ことができる。
度特性を有する半導体セラミックスを用い、それによっ
てNTCサーミスタとした場合には、例えば電源回路の
突入電流抑制用NTCサーミスタとして用いた場合、突
入電流印加時のNTCサーミスタ素子の部分的な熱破壊
を抑制することができるので、コンデンサ耐量を高める
ことができる。
【図1】(a)及び(b)は、本発明の第1の実施例に
係るNTCサーミスタ素子を示す断面図及び外観斜視
図。
係るNTCサーミスタ素子を示す断面図及び外観斜視
図。
【図2】図1に示した第1の実施例に係るNTCサーミ
スタ素子を製造する工程を説明するための分解斜視図。
スタ素子を製造する工程を説明するための分解斜視図。
【図3】第1の実施例に係るNTCサーミスタ素子にお
ける突入電流印加時の電位分布を説明するための略図的
断面図。
ける突入電流印加時の電位分布を説明するための略図的
断面図。
【図4】本発明の第2の実施例に係るNTCサーミスタ
素子の断面図。
素子の断面図。
【図5】第2の実施例に係るNTCサーミスタ素子の製
造方法を説明するための分解斜視図。
造方法を説明するための分解斜視図。
【図6】従来のNTCサーミスタ素子の一例を示す断面
図。
図。
【図7】従来のNTCサーミスタ素子における突入電流
印加時の電位分布を説明するための略図的断面図。
印加時の電位分布を説明するための略図的断面図。
1…NTCサーミスタ素子 2a…上面 2b…下面 3,4…第1,第2の外部電極 5,6…第1,第2の内部導電層 11…NTCサーミスタ素子 15,16…第1,第2の内部導電層 15a,16a…貫通孔
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体セラミックスよりなる板状のサー
ミスタ素体と、 前記サーミスタ素体の両主面において、該主面の周縁に
ギャップ領域を残すように該主面よりも小さな面積に形
成されている第1,第2の外部電極と、 前記サーミスタ素体内において前記第1,第2の外部電
極と平行に形成されており、かつサーミスタ素体の厚み
方向中心よりも外部電極側に寄せられて形成された第
1,第2の内部導電層とを備えることを特徴とする、サ
ーミスタ素子。 - 【請求項2】 前記内部導電層が、貫通孔を有する導電
膜または網目状導電膜により形成されている、請求項1
に記載のサーミスタ素子。 - 【請求項3】 前記サーミスタ素体が負の抵抗温度特性
を有する半導体セラミックスにより構成されており、そ
れによってNTCサーミスタとされている、請求項1ま
たは2に記載のサーミスタ素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11054702A JP2000252103A (ja) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | サーミスタ素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11054702A JP2000252103A (ja) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | サーミスタ素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000252103A true JP2000252103A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=12978139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11054702A Pending JP2000252103A (ja) | 1999-03-02 | 1999-03-02 | サーミスタ素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000252103A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113237566A (zh) * | 2021-04-23 | 2021-08-10 | 广州碳思科技有限公司 | 一种阵列式温度传感器及其制作方法 |
-
1999
- 1999-03-02 JP JP11054702A patent/JP2000252103A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113237566A (zh) * | 2021-04-23 | 2021-08-10 | 广州碳思科技有限公司 | 一种阵列式温度传感器及其制作方法 |
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