JP2000260105A - 記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法 - Google Patents
記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法Info
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- JP2000260105A JP2000260105A JP11062655A JP6265599A JP2000260105A JP 2000260105 A JP2000260105 A JP 2000260105A JP 11062655 A JP11062655 A JP 11062655A JP 6265599 A JP6265599 A JP 6265599A JP 2000260105 A JP2000260105 A JP 2000260105A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B5/596—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
- G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
- G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
Landscapes
- Control Of Position Or Direction (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 加速度センサの出力により筐体の振動を補償
する記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法に関
し、ディスクドライブに搭載された状態で、加速度セン
サを校正する。 【解決手段】 ディスクドライブのアクチュエータに所
定の電流を流すステップと、前記所定の電流と、前記記
憶ディスク装置の機械的伝達関数とから、ディスクドラ
イブの筐体の加速度を計算するステップと、加速度セン
サの測定値を検出するステップと、計算された加速度と
前記測定された測定値とから、前記加速度センサの感度
を計算するステップとを有する。ディスクドライブに搭
載された状態で、加速度センサを校正するので、正確に
感度を校正できる。
する記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法に関
し、ディスクドライブに搭載された状態で、加速度セン
サを校正する。 【解決手段】 ディスクドライブのアクチュエータに所
定の電流を流すステップと、前記所定の電流と、前記記
憶ディスク装置の機械的伝達関数とから、ディスクドラ
イブの筐体の加速度を計算するステップと、加速度セン
サの測定値を検出するステップと、計算された加速度と
前記測定された測定値とから、前記加速度センサの感度
を計算するステップとを有する。ディスクドライブに搭
載された状態で、加速度センサを校正するので、正確に
感度を校正できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、記憶ディスクから
ヘッドにより情報を読み取る又は読み取り/書き込む記
憶ディスク装置において、筐体の加速度を検出して、ア
クチュエータの位置を補正するための記憶ディスク装置
の加速度センサの校正方法に関する。
ヘッドにより情報を読み取る又は読み取り/書き込む記
憶ディスク装置において、筐体の加速度を検出して、ア
クチュエータの位置を補正するための記憶ディスク装置
の加速度センサの校正方法に関する。
【0002】磁気ディスク装置等の記憶ディスク装置に
おいては、コンピュータ等の記憶装置として広く利用さ
れている。このような記憶ディスク装置においては、高
密度記録と高速化が求められている。
おいては、コンピュータ等の記憶装置として広く利用さ
れている。このような記憶ディスク装置においては、高
密度記録と高速化が求められている。
【0003】
【従来の技術】図10は、従来技術の磁気ディスク装置
の構成図、図11は、残留振動の説明図である。
の構成図、図11は、残留振動の説明図である。
【0004】図10に示すように、磁気ディスク装置
は、磁気ディスク91と、磁気ヘッド92とを有する。
磁気ヘッド92は、磁気ディスク91の情報を読み取り
/書き込む。アクチュエータ93は、磁気ヘッド92を
支持する。VCM(ボイスコイルモータ)94は、アク
チュエータ93を駆動する。筐体90は、これらを内部
に保持する。
は、磁気ディスク91と、磁気ヘッド92とを有する。
磁気ヘッド92は、磁気ディスク91の情報を読み取り
/書き込む。アクチュエータ93は、磁気ヘッド92を
支持する。VCM(ボイスコイルモータ)94は、アク
チュエータ93を駆動する。筐体90は、これらを内部
に保持する。
【0005】このような磁気ディスク装置では、磁気ヘ
ッド92を搭載したアクチュエータ93が、ヘッド92
を、読み書きを行っていたあるトラックから他のトラッ
クへ移動する。これをシーク動作という。この移動時間
を短くすることにより、高速の応答性が得られる。
ッド92を搭載したアクチュエータ93が、ヘッド92
を、読み書きを行っていたあるトラックから他のトラッ
クへ移動する。これをシーク動作という。この移動時間
を短くすることにより、高速の応答性が得られる。
【0006】移動時間を短くするためには、高加速、高
減速を行う。この時、アクチュエータ93の反力によ
り、ディスク装置の筐体90全体に力がかかる。通常、
筐体90は、固定されており、そのままの反力で移動す
るわけではない。しかし、その機械的伝達特性はある周
波数で共振点がある。このため、図11に示すように、
シーク反力で加振された場合に、シーク動作後も筐体9
0の振動が残ってしまう。
減速を行う。この時、アクチュエータ93の反力によ
り、ディスク装置の筐体90全体に力がかかる。通常、
筐体90は、固定されており、そのままの反力で移動す
るわけではない。しかし、その機械的伝達特性はある周
波数で共振点がある。このため、図11に示すように、
シーク反力で加振された場合に、シーク動作後も筐体9
0の振動が残ってしまう。
【0007】この振動が、ヘッド92とディスク媒体9
1の相対ずれとしてヘッド位置信号に加わるため、シー
ク後の位置信号に残留振動として現れる。このため、シ
ーク時間が長くなる。基本的対策の一つとして、サーボ
の制御特性を改善して、誤差信号を抑圧する能力を高め
ることである。しかし、ディスクのトラックピッチが狭
くなると、ゲインの向上だけでは、対処しきれない。
又、筐体の振動は数100Hz程度であるが、数100Hz
の振動は、磁気ディスクの通常のサーボシステムでは、
元々圧縮できない。
1の相対ずれとしてヘッド位置信号に加わるため、シー
ク後の位置信号に残留振動として現れる。このため、シ
ーク時間が長くなる。基本的対策の一つとして、サーボ
の制御特性を改善して、誤差信号を抑圧する能力を高め
ることである。しかし、ディスクのトラックピッチが狭
くなると、ゲインの向上だけでは、対処しきれない。
又、筐体の振動は数100Hz程度であるが、数100Hz
の振動は、磁気ディスクの通常のサーボシステムでは、
元々圧縮できない。
【0008】このため、図10に示すように、筐体90
の加速度を検出する加速度センサ95、96を設けて、
筐体90の加速度を直接測定する。そして、測定信号に
より、サーボ制御信号を補正するフィードフォワードシ
ステムが提案されている。例えば、日本国特許公開平成
9年45024号公報、米国特許第5299075号公
報、米国特許第5426545号公報及び米国特許第5
663847号公報等により、提案されている。
の加速度を検出する加速度センサ95、96を設けて、
筐体90の加速度を直接測定する。そして、測定信号に
より、サーボ制御信号を補正するフィードフォワードシ
ステムが提案されている。例えば、日本国特許公開平成
9年45024号公報、米国特許第5299075号公
報、米国特許第5426545号公報及び米国特許第5
663847号公報等により、提案されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、次の問題があった。
術では、次の問題があった。
【0010】(1) 加速度センサを使用し、それを制御に
利用するには、加速度センサの感度を知る必要がある。
しかし、加速度センサは、感度のバラツキがある。例え
ば、ピエゾ系のセンサでは、感度のバラツキが±20%
もある。従って、一定の感度を設定しても、良好な出力
が得られないという問題があった。
利用するには、加速度センサの感度を知る必要がある。
しかし、加速度センサは、感度のバラツキがある。例え
ば、ピエゾ系のセンサでは、感度のバラツキが±20%
もある。従って、一定の感度を設定しても、良好な出力
が得られないという問題があった。
【0011】(2) 事前に校正された部品を選択する方法
があるが、コストがかかるという問題がある。更に、装
置へ実装した状態と、部品の状態では、検出感度が異な
り、部品の状態の校正値をそのまま使用できないという
問題もあった。
があるが、コストがかかるという問題がある。更に、装
置へ実装した状態と、部品の状態では、検出感度が異な
り、部品の状態の校正値をそのまま使用できないという
問題もあった。
【0012】本発明の目的は、装置に実装した状態で、
加速度センサを校正する記憶ディスク装置の加速度セン
サの校正方法を提供することにある。
加速度センサを校正する記憶ディスク装置の加速度セン
サの校正方法を提供することにある。
【0013】本発明の他の目的は、正確に加速度センサ
を校正するための記憶ディスク装置の加速度センサの校
正方法を提供することにある。
を校正するための記憶ディスク装置の加速度センサの校
正方法を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の記憶ディスク装
置は、記憶ディスクと、前記記憶ディスクの情報を読み
取るヘッドと、ヘッドを前記記憶ディスクに対し位置決
めするアクチュエータと、筐体と、前記筐体の加速度を
検出するための加速度センサと、位置決め指示値と前記
加速度センサの出力に応じて、前記アクチュエータを駆
動する制御回路とを有する。
置は、記憶ディスクと、前記記憶ディスクの情報を読み
取るヘッドと、ヘッドを前記記憶ディスクに対し位置決
めするアクチュエータと、筐体と、前記筐体の加速度を
検出するための加速度センサと、位置決め指示値と前記
加速度センサの出力に応じて、前記アクチュエータを駆
動する制御回路とを有する。
【0015】そして、その加速度センサの校正方法は、
前記アクチュエータに所定の電流を流すステップと、前
記所定の電流と、前記記憶ディスク装置の機械的伝達関
数とから、前記筐体の加速度を計算するステップと、前
記加速度センサの測定値を検出するステップと、前記計
算された加速度と前記測定された測定値とから、前記加
速度センサの感度を計算するステップとを有する。
前記アクチュエータに所定の電流を流すステップと、前
記所定の電流と、前記記憶ディスク装置の機械的伝達関
数とから、前記筐体の加速度を計算するステップと、前
記加速度センサの測定値を検出するステップと、前記計
算された加速度と前記測定された測定値とから、前記加
速度センサの感度を計算するステップとを有する。
【0016】本発明では、機械的伝達関数が既知である
基準フレームを用いる。基準フレームは、磁気ディスク
装置の各部を内部に有する筐体を、実際の筐体を固定す
る方法で、パソコン等のフレームに固定したものであ
る。この基準フレームは、筐体及び筐体の固定方法に従
う、機械的伝達関数が既知である。
基準フレームを用いる。基準フレームは、磁気ディスク
装置の各部を内部に有する筐体を、実際の筐体を固定す
る方法で、パソコン等のフレームに固定したものであ
る。この基準フレームは、筐体及び筐体の固定方法に従
う、機械的伝達関数が既知である。
【0017】この既知の基準フレームに固定された筐体
に、加速度センサを搭載する。そして、アクチュエータ
を移動動作を行い、加速度センサの出力を測定する。こ
の移動動作に伴う加速度値は、機械的伝達関数が既知で
あるから、流した電流と機械的伝達関数とから計算によ
り算出できる。この計算した筐体の加速度値と、測定値
とを比較することにより、加速度センサの感度を求める
ことができる。
に、加速度センサを搭載する。そして、アクチュエータ
を移動動作を行い、加速度センサの出力を測定する。こ
の移動動作に伴う加速度値は、機械的伝達関数が既知で
あるから、流した電流と機械的伝達関数とから計算によ
り算出できる。この計算した筐体の加速度値と、測定値
とを比較することにより、加速度センサの感度を求める
ことができる。
【0018】又、本発明の他の形態では、前記電流を流
すステップは、アクチュエータを加速及び減速するシー
ク電流を流すステップである。
すステップは、アクチュエータを加速及び減速するシー
ク電流を流すステップである。
【0019】本発明の別の形態では、前記電流を流すス
テップは、前記アクチュエータをフォワード方向にシー
クする電流を流すステップと、前記アクチュエータをリ
バース方向にシークする電流を流すステップとを有す
る。
テップは、前記アクチュエータをフォワード方向にシー
クする電流を流すステップと、前記アクチュエータをリ
バース方向にシークする電流を流すステップとを有す
る。
【0020】更に、本発明の他の形態では、前記電流を
流すステップは、前記アクチュエータを第1の距離シー
クする電流を流すステップと、前記アクチュエータを第
1の距離と異なる第2の距離シークする電流を流すステ
ップを有する。
流すステップは、前記アクチュエータを第1の距離シー
クする電流を流すステップと、前記アクチュエータを第
1の距離と異なる第2の距離シークする電流を流すステ
ップを有する。
【0021】更に、本発明の別の形態では、前記計算に
より求めた加速度をフーリエ変換するステップと、前記
測定された加速度をフーリエ変換するステップと、前記
両フーリエ変換された周波数成分の内、特定の周波数成
分を比較して、前記加速度センサの感度を計算するステ
ップとを有する。
より求めた加速度をフーリエ変換するステップと、前記
測定された加速度をフーリエ変換するステップと、前記
両フーリエ変換された周波数成分の内、特定の周波数成
分を比較して、前記加速度センサの感度を計算するステ
ップとを有する。
【0022】更に、本発明の別の形態では、前記電流を
流すステップは、前記アクチュエータが特定位置でフォ
ローイングするように、前記アクチュエータに電流を流
すステップである。
流すステップは、前記アクチュエータが特定位置でフォ
ローイングするように、前記アクチュエータに電流を流
すステップである。
【0023】本発明の別の形態では、前記電流を流すス
テップは、前記アクチュエータに第1の測定周波数の電
流を流すステップと、前記アクチュエータに第1の測定
周波数とは異なる第2の測定周波数の電流を流すステッ
プとを有する。
テップは、前記アクチュエータに第1の測定周波数の電
流を流すステップと、前記アクチュエータに第1の測定
周波数とは異なる第2の測定周波数の電流を流すステッ
プとを有する。
【0024】本発明の他の形態では、前記電流を流すス
テップは、前記アクチュエータに第1の振幅値を有する
電流を流すステップと、前記アクチュエータに第1の振
幅値とは異なる第2の振幅値を有する電流を流すステッ
プとを有する。
テップは、前記アクチュエータに第1の振幅値を有する
電流を流すステップと、前記アクチュエータに第1の振
幅値とは異なる第2の振幅値を有する電流を流すステッ
プとを有する。
【0025】更に、本発明の他の形態の加速度センサの
校正方法では、スピンドルモータを起動するステップ
と、前記起動電流と、前記記憶ディスク装置の機械的伝
達関数とから、前記筐体の加速度を計算するステップ
と、前記加速度センサの測定値を検出するステップと、
前記計算された加速度と前記測定された測定値とから、
前記加速度センサの感度を計算するステップとを有す
る。
校正方法では、スピンドルモータを起動するステップ
と、前記起動電流と、前記記憶ディスク装置の機械的伝
達関数とから、前記筐体の加速度を計算するステップ
と、前記加速度センサの測定値を検出するステップと、
前記計算された加速度と前記測定された測定値とから、
前記加速度センサの感度を計算するステップとを有す
る。
【0026】この実施の形態では、スピンドルモータを
起動することにより、筐体を振動させる。そして、起動
電流と機械的伝達関数とから筐体の加速度値を計算す
る。この計算した加速度値と、加速度センサの測定値と
から、加速度センサの感度(ゲイン)を求める。
起動することにより、筐体を振動させる。そして、起動
電流と機械的伝達関数とから筐体の加速度値を計算す
る。この計算した加速度値と、加速度センサの測定値と
から、加速度センサの感度(ゲイン)を求める。
【0027】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の一実施の形態の
構成図、図2は、図1の筐体振動モデル図、図3は、本
発明の一実施の形態のシーク処理フロー図である。
構成図、図2は、図1の筐体振動モデル図、図3は、本
発明の一実施の形態のシーク処理フロー図である。
【0028】図1に示すように、磁気ディスクユニット
は、磁気ディスク1と、磁気ヘッド2とを有する。磁気
ディスク1は、スピンドルモータ3により回転される。
磁気ヘッド2は、磁気ディスク1の情報を読み取り/書
き込む。アクチュエータを含むボイスコイルモータ4
は、磁気ヘッド2を磁気ディスク1の所望の位置に位置
決めする。
は、磁気ディスク1と、磁気ヘッド2とを有する。磁気
ディスク1は、スピンドルモータ3により回転される。
磁気ヘッド2は、磁気ディスク1の情報を読み取り/書
き込む。アクチュエータを含むボイスコイルモータ4
は、磁気ヘッド2を磁気ディスク1の所望の位置に位置
決めする。
【0029】筐体5は、磁気ディスク1、磁気ヘッド
2、スピンドルモータ3、ボイスコイルモータ4等を収
容する。制御プリント板6は、筐体5に取り付けられ
る。制御プリント板6には、筐体5の加速度を検出する
加速度センサ7と、制御回路8とを搭載する。制御回路
8は、プロセッサで構成されている。
2、スピンドルモータ3、ボイスコイルモータ4等を収
容する。制御プリント板6は、筐体5に取り付けられ
る。制御プリント板6には、筐体5の加速度を検出する
加速度センサ7と、制御回路8とを搭載する。制御回路
8は、プロセッサで構成されている。
【0030】この筐体5は、筐体が通常固定される固定
方法でフレームに固定される。この筐体の振動モデルを
図2に示す。図2に示すように、ボイスコイルモータ
(VCM)のドライブ値は、ブロック42でトルク定数
Blが乗算される。これは、ブロック40で、1/m倍
される。mは、アクチュエータ4のイナーシャである。
そして、ブロック41で1/s2 され、位置となる。s
は、ラプラス変換子である。
方法でフレームに固定される。この筐体の振動モデルを
図2に示す。図2に示すように、ボイスコイルモータ
(VCM)のドライブ値は、ブロック42でトルク定数
Blが乗算される。これは、ブロック40で、1/m倍
される。mは、アクチュエータ4のイナーシャである。
そして、ブロック41で1/s2 され、位置となる。s
は、ラプラス変換子である。
【0031】ブロック42の出力は、外乱に、振動値と
してブロック43に加算される。この加算値は、筐体の
モデルブロックに入る。先ず、ブロック50で1/M倍
される。Mは、筐体のイナーシャである。次に、ブロッ
ク51で機械的伝達関数G(s)が乗算される。機械的
伝達関数G(s)は、筐体及び固定方法に従う機械的伝
達関数である。この機械的伝達関数は、固定方法が既知
のものであり、筐体も既知のものであるから、設計段階
で計算により、得ることができる。
してブロック43に加算される。この加算値は、筐体の
モデルブロックに入る。先ず、ブロック50で1/M倍
される。Mは、筐体のイナーシャである。次に、ブロッ
ク51で機械的伝達関数G(s)が乗算される。機械的
伝達関数G(s)は、筐体及び固定方法に従う機械的伝
達関数である。この機械的伝達関数は、固定方法が既知
のものであり、筐体も既知のものであるから、設計段階
で計算により、得ることができる。
【0032】このブロック51の出力が、加速度センサ
7により筐体の加速度として検出される。そして、ブロ
ック52で1/s2 され、位置となる。sは、ラプラス
変換子である。ブロック52の位置は、筐体5の振動で
ある。磁気ヘッド2の位置は、アクチュエータ4の位置
から、筐体5の振動を、ブロック44で減算されたもの
となる。
7により筐体の加速度として検出される。そして、ブロ
ック52で1/s2 され、位置となる。sは、ラプラス
変換子である。ブロック52の位置は、筐体5の振動で
ある。磁気ヘッド2の位置は、アクチュエータ4の位置
から、筐体5の振動を、ブロック44で減算されたもの
となる。
【0033】このモデル図に示すように、機械的伝達関
数G(s)が既知であれば、VCMドライブ値から加速
度センサ7の出力は、計算により求めることができる。
既知の機械的伝達関数を得るためには、筐体5を所定の
固定方法でフレームに取り付け、これに制御プリント板
6を取り付ける。
数G(s)が既知であれば、VCMドライブ値から加速
度センサ7の出力は、計算により求めることができる。
既知の機械的伝達関数を得るためには、筐体5を所定の
固定方法でフレームに取り付け、これに制御プリント板
6を取り付ける。
【0034】次に、図3により、加速度センサを用いた
シーク処理を説明する。
シーク処理を説明する。
【0035】(S1)制御回路8は、加速度センサ7の
出力(筐体加速度)を検出する。
出力(筐体加速度)を検出する。
【0036】(S2)制御回路8は、検出した加速度を
ヘッド位置加速度に変換する。
ヘッド位置加速度に変換する。
【0037】(S3)制御回路8は、ヘッド位置加速度
に、ゲイン(加速度センサの感度)を乗算する。
に、ゲイン(加速度センサの感度)を乗算する。
【0038】(S4)制御回路8は、このゲインを乗算
された加速度を、VCM4の電流指令値に変換する。
された加速度を、VCM4の電流指令値に変換する。
【0039】(S5)制御回路8は、通常の位置決め制
御により電流指令値を計算する。
御により電流指令値を計算する。
【0040】(S6)制御回路8は、この電流指令値
に、加速度センサの電流指令値を加算する。
に、加速度センサの電流指令値を加算する。
【0041】(S7)制御回路8は、これをVCM4の
電流指令値として、VCM4に出力する。
電流指令値として、VCM4に出力する。
【0042】このようにして、加速度センサ7により、
筐体5の加速度を検出して、筐体の加速度を補償するよ
うな電流指令値を作成する。これを通常の電流指令値に
加算して、VCM4を駆動する。このため、筐体の振動
を補償するように、ヘッド2を位置決めすることができ
る。
筐体5の加速度を検出して、筐体の加速度を補償するよ
うな電流指令値を作成する。これを通常の電流指令値に
加算して、VCM4を駆動する。このため、筐体の振動
を補償するように、ヘッド2を位置決めすることができ
る。
【0043】図4は、本発明の一実施の形態の校正処理
フロー図、図5は、校正処理の説明図である。
フロー図、図5は、校正処理の説明図である。
【0044】(S10)制御回路8は、アクチュエータ
4を所定の距離シークする。VCM電流は、図5に示す
ように、加速と減速のカーブとなる。
4を所定の距離シークする。VCM電流は、図5に示す
ように、加速と減速のカーブとなる。
【0045】(S11)制御回路8は、図5に示すよう
に、このVCM電流値Vと機械的伝達関数G(s)を用
いて、筐体加速度CCを下記式(1)により計算する。
に、このVCM電流値Vと機械的伝達関数G(s)を用
いて、筐体加速度CCを下記式(1)により計算する。
【0046】 CC=V・Bl・1/M・G(s) (1) (S12)次に、制御回路8は、加速度センサ7の出力
MCを測定する。
MCを測定する。
【0047】(S13)制御回路8は、計算された筐体
加速度CCの最大振幅値と、測定された加速度MCの最
大振幅値を比較して、校正ゲイン(感度)を決定する。
例えば、校正ゲインをGとし、筐体加速度CCの最大振
幅値をA、測定された加速度MCの最大振幅値をDとす
ると、下記(2)式により、校正ゲインGを得る。
加速度CCの最大振幅値と、測定された加速度MCの最
大振幅値を比較して、校正ゲイン(感度)を決定する。
例えば、校正ゲインをGとし、筐体加速度CCの最大振
幅値をA、測定された加速度MCの最大振幅値をDとす
ると、下記(2)式により、校正ゲインGを得る。
【0048】 G=A/D (2) 尚、この測定においては、図3のシーク処理において、
校正ゲインを初期値「0」として、シーク指令値を求め
る。
校正ゲインを初期値「0」として、シーク指令値を求め
る。
【0049】このようにして、計算値に合うように、セ
ンサの感度(校正ゲイン)を調整し、制御回路8のRA
Mにゲインとして保持する。
ンサの感度(校正ゲイン)を調整し、制御回路8のRA
Mにゲインとして保持する。
【0050】図6は、本発明の他の校正処理の説明図で
ある。
ある。
【0051】この実施の形態では、図4のステップS1
1で、計算した筐体加速度CCを高速フーリエ変換(F
FT)して、周波数成分に変換する。そして、ステップ
S12に測定された加速度MCを高速フーリエ変換(F
FT)して、周波数成分に変換する。更に、両フーリエ
変換された周波数成分の内、特定の周波数成分の振幅を
比較して、センサの感度を求める。
1で、計算した筐体加速度CCを高速フーリエ変換(F
FT)して、周波数成分に変換する。そして、ステップ
S12に測定された加速度MCを高速フーリエ変換(F
FT)して、周波数成分に変換する。更に、両フーリエ
変換された周波数成分の内、特定の周波数成分の振幅を
比較して、センサの感度を求める。
【0052】このようにすると、筐体5の共振周波数成
分を除去して、振幅比較できる。このため、筐体の共振
に影響されずに、加速度センサの感度を決定することが
できる。
分を除去して、振幅比較できる。このため、筐体の共振
に影響されずに、加速度センサの感度を決定することが
できる。
【0053】このような感度の校正は、複数回行い、そ
の平均値を感度(ゲイン)として、決定することが望ま
しい。例えば、測定のためのシークをフォワード方向と
リバース方向に行い、これらの各々で、感度を計算し
て、その平均値を採用すると良い。又、測定のためのシ
ークを、複数の距離のシーク動作を組み合わせて行い、
これらの各々で、感度を計算して、その平均値を採用す
ると良い。
の平均値を感度(ゲイン)として、決定することが望ま
しい。例えば、測定のためのシークをフォワード方向と
リバース方向に行い、これらの各々で、感度を計算し
て、その平均値を採用すると良い。又、測定のためのシ
ークを、複数の距離のシーク動作を組み合わせて行い、
これらの各々で、感度を計算して、その平均値を採用す
ると良い。
【0054】この場合、複数のシークのインターバル
は、測定周波数範囲より低くなるように、十分長くとる
ことが必要である。又、シークの距離は、ランダム値を
用いると良い。更に、アクチュエータ電流の周波数が、
測定する周波数に近くなるように、シーク距離を調整す
ることが望ましい。
は、測定周波数範囲より低くなるように、十分長くとる
ことが必要である。又、シークの距離は、ランダム値を
用いると良い。更に、アクチュエータ電流の周波数が、
測定する周波数に近くなるように、シーク距離を調整す
ることが望ましい。
【0055】図7は、本発明の別の校正処理フロー図、
図8は、その校正処理の説明図である。
図8は、その校正処理の説明図である。
【0056】(S20)制御回路8は、アクチュエータ
4を特定位置にフォローイングする。
4を特定位置にフォローイングする。
【0057】(S21)制御回路8は、図8に示すよう
に、正弦波の電流指令値をVCM4に印加し、アクチュ
エータを加振する。
に、正弦波の電流指令値をVCM4に印加し、アクチュ
エータを加振する。
【0058】(S22)制御回路8は、このVCM電流
値Vと機械的伝達関数G(s)を用いて、筐体加速度C
Cを前記した式(1)により計算する。
値Vと機械的伝達関数G(s)を用いて、筐体加速度C
Cを前記した式(1)により計算する。
【0059】(S23)次に、制御回路8は、加速度セ
ンサ7の出力MCを測定する。
ンサ7の出力MCを測定する。
【0060】(S24)制御回路8は、計算された筐体
加速度CCの最大振幅値と、測定された加速度MCの最
大振幅値を比較して、校正ゲイン(感度)を決定する。
例えば、校正ゲインをGとし、筐体加速度CCの最大振
幅値をA、測定された加速度MCの最大振幅値をDとす
ると、前記した(2)式により、校正ゲインGを得る。
加速度CCの最大振幅値と、測定された加速度MCの最
大振幅値を比較して、校正ゲイン(感度)を決定する。
例えば、校正ゲインをGとし、筐体加速度CCの最大振
幅値をA、測定された加速度MCの最大振幅値をDとす
ると、前記した(2)式により、校正ゲインGを得る。
【0061】尚、この測定においては、フォローイング
時に、校正ゲインを初期値「0」とする。このようにし
て、計算値に合うように、センサの感度(校正ゲイン)
を調整し、制御回路8のRAMにゲインとして保持す
る。
時に、校正ゲインを初期値「0」とする。このようにし
て、計算値に合うように、センサの感度(校正ゲイン)
を調整し、制御回路8のRAMにゲインとして保持す
る。
【0062】この方法においても、正弦波の周波数を変
えて、アクチュエータを加振して、各々の感度を計算
し、その平均値を採用すると良い。同様に、正弦波の振
幅を変えて、アクチュエータを加振して、各々の感度を
計算し、その平均値を採用すると良い。更に、アクチュ
エータのフォローイング位置を変えて、アクチュエータ
を加振して、各々の位置での感度を計算し、その平均値
を採用すると良い。
えて、アクチュエータを加振して、各々の感度を計算
し、その平均値を採用すると良い。同様に、正弦波の振
幅を変えて、アクチュエータを加振して、各々の感度を
計算し、その平均値を採用すると良い。更に、アクチュ
エータのフォローイング位置を変えて、アクチュエータ
を加振して、各々の位置での感度を計算し、その平均値
を採用すると良い。
【0063】図9は、本発明の更に別の校正処理フロー
図である。
図である。
【0064】(S30)制御回路8は、スピンドルモー
タ3を起動する。
タ3を起動する。
【0065】(S31)制御回路8は、このスピンドル
モータの起動電流値Vと機械的伝達関数G(s)を用い
て、筐体加速度CCを前記した式(1)により計算す
る。
モータの起動電流値Vと機械的伝達関数G(s)を用い
て、筐体加速度CCを前記した式(1)により計算す
る。
【0066】(S32)次に、制御回路8は、加速度セ
ンサ7の出力MCを測定する。
ンサ7の出力MCを測定する。
【0067】(S33)制御回路8は、計算された筐体
加速度CCの最大振幅値と、測定された加速度MCの最
大振幅値を比較して、校正ゲイン(感度)を決定する。
例えば、校正ゲインをGとし、筐体加速度CCの最大振
幅値をA、測定された加速度MCの最大振幅値をDとす
ると、前記した(2)式により、校正ゲインGを得る。
加速度CCの最大振幅値と、測定された加速度MCの最
大振幅値を比較して、校正ゲイン(感度)を決定する。
例えば、校正ゲインをGとし、筐体加速度CCの最大振
幅値をA、測定された加速度MCの最大振幅値をDとす
ると、前記した(2)式により、校正ゲインGを得る。
【0068】尚、この測定においては、スピンドルモー
タの起動時に、校正ゲインを初期値「0」とする。この
ようにして、計算値に合うように、センサの感度(校正
ゲイン)を調整し、制御回路8のRAMにゲインとして
保持する。
タの起動時に、校正ゲインを初期値「0」とする。この
ようにして、計算値に合うように、センサの感度(校正
ゲイン)を調整し、制御回路8のRAMにゲインとして
保持する。
【0069】この方法は、スピンドルモータの起動によ
り、筐体を加振して、加速度センサ7の感度を測定する
ものである。
り、筐体を加振して、加速度センサ7の感度を測定する
ものである。
【0070】この測定は、工場での調整時に、フレーム
に固定された筐体に、制御プリント板を取り付けて、行
うことができる。この場合に、制御プリント板の制御回
路に、校正処理のプログラムを内蔵する。又は、調整時
に、試験器から校正処理のプログラムを制御回路8にダ
ウンロードしても良い。
に固定された筐体に、制御プリント板を取り付けて、行
うことができる。この場合に、制御プリント板の制御回
路に、校正処理のプログラムを内蔵する。又は、調整時
に、試験器から校正処理のプログラムを制御回路8にダ
ウンロードしても良い。
【0071】更に、フィールドにおいて、制御回路が、
キャリブレーションの一環として、校正処理を実行して
も良い。
キャリブレーションの一環として、校正処理を実行して
も良い。
【0072】又、加速度センサには、ピエゾタイプのも
のの他に、静電容量タイプ、機械的なもの等を用いるこ
とができる。更に、磁気ディスク装置に対し、複数個の
加速度センサを用いても良い。
のの他に、静電容量タイプ、機械的なもの等を用いるこ
とができる。更に、磁気ディスク装置に対し、複数個の
加速度センサを用いても良い。
【0073】上述の実施の態様の他に、本発明は、次の
ような変形が可能である。
ような変形が可能である。
【0074】(1) 記憶ディスク装置を、磁気ディスク装
置で説明したが、光磁気ディスク装置、光ディスク装置
等他の記憶ディスク装置に適用できる。
置で説明したが、光磁気ディスク装置、光ディスク装置
等他の記憶ディスク装置に適用できる。
【0075】(2) 加速度センサを筐体に直接設けても良
い。
い。
【0076】以上、本発明の実施の形態により説明した
が、本発明の主旨の範囲内で種々の変形が可能であり、
これらを本発明の範囲から排除するものではない。
が、本発明の主旨の範囲内で種々の変形が可能であり、
これらを本発明の範囲から排除するものではない。
【0077】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果を奏する。
次の効果を奏する。
【0078】(1) 実際に装置に搭載した状態で、加速度
センサの感度を校正できるため、正確な感度に調整でき
る。
センサの感度を校正できるため、正確な感度に調整でき
る。
【0079】(2) 又、このための処理も、計算処理であ
るため、容易である。
るため、容易である。
【図1】本発明の一実施の形態の構成図である。
【図2】図1の筐体振動モデル図である。
【図3】本発明の一実施の形態のシーク処理フロー図で
ある。
ある。
【図4】本発明の一実施の形態の校正処理フロー図であ
る。
る。
【図5】図4の校正処理説明図である。
【図6】図5の他の校正処理説明図である。
【図7】本発明の別の校正処理フロー図である。
【図8】図7の別の校正処理説明図である。
【図9】本発明の更に別の校正処理説明図である。
【図10】従来の磁気ディスク装置の構成図である。
【図11】従来の残留振動の説明図である。
1 磁気ディスク 2 磁気ヘッド 3 スピンドルモータ 4 VCM 5 筐体 6 制御プリント板 7 加速度センサ 8 制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 晋 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 秦泉寺 彰英 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 Fターム(参考) 5D088 PP01 UU07 UU10 5H004 GA09 GA27 GA34 GB20 HA07 HB09 JA03 KB33 5H303 AA22 BB01 BB06 DD01 EE03 JJ04
Claims (9)
- 【請求項1】 記憶ディスクと、前記記憶ディスクの情
報を読み取るヘッドと、ヘッドを前記記憶ディスクに対
し位置決めするアクチュエータと、筐体と、前記筐体の
加速度を検出するための加速度センサと、位置決め指示
値と前記加速度センサの出力に応じて、前記アクチュエ
ータを駆動する制御回路とを有する記憶ディスク装置の
加速度センサの校正方法において、 前記アクチュエータに所定の電流を流すステップと、 前記所定の電流と、前記記憶ディスク装置の機械的伝達
関数とから、前記筐体の加速度を計算するステップと、 前記加速度センサの測定値を検出するステップと、 前記計算された加速度と前記測定された測定値とから、
前記加速度センサの感度を計算するステップとを有する
ことを特徴とする記憶ディスク装置の加速度センサの校
正方法。 - 【請求項2】 請求項1の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記電流を流すステップは、 前記アクチュエータを加速及び減速するシーク電流を流
すステップであることを特徴とする記憶ディスク装置の
加速度センサの校正方法。 - 【請求項3】 請求項2の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記電流を流すステップは、 前記アクチュエータをフォワード方向にシークする電流
を流すステップと、 前記アクチュエータをリバース方向にシークする電流を
流すステップとを有することを特徴とする記憶ディスク
装置の加速度センサの校正方法。 - 【請求項4】 請求項2の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記電流を流すステップは、 前記アクチュエータを第1の距離シークする電流を流す
ステップと、 前記アクチュエータを第1の距離と異なる第2の距離シ
ークする電流を流すステップを有することを特徴とする
記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法。 - 【請求項5】 請求項2の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記計算により求めた加速度をフーリエ変換するステッ
プと、 前記測定された加速度をフーリエ変換するステップと、 前記両フーリエ変換された周波数成分の内、特定の周波
数成分を比較して、前記加速度センサの感度を計算する
ステップとを有することを特徴とする記憶ディスク装置
の加速度センサの校正方法。 - 【請求項6】 請求項1の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記電流を流すステップは、 前記アクチュエータが特定位置でフォローイングするよ
うに、前記アクチュエータに電流を流すステップである
ことを特徴とする記憶ディスク装置の加速度センサの校
正方法。 - 【請求項7】 請求項6の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記電流を流すステップは、 前記アクチュエータに第1の測定周波数の電流を流すス
テップと、 前記アクチュエータに第1の測定周波数とは異なる第2
の測定周波数の電流を流すステップとを有することを特
徴とする記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法。 - 【請求項8】 請求項6の記憶ディスク装置の加速度セ
ンサの校正方法において、 前記電流を流すステップは、 前記アクチュエータに第1の振幅値を有する電流を流す
ステップと、 前記アクチュエータに第1の振幅値とは異なる第2の振
幅値を有する電流を流すステップとを有することを特徴
とする記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法。 - 【請求項9】 記憶ディスクと、前記記憶ディスクの情
報を読み取るヘッドと、ヘッドを前記記憶ディスクに対
し位置決めするアクチュエータと、筐体と、前記筐体の
加速度を検出するための加速度センサと、前記記憶ディ
スクを回転するスピンドルモータと、位置決め指示値と
前記加速度センサの出力に応じて、前記アクチュエータ
を駆動する制御回路とを有する記憶ディスク装置の加速
度センサの校正方法において、 前記スピンドルモータを起動するステップと、 前記起動電流と、前記記憶ディスク装置の機械的伝達関
数とから、前記筐体の加速度を計算するステップと、 前記加速度センサの測定値を検出するステップと、 前記計算された加速度と前記測定された測定値とから、
前記加速度センサの感度を計算するステップとを有する
ことを特徴とする記憶ディスク装置の加速度センサの校
正方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11062655A JP2000260105A (ja) | 1999-03-10 | 1999-03-10 | 記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法 |
| US09/389,730 US6295507B1 (en) | 1999-03-10 | 1999-09-03 | Calibration method for acceleration sensor in storage device and storage device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11062655A JP2000260105A (ja) | 1999-03-10 | 1999-03-10 | 記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000260105A true JP2000260105A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13206562
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11062655A Pending JP2000260105A (ja) | 1999-03-10 | 1999-03-10 | 記憶ディスク装置の加速度センサの校正方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6295507B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000260105A (ja) |
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| JP2009204534A (ja) * | 2008-02-28 | 2009-09-10 | Fujitsu Ltd | センサ故障診断装置、記録装置、センサ故障診断方法および情報記憶システム |
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-
1999
- 1999-03-10 JP JP11062655A patent/JP2000260105A/ja active Pending
- 1999-09-03 US US09/389,730 patent/US6295507B1/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
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