JP2000283707A - 光干渉計 - Google Patents
光干渉計Info
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- JP2000283707A JP2000283707A JP11086735A JP8673599A JP2000283707A JP 2000283707 A JP2000283707 A JP 2000283707A JP 11086735 A JP11086735 A JP 11086735A JP 8673599 A JP8673599 A JP 8673599A JP 2000283707 A JP2000283707 A JP 2000283707A
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Abstract
い距離を移動して、光の波長測定の精度を向上しなが
ら、十分な小型化が図れるようにする。 【解決手段】 基準光と測定光を、ビームスプリッタ3
3により反射光と透過光による直交する2光路に分岐
し、各々の光路において、反射光及び透過光を複数の反
射器により互いに反射させた後、再びビームスプリッタ
33で合波してから受光器38に受光させる光干渉計で
あって、複数の反射器を筐体40に固定の固定反射器3
2,34,35と筐体40に対し可動の移動反射器3
6,37とに分けて、移動反射器36,37を、基準光
の光軸L1と平行する光軸L2上に配置する。具体的に
は、反射光と透過光を互いに他方の固定反射器に向けて
反射する一対の固定反射器34,35の間に、各々の固
定反射器に光を全反射する一対の移動反射器36,37
が配設されている。この一対の移動反射器36,37
は、筐体40に対し着脱可能となっている。
Description
術分野で使用する光干渉計に関するものである。
を示した平面図で、図中、11は入射光、12はビーム
スプリッタ、13,14はミラー、15は受光器であ
る。この小型光干渉計は、図示のように、入射光11を
ビームスプリッタ12によって透過光と反射光による直
交する2光路に分割し、それぞれの光路に直角に置いた
ミラー13,14による反射光を再びビームスプリッタ
12で合波する。このとき、一方のミラー13を設置し
た図示しない直動ステージを等速で動かすことで、2つ
のミラー13,14からの反射光の光路長に差ができ、
干渉縞の強度変化が見られる。この干渉縞の強度変化を
受光器15で電気信号として取り出す。
ーが基準光と同軸上で可動するようになっている。
は直線的に長い距離を移動することにより、光の波長測
定の精度を向上できる。しかし、従来の光干渉計では以
下のような問題があった。
ミラーを基準光と同軸上を移動させるものや、図5の干
渉計のように、移動ミラーを基準光と直交軸上を移動さ
せるものでは、直線的に長い距離を移動する移動ミラー
とするためには、各種の光学部品を組み込む筐体が大型
化してしまう。
い距離を移動して、光の波長測定の精度を向上しなが
ら、十分な小型化が図れるようにした光干渉計を提供す
ることにある。
請求項1記載の発明は、基準光と測定光を複数の光学部
品により互いに干渉させる光干渉計であって、複数の光
学部品を筐体に固定の固定光学部品と筐体に対し可動の
移動光学部品とに分けて、移動光学部品を、基準光の光
軸とほぼ平行する光軸上に配置した構成、を特徴として
いる。例えば、光学部品としては、ビームスプリッタ及
び反射器が挙げられる。
ば、基準光の光軸とほぼ平行する光軸上に移動光学部品
を配置した光干渉計なので、基準光軸とほぼ平行な光軸
上に沿って移動光学部品を長い距離移動して、光の波長
測定の精度向上が可能となり、筐体の十分な小型化が可
能となる。
定光を、ビームスプリッタにより反射光と透過光による
直交する2光路に分岐し、各々の光路において、反射光
及び透過光を複数の反射器により互いに反射させた後、
再びビームスプリッタで合波してから受光器に受光させ
る光干渉計であって、複数の反射器を筐体に固定の固定
反射器と筐体に対し可動の移動反射器とに分けて、移動
反射器を、基準光の光軸とほぼ平行する光軸上に配置し
た構成、を特徴としている。例えば、反射器としては、
ミラーが代表的であるが、ミラーの代わりに、例えば、
コーナーキューブ、リフレクタなども使用できる。受光
器は、干渉縞の強度変化を電気信号として取り出すもの
である。
ば、基準光の光軸とほぼ平行する光軸上に移動反射器を
配置した光干渉計なので、基準光軸とほぼ平行な光軸上
に沿って移動反射器を長い距離移動して、光の波長測定
の精度を向上できて、筐体を十分に小型化できる。
干渉計であって、反射光と透過光を互いに他方の固定反
射器に向けて反射する一対の固定反射器を備え、この一
対の固定反射器の間に、各々の固定反射器に光を全反射
する一対の移動反射器が配設されている構成、を特徴と
している。
ば、反射光と透過光を互いに他方の固定反射器に向けて
反射する一対の固定反射器の間に、請求項2記載の移動
反射器として、各々の固定反射器に光を全反射する一対
の移動反射器が配設されている光干渉計なので、基準光
軸とほぼ平行な光軸上において、一対の固定反射器の間
で一対の移動反射器を移動させて各々全反射させること
により、各々の光路長に発生する差のできる範囲を大き
く取れる。
干渉計であって、一対の移動反射器を筐体に対し着脱可
能とした構成、を特徴としている。
ば、請求項3記載の一対の移動反射器を筐体に対し着脱
可能とした光干渉計なので、一対の移動反射器を筐体か
ら外すことにより、筐体内において、基準光軸とほぼ平
行な光軸上の両端部で対峙する一対の固定反射器の機械
的調整及び光学的調整が行えるとともに、その一対の固
定反射器間の光軸調整が高度に行える。また、一対の移
動反射器を外すことで、基準光が一対の固定反射器間を
通って反射してから筐体外部へ出させることが可能とな
り、従って、基準光を筐体外部の遠方へ飛ばして、一対
の固定反射器間の光軸と基準光軸との平行精度を高度に
調整できるようになる。
または4記載の光干渉計であって、移動光学部品または
移動反射器の取付ベースを駆動部材に対し移動方向と交
差する方向の両側において固定した構成、を特徴として
いる。例えば、移動方向と交差する方向としては、移動
方向と直交方向が典型的であるが、移動方向と交差して
いれば良い。
ば、請求項1記載の移動光学部品または請求項2、3、
4の何れか記載の移動反射器の取付ベースを駆動部材に
対し移動方向と交差する方向の両側において固定した光
干渉計なので、移動光学部品または移動反射器の移動距
離をできるだけ大きくしても、その移動のための駆動部
材に対する取付ベースの固定位置が、移動方向と交差す
る方向の両側にあって、移動ストロークの確保に支障を
来すことなく合理的な取り付けが行える。
実施の形態例を図1から図4に基づいて説明する。先
ず、図1は本発明を適用した一例としての小型光干渉計
の概略構成例を示した平面図で、図中、L1は基準光
軸、L2は可動光軸、31は基準光源、32は第1ミラ
ー、33はビームスプリッタ、34は第2ミラー、35
は第3ミラー、36,37は移動ミラー(コーナーキュ
ーブ)、38は受光器、40は筐体、51はリニアガイ
ド、52はミラーベース(取付ベース)である。この小
型光干渉計は、He−Neレーザを基準光源31に用い
たものである。
−Neレーザ光)は、図示のように、筐体40の内部に
おいて、基準光軸L1を通り、第1ミラー32により反
射されてからビームスプリッタ33に入射する。また、
ビームスプリッタ33には、筐体40の外部から測定光
が入射し、この測定光と基準光は、上段と下段とに異な
る光路を通ってビームスプリッタ33に入射する。この
ビームスプリッタ33によって、入射光が透過光と反射
光による直交する2光路に分割され、透過光は第2ミラ
ー34により第3ミラー35に向けて反射され、また、
反射光は第3ミラー35により第2ミラー34に向けて
反射する。第2ミラー34で反射された光は、一方のコ
ーナーキューブによる移動ミラー36により全反射さ
れ、また、第3ミラー35で反射された光は、他方のコ
ーナーキューブによる移動ミラー37で全反射される。
ここで、移動ミラー36,37は、第2ミラー34と第
3ミラー35間の光軸上において、リニアガイド51上
を光軸に沿って移動自在に組み付けられている。
れた光は、第2ミラー34により反射されてビームスプ
リッタ33に再び入射し、また、他方の移動ミラー37
で全反射された光は、第3ミラー35により反射されて
ビームスプリッタ33に再び入射する。こうして基準光
と測定光がビームスプリッタ33で合波され、このと
き、ともにコーナーキューブによる一対の移動ミラー3
6,37をリニアガイド51上を光軸に沿って等速で移
動させることで、2つの移動ミラー36,37からの反
射光の光路長に差ができ、干渉縞の強度変化が見られ
る。この干渉縞の強度変化を受光器38により電気信号
として取り出す。なお、2つの移動ミラー36,37に
よる反射光の光軸を、ここでは可動光軸L2とする。
36,37を外した光学系とした場合は、以下のような
光路となる。即ち、図2に示すように、ビームスプリッ
タ33で分割された透過光は、第2ミラー34により第
3ミラー35に向けて反射され、さらに、第3ミラー3
5により反射されてビームスプリッタ33に再び入射す
る。また、ビームスプリッタ33で分割された反射光
は、第3ミラー35により第2ミラー34に向けて反射
され、さらに、第2ミラー34により反射されてビーム
スプリッタ33に再び入射する。こうして基準光と測定
光がビームスプリッタ33で合波された結果、干渉が生
じ、その干渉が受光器38で電気信号として取り出され
る。
は、図2に示したように、内部に複数(図示例では3
個)のボス41,41,41を起設して、このボス4
1,41,41に一直線上の第1基準面42,42,4
2を形成するとともに、外形部に一直線上の第2基準面
43を形成している。このような第1基準面42,4
2,42と第2基準面43は、互いに平行であり、ま
た、第1基準面42,42,42が第2基準面43に向
かった状態にして、高精度な平坦面加工により得る。さ
らに、筐体40には、外部へ基準光を通す光束貫通穴4
4が形成されている。
びその駆動系をブロック50と一緒に取り外した状態を
示した平面図で、図中、53は基準面、61はモータ
(ステッピングモータ)、62は駆動プーリ(タイミン
グプーリ)、63,64は従動プーリ(タイミングプー
リ)、65はベルト(タイミングベルト)、66,67
はテンションプーリである。即ち、ブロック50上に
は、図示のように、リニアガイド51が一体的または一
体に設けられるとともに、中央のモータ61及び駆動プ
ーリ62と左右の従動プーリ63,64及びテンション
プーリ66,67が備えられている。
プーリ62と、リニアガイド51の両側に設けた従動プ
ーリ63,64とにベルト65が掛けられている。この
ベルト65は、2つの移動ミラー36,37を備えた取
付ベースであるミラーベース52に固定されている。即
ち、ベルト65に対しミラーベース52を、図4に示し
たように、リニアガイド51に沿って移動する一対の移
動ミラー36,37の移動方向と直交方向の両側におい
て、両移動ミラー36,37の境界線の延長上で取り付
けネジ55,55により結合している。こうして、移動
ミラー36,37のミラーベース52とその駆動部材で
あるベルト65との結合がなされる。
ベルト65を適度の緊張状態とするためのテンションプ
ーリ66,67が配置されている。そして、ブロック5
0のモータ61を備えた側の端面は、筐体40の第1基
準面42,42,42と合致する基準面53となってい
る。この基準面53を高精度な平坦面加工により得る。
また、ブロック50には、リニアガイド51(可動光軸
L2)を基準面53と平行に設けてある。なお、ブロッ
ク50は、その基準面53を第1基準面42,42,4
2に合致させた状態で筐体40上にネジ止め固定され
る。
計の使い方を説明する。先ず、筐体40にブロック50
を取り付けていない状態では、コーナーキューブによる
2つの移動ミラー36,37が可動光軸L2上に無いた
め、図2に示したように、基準光をビームスプリッタ3
3から光束貫通穴44に通って筐体40の外部へ遠方に
飛ばして、基準光源31から出射直後の基準光軸L1と
筐体40の第1及び第2の両基準面42,43との平行
精度を、より高度に調整することができる。
光軸L1と第2ミラー34及び第3ミラー35で作られ
る光軸(可動光軸L2参照)が平行であると、第2ミラ
ー34の調整時に、基準光を光束貫通穴44から筐体4
0外部へ光束を通過させ、遠方において、第2ミラー3
4及び第3ミラー35間の光軸(可動光軸L2参照)と
基準光軸L1とが同一面内にあるかを高精度に確認する
ことができる。また、筐体40の第2基準面43を基準
として、第2ミラー34と第3ミラー35とにより作ら
れる光軸(可動光軸L2参照)を平行に調整しておけ
ば、予め筐体40の外部で調整されたブロック50上の
移動ミラー36,37の可動光軸L2を合わせるだけ
で、前述したように、基準光と測定光の干渉を生じさせ
ることができる。
は、筐体40からブロック50ごと外すことで、機械的
調整及び光学的調整することができ、具体的には、ブロ
ック50の基準面53を基準として、コリメータ及びレ
ーザにより、コーナーキューブによる移動ミラー36,
37を調整することができる。また、筐体40からブロ
ック50を外せるため、消耗部品であるリニアガイド5
1、ミラーベース52、モータ61、プーリ62,6
3,64及びベルト65等を容易に交換することができ
る。
して移動光学部品を外して、固定光学部品と移動光学部
品の機械的調整及び光学的調整が別個に行えるものとな
り、即ち、筐体40からブロック50ごと移動ミラー3
6,37(移動反射器)及びその駆動系(モータ61、
プーリ62,63,64及びベルト65等)を外して、
ビームスプリッタ33及び固定反射器(ミラー32,3
4,35)と移動ミラー36,37の機械的調整及び光
学的調整が別個に行える。従って、移動ミラー36,3
7のメンテナンス性が向上し、しかも、筐体40からブ
ロック50として移動ミラー36,37を外して、筐体
40内のビームスプリッタ33及びミラー32,34,
35の光学的調整により、光干渉比率の精度をアップで
きて、十分に小型化した筐体40とすることができる。
2上に沿って移動ミラー36,37を長い距離移動でき
て、光の波長測定の精度をアップでき、この面からも十
分に小型化した筐体40とすることができる。さらに、
基準光軸L1と平行な可動光軸L2上において、一対の
固定ミラー34,35の間で一対の移動ミラー36,3
7を移動させて各々全反射させているため、各々の光路
長に発生する差のできる範囲を大きく取れるものとなっ
ている。しかも、移動ミラー36,37の可動距離を、
例えば、50mm以上等、できるだけ大きくしても、そ
の移動のためのベルト65に対するミラーベース52の
固定位置(取付ネジ55,55参照)が移動方向と直交
方向両側のため、移動ストロークの確保に支障を来すこ
とのない合理的な取付構造である。
e−Neレーザ光を基準光としたが、基準光は、これに
限定されるものではなく、他のレーザ光であっても良
い。また、その他、具体的な細部構造等についても適宜
に変更可能であることは勿論である。
る光干渉計によれば、基準光軸とほぼ平行な光軸上に沿
って移動光学部品を長い距離移動させることが可能なた
め、光の波長測定の精度向上を可能として、筐体の十分
な小型化を可能とすることができる。
によれば、基準光軸とほぼ平行な光軸上に沿って移動反
射器を長い距離移動できるため、光の波長測定の精度を
向上することができて、筐体の十分な小型化を達成する
ことができる。
ば、請求項2記載の発明により得られる効果に加え、基
準光軸とほぼ平行な光軸上において、一対の固定反射器
の間で一対の移動反射器を移動させて各々全反射させる
ため、各々の光路長に発生する差のできる範囲を大きく
取ることができるといった利点が得られる。
ば、一対の移動反射器を筐体から外せるため、請求項3
記載の発明により得られる効果に加え、筐体内におい
て、基準光軸とほぼ平行する光軸上の両端部で対峙する
一対の固定反射器の機械的調整及び光学的調整を行うこ
とができるとともに、一対の固定反射器間の光軸調整を
高度に行うことができ、また、基準光を筐体の外部へ出
せるようになるため、一対の固定反射器間の光軸と基準
光軸との平行精度を高度に調整することができるように
なるといった利点が得られる。
ば、移動光学部品または移動反射器の取付ベースを駆動
部材に対し移動方向と交差する方向の両側において固定
したため、請求項1、2、3または4記載の発明により
得られる効果に加え、移動光学部品または移動反射器の
移動距離をできるだけ大きくしても、その移動のための
駆動部材に対する取付ベースの固定位置が、移動方向と
交差する方向の両側にあって、移動ストロークの確保に
支障を来すことなく合理的な取り付けを行うことができ
るといった利点が得られる。
概略構成例を示した平面図である。
学部品を示した平面図である。
びその駆動系をブロックと一緒に取り外した状態を示し
た平面図である。
位置の関係を示した正面図である。
図である。
Claims (5)
- 【請求項1】基準光と測定光を複数の光学部品により互
いに干渉させる光干渉計であって、 複数の光学部品を筐体に固定の固定光学部品と筐体に対
し可動の移動光学部品とに分けて、 移動光学部品を、基準光の光軸とほぼ平行する光軸上に
配置したこと、を特徴とする光干渉計。 - 【請求項2】基準光と測定光を、ビームスプリッタによ
り反射光と透過光による直交する2光路に分岐し、各々
の光路において、反射光及び透過光を複数の反射器によ
り互いに反射させた後、再びビームスプリッタで合波し
てから受光器に受光させる光干渉計であって、 複数の反射器を筐体に固定の固定反射器と筐体に対し可
動の移動反射器とに分けて、 移動反射器を、基準光の光軸とほぼ平行する光軸上に配
置したこと、を特徴とする光干渉計。 - 【請求項3】反射光と透過光を互いに他方の固定反射器
に向けて反射する一対の固定反射器を備え、 この一対の固定反射器の間に、各々の固定反射器に光を
全反射する一対の移動反射器が配設されていること、を
特徴とする請求項2記載の光干渉計。 - 【請求項4】一対の移動反射器を筐体に対し着脱可能と
したこと、を特徴とする請求項3記載の光干渉計。 - 【請求項5】移動光学部品または移動反射器の取付ベー
スを駆動部材に対し移動方向と交差する方向の両側にお
いて固定したこと、を特徴とする請求項1、2、3また
は4記載の光干渉計。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11086735A JP2000283707A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 光干渉計 |
| GB0006187A GB2349692A (en) | 1999-03-29 | 2000-03-16 | Optical Interferometer |
| DE10015241A DE10015241A1 (de) | 1999-03-29 | 2000-03-28 | Optisches Interferometer |
| US09/537,833 US6504613B1 (en) | 1999-03-29 | 2000-03-29 | Optical interferometer with a casing and an optical part that is movable with respect to the casing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11086735A JP2000283707A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 光干渉計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000283707A true JP2000283707A (ja) | 2000-10-13 |
Family
ID=13895091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11086735A Pending JP2000283707A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 光干渉計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000283707A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006517662A (ja) * | 2003-02-12 | 2006-07-27 | テメト・インストルメンツ・オーワイ | 分光計のための赤外変調器 |
-
1999
- 1999-03-29 JP JP11086735A patent/JP2000283707A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006517662A (ja) * | 2003-02-12 | 2006-07-27 | テメト・インストルメンツ・オーワイ | 分光計のための赤外変調器 |
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