JP2000310787A - 電気光学装置および電子機器 - Google Patents
電気光学装置および電子機器Info
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Abstract
向状態を制御することにより非常に高精細で、かつ透過
率の高い電気光学装置を提供する。 【解決手段】 電気光学装置100において、一対の基
板1a、1b間に液晶を挟持し、前記液晶の分子を第1
の配向状態と、前記第1の配向状態とは異なる第2の配
向状態とに制御する電極群として、対向基板1bには共
通電極としての第1の駆動用電極5が形成されている一
方、アクティブマトリクス基板1aには、画素スイッチ
ング素子30を介してデータ線に接続する第2の駆動用
電極3と、各画素間で共通の第3の駆動用電極4とが形
成されている。
Description
気光学装置に関するものである。更に詳しくは、電気光
学装置における電気光学物質の駆動技術に関するもので
ある。
の配向状態を制御する電気光学装置として代表的なもの
としては、電気光学物質として液晶を用いた液晶装置が
ある。この液晶装置では、従来、一対の基板の少なくと
も一方にラビング処理を施した配向膜が形成され、電界
を加えない状態ではこの配向膜のラビング方向に沿って
液晶の分子が配列し、電界を加えた状態では電界方向に
基いて液晶分子の配向状態が切り換わる。また、電界の
印加を停止したとき、液晶分子の配向状態は、配向膜の
ラビング方向に沿う方向に戻る。
atic/ねじれネマティック)モードの液晶を例に、
図20を参照して説明する。
図であり、この図には、電極52a、52b間に電界が
ない状態(図20に向かって左側)と、電極52a、5
2b間に電界がある状態(図20に向かって右側)とを
示してある。電界がない状態では、液晶53の分子はラ
ビング方向に従ってツイスト配向しているのに対して、
電界がある状態では、液晶53の分子は電界方向に沿っ
て配向する。ここで、ノーマリー・ホワイトモードの場
合には、偏光板51a、51bは偏光軸が直交するよう
に配置されている。このため、電極52a、52b間に
電圧を印加しないときには、液晶53の層がもつ旋光性
によって上方から入射した光Lは、偏光板51bを通過
する。これに対して、電極52a、52b間に電圧を印
加したときには、上方から入射した光は、液晶53の層
を透過した後、偏光板51bで遮断される。
3を挟持する一対の基板の少なくとも一方にラビング処
理を施した配向膜52a、52bを形成し、配向膜52
a、52bの配向規制力によって初期の配向状態(第1
の配向状態)を実現する一方、縦電界(基板面に対して
垂直な電界)により液晶を第2の配向状態に遷移させる
ものである。
して平行な電界)により液晶の配向状態を遷移させる液
晶装置もあるが、この液晶装置においても、液晶を挟持
する一対の基板の少なくとも一方にラビング処理を施し
た配向膜を形成し、配向膜による規制力によって初期の
配向状態(第1の配向状態)を実現し、横電界(基板面
に対して平行な電界)により液晶を第2の配向状態に遷
移させる。
気光学装置では、液晶を配向させるために配向膜が不可
欠であるが、配向膜を形成するプロセスに起因する歩留
まりの低下や、長時間の使用による配向膜の劣化、それ
にともなう表示品質の低下等、いまだ大きな問題として
存在する。
置)などのライトバルブに用いるような、ひとつの画素
が数10μm程度と小さい液晶装置では、各画素に画素
スイッチング素子を設けたことによる基板表面の凹凸
や、配線部などからの漏れ電界の影響も無視できなくな
る。これらの問題を改善するために、通常のブラックマ
トリクスを形成し画素間の光漏れを隠すなどの方策が取
られるが、開口率が小さくなるため、液晶装置の光利用
効率が下がる原因となっている。
のであり、配向膜を用いることなく電界のみで電気光学
物質の配向状態を制御でき、一様な視覚特性を有する電
気光学装置、およびこの電気光学装置を用いた電子機器
を提供することにある。
め、本発明では、第1の基板と第2の基板との間に電気
光学物質が挟持されてなり、前記第1の基板および前記
第2の基板には前記電気光学物質を第1の配向状態と該
第1の配向状態とは異なる第2の配向状態とに制御する
ための電極群が形成されてなる電気光学装置において、
前記電極群には、単位画素あたり、少なくとも、前記第
1の基板において前記第2の基板と対向する側の表面に
形成された第1の駆動用電極と、前記第2の基板におい
て前記第1の基板と対向する側の表面に前記第1の駆動
用電極と対向して形成された第2の駆動用電極と、前記
第2の基板において前記第1の基板と対向する側の表面
に前記第2の駆動用電極と絶縁されて形成された第3の
駆動用電極とが含まれていることを特徴とする。
どといった初期配向手段を用いることなしに、縦電界と
横電界の二つの電界で液晶分子などの電気光学物質の配
向状態を制御することができる。また、従来の方式で
は、配線などからの漏れ電界が画素内の液晶などの電気
光学物質の配向に影響を与えるほど画素サイズが小さい
プロジェクター用のライトバルブとして用いられる電気
光学装置においても、それら余分な電界の影響を小さく
できる。それ故、高い透過率とコントラストを有するす
ぐれた電気光学装置を得ることができる。また、配向処
理工程が不必要となるため、製造工程が簡単になり歩留
まりが上がる。さらに、配向膜による配向規制力がない
ので、液晶などの電気光学物質の応答性を向上するのに
も貢献できるとともに、配向膜がないため、長期使用に
より配向膜が劣化するなどの信頼性上の不具合もなくな
る。
れる信号に基づいて前記電気光学物質が前記第1の配向
状態と前記第2の配向状態とに制御される。このような
構成により、前記第1の配向状態および前記第2の配向
状態が各電極に印加される電圧のみで変更可能となるの
で、各電気光学装置に応じて印加電圧を選択決定すれば
よい。
えば液晶である。ここで、前記電気光学物質が正または
負の誘電率異方性を持つネマティック液晶である場合に
は、該ネマチティック液晶の屈性率異方性を利用して光
の透過状態を制御する。このような液晶を使用すること
により、その屈折率異方性に起因する光学的な効果によ
り光の透過状態を制御することができる。また、ネマテ
ィック液晶は、従来から一般的に使われている液晶材料
であり、扱いが容易である。
記第2の基板は、前記電気光学物質に電界が印加されて
いない状態で各基板表面が前記液晶に配向規制力を発生
しない表面状態を有している。すなわち、第1の基板お
よび第2の基板のいずれにも配向膜が形成されていない
とともに、配向規制力を発揮する凹凸などが形成されて
いない。このように構成すると、液晶の分子は、電界の
みによって配向状態が制御され、表面の凹凸などによる
配向規制力の影響を受けない。従って、液晶の配向を電
界制御することが容易になるので、表示特性が劣化しな
い。
よび前記第3の駆動用電極に印加される電圧をそれぞれ
Vd、Vsとしたとき、Vd、Vsが下式 Vd≠Vs を満たす関係にあるときには、前記電気光学物質は第1
の配向状態に制御され、Vd、Vsが下式 Vd=Vs を満たす関係にあるときには、前記電気光学物質は前記
第2の配向状態に制御される。このように構成すると、
第2の駆動用電極に印加する電圧Vdの変化だけで、液
晶の分子を第1の配向状態に制御する横電界と、液晶の
分子を第2の配向状態に制御する縦電界を発生させるこ
とができる。
電極、前記第2の駆動用電極および前記第3の駆動用電
極に印加される電圧をそれぞれVc、Vd、Vsとした
とき、Vc、Vd、Vsが下式 Vd=Vc≠Vs を満たす関係にあるときには、前記液晶の分子が前記基
板面と略平行な第1の配向状態に制御され、Vc、V
d、Vsが下式 Vd=Vs≠Vc を満たす関係にあるときには、前記液晶の分子が基板面
に対してほぼ垂直方向となる前記第2の配向状態に制御
される。このように構成した場合は、第2の駆動用電極
に印加する電圧Vdだけでなく、第3の駆動用電極に印
加する電圧Vsも制御することにより、液晶の分子を第
1の配向状態に制御する横電界と、液晶の分子を第2の
配向状態に制御する縦電界を、より効率的に発生させる
ことができる。
は、例えば、前記単位画素内で前記第2の駆動用電極の
周囲を囲むように形成されていることが好ましい。この
ような電極配置を採用すると、第1の配向状態における
電界の状態を、画素の中心に対して対称に形成すること
が可能になる。従って、表示特性の角度依存性を軽減す
ることが可能になる。
前記第3の駆動用電極は、前記単位画素内で交互に配列
されていることが好ましい。このように構成すると、第
1の配向状態を実現するための横電界がさらに強くな
り、液晶層の第1の配向状態と第2の配向状態でのリタ
デーションの差を大きくすることができる。従って、よ
り鮮明なコントラストを得ることができる。
よび前記第3の駆動用電極は、前記単位画素内で複数に
分割されていることが好ましい。このように構成する
と、第1の配向状態を実現するための横電界がさらに強
くなり、液晶層の第1の配向状態と第2の配向状態での
リタデーションの差を大きくすることができる。従っ
て、より鮮明なコントラストを得ることができる。
または該第3の駆動用電極の一部は、前記電気光学物質
の層の厚さの3分の1以上の厚さを有することが好まし
い。このような電極構造を採用すると、第1の配向状態
を得るために必要な水平方向の電界を強くすることがで
きるとともに、電界の強さを均一にすることができる。
従って、さらに鮮明なコントラストを得ることができ
る。
は、前記単位画素の各々に形成されたスイッチング素子
を介して信号が供給される。
電極は、前記単位画素の各々に形成された第1のスイッ
チング素子を介して信号が供給され、前記第3の駆動用
電極は、前記単位画素の各々に形成された第2のスイッ
チング素子を介して信号が供給される構成を採用するこ
ともできる。このように構成すると、第2の駆動用電極
に印加される信号と、第3の駆動用電極に印加される信
号の双方によって電気光学物質の配向状態を制御でき
る。これにより画素に発生させる2種類の電界を、電気
光学物質の状態を切り換えるのに、より適した状態にす
ることができるとともに、電気光学装置において、1フ
ィールド毎に、1水平走査ライン毎に極性を反転させる
駆動方式などを容易に採用することができる。
前記第3の駆動用電極の両方、または少なくともその一
方は、前記スイッチング素子と該スイッチング素子に接
続する配線の全体、または少なくとも一部を絶縁膜を介
して覆うように形成されている構成を採用することがで
きる。このような多層構造を採用すると、アレイ基板の
開口率をあげることができる。その結果、液晶セルの光
透過率の向上につながり、光の利用効率を向上させるこ
とができる。さらに配線などが前記第2、もしくは第3
の駆動用電極で覆われているので、配線による電界が液
晶配向に影響を及ぼさない。
は、シリコン基板に形成されたMOSトランジスタなど
といったMISトランジスタを利用できる。また、前記
スイッチング素子としては、基板上に形成した半導体膜
を利用した薄膜トランジスタであってもよい。
記第2の基板のうち、少なくとも光が入射してくる一方
の基板に対して偏光手段が配置される場合があり、この
場合には、当該一方の基板と前記偏光手段との間に少な
くとも1枚の位相差フィルムが配置されていることが好
ましい。例えば、一対の基板を2枚の偏光フィルムなど
の偏光手段で挟み込むとともに、一方の基板と偏光フィ
ルムの間には位相差フィルムを設けることにより、液晶
層によるリタデーションの変化をより有効に光の透過、
吸収の制御に用いることができる。従って、より表示品
質の高い電気光学装置を得ることができる。また、一方
の基板に反射板を設け、また他方の基板の外側に位相差
フィルムと偏光フィルムを設けることにより、本発明に
係る電気光学装置を反射型として機能するように構成し
てもよい。
して構成する場合には、例えば、前記第1の基板および
前記第2の基板のうち、少なくとも光が入射してくる一
方の基板と対向する他方側の基板に対して、前記一方の
基板に反射面を向ける反射手段を配置すればよい。
示用として構成する場合には、例えば、前記第1の基板
および前記第2の基板のいずれか一方の基板にカラーフ
ィルタ層が形成される。
機器に搭載される。このような電気光学装置を備える電
子機器にあっては、より光の利用効率を高めることが可
能になるので、表示装置の明るさの向上や表示装置にお
ける消費電力の低減が可能になる。
形態を説明する。
形態1に係る電気光学装置の基本的な構成を模式的に示
す等価回路図である。
0は、アクティブマトリクス型の液晶装置であり、詳し
くは後述するように、対向基板(第1の基板)とアクテ
ィブマトリクス基板(第2の基板)との間で、電気光学
物質としての液晶を駆動する装置である。この電気光学
装置100では、マトリクス状に形成された複数の画素
の各々に、薄膜トランジスタなどの画素スイッチング素
子30が形成され、この画素スイッチング素子30のソ
ースには、画像信号S1、S2・・・が供給されるデー
タ線21が電気的に接続されている。また、画素スイッ
チング素子30のゲートには走査線20が電気的に接続
され、所定のタイミングで、走査線20にパルス的に走
査信号G1、G2・・・をこの順に線順次で印加するよ
うに構成されている。
には、対向基板の側において各画素間で等電位に保持さ
れた第1の駆動用電極5と、各画素毎の画素スイッチン
グ素子30のドレインに接続する第2の駆動用電極3と
の間に液晶容量50が形成されているものとして表わす
ことができる。
等価回路的には、各画素毎の画素スイッチング素子30
のドレインに接続する第2の駆動用電極3と、各画素間
で等電位に保持された第3の電極4との間にも液晶容量
50が形成されているものとして表わすことができる
が、この第3の駆動用電極4は、後述するように、画素
スイッチング素子30などと一緒にアクティブマトリク
ス基板の側に形成されている。
は、等価回路的には、対向基板において各画素間で等電
位に保持された第1の駆動用電極5(共通電極)と、第
2の画素スイッチング素子30bのドレインに電気的に
接続する第3の駆動用電極4との間にも液晶容量50が
形成されているものとして表わすことができる、なお、
本形態の電気光学装置1において、第1の駆動用電極5
および第3の駆動用電極4は定電位に保持され、この状
態で、画素スイッチング素子30を介して第2の駆動電
極3に印加される画像信号S1、S2・・・と、第3の
駆動用電極4に印加される電位との電位差によっては、
第1の駆動用電極5と第2の駆動用電極3との間、第2
の駆動用電極3と第3の駆動用電極4との間、および第
3の駆動用電極4と第1の駆動用電極5との間のいずれ
において液晶が駆動されるかが切り換わるので、図1に
おいて、液晶容量50は、便宜的に3つのキャパシタC
1、C2、C3で表わしてある。実際の液晶装置におい
ては、C1、C2、C3は別々の液晶ではなく、単位画
素内に含まれる同一部分の液晶である。ここでの説明
は、画素内の電界状態によって、液晶が上記に示すよう
な容量として作用することを示すものである。
は、本発明を適用した電気光学装置の一例をそのアクテ
ィブマトリクス基板上に形成された各構成要素と共に対
向基板の側から見た平面図であり、図2(b)は、図2
(a)のH−H′断面図である。図3(a)は、単位画
素における各駆動用電極の位置関係などを示す平面図、
図3(b)は、図3(a)のA−A′断面を模式的に示
す説明図である。なお、各図においては、各層や各部材
を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や
各部材毎に縮尺を異ならしめてある。また、保持された
画像信号がリークするのを防ぐために、液晶容量と並列
に蓄積容量を付加することがあるが、本発明の特徴点を
明確に図示することを目的に、図3には蓄積容量の図示
を省略してある。
気光学装置100は、画素ピッチが20μm以下の液晶
装置であり、ガラス基板1a′などを用いたアクティブ
マトリクス基板1aと、このアクティブマトリクス基板
1aに対向するように配置されたガラス基板1b′など
からなる対向基板1bとが、シール材6によって所定の
間隙を介して張り合わされているとともに、これらの基
板間には、正または負の誘電率異方性を持つネマティッ
ク液晶(液晶10)が挟持されている。また、アクティ
ブマトリクス基板1aでは、基板辺に沿って多数の接続
端子(図示せず)が形成され、これらの接続端子には、
液晶駆動回路からの電気信号をアクティブマトリクス基
板1aに供給するためのフレキシブル基板11が接続さ
れている。
表面(アクティブマトリクス基板1aと対向する面側)
には、カラーフィルター8と、共通電極としての第1の
駆動用電極5がこの順に積層されている。第1の駆動用
電極5は、ITO(Indium Oxide)等の透
明電極として、対向基板1bの略全面に形成されてい
る。また、対向基板1bの外側表面上には、位相差フィ
ルム7と偏光板2bがこの順に積層されている。なお、
従来の液晶装置と違って、対向基板1bの内側表面には
配向膜が形成されていない。
(対向基板1bと対向する面側)上には、制御電極とし
ての第2の駆動用電極3と、補助電極としての第3の駆
動用電極4が形成され、後述するTFTやMOSFET
などからなるスイッチング素子、および各種の信号線
(図示せず)が形成されている。ここで、第2の駆動用
電極3および第3の駆動用電極4には、ITO(Ind
ium Oxide)等からなる透明電極が用いられ
る。また、アクティブマトリクス基板1aの外側表面上
には、偏光板2aが配設されている。なお、従来の液晶
装置と違って、アクティブマトリクス板1aの内側表面
には配向膜が形成されていない。
第2の駆動用電極3を囲むように形成されており(図3
(a)を参照)、基板全体でひとつの電極として形成さ
れている。第2の駆動用電極3は、先述の画素スイッチ
ング素子30を介して配線に接続されている。
る電極表面などにはサブミクロン以下の規則性を有する
凹凸などができないように、もしくは液晶10の配向に
影響を与えるような極性基が表面上に存在しないような
処理を施すのが良い。例えば、液晶10の配向に影響を
与えるようなサブミクロンサイズの細かな凹凸などが存
在すると、それらは液晶10に小さいながらも配向規制
力を与えるきっかけとなり、電界による液晶10の配列
が複雑になるだけでなく、その均一性も損なわれるから
である。
る液晶材料、及び表示モードにはさまざまなものを用い
られるが、それについては後で説明する。
いて、アクティブマトリクス基板1aでは、ポリシリコ
ン等からなる走査線20と、アルミニウム等からなるデ
ータ線21とが交差するように格子状に配設され、各格
子の目の部分にほぼ矩形状の第2の駆動用電極3が設け
られている。各画素に形成された画素スイッチング素子
30は、データ線21の一部としてのソース電極、走査
線の一部としてのゲート電極、ドレイン電極201を備
えている。このため、ソース電極はデータ線21に接続
され、ゲート電極は走査線20に接続され、ドレイン電
極201は第2の駆動用電極3に接続されている。さら
に、データ線21、走査線20および画素スイッチング
素子30の大部分を覆うように、第3の駆動用電極4が
各画素の境界領域に沿って格子状に形成されている。
電極4とは一定の間隔を以って離間されており、また、
第3の駆動用電極4と画素スイッチング素子30を構成
する各電極および各配線との間は、図3(b)に示すよ
うに、絶縁層22や層間絶縁膜などによって絶縁されて
いる。ここで、第3の駆動用電極4は基板全面、全画素
において同じ電位に保持される。よって、本形態におい
て、第3の駆動用電極4については、特別な配線を形成
せずに、基板周辺部において外部から電位Vsを与える
ための電極が接続されている。
4は、ガラス基板を用いたアクティブマトリクス基板1
aの図3のB−B′における断面図である。この構成例
に基づきアクティブマトリクス基板1aの内側表面上に
形成される第2の駆動用電極3、第3の駆動用電極4、
および画素スイッチング素子30について詳述する。こ
こに示す例において、画素スイッチング素子30は、薄
膜トランジスタにより構成される。
において、1a′は、例えば無アルカリガラスや石英な
どからなる透明なガラス基板であり、300は、アクテ
ィブマトリクス基板1a表面に直接、あるいはガラス基
板1a′の表面に形成した下地保護膜(図示せず)を介
して表面に減圧CVD法などにより形成されたポリシリ
コンからなる半導体膜である。半導体膜300は、厚さ
は約20nm〜約200nm、好ましくは約100nm
である。
より、厚さが約50nm〜約150nmのシリコン酸化
膜からなるゲート酸化膜22が形成されている。
などからなる走査線20が通っており、この走査線20
をマスクとして、約0.1×1013/cm2〜約10×
101 3/cm2のドーズ量で低濃度の不純物イオン(リ
ンイオン)の打ち込みが行われ、この打ち込みによっ
て、走査線20に対して自己整合的に低濃度のソース領
域、および低濃度のドレイン領域を形成した後、走査線
20より幅の広いレジストマスクを形成して高濃度の不
純物イオン(リンイオン)を打ち込み、高濃度のソース
領域301およびドレイン領域302が形成される。こ
こで、走査線20の真下に位置しているため不純物イオ
ンが導入されなかった部分は、もとの半導体膜のままチ
ャネル領域20bとなる。
より形成された酸化シリコン膜やNSG膜(ボロンやリ
ンを含まないシリケートガラス膜)などからなる第1の
層間絶縁膜23が形成され、この第1の層間絶縁膜23
は、膜厚が300nm〜1500nm程度である。
層間絶縁膜23のコンタクトホールを介してソース領域
301およびドレイン領域302に電気的に接続するデ
ータ線21およびドレイン電極201が形成され、これ
らのデータ線21およびドレイン電極201はアルミニ
ウム等で構成される。
表面側には、ペルヒドロポリシラザンまたはこれを含む
組成物の塗布膜を焼成した絶縁膜24aが形成され、さ
らに、この絶縁膜24aの表面には、シリコン酸化膜か
らなる絶縁膜24bが形成されている。これらの絶縁膜
24a、24bによって、第2の層間絶縁膜24が形成
されている。
1には、コンタクトホールを介して厚さが約40nm〜
約200nmのITOからなる透明な第2の駆動用電極
3が電気的に接続し、第2の層間絶縁膜24の他の部分
には、厚さが約40nm〜約200nmのITOからな
る透明な第3の駆動用電極4が形成されている。ここ
で、第2の駆動用電極3と第3の駆動用電極4は一定の
間隔を以って絶縁されている。
例について説明したが、本発明を反射型の電気光学装置
に適用することもできる。例えば、図3における第2の
駆動用電極3および第3の駆動用電極4をアルミニウム
等の反射特性を有する材料により形成することにより反
射電極とすれば反射型電気光学装置を形成することがで
きる。なお、この際には、アクティブマトリクス基板1
aに形成されている偏光手段(ここでは偏光板2a)は不
要となる。また、各電極の反射特性を制御する上でアル
ミニウムに他の材料を添加することも可能である。
例)これ以外のアクティブマトリクス基板1bの構成
を、図5を参照して説明する。図5は、本発明を適用し
た反射型電気光学装置において、シリコン基板を用いた
アクティブマトリクス基板1aの断面構成を示す図であ
り、図4に対応する部分の断面図である。なお、図5は
マトリクス状に配置されている画素のうち一画素部分の
断面を示す。ここに示す例において、画素スイッチング
素子30は、MOSFETにより構成される。
いて、1a″は単結晶シリコンのようなP型半導体基
板、102はこの半導体基板1a″の表面に形成された
P型ウェル領域、103は半導体基板1a″の表面に形
成された素子分離用のフィールド酸化膜(いわゆるLO
COS)である。ウェル領域102は、特に限定されな
いが、マトリクス状に画素が配置されてなる画素領域の
共通ウェル領域として形成されている。フィールド酸化
膜103は、選択熱酸化によって500nm〜700n
mのような厚さに形成される。
とに6つの開口部が形成され、そのうち3つの開口部の
内側中央にはゲート酸化膜(絶縁膜)104bを介して
ポリシリコンあるいはメタルシリサイド等からなる走査
線20が形成されている。この走査線20の両側の基板
表面には高濃度のN型不純物導入層(以下、ドーピング
層という)からなるソース、ドレイン領域301、30
2が形成され、画素スイッチング素子30としてのMO
SFETが構成されている。走査線20は走査線方向
(画素行方向)に延在されている。
た他の開口部の内側の基板表面にはP型ドーピング領域
108が形成されているとともに、このP型ドーピング
領域108の表面には絶縁膜109bを介してポリシリ
コンあるいはメタルシリサイド等からなる電極109a
が形成されている。この電極109aとP型ドーピング
領域108とを利用して蓄積容量が構成されている。
査線20となるポリシリコンあるいはメタルシリサイド
層と同一工程にて形成できる。また、電極109aの下
の絶縁膜109bは、ゲート絶縁膜104bとなる絶縁
膜と同一工程にて形成することができる。
って上記開口部の内側の半導体基板表面に400〜80
nmのような厚さに形成される。データ線21および電
極109aは、ポリシリコン層を100nm〜200n
mのような厚さに形成し、その上にMoあるいはWのよ
うな高融点金属のシリサイド層を100nm〜300n
mのような厚さに形成した構造とされている。ソース、
ドレイン領域301、302は、走査線20をマスクと
してその両側の基板表面にN型不純物をイオン打ち込み
で注入することで自己整合的に形成される。
ールド酸化膜103上にかけては第1の層間絶縁膜10
6が形成され、この第1の層間絶縁膜106上にはアル
ミニウムを主体とするメタル層からなりMOSFETの
ソース領域301に接続するデータ線21、およびMO
SFETのドレイン領域302と第2の駆動用電極3と
を接続するドレイン電極107bが形成され、それぞれ
第1の層間絶縁膜106に形成されたコンタクトホール
を介して接続されている。ドレイン電極107bは、蓄
積容量の電極109aに対してコンタクトホールを介し
て接続されている。
から第1の層間絶縁膜106上にかけては第2の層間絶
縁膜111が形成され、この第2の層間絶縁膜111上
にはアルミニウムを主体とする二層目のメタル層112
からなる遮光膜が形成されている。この遮光膜を構成す
る二層目のメタル層112は、画素領域の周囲に形成さ
れる駆動回路等の周辺回路において素子間の接続用配線
を構成するメタル層と同一のメタル層で形成することが
できる。従って、このメタル層112のみを形成するた
めに工程を追加する必要がなく、プロセスが簡略化され
る。また、メタル層112は、ドレイン電極107bに
対応する位置に、第2の駆動用電極3と画素スイッチン
グ素子30としてのMOSFETを電気的に接続するた
めの柱状の接続プラグ115を貫通させるための開口部
が形成され、それ以外は画素領域全面を覆うように形成
される。これによって、基板上方から入射する光をほぼ
完全に遮断して画素スイッチング素子30(チャネル領
域およびウェル領域)を光が通過してリーク電流が流れ
るのを防止することができる。
上に第3の層間絶縁膜113が形成され、この第3の層
間絶縁膜113の上に、第2の駆動用電極3が形成され
ている。この第2の駆動用電極3はアルミニウムを主体
としたメタル層で構成されている。そして、遮光膜11
2に形成された開口部に対応してその内側に位置するよ
うに、第3の層間絶縁膜113および第2の層間絶縁膜
111を貫通するコンタクトホール116が形成され、
このコンタクトホール116内にドレイン電極107b
と第2の駆動用電極3とを電気的に接続するタングステ
ン等の高融点金属からなる柱状の接続プラグ115が充
填されている。
第2の駆動用電極3と一定の間隔を以って絶縁された第
3の駆動用電極4が形成されており、この第3の駆動用
電極4もアルミニウムを主体としたメタル層で構成され
ている。
駆動用電極3および第3の駆動用電極4は、対向基板1
bに反射面を向けた反射手段を兼ねた電極である。ま
た、アクティブマトリクス基板1aの外側表面に偏光板
が不要である点が透過型電気光学装置と異なっている。
光学装置100の制御方法および制御状態、表示方式に
ついて説明する。
造を示す平面図である。図7(a)は第1の制御状態
(第1の配向状態)を示す断面図で、図7(b)は第2
の制御状態(第2の配向状態)を示す断面図である。
5、第2の駆動用電極3および第3の駆動用電極4に印
加する電圧をそれぞれVc、Vd、Vsとする。ここ
で、VcおよびVsは、大きさが異なる一定電圧になっ
ている一方、Vdには前述したTFTやMOSFET等
のスイッチング素子30を介して大きさが変えられるよ
うになっている。
した状態では、図6および図7(a)に示すように、第
3の駆動用電極4から第2の駆動用電極3および第1の
駆動用電極5に向かって(若しくはその逆に)電界E1
が発生する。例えば、正の誘電率異方性を持つネマティ
ック液晶の場合、分子の長軸がこの電気力線に沿って配
列する(第1の配向状態)。平面で見ると液晶分子は画
素の中心に対して対称に配列するため視角特性の向上を
図ることができる。
7(b)に示すように、第2の駆動用電極3および第3
の駆動用電極4から第1の駆動用電極5に向かって(若
しくはその逆に)電界E2が発生する。第一の状態とは
異なり液晶分子の長軸はこの電気力線に沿って配列する
(第2の配向状態)。
般的なネマティック液晶を用いた場合には、Vcを基準
電位(0V)に設定し、Vsを3V〜5Vに設定するこ
とができる。このときVdの大きさを0Vから3V〜5
Vの間で制御することにより表示を行うことができる。
基板面に対して略水平な状態で、第2の配向状態は、液
晶の分子がほぼ垂直な状態であり、この2つの状態にお
ける液晶分子の屈折率異方性を利用して光の透過状態を
制御することができる。
として用いる場合、2枚の偏光板2a、2bの透過軸を
ほぼ直角に交わるように配置すると、液晶分子がほぼ垂
直になったとき(第2の配向状態)には、入射した光は
偏光状態が変化しないので、出射側の偏光板2aを透過
することができずに暗状態になる。また液晶分子が基板
面に対して略平行になったとき(第1の配向状態)には、
偏光して入射した光は面内方向で屈折率異方性を持つ液
晶分子層の配列により、その偏光状態が変化し、さらに
外側に配置された少なくとも1枚の位相差フィルム7に
より、出射側に設けた偏光板2aを透過するように偏光
が変化を受けるので、明状態を得ることができる。
クティブマトリクス基板1aの各電極に反射板としての
機能を付与した反射型の電気光学装置100において
も、ほぼ同じような原理により表示を得ることができ
る。
向基板1bに反射面を向けた反射手段をアクティブマト
リクス基板1aに形成し、対向基板1bの外側表面のみ
に少なくとも1枚の位相差フィルム7、偏光板2aを形
成するが、この反射型の電気光学装置において、第2の
配向状態の場合には液晶分子、位相差フィルム7などに
より偏光状態が変化しないので液晶層内に入射した光
は、再び偏光板2bを透過することができる。よって明
状態となる。
は、理想的には入射した光の偏光方向が90度回転して
偏光板面に到達するような液晶層の厚み、屈折率異方
性、位相差フィルム7の位相差などを事前に設計し作り
込むことができるので、入射した光を出射時に偏光板に
よって吸収し、暗状態を得ることができる。
に用いられているものを、そのまま用いることができ
る。異なるのは、従来は初期配向によってひとつの状態
を得ていたが、本発明によればそれが必要ない。
では、このような対称性が高い液晶の配向状態を作り出
すことができなかったが、このような方法に依れば電極
形状と与える電界の強さによって容易に、それを実現す
ることができるので視角特性の改善を図ることができ
る。
で、Vdの値を変化させることにより上述のような電界
状態にすることができるため、Vdの値の変化のみで、
液晶分子の配向状態を制御することができる。またその
大きさを上記2つの制御状態の中間の値とすることで所
望の中間調を得ることが可能となる。
一定としたが、この条件は少なくともスイッチング素子
によって一旦液晶に貯えられた電位を保持する期間(例
えば1垂直走査期間)において必要な条件であり、永続
的に必要なものではない。これらの2つの電位の大きさ
は、フィールド毎に極性が変化しても構わないし、例え
ば、全画面を一度に消去したいときには、表示内容を書
き込むときとは全く異なった値の電位をそれらに与える
こともできる。しかしながら、いずれの場合でも、画素
毎の液晶の配向状態を決める制御電極の電位Vdはこれ
ら2つの電位との関係の上で決められるので、Vc及び
Vsの大きさに応じて、その大きさを変更することが必
要である。
るものではない。例えば、基本的な電極構造は、図6に
示す通りだが、図8に示すように、複数の第2の駆動用
電極3(制御電極)と、複数の第3の駆動用電極4(補
助電極)とが外周側に向かって交互に並んでいる構成を
採用することもできる。これにより発生する電界E3の
強さは前述の電界E1よりも強く均一になり、液晶分子
の配向状態もより水平に近いものとなる。よって2つの
状態におけるリタデーションの差をさらに大きくできる
ので鮮明なコントラストを得ることが可能となる。
第3の駆動用電極4(補助電極)を所定の厚さ、望まし
くは液晶層の厚みの3分の1以上、例えば液晶の層の厚
みが4μmの場合は2μmを有するようにすることもで
きる。この構造によると、図7(a)、(b)に示した
構成と比較して、基板に対して水平方向の電界をより強
くし、またその均一性を高くすることができる。
は、厚ければ厚いほど液晶層内における水平方向の電界
を強める効果が大きくなり表示品質、特にコントラスト
が改善されることが実験的に確かめられている。これは
図9(a)、(b)に示すように、とくに画素周辺部に
おいて水平方向成分の電界が均一に形成されることによ
っている。その改善効果を図10に示す。
の厚さと、コントラストとの関係を示すグラフである。
3の駆動用電極4の厚みが液晶層の厚みの3分の1程度
以上にした場合に顕著になり、液晶層と同じ厚さ、つま
りセルギャップと同じにしたときに最も大きくなる。し
かし、セルギャップと同じ厚みにした場合、第1の駆動
用電極5との電気的接触を防ぐために第3の駆動用電極
4の表面に絶縁層(図示せず)を形成する必要が生じた
り、またこのような厚い第3の駆動用電極4を作る工程
自身が困難であること、加えてパネル形成後に液晶をパ
ネル内に注入することが著しく難しくなったりするとい
う欠点が生じる。よって、製造工程および表示品質の改
善効果の双方を考えた場合、液晶層の厚さ(セルの厚
さ)の3分の1から3分の2程度の厚みに補助電極を設
定するのが望ましい。
る第3の駆動用電極4を形成する方法としては、例えば
所定の厚みに製膜したTaやSi、Crなどの金属膜を
フォトリソ法でパターニングして形成しても良いし、ま
たは金属ペーストなどを用いる方法も可能である。
示したそれぞれの電極構造を組合せることも当然可能で
ある。例えば図8において、最も外側に配置される第3
の駆動用電極4(補助電極)の厚さのみを、図9
(a)、(b)に示した構成のように厚くすることがで
きる。
電極3を取り囲むように第3の駆動用電極4を環状に配
置したが、その配置の仕方についてもこの限りではな
い。例えば、第3の駆動用電極4と第2の駆動用電極3
とを交互に並列に配置してもよい。すなわち、駆動用電
極を環状に配置にすると、第1の配向状態の時に液晶分
子が傾く方向が単位画素に対して比較的等方的になるた
め、表示特性の角度依存性は改善される。しかし一方
で、電気光学装置100を正面方向から見たときのコン
トラストが低下するなどの不具合も生じる。
が重要になるような用途に対して、本発明の電気光学装
置100を使う場合には、例えば図11に示すような上
下の2個所に分割して補助電極を配置するような方法が
有効となる。こうすることにより、第1の配向状態にお
ける液晶分子の向きを一方向(図11に示す例では、図
11に向かって上下方向となる)に揃えることができる
ので、偏光板、位相差フィルムを含む適切な光学設計に
より、正面方向での高いコントラストを得ることができ
る。
の形態2に係る電気光学装置の基本的な構成を模式的に
示す等価回路図である。
置100も、アクティブマトリクス型の液晶装置であ
り、詳しくは後述するように、対向基板(第1の基板)
とアクティブマトリクス基板(第2の基板)との間で、
電気光学物質としての液晶を駆動する。この電気光学装
置100では、マトリクス状に形成された複数の画素の
各々に、第1の画素スイッチング素子30aと、第2の
画素スイッチング素子30bとが形成されている。
0bのうち、第1の画素スイッチング素子30aのソー
スには、画像信号S1A、S2A・・・が供給される第
1のデータ線21aが電気的に接続されている。また、
第1の画素スイッチング素子30aのゲートには、走査
線20が電気的に接続され、所定のタイミングで、走査
線20にパルス的に走査信号G1、G2・・・をこの順
に線順次で印加するように構成されている。
のソースには、画像信号S1B、S2B・・・が供給さ
れる第2のデータ線21bが電気的に接続されている。
また、第2の画素スイッチング素子30bのゲートに
は、第1の画素スイッチング素子30aと共通の走査線
20が電気的に接続されている。
には、対向基板において各画素間で等電位に保持された
第1の駆動用電極5(共通電極)と、アクティブマトリ
クス基板1aにおいて画素スイッチング素子30aのド
レインに電気的に接続する第2の駆動用電極3(第1の
制御電極)との間に液晶容量50が形成されている。
等価回路的には、第1の画素スイッチング素子30aの
ドレインに電気的に接続する第2の駆動用電極3と、第
2の画素スイッチング素子30bのドレインに電気的に
接続する第3の駆動用電極4(第2の制御電極)との間
にも液晶容量50が形成されているものとして表わすこ
とができる。この第3の駆動用電極4もアクティブマト
リクス基板の側に形成されている。
は、等価回路的には、対向基板において各画素間で等電
位に保持された第1の駆動用電極5(共通電極)と、第
2の画素スイッチング素子30bのドレインに電気的に
接続する第3の駆動用電極4との間にも液晶容量50が
形成されているものとして表わすことができる。
1において、液晶容量50には、画素スイッチング素子
30aを介して印加される画像信号S1A、S2A・・
・と、画素スイッチング素子30bを介して印加される
画像信号S1B、S2B・・・との電位差によっては、
第1の駆動用電極5と第2の駆動用電極3との間、第2
の駆動用電極3と第3の駆動用電極4との間、および第
1の駆動用電極5と第3の駆動用電極4との間のいずれ
で液晶が駆動されるかが切り換わるので、図12におい
て、液晶容量50は、3つのキャパシタC1、C2、C
3で表わしてある。実際の液晶装置においては、C1、
C2、C3は別々の液晶ではなく、単位画素内に含まれ
る同一部分の液晶である。ここでの説明は、画素内の電
界状態によって、液晶が上記に示すような容量として作
用することを示すものである。
は、本発明の実施の形態2に係る電気光学装置の一例を
そのアクティブマトリクス基板上に形成された各構成要
素と共に対向基板の側から見た平面図であり、図13
(b)は、図13(a)のH−H′断面図である。図1
4(a)は、第2の駆動用電極および第3の駆動用電極
が形成されている基板の単位画素の概略平面図、図14
(b)は図14(a)のC−C′断面図である。なお、
各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程
度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異なら
しめてある。また、保持された画像信号がリークするの
を防ぐために、液晶容量と並列に蓄積容量を付加するこ
とがあるが、本発明の特徴点を明確に図示することを目
的に、図14には蓄積容量の図示を省略してある。
電気光学装置100は、画素ピッチが20μm以下の液
晶装置であり、ガラス基板1a′などを用いたアクティ
ブマトリクス基板1aと、このアクティブマトリクス基
板1aに対向するように配置されたガラス基板1b′な
どからなる対向基板1bとが、シール材6によって所定
の間隙を介して張り合わされているとともに、これらの
基板間には、正または負の誘電率異方性を持つネマティ
ック液晶10が挟持されている。また、アクティブマト
リクス基板1aでは、基板辺に沿って多数の接続端子
(図示せず)が形成され、これらの接続端子には、液晶
駆動回路からの電気信号をアクティブマトリクス基板1
aに供給するためのフレキシブル基板11が接続されて
いる。
側表面(アクティブマトリクス基板1aと対向する面
側)には、カラーフィルター8と、共通電極としての第
1の駆動用電極5がこの順に積層されている。第1の駆
動用電極5は、ITO(Indium Oxide)等
の透明電極として、対向基板1bの略全面に形成されて
いる。また、対向基板1bの外側表面上には、位相差フ
ィルム7と偏光板2bが積層されて形成されている。な
お、従来の液晶装置と違って、対向基板1bの内側表面
には配向膜が形成されていない。
(対向基板1bと対向する面側)上には、第1の制御電
極としての第2の駆動用電極3と、第2の制御電極とし
ての第3の駆動用電極4が形成され、さらに、後述する
TFTやMOSFETなどからなるスイッチング素子、
および各種の信号線(図示せず)が形成されている。こ
こで、第2の駆動用電極3および第3の駆動用電極4に
は、アルミニウム等からなる反射性の電極が用いられて
いる。また、アクティブマトリクス基板1aの外側表面
上には、対向基板1bに反射面を向ける反射板2cが配
設されている。なお、従来の液晶装置と違って、アクテ
ィブマトリクス板1aの内側表面には配向膜が形成され
ていない。
極表面などにはサブミクロン以下の規則性を有する凹凸
などができないように、もしくは液晶の配向に影響を与
えるような極性基が表面上に存在しないような処理を施
すのが良い。例えば、液晶の配向に影響を与えるような
サブミクロンサイズの細かな凹凸などが存在すると、そ
れらは液晶に小さいながらも配向規制力を与えるきっか
けとなり、電界による液晶配列が複雑になるだけでな
く、その均一性も損なわれるからである。
おいて、アクティブマトリクス基板1aでは、ポリシリ
コン等からなる走査線20と、アルミニウム等からなる
2本のデータ線21a、21bが交差するように格子状
に配設され、これらの配線で囲まれた領域内で、第3の
駆動用電極4と第2の駆動用電極3とは、交互に並列に
配置されている。第2の駆動用電極3は、先述の第1の
画素スイッチング素子30aを介してデータ線21aに
接続され、第3の駆動用電極4は、先述の第2の画素ス
イッチング素子30bを介してデータ線21bに接続さ
れている。本形態において、画素スイッチング素子30
a、30bはそれぞれ、データ線21の一部としてのソ
ース電極、走査線の一部としてのゲート電極、ドレイン
電極201を備えている。このため、ソース電極はデー
タ線21a、21bに接続され、ゲート電極は走査線2
0に接続され、ドレイン電極201は第2の駆動用電極
3および第3の駆動電極4に接続されている。
電極4とは一定の間隔を以って離間されており、また、
第3の駆動用電極4と画素スイッチング素子30を構成
する各電極および各配線との間は、図14(b)に示す
ように、層間絶縁膜23などによって絶縁されている。
15は、ガラス基板を用いたアクティブマトリクス基板
1aの図14のD−D′における断面図であり、この構
成例に基づきアクティブマトリクス基板1aの内側表面
上に形成される第2の駆動用電極3、第3の駆動用電極
4、および画素スイッチング素子30a、30bについ
て詳述する。ここに示す例において、画素スイッチング
素子30a、30bは、薄膜トランジスタにより構成さ
れる。
aにおいて、1a′は、例えば無アルカリガラスや石英
などからなる透明なガラス基板であり、300は、アク
ティブマトリクス基板1a表面に直接、あるいはガラス
基板1a′の表面に形成した下地保護膜(図示せず)を
介して表面に減圧CVD法などにより形成されたポリシ
リコンからなる半導体膜である。半導体膜300は、厚
さは約20nm〜約200nm、好ましくは約100n
mである。
より、厚さが約50nm〜約150nmのシリコン酸化
膜からなるゲート酸化膜22が形成されている。
などからなる走査線20が通っており、この走査線20
をマスクとして、約0.1×1013/cm2〜約10×
101 3/cm2のドーズ量で低濃度の不純物イオン(リ
ンイオン)の打ち込みが行われ、走査線20に対して自
己整合的に低濃度のソース領域、および低濃度のドレイ
ン領域を形成した後、走査線20より幅の広いレジスト
マスクを形成して高濃度の不純物イオン(リンイオン)
を打ち込み、高濃度のソース領域301およびドレイン
領域302が形成される。ここで、走査線20の真下に
位置しているため不純物イオンが導入されなかった部分
は、もとの半導体膜のままチャネル領域20bとなる。
より形成された酸化シリコン膜やNSG膜(ボロンやリ
ンを含まないシリケートガラス膜)などからなる第1の
層間絶縁膜23が形成され、この第1の層間絶縁膜23
は、膜厚が300nm〜1500nm程度である。
層間絶縁膜23のコンタクトホールを介してソース領域
301およびドレイン領域302に電気的に接続するデ
ータ線21a、21b、およびドレイン電極201とが
形成されており、これらのデータ線21a、21bおよ
びドレイン電極201はアルミニウム等で構成される。
極201の表面側に、ペルヒドロポリシラザンまたはこ
れを含む組成物の塗布膜を焼成した絶縁膜24aが形成
され、さらに、この絶縁膜24aの表面には、シリコン
酸化膜からなる絶縁膜24bが形成されている。これら
の絶縁膜24a、24bによって、第2の層間絶縁膜2
4が形成されている。
1に対応する部分には、コンタクトホールを介して厚さ
が約40nm〜約200nmのアルミニウム膜からなる
第2の駆動用電極3および第3の駆動用電極4がそれぞ
れ電気的に接続している。ここで、第2の駆動用電極3
と第3の駆動用電極4は一定の間隔を以って絶縁されて
いる。
体膜300においてドレイン側に延設した部分に対し
て、ゲート酸化膜22を介して対峙するように容量線2
9を形成すればよい。
例)これ以外の構成を図16に説明する。図16は、本
発明を適用した反射型電気光学装置において、シリコン
基板を用いたアクティブマトリクス基板1aの断面構成
を示す図であり、図15に対応する部分の断面図であ
る。なお、図16はマトリクス状に配置されている画素
のうち一画素部分の断面を示す。ここに示す例におい
て、画素スイッチング素子30a、30bは、MOSF
ETにより構成される。
aにおいて、1a″は単結晶シリコンのようなP型半導
体基板、102はこの半導体基板1a″の表面に形成さ
れたP型ウェル領域、103は半導体基板1a″の表面
に形成された素子分離用のフィールド酸化膜(いわゆる
LOCOS)である。ウェル領域102は、特に限定さ
れないが、マトシクス状に画素が配置されてなる画素領
域の共通ウェル領域として形成されている。上記フィー
ルド酸化膜103は選択熱酸化によって500nm〜7
00nmのような厚さに形成される。
とに複数の開口部が形成され、開口部の内側中央にはゲ
ート酸化膜(絶縁膜)104bを介してポリシリコンあ
るいはメタルシリサイド等からなる走査線20が形成さ
れている。この走査線20の両側の基板表面には高不純
物濃度のN型不純物導入層(以下、ドーピング層とい
う)からなるソース、ドレイン領域301、302が形
成され、画素スイッチング素子30a、30bとしての
MOSFETが構成されている。走査線20は走査線方
向(画素行方向)に延在されている。
た他の開口部の内側の基板表面にはP型ドーピング領域
108が形成されているとともに、このP型ドーピング
領域108の表面には絶縁膜109bを介してポリシリ
コンあるいはメタルシリサイド等からなる電極109a
が形成されている。この電極109aとP型ドーピング
領域108とを利用して蓄積容量が構成されている。
線20となるポリシリコンあるいはメタルシリサイド層
と同一工程にて形成できる。また、電極109aの下の
絶縁膜109bはゲート絶縁膜104bとなる絶縁膜と
同一工程にて形成することができる。
て上記開口部の内側において半導体基板表面に400〜
80nmのような厚さに形成される。データ線21a、
21bおよび電極109aは、ポリシリコン層を100
nm〜200nmのような厚さに形成し、その上にMo
あるいはWのような高融点金属のシリサイド層を100
nm〜300nmのような厚さに形成した構造とされて
いる。ソース、ドレイン領域301、302は、走査線
20をマスクとしてその両側の基板表面にN型不純物を
イオン打ち込みで注入することで自己整合的に形成され
る。
9aからフィールド酸化膜103上にかけては第1の層
間絶縁膜106が形成されている。この第1の絶縁膜1
06上には、MOSFETのドレイン領域302と蓄積
容量の電極109aとを接続するとともに、MOSFE
Tのドレイン領域302と第2の駆動用電極3および第
3の駆動用電極4とをそれぞれ接続するアルミニウム膜
からなるドレイン電極107bが形成されている。
極107bから層間絶縁膜106上にかけては第2の層
間絶縁膜111が形成され、この第2の層間絶縁膜11
1上にはアルミニウムを主体とする二層目のメタル層1
12からなる遮光膜が形成されている。この遮光膜を構
成する二層目のメタル層112は、画素領域の周囲に形
成される駆動回路等の周辺回路において素子間の接続用
配線を構成するメタル層と同一のメタル層で形成するこ
とができる。従って、本形態でも、メタル層112のみ
を形成するために工程を追加する必要がなく、プロセス
が簡略化される。また、メタル層112は、ドレイン電
極107bに対応する位置に、第2の駆動用電極3と画
素スイッチング素子30a、30bとしてのMOSFE
Tを電気的に接続するための柱状の接続プラグ115を
貫通させるための開口部が形成され、それ以外は画素領
域全面を覆うように形成される。これによって、基板上
方から入射する光をほぼ完全に遮断して画素スイッチン
グ素子30a、30B(チャネル領域およびウェル領
域)を光が通過してリーク電流が流れるのを防止するこ
とができる。
上に第3の層間絶縁膜113が形成され、この第3の層
間絶縁膜113の上に、第2の駆動用電極3および第3
の駆動用電極4が形成されている。これらの第2の駆動
用電極3および第3の駆動用電極4はアルミニウムを主
体としたメタル層で構成されている。そして、遮光膜1
12に形成された開口部に対応してその内側に位置する
ように、第3の層間絶縁膜113および第2の層間絶縁
膜111を貫通するコンタクトホール116が設けられ
ており、このコンタクトホール116内にドレイン電極
107bと第2の駆動用電極3および第3の駆動用電極
4とを電気的に接続するタングステン等の高融点金属か
らなる柱状の接続プラグ115が充填されている。
駆動用電極3および第3の駆動用電極4は、対向基板1
bに反射面を向けた反射手段を兼ねた電極である。ま
た、アクティブマトリクス基板1aの外側表面に偏光板
が不要である点が透過型電気光学装置と異なっている。
図7を参照して、本形態の電気光学装置の基本となる制
御方法および制御状態、表示方式について説明する。
5、第2の駆動用電極3および第3の駆動用電極4に印
加する電圧をそれぞれVc、Vd、Vsとする。ここ
で、Vcは一定電圧になっている一方、Vd、Vsには
前述したTFTやMOSFET等のスイッチング素子3
0a、30bを介して印加される信号SA1、SA2・
・・SB1、SB2・・・によって電位が変えられるよ
うになっている。
は、棒状の駆動用電極3と駆動用電極4が交互に並列配
置された形状になっているが、基本動作については、図
6、図7に示すような環状電極の場合と同一である。た
だし電界E1の向きが、電極の配置方向に一様に向く構
造となる点が異なる。
の駆動用電極4から第2の駆動用電極3および第1の駆
動用電極5に向かって、またはその逆向きに電界E1が
発生する。例えば、正の誘電率異方性を持つネマティッ
ク液晶の場合、分子の長軸がこの電気力線に沿って配列
する(第1の配向状態)。
の駆動用電極3および第3の駆動用電極4から第1の駆
動用電極5に向かって電界E2が発生する。第一の状態
とは異なり液晶分子の長軸はこの電気力線に沿って配列
する(第2の配向状態)。
的なネマティック液晶を用いた場合には、Vcを基準電
位(0V)に設定し、Vd、Vsの大きさをそれぞれ±
2.5Vの間で制御することによりアナログ式に階調駆
動を行うことができる。
向状態での電界の強さが第2の電極と第3の電極の間の
電位差、Vd−Vsによって決まるのに対し、図7
(b)のような第2の配向状態での電界の強さは第1の
電極と第2、第3の電極の間の電位差、Vc−Vd(ま
たはVc−Vs)によって決まる。よって、上記に説明
したようにVcをVdとVsの中間電位に設定した場合
には、第1の配向状態での電界の強さを第2の配向状態
における電界の強さよりも大きくすることができる。こ
のように、本実施形態の場合には、実施の形態1に比べ
て、図7(a)に示す第1の状態の電界を強く出来ると
いう特徴がある。また、Vd、Vsの電圧の極性を、第
1の駆動用電極5の電位Vcに対して、走査線毎、また
はフレーム毎に反転させることで、ライン反転、フレー
ム反転などの駆動も容易に実現できるという特徴もあ
る。
は、電界の保持が不充分な場合、フリッカーの発生など
の表示上の問題点が発生したが、本実施の形態にあるよ
うな構成では、スイッチング素子につながる駆動用電極
3、駆動用電極4の2つの電極の保持特性がほぼ同等な
らば、たとえ電荷がリークしても電界の方向が変化しな
いので、液晶の配向が大きく乱れることもなく、よって
フリッカーも発生しない。
および第3の駆動用電極4のそれぞれに信号入力が可能
であるため、以下の駆動方式を採用できる。すなわち、
Vcとして0Vを準備するとともに、Vd用およびVs
用として±Vselを準備し、最初の1フレーム目にお
いてVd≠Vsに設定するときには、VdおよびVsと
してそれぞれ+Vselおよび−Vselを用い、次の
フレームにおいてVd≠Vsに設定するときには、Vd
用およびVs用としてそれぞれ+Vselおよび−Vs
elを使用する。このとき、Vd≠Vsに設定したパル
ス幅と、Vd=Vsに設定したパルス幅の比を変えてP
WM駆動を行えば、たとえば、1水平走査ライン毎に極
性を1フィールド毎に反転させることができる。
る電気光学装置100を備えた電子機器について説明す
る。
発明に係る透過型の電気光学装置をライトバルブとして
備えた液晶プロジェクタの要部を平面的に見た概略構成
図である。本発明の電気光学装置は画素の大きさが小さ
く、画素密度が非常に高い電気光学装置にたいして特に
有効なので、液晶プロジェクタに搭載されるライトバル
ブに用いられることで特に効果を発揮することができ
る。
を使った場合のプロジェクタは、光源部1010と、ダ
イクロイックミラー1040と、反射ミラー1050
と、リレーレンズ1060と、本発明の電気光学装置か
らなる反射型液晶ライトバルブ1070と、クロスダイ
クロイックプリズム1080と、投射レンズからなる投
射光学系1090とで概略構成されている。
プ1020とランプの光を反射するリフレクタ1030
とからなる。
うち青色光と緑色光が第1のダイクロイックミラー10
40aで反射される。一方、赤色光はダイクロイックミ
ラー1040aを透過し、反射ミラー1050cで反射
されて、赤色光用液晶ライトバルブ1070Rに入射す
る。
て反射された色光のうち緑色光が第2のダイクロイック
ミラー1040bで反射され、緑色光用液晶ライトバル
ブ1070Gに入射する。
0bも透過した青色光は、反射ミラー1050a、10
50bで反射されて、青色光用液晶ライトバルブ107
0Bに入射する。このとき、青色光に対しては、長い光
路による光損失を防ぐため、入射レンズ1060a、リ
レーレンズ1060b、出射レンズ1060cを含むリ
レーレンズ系からなる導光手段1065が設けられてい
る。
光はクロスダイクロイックプリズム1080に入射す
る。このプリズムは、4つの直角プリズムが貼り合わさ
れ、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光
を反射する誘電体多層膜とが十字状に形成されている。
これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成され
て、カラー画像を表す光が形成される。合成された光
は、投射光学系である投射レンズ1090によってスク
リーン1095上に投射され、画像が拡大されて表示さ
れる。
テグレータレンズ系を用いているような投射装置の場
合、電気光学装置に入射する光は平行ではなく、発散成
分を多く含んだ光束となりやすい。このとき電気光学装
置にはさまざまな角度から光が入射するので、コントラ
ストを上げるためには、表示特性の角度依存性を小さく
することが重要である。そのため先に説明した表示特性
の角度依存性を小さくできる電気光学装置を用いること
は非常に有効な手段となる。
本発明にかかる反射型電気光学装置をライトバルブとし
て備えた液晶プロジェクタの要部を平面的に見た概略構
成図である。
を使った場合のプロジェクタは、偏光照明装置1100
と、偏光ビームスプリッタ1140と、ダイクロイック
ミラー1160と、本発明の電気光学装置からなる反射
型液晶ライトバルブ1170と、投射レンズからなる投
射光学系1180とで概略構成されている。
偏光光束は、インテグレータレンズ1120により複数
の中間光束に分割された後、第2のインテグレータレン
ズを光入射側に有する偏光変換素子1130により偏光
方向がほぼ揃った一種類の偏光光束(S偏光光束)に変
換されてから偏光ビームスプリッタ1140に至るよう
になっている。偏光変換素子1130から出射されたS
偏光光束は、偏光ビームスプリッタ1140のS偏光光
束反射面1150によって反射され、反射された光束の
うち、青色光(B)の光束がダイクロイックミラー11
60aの青色光反射層にて反射され、反射型液晶ライト
バルブ1170Bによって変調される。また、ダイクロ
イックミラー1160aの青色光反射層を透過した光束
のうち、赤色光(R)の光束はダイクロイックミラー1
160bの赤色光反射層にて反射され、反射型液晶ライ
トバルブ1170Rによって変調される。
赤色光反射層を透過した緑色光(G)の光束は反射型液
晶ライトバルブ1170Gによって変調される。このよ
うにして、それぞれの反射型液晶ライトバルブ1170
R、1170G、1170Bによって変調された光束は
ダイクロイックミラー1160a、1160bによって
合成され、ライトバルブで変調を受け偏光方向が変化し
た光束成分のみが偏光ビームスプリッタ1140を投射
レンズ方向に透過し、スクリーン1190に投射され
る。
明にかかる透過型電気光学装置と凹面鏡を備えた頭部搭
載型ディスプレイ(HMD:Head Mount D
isplay)の要部を平面的に見た概略構成図であ
る。
源2040と、本発明にかかる電気光学装置2010
と、ハーフミラー2020と、凹面鏡2030とで概略
構成される。
学装置2010により透過または吸収の制御を受けた
後、ハーフミラー2020により反射され、凹面鏡20
30に到達する。観察者はこの凹面鏡2030に映し出
された映像をハーフミラー2020を介して直視するこ
とができる構造となっている。
は、搭載される電気光学装置も当然小型のものに限られ
画素ピッチも必然的に小さくなるため、補助電極を用い
て画素周辺の電界を積極的に利用する本発明を適用する
と効果的である。
本的な構成を模式的に示す等価回路図である。
のアクティブマトリクス基板上に形成された各構成要素
と共に対向基板の側から見た平面図であり、(b)は、
図2(a)のH−H′断面図である。
における各駆動用電極の位置関係などを示す平面図、
(b)は、図3(a)のA−A′断面を模式的に示す説
明図である。
形成したアクティブマトリクス基板の断面構成を示す図
であり、図4に対応する部分の断面図である。
極構造を示す平面図である。
態(第1の配向状態)および第2の制御状態(第2の配
向状態)を示す断面図である。
の電極構造を示す平面図である。
らに別の電極構造(立体的な補助電極)における制御状
態を表す断面図である。
用電極の厚さとコントラストの関係を示すグラフであ
る。
さらに別の電極構造を示す平面図である。
基本的な構成を模式的に示す等価回路図である。
をそのアクティブマトリクス基板上に形成された各構成
要素と共に対向基板の側から見た平面図であり、(b)
は、図13(a)のH−H′断面図である。
画素における各駆動用電極の位置関係などを示す平面
図、(b)は、図14(a)のC−C′断面を模式的に
示す説明図である。
極を形成したアクティブマトリクス基板の断面構成を示
す図であり、図15に対応する部分の断面図である。
ルブとして備えた液晶プロジェクタの概略構成図であ
る。
ルブとして備えた液晶プロジェクタの概略構成図であ
る。
のHMDの概略構成図である。
Claims (19)
- 【請求項1】 第1の基板と第2の基板との間に電気光
学物質が挟持されてなり、前記第1の基板および前記第
2の基板には前記電気光学物質を第1の配向状態と該第
1の配向状態とは異なる第2の配向状態とに制御するた
めの電極群が形成されてなる電気光学装置において、 前記電極群には、単位画素あたり、少なくとも前記第1
の基板において前記第2の基板と対向する側の表面に形
成された第1の駆動用電極と、 前記第2の基板において前記第1の基板と対向する側の
表面に前記第1の駆動用電極と対向して形成された第2
の駆動用電極と、 前記第2の基板において前記第1の基板と対向する側の
表面に前記第2の駆動用電極と絶縁されて形成された第
3の駆動用電極とが含まれていることを特徴とする電気
光学装置。 - 【請求項2】 請求項1において、前記の各電極に印加
される信号に基づいて前記電気光学物質が前記第1の配
向状態と前記第2の配向状態とに制御されることを特徴
とする電気光学装置。 - 【請求項3】 請求項1または2において、前記電気光
学物質は液晶であることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項4】 請求項1または2において、前記液晶
は、正または負の誘電率異方性を持つネマティック液晶
であり、 該ネマチティック液晶の屈性率異方性を利用して光の透
過状態を制御することを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項5】 請求項3または4において、前記第1の
基板および前記第2の基板は、前記電気光学物質に電界
が印加されていない状態で各基板表面が前記液晶に配向
規制力を発生しない表面状態を有していることを特徴と
する電気光学装置。 - 【請求項6】 請求項3ないし5のいずれかにおいて、
前記第2の駆動用電極および前記第3の駆動用電極に印
加される電圧をそれぞれVd、Vsとしたとき、Vd、
Vsが下式 Vd≠Vs を満たす関係にあるときには前記電気光学物質は第1の
配向状態に制御され、 Vd、Vsが下式 Vd=Vs を満たす関係にあるときには前記電気光学物質は前記第
2の配向状態に制御されることを特徴とする電気光学装
置。 - 【請求項7】 請求項3ないし5のいずれかにおいて、
前記第1の駆動用電極、前記第2の駆動用電極および前
記第3の駆動用電極に印加される電圧をそれぞれVc、
Vd、Vsとしたとき、Vc、Vd、Vsが下式 Vd=Vc≠Vs を満たす関係にあるときには、前記液晶の分子が前記基
板面と略平行な第1の配向状態に制御され、 Vc、Vd、Vsが下式 Vd=Vs≠Vc を満たす関係にあるときには、前記液晶の分子が基板面
に対してほぼ垂直方向となる前記第2の配向状態に制御
されることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項8】 請求項1ないし7のいずれかにおいて、
前記第3の駆動用電極は、前記単位画素内で前記第2の
駆動用電極の周囲を囲むように形成されていることを特
徴とする電気光学装置。 - 【請求項9】 請求項1ないし8のいずれかにおいて、
前記第2の駆動用電極と前記第3の駆動用電極は、前記
単位画素内で交互に並列配置されていることを特徴とす
る電気光学装置。 - 【請求項10】 請求項1ないし8のいずれかにおい
て、前記第2の駆動用電極および前記第3の駆動用電極
は、前記単位画素内で複数に分割されていることを特徴
とする電気光学装置。 - 【請求項11】 請求項1ないし10のいずれかにおい
て、前記第3の駆動用電極、または該第3の駆動用電極
の一部は、前記電気光学物質の層の厚さの3分の1以上
の厚さを有することを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項12】 請求項1ないし11のいずれかにおい
て、前記第2の駆動用電極は、前記単位画素の各々に形
成されたスイッチング素子を介して信号が供給されるこ
とを特徴とすることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項13】 請求項1ないし11のいずれかにおい
て、前記第2の駆動用電極は、前記単位画素の各々に形
成された第1のスイッチング素子を介して信号が供給さ
れ、前記第3の駆動用電極は、前記単位画素の各々に形
成された第2のスイッチング素子を介して信号が供給さ
れることを特徴とすることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項14】 請求項12または13において、前記
第2の駆動用電極および前記第3の駆動用電極の両方、
または少なくともその一方は、前記スイッチング素子と
該スイッチング素子に接続する配線の全体、または少な
くとも一部を絶縁膜を介して覆うように形成されている
ことを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項15】 請求項12ないし14のいずれかにお
いて、前記スイッチング素子は、薄膜トランジスタであ
ることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項16】 請求項1ないし15のいずれかにおい
て、前記第1の基板および前記第2の基板のうち、少な
くとも光が入射してくる一方の基板に対して偏光手段が
配置されてなり、当該一方の基板と前記偏光手段との間
に少なくとも1枚の位相差フィルムが配置されているこ
とを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項17】 請求項1ないし16のいずれかにおい
て、前記第1の基板および前記第2の基板のうち、少な
くとも光が入射してくる一方の基板と対向する他方側の
基板には、前記一方の基板の方に反射面を向ける反射手
段が形成されてなることを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項18】 請求項1ないし17のいずれかにおい
て、前記第1の基板および前記第2の基板のいずれか一
方の基板にカラーフィルタ層が形成されてなることを特
徴とする電気光学装置。 - 【請求項19】 請求項1ないし18のいずれかに記載
の電気光学装置を備えてなることを特徴とする電子機
器。
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| JP2013011913A (ja) * | 2012-10-18 | 2013-01-17 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示装置 |
| CN115337091A (zh) * | 2022-10-19 | 2022-11-15 | 成都美创医疗科技股份有限公司 | 一种低温等离子体电极组件、手术内切刀及手术系统 |
-
2000
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