JP2000332064A - 微細配線テープキャリアの製造方法 - Google Patents

微細配線テープキャリアの製造方法

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JP2000332064A
JP2000332064A JP11142594A JP14259499A JP2000332064A JP 2000332064 A JP2000332064 A JP 2000332064A JP 11142594 A JP11142594 A JP 11142594A JP 14259499 A JP14259499 A JP 14259499A JP 2000332064 A JP2000332064 A JP 2000332064A
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JP
Japan
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plating
electroless tin
tin plating
metal wiring
fine metal
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JP11142594A
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Inventor
Eiichi Nakajima
栄一 中島
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Shindo Denshi Kogyo KK
Original Assignee
Shindo Denshi Kogyo KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ソルダーレジスト際の腐食を防止して、微細
配線パターンであってもIC接合時等の作業工程で断線
が発生することがない、微細配線テープキャリアを簡単
に製造できるようにする。 【解決手段】 微細金属配線7aに無電解錫メッキ12
を薄く施す第一次メッキ工程と、その微細金属配線7a
上の所要部分にソルダーレジスト10を印刷するレジス
ト印刷工程と、微細金属配線7aの無電解錫メッキ12
上に無電解錫メッキ13を施す第二次メッキ工程とを有
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、IC等のデバイ
スを実装し、電子回路機器や電子回路基板や液晶表示装
置などに搭載されるTAB(Tape Automated Bonding)
用テープキャリアに関する。特に、金属配線に無電解錫
メッキを施した配線ピッチが60μm以下の微細配線テ
ープキャリアの製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のテープキャリアは、図1
に示すような工程により製造していた。
【0003】図1の(A)に示すように、ポリイミドフ
ィルム1の表面に接着剤2を塗布したテープ状ベースフ
ィルム3を用い、これに、(B)に示すようにパーホレ
ーション4とデバイス孔5とパッケージ外周孔6をパン
チングした後、(C)に示すように接着剤2上に銅箔7
をラミネートする。
【0004】次に、(D)に示すように、銅箔7上にフ
ォトレジスト8をコーティングしておいてから、(E)
に示すようにパターン部の露光と現像を行う。
【0005】次いで、(F)に示すように、デバイス孔
5においてバックコーティング9をしてから、パターン
のエッチングをする。その後、(G)に示すようにフォ
トレジスト8およびバックコーティング9を剥離する。
【0006】次に、(H)に示すように、銅箔7による
配線パターン7aの所要部分にソルダーレジスト10を
印刷した後、(I)に示すように、配線パターン7aの
その他の部分に無電解錫メッキ11を施す。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、電子
機器のダウンサイジングやコストダウン等の要請がます
ます高まっている。これらの要請に応えるために、配線
ピッチが60μm以下の微細配線テープキャリアが開発
されているが、導体があまりにも細くなったため、強度
が弱くなっている。
【0008】このような条件の導体上にソルダーレジス
トを塗布し、その後に上記のように無電解錫メッキを施
すと、ソルダーレジストの際が更に腐食されて細くな
り、IC接合時等の作業工程で断線が発生する問題があ
った。
【0009】そこで、この発明の目的は、ソルダーレジ
スト際の腐食を防止して、微細配線パターンであっても
IC接合時等の作業工程で断線が発生することがない、
微細配線テープキャリアを簡単に製造できるようにする
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】そのため、この発明によ
る方法は、微細金属配線7aに無電解錫メッキ12を薄
く施す第一次メッキ工程と、その微細金属配線7a上の
所要部分にソルダーレジスト10を印刷するレジスト印
刷工程と、微細金属配線7aの無電解錫メッキ12上に
無電解錫メッキ13を施す第二次メッキ工程とを有す
る。
【0011】第一次メッキ工程の無電解錫メッキは、予
め決められた最終規格メッキ厚さの50%未満の厚さと
するのが好ましい。
【0012】第二次メッキ工程の無電解錫メッキは、ソ
ルダーレジスト印刷していない微細金属配線部分に行
う。
【0013】
【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の形態を図
面を参照して説明する。
【0014】図2に、この発明による製造方法を工程順
に示す。同図の(A)に示すように、この発明でも、ポ
リイミドフィルム1の表面に接着剤2を塗布したテープ
状ベースフィルム3を用いる。これに、(B)に示すよ
うにパーホレーション4とデバイス孔5とパッケージ外
周孔6をパンチングした後、(C)に示すように接着剤
2上に銅箔7をラミネートする。
【0015】次に、(D)に示すように、銅箔7上にフ
ォトレジスト8をコーティングしておいてから、(E)
に示すようにパターン部の露光と現像を行う。
【0016】次いで、(F)に示すように、デバイス孔
5においてバックコーティング9をしてから、パターン
のエッチングをする。その後、(G)に示すようにフォ
トレジスト8およびバックコーティング9を剥離する。
【0017】次に、(H)に示すように、銅箔7による
配線パターン(微細金属配線)7aに第1回目の無電解
錫メッキ12を施す。この場合の無電解錫メッキ12
は、予め決められた最終規格メッキ厚さの50%未満の
厚さとする。
【0018】次に、(I)に示すように、無電解錫メッ
キ12を施した配線パターン7aの所要部分にソルダー
レジスト10を印刷した後、(J)に示すように、配線
パターン7aのその他の部分に第2回目の無電解錫メッ
キ13を施す。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、この発明では、ソ
ルダーレジスト印刷する前に、微細金属配線に第1回目
の無電解錫メッキを薄く施してから、ソルダーレジスト
印刷を行い、その後に、第2回目の無電解錫メッキを施
すので、ソルダーレジスト際の腐食を防止でき、微細配
線パターンであってもIC接合時等の作業工程で断線が
発生することがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の製造方法の工程を(A)から(I)に分
けて示す断面図である
【図2】この発明による製造方法の工程を(A)から
(J)に分けて示す断面図である。 1 ポリイミドフィルム 2 接着剤 3 テープ状ベースフィルム 4 パーホレーション 5 デバイス孔 6 パッケージ外周孔 7 銅箔 7a 配線パターン 8 フォトレジスト 9 バックコーティング 10 ソルダーレジスト 12 無電解錫メッキ(第1回目) 13 無電解錫メッキ(第2回目)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 微細金属配線に無電解錫メッキを薄く施
    す第一次メッキ工程と、その微細金属配線上の所要部分
    にソルダーレジストを印刷するレジスト印刷工程と、微
    細金属配線の無電解錫メッキ上に無電解錫メッキを施す
    第二次メッキ工程とを含むことを特徴とする、微細配線
    テープキャリアの製造方法。
  2. 【請求項2】 第一次メッキ工程の無電解錫メッキは、
    予め決められた最終規格メッキ厚さの50%未満の厚さ
    とすることを特徴とする、請求項1に記載の微細配線テ
    ープキャリアの製造方法。
  3. 【請求項3】 第二次メッキ工程の無電解錫メッキは、
    ソルダーレジスト印刷していない微細金属配線部分に行
    うことを特徴とする、請求項1または2に記載の微細配
    線テープキャリアの製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003037353A (ja) * 2001-07-24 2003-02-07 Shindo Denshi Kogyo Kk フレキシブル回路基板およびその製造方法
JP2006339221A (ja) * 2005-05-31 2006-12-14 Toppan Printing Co Ltd 半導体実装用テープキャリアテープ及びその製造方法
JP2008010459A (ja) * 2006-06-27 2008-01-17 Toppan Printing Co Ltd Icチップ貼り合わせ用tcp及びそのtcpを用いたスタックトicパッケージ
CN113967772A (zh) * 2020-07-24 2022-01-25 深圳市振华微电子有限公司 一种竹节引线去金方法

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Effective date: 20060801