JP2000339212A - 不揮発性メモリのデータ変更方法 - Google Patents
不揮発性メモリのデータ変更方法Info
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- JP2000339212A JP2000339212A JP15292999A JP15292999A JP2000339212A JP 2000339212 A JP2000339212 A JP 2000339212A JP 15292999 A JP15292999 A JP 15292999A JP 15292999 A JP15292999 A JP 15292999A JP 2000339212 A JP2000339212 A JP 2000339212A
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- Japan
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- data
- nonvolatile memory
- rewritten
- memory
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 例えば装置出荷時の設定情報や、装置固有の
パラメータ等は1バイト又は1ワードというような単位
で書き込み・消去が必要であるため、電気的に1バイト
ずつ書き込み・消去が可能なEEPROM(Electrical
ly Erasable andProgrammable Read Only Memory)に記
憶されるのが一般的であった。 【解決手段】 書き換え命令とデータが入力ポート1か
ら来ると、プログラムは目的のアドレスを含むブロック
をフラッシュROM4から読み込み、CPU3を介して
バッファRAM2に退避のため書き込み、今、読み込ん
だフラッシュROM4内のブロックを消去する。次に、
バッファRAM2内の目的アドレスのデータを新しいデ
ータに書き換え、1ブロック分をまとめてフラッシュR
OM4に書き込む。すると、実際にはブロック全体を書
き換えているものの、見かけ上は書き換えるべきデータ
をバイト/ワード単位で書き換えたように見える。
パラメータ等は1バイト又は1ワードというような単位
で書き込み・消去が必要であるため、電気的に1バイト
ずつ書き込み・消去が可能なEEPROM(Electrical
ly Erasable andProgrammable Read Only Memory)に記
憶されるのが一般的であった。 【解決手段】 書き換え命令とデータが入力ポート1か
ら来ると、プログラムは目的のアドレスを含むブロック
をフラッシュROM4から読み込み、CPU3を介して
バッファRAM2に退避のため書き込み、今、読み込ん
だフラッシュROM4内のブロックを消去する。次に、
バッファRAM2内の目的アドレスのデータを新しいデ
ータに書き換え、1ブロック分をまとめてフラッシュR
OM4に書き込む。すると、実際にはブロック全体を書
き換えているものの、見かけ上は書き換えるべきデータ
をバイト/ワード単位で書き換えたように見える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電源を切っても内
容が保存される不揮発性メモリのデータ変更方法に関す
る。
容が保存される不揮発性メモリのデータ変更方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一度記憶したら電源を切っても内容が保
存される不揮発性メモリの一種としてフラッシュメモリ
(flash memory)が知られている。フラッシュメモリ
は、あるまとまった単位、例えば128バイトのブロッ
ク単位で消去されるか、あるいは全内容を一括消去さ
れ、1バイト又は1ワードずづ消去/書き込みができな
いため、ファームウェアとしてのプログラムを記憶して
いる機器組込用のROMとして使う場合は、プログラム
のバージョンアップという用途でしか書き込み機能が使
えない。
存される不揮発性メモリの一種としてフラッシュメモリ
(flash memory)が知られている。フラッシュメモリ
は、あるまとまった単位、例えば128バイトのブロッ
ク単位で消去されるか、あるいは全内容を一括消去さ
れ、1バイト又は1ワードずづ消去/書き込みができな
いため、ファームウェアとしてのプログラムを記憶して
いる機器組込用のROMとして使う場合は、プログラム
のバージョンアップという用途でしか書き込み機能が使
えない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記プログ
ラムの実行により所定の動作を行う装置では、例えば装
置出荷時の設定情報や、装置固有のパラメータ等の固有
のデータを保存する必要がある。これらの設定情報やデ
ータ等は1バイト又は1ワードというような単位で書き
込み・消去が必要であるため、電気的に1バイトずつ書
き込み・消去が可能なEEPROM(Electrically Era
sable and Programmable Read Only Memory)に記憶さ
れるのが一般的であった。装置に記憶部として上記フラ
ッシュROMの他、EEPROMをつけるのでは、回路
も複雑になり、基板面積も大きくなってしまう。
ラムの実行により所定の動作を行う装置では、例えば装
置出荷時の設定情報や、装置固有のパラメータ等の固有
のデータを保存する必要がある。これらの設定情報やデ
ータ等は1バイト又は1ワードというような単位で書き
込み・消去が必要であるため、電気的に1バイトずつ書
き込み・消去が可能なEEPROM(Electrically Era
sable and Programmable Read Only Memory)に記憶さ
れるのが一般的であった。装置に記憶部として上記フラ
ッシュROMの他、EEPROMをつけるのでは、回路
も複雑になり、基板面積も大きくなってしまう。
【0004】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、上記フラッシュROMのような不揮発性メモリ
に装置固有のデータを保存させることができ、装置が簡
略化できるデータ書き換え方法の提供を目的とする。
であり、上記フラッシュROMのような不揮発性メモリ
に装置固有のデータを保存させることができ、装置が簡
略化できるデータ書き換え方法の提供を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に係る不揮発性メ
モリのデータ変更方法は、上記課題を解決するために、
不揮発性メモリの書き換え対象箇所を含む少なくとも1
ブロックをバッファメモリに読み込む読み込み工程と、
上記読み込み工程でバッファメモリに読み込まれた少な
くとも1ブロックの内の必要箇所のみ書き換える書き換
え工程と、上記書き換え工程で必要箇所のみ書き換えら
れた少なくとも1ブロックを上記不揮発性メモリに戻す
工程とを備える。
モリのデータ変更方法は、上記課題を解決するために、
不揮発性メモリの書き換え対象箇所を含む少なくとも1
ブロックをバッファメモリに読み込む読み込み工程と、
上記読み込み工程でバッファメモリに読み込まれた少な
くとも1ブロックの内の必要箇所のみ書き換える書き換
え工程と、上記書き換え工程で必要箇所のみ書き換えら
れた少なくとも1ブロックを上記不揮発性メモリに戻す
工程とを備える。
【0006】すなわち、不揮発性メモリの書き換え対象
箇所を含む少なくとも1ブロックをバッファメモリに読
み込み、必要箇所のみ書き換えてから上記不揮発性メモ
リに戻す。
箇所を含む少なくとも1ブロックをバッファメモリに読
み込み、必要箇所のみ書き換えてから上記不揮発性メモ
リに戻す。
【0007】従来、機器組み込みのファームウェアのプ
ログラムメモリとしてフラッシュROMを使う場合、プ
ログラムのバージョンアップという用途でしか書き換え
機能が使われないが、フラッシュROMが持つブロック
単位での消去/書き込みと装置の持つバッファRAMを
利用して、EEPROMのようにバイト或いはワード単
位で装置固有のデータを保存することができる。
ログラムメモリとしてフラッシュROMを使う場合、プ
ログラムのバージョンアップという用途でしか書き換え
機能が使われないが、フラッシュROMが持つブロック
単位での消去/書き込みと装置の持つバッファRAMを
利用して、EEPROMのようにバイト或いはワード単
位で装置固有のデータを保存することができる。
【0008】また、プログラム的に書き換え禁止のブロ
ックを作っておき、そこに書き換えプログラムを用意し
ておくことで、他のプログラムROMを持たなくともフ
ラッシュROM自身で書き換えることが可能となる。
ックを作っておき、そこに書き換えプログラムを用意し
ておくことで、他のプログラムROMを持たなくともフ
ラッシュROM自身で書き換えることが可能となる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。この実施の形態は、プ
ログラムROMとして不揮発性メモリの一種であるフラ
ッシュROMを用いた図1に示すマイクロコンピュータ
を積んだ装置である。
て図面を参照しながら説明する。この実施の形態は、プ
ログラムROMとして不揮発性メモリの一種であるフラ
ッシュROMを用いた図1に示すマイクロコンピュータ
を積んだ装置である。
【0010】内部にROM/RAM5を備えた中央演算
処理装置(CPU)3には、入力ポート1と、バッファ
RAM2とフラッシュROM4が接続されている。
処理装置(CPU)3には、入力ポート1と、バッファ
RAM2とフラッシュROM4が接続されている。
【0011】書き換え命令とデータが入力ポート1から
来ると、プログラムは目的のアドレスを含むブロックを
フラッシュROM4から読み込み、CPU3を介してバ
ッファRAM2に退避のため書き込み、今、読み込んだ
フラッシュROM4内のブロックを消去する。
来ると、プログラムは目的のアドレスを含むブロックを
フラッシュROM4から読み込み、CPU3を介してバ
ッファRAM2に退避のため書き込み、今、読み込んだ
フラッシュROM4内のブロックを消去する。
【0012】次に、バッファRAM2内の目的アドレス
のデータを新しいデータに書き換え、1ブロック分をま
とめてフラッシュROM4に書き込む。すると、実際に
はブロック全体を書き換えているものの、見かけ上は書
き換えるべきデータをバイト/ワード単位で書き換えた
ように見える。
のデータを新しいデータに書き換え、1ブロック分をま
とめてフラッシュROM4に書き込む。すると、実際に
はブロック全体を書き換えているものの、見かけ上は書
き換えるべきデータをバイト/ワード単位で書き換えた
ように見える。
【0013】図2及び図3を用いて詳細な動作を説明す
る。入力ポート1から書き換え命令とデータが供給され
ると、先ず、図2のステップS1にて、書き込むべきア
ドレスとデータをCPU3のレジスタに例えば16ビッ
ト単位でストアする。
る。入力ポート1から書き換え命令とデータが供給され
ると、先ず、図2のステップS1にて、書き込むべきア
ドレスとデータをCPU3のレジスタに例えば16ビッ
ト単位でストアする。
【0014】次に、ステップS2で図3に示すように目
的アドレスを含む1ブロックをフラッシュROM4から
バッファRAM2へ読み込む。そして、ステップS3で
フラッシュROM4内の上記1ブロックを消去する。
的アドレスを含む1ブロックをフラッシュROM4から
バッファRAM2へ読み込む。そして、ステップS3で
フラッシュROM4内の上記1ブロックを消去する。
【0015】次に、ステップS4においてバッファRA
M2内で書き込むべきアドレスにデータを書き込む。
M2内で書き込むべきアドレスにデータを書き込む。
【0016】そして、ステップS5でバッファRAM2
からCPU3へ16ビット単位でデータをストアし、ス
テップS6でCPU3からフラッシュROM4へデータ
を書き込む。
からCPU3へ16ビット単位でデータをストアし、ス
テップS6でCPU3からフラッシュROM4へデータ
を書き込む。
【0017】また、フラッシュROM4を書き換える際
にそのプログラム自体が消えないためには、CPU3内
部ROM/RAM5内に、またはフラッシュROM4内
のプログラム的に書き換え禁止にされたブロックに格納
する必要がある。
にそのプログラム自体が消えないためには、CPU3内
部ROM/RAM5内に、またはフラッシュROM4内
のプログラム的に書き換え禁止にされたブロックに格納
する必要がある。
【0018】したがって、上記実施の形態によれば、プ
ログラムを格納してあるフラッシュROM4でありなが
らEEPROMのように装置固有のデータを保存するこ
とができる。また、バッファRAM2を使うことでフラ
ッシュROM4の書き込み速度の遅さをカバーすること
ができる。EEPROMを付けなくて済むので、装置が
簡略化できる。
ログラムを格納してあるフラッシュROM4でありなが
らEEPROMのように装置固有のデータを保存するこ
とができる。また、バッファRAM2を使うことでフラ
ッシュROM4の書き込み速度の遅さをカバーすること
ができる。EEPROMを付けなくて済むので、装置が
簡略化できる。
【0019】
【発明の効果】本発明では、不揮発性メモリの書き換え
対象箇所を含む少なくとも1ブロックをバッファメモリ
に読み込み、必要箇所のみ書き換えてから上記不揮発性
メモリに戻すので、上記フラッシュROMのような不揮
発性メモリに装置固有のデータを保存させることがで
き、装置を簡略化できる。
対象箇所を含む少なくとも1ブロックをバッファメモリ
に読み込み、必要箇所のみ書き換えてから上記不揮発性
メモリに戻すので、上記フラッシュROMのような不揮
発性メモリに装置固有のデータを保存させることがで
き、装置を簡略化できる。
【図1】本発明の実施の形態となる装置のブロック図で
ある。
ある。
【図2】上記装置の動作を説明するためのフローチャー
トである。
トである。
【図3】上記装置の動作を説明するための図である。
1 入力ポート、2 バッファRAM、3 CPU、4
フラッシュROM
フラッシュROM
Claims (6)
- 【請求項1】 不揮発性メモリの書き換え対象箇所を含
む少なくとも1ブロックをバッファメモリに読み込む読
み込み工程と、 上記読み込み工程でバッファメモリに読み込まれた少な
くとも1ブロックの内の必要箇所のみ書き換える書き換
え工程と、 上記書き換え工程で必要箇所のみ書き換えられた少なく
とも1ブロックを上記不揮発性メモリに戻す工程とを備
えることを特徴とする不揮発性メモリのデータ変更方
法。 - 【請求項2】 上記書き換え工程で必要箇所のみ書き換
えられた少なくとも1ブロックを上記不揮発性メモリに
戻す工程の前に、上記不揮発性メモリ内の上記1ブロッ
クを消去しておく工程を備えることを特徴とする請求項
1記載の不揮発性メモリのデータ変更方法。 - 【請求項3】 上記読み込み工程で上記不揮発性メモリ
の書き換え対象箇所を含む少なくとも1ブロックをバッ
ファメモリに読み込むときには、中央演算処理装置のレ
ジスタに所定ビット単位でデータをストアしながら読み
込むことを特徴とする請求項1記載の不揮発性メモリの
データ変更方法。 - 【請求項4】 上記書き換え工程で必要箇所のみ書き換
えられた少なくとも1ブロックを上記不揮発性メモリに
戻す工程では、中央演算処理装置のレジスタに所定ビッ
ト単位でデータをストアしながら戻すことを特徴とする
請求項1記載の不揮発性メモリのデータ変更方法。 - 【請求項5】 上記不揮発性メモリの中に書き換え禁止
ブロックを形成し、そのブロックに書き換えプログラム
を格納しておくことを特徴とする請求項1記載の不揮発
性メモリのデータ変更方法。 - 【請求項6】 上記書き換え禁止ブロックは書き換え対
称箇所を含む少なくとも1ブロックとはならないことを
特徴とする請求項5記載の不揮発性メモリのデータ変更
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15292999A JP2000339212A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 不揮発性メモリのデータ変更方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15292999A JP2000339212A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 不揮発性メモリのデータ変更方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000339212A true JP2000339212A (ja) | 2000-12-08 |
Family
ID=15551240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15292999A Withdrawn JP2000339212A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 不揮発性メモリのデータ変更方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000339212A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6728164B2 (en) | 2001-09-26 | 2004-04-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Flash memory rewrite circuit, semiconductor integrated circuit, memory card having the semiconductor integrated circuit thereof, method of rewriting flash memory and flash memory rewriting program |
| JP2005531842A (ja) * | 2002-06-28 | 2005-10-20 | アクサルト・エス・アー | 不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム |
-
1999
- 1999-05-31 JP JP15292999A patent/JP2000339212A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6728164B2 (en) | 2001-09-26 | 2004-04-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Flash memory rewrite circuit, semiconductor integrated circuit, memory card having the semiconductor integrated circuit thereof, method of rewriting flash memory and flash memory rewriting program |
| KR100453471B1 (ko) * | 2001-09-26 | 2004-10-20 | 가부시끼가이샤 도시바 | 플래시 메모리 재기입 회로, ic 카드용 lsi,ic카드, 플래시 메모리 재기입 방법 및 플래시 메모리재기입 프로그램 |
| JP2005531842A (ja) * | 2002-06-28 | 2005-10-20 | アクサルト・エス・アー | 不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060801 |