JP2000353370A - 負圧溝に形成する圧力制御溝で浮上量を制御できる磁気ヘッドスライダ及びそれを搭載した磁気ディスク装置 - Google Patents
負圧溝に形成する圧力制御溝で浮上量を制御できる磁気ヘッドスライダ及びそれを搭載した磁気ディスク装置Info
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- JP2000353370A JP2000353370A JP11162712A JP16271299A JP2000353370A JP 2000353370 A JP2000353370 A JP 2000353370A JP 11162712 A JP11162712 A JP 11162712A JP 16271299 A JP16271299 A JP 16271299A JP 2000353370 A JP2000353370 A JP 2000353370A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気ヘッドスライダの負圧溝に形成する圧力
調整溝により磁気ヘッドスライダの浮上量を制御するこ
と。 【解決手段】 レール面6,7,11、レール面より深
いステップ軸受け5,8,9、ステップ軸受け面より深
い負圧溝12、からなる浮上面3と、空気流入端2と、
空気流出端4と、を備えた磁気ヘッドスライダにおい
て、空気流入端側に、レール面とステップ軸受けで形成
されるフロントパッドと、空気流出端側に、レール面と
ステップ軸受けで形成されるとともに、フロントパッド
と負圧溝で隔てられたリアパッドと、リアパッドのレー
ル面の空気流出端近傍に設けられた磁気トランスデュー
サと、リアパッドの空気流入側の負圧溝に、負圧溝より
深く形成された圧力制御溝と、を備え、圧力制御溝は、
直線又は曲線で囲まれた領域を負圧溝に形成し、空気流
出端近傍の浮上量を減少させる磁気ヘッドスライダ。
調整溝により磁気ヘッドスライダの浮上量を制御するこ
と。 【解決手段】 レール面6,7,11、レール面より深
いステップ軸受け5,8,9、ステップ軸受け面より深
い負圧溝12、からなる浮上面3と、空気流入端2と、
空気流出端4と、を備えた磁気ヘッドスライダにおい
て、空気流入端側に、レール面とステップ軸受けで形成
されるフロントパッドと、空気流出端側に、レール面と
ステップ軸受けで形成されるとともに、フロントパッド
と負圧溝で隔てられたリアパッドと、リアパッドのレー
ル面の空気流出端近傍に設けられた磁気トランスデュー
サと、リアパッドの空気流入側の負圧溝に、負圧溝より
深く形成された圧力制御溝と、を備え、圧力制御溝は、
直線又は曲線で囲まれた領域を負圧溝に形成し、空気流
出端近傍の浮上量を減少させる磁気ヘッドスライダ。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ヘッドスライダ
に関し、より詳しくは、磁気ヘッドスライダの負圧溝に
形成する圧力制御溝によってスライダの浮上量を制御す
ることができる磁気ヘッドスライダであり、さらに、こ
の磁気ヘッドスライダを搭載した磁気ディスク装置に関
する。
に関し、より詳しくは、磁気ヘッドスライダの負圧溝に
形成する圧力制御溝によってスライダの浮上量を制御す
ることができる磁気ヘッドスライダであり、さらに、こ
の磁気ヘッドスライダを搭載した磁気ディスク装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスク装置では、回転するディス
ク記録媒体上で微少な間隔を保ちながら浮上する磁気ヘ
ッドスライダが使用されている。通常、磁気ヘッドスラ
イダはスライダの空気流出端にデイスク記録媒体に対し
て情報を記録・再生する磁気トランスデュ−サを備えて
おり、記録密度を高めるためにビット密度を高めること
とトラック幅をさらに狭くすることが求められる。
ク記録媒体上で微少な間隔を保ちながら浮上する磁気ヘ
ッドスライダが使用されている。通常、磁気ヘッドスラ
イダはスライダの空気流出端にデイスク記録媒体に対し
て情報を記録・再生する磁気トランスデュ−サを備えて
おり、記録密度を高めるためにビット密度を高めること
とトラック幅をさらに狭くすることが求められる。
【0003】さらに、可能な限りディスク記録媒体に近
接した低浮上状態で磁気ヘッドスライダを浮上させるこ
とが要求される。低浮上状態で充分な信頼性をもってデ
ータの記録・再生を実現するには、磁気ヘッドスライダ
の浮上量変化、すなわち、浮上量ばらつきを小さく維持
することが重要な課題となっている。
接した低浮上状態で磁気ヘッドスライダを浮上させるこ
とが要求される。低浮上状態で充分な信頼性をもってデ
ータの記録・再生を実現するには、磁気ヘッドスライダ
の浮上量変化、すなわち、浮上量ばらつきを小さく維持
することが重要な課題となっている。
【0004】磁気ヘッドスライダの浮上量ばらつきを低
減するためには、磁気ヘッドスライダとして負圧スライ
ダを使用することが有効であり、広く一般に使用されて
いる。この負圧スライダはディスク記録媒体とスライダ
の浮上面の間で発生する空気膜の剛性が高いため、スラ
イダを支持するサスペンションの荷重、姿勢角や、サス
ペンションの振動、ディスク記録媒体のうねり振動等の
外乱に起因するスライダの浮上量ばらつきを小さくする
ことが可能であり、低浮上化に有効である。
減するためには、磁気ヘッドスライダとして負圧スライ
ダを使用することが有効であり、広く一般に使用されて
いる。この負圧スライダはディスク記録媒体とスライダ
の浮上面の間で発生する空気膜の剛性が高いため、スラ
イダを支持するサスペンションの荷重、姿勢角や、サス
ペンションの振動、ディスク記録媒体のうねり振動等の
外乱に起因するスライダの浮上量ばらつきを小さくする
ことが可能であり、低浮上化に有効である。
【0005】しかしながら、磁気ヘッドスライダの低浮
上化に対する要求は年々厳しくなり、ディスク記録媒体
と接触を生じない状態で可能な限り浮上量を下げること
が求められ、その浮上量は20nm以下に達している。
上化に対する要求は年々厳しくなり、ディスク記録媒体
と接触を生じない状態で可能な限り浮上量を下げること
が求められ、その浮上量は20nm以下に達している。
【0006】このような低浮上化の実現手段として従来
のディスク記録媒体上で磁気ヘッドスライダが起動・停
止するCSS方式を見直し、磁気ヘッドスライダを装置
停止時にはディスク記録媒体上から退避するロード・ア
ンロード方式の採用が進んでいる。このロード・アンロ
ード方式の採用で磁気ヘッドスライダの低浮上化の阻害
要因となるディスク記録媒体上の突起(スライダの停止
時にスライダと当接するもの)を無くすことが可能とな
り、低浮上化を加速した。こうしたヘッド・ディスク・
インタフェースでは、磁気ヘッドスライダがディスク記
録媒体に極めて近接して浮上しているためにスライダの
浮上量ばらつきは小さく維持しなければならない。
のディスク記録媒体上で磁気ヘッドスライダが起動・停
止するCSS方式を見直し、磁気ヘッドスライダを装置
停止時にはディスク記録媒体上から退避するロード・ア
ンロード方式の採用が進んでいる。このロード・アンロ
ード方式の採用で磁気ヘッドスライダの低浮上化の阻害
要因となるディスク記録媒体上の突起(スライダの停止
時にスライダと当接するもの)を無くすことが可能とな
り、低浮上化を加速した。こうしたヘッド・ディスク・
インタフェースでは、磁気ヘッドスライダがディスク記
録媒体に極めて近接して浮上しているためにスライダの
浮上量ばらつきは小さく維持しなければならない。
【0007】また、温度上昇や大気圧以下で使用された
場合の浮上量の低下が大きいことも低浮上化を妨げる要
因となるため、できる限りこれら環境変化に対する感度
も小さくしなければならない。しかし、従来の負圧スラ
イダの考え方では、これらの要求を同時に満足すること
が困難になりつつある。
場合の浮上量の低下が大きいことも低浮上化を妨げる要
因となるため、できる限りこれら環境変化に対する感度
も小さくしなければならない。しかし、従来の負圧スラ
イダの考え方では、これらの要求を同時に満足すること
が困難になりつつある。
【0008】そこで、上述した厳しい要求に応じられる
負圧スライダとして、従来の負圧スライダに比べて比較
的浅い負圧溝とテーパに比べ軸受け効果の高いサブミク
ロンの深さを有するステップ軸受けを採用した負圧スラ
イダが提案されている。このような負圧スライダは、こ
れに関する技術を記載した先行引用文献に述べられてい
るように、この負圧スライダは空気軸受け効果の大きな
サブミクロンの深さを有するステップ軸受けを採用し、
負圧溝で発生する負圧力が最大となる深さで設計するこ
とで温度及び気圧変化に対する浮上量の変化を低減で
き、また、従来の負圧スライダに比べて大きな負圧力を
利用することで、空気膜の剛性がさらに高く、サスペン
ションの荷重や姿勢角変化に起因する浮上量ばらつきが
小さい特徴を有している。
負圧スライダとして、従来の負圧スライダに比べて比較
的浅い負圧溝とテーパに比べ軸受け効果の高いサブミク
ロンの深さを有するステップ軸受けを採用した負圧スラ
イダが提案されている。このような負圧スライダは、こ
れに関する技術を記載した先行引用文献に述べられてい
るように、この負圧スライダは空気軸受け効果の大きな
サブミクロンの深さを有するステップ軸受けを採用し、
負圧溝で発生する負圧力が最大となる深さで設計するこ
とで温度及び気圧変化に対する浮上量の変化を低減で
き、また、従来の負圧スライダに比べて大きな負圧力を
利用することで、空気膜の剛性がさらに高く、サスペン
ションの荷重や姿勢角変化に起因する浮上量ばらつきが
小さい特徴を有している。
【0009】しかし、この負圧スライダで採用している
サブミクロンの深さを有するステップ軸受けの加工精度
が、浮上量ばらつきに及ぼす影響が大きく、浮上量ばら
つきの原因の半分以上を占めることになり、極めて厳し
い加工精度が要求される。
サブミクロンの深さを有するステップ軸受けの加工精度
が、浮上量ばらつきに及ぼす影響が大きく、浮上量ばら
つきの原因の半分以上を占めることになり、極めて厳し
い加工精度が要求される。
【0010】また、このステップ軸受けは、通常、イオ
ンミリング等の加工法で形成されるため、一度に加工さ
れる数量が多く、ロット単位で浮上量の平均値シフトが
出現する。このことは、ステップ軸受けの加工工程での
良否が磁気ヘッドスライダの浮上歩留まりを大きく左右
する原因となり、コスト的に困難な問題を生じる。
ンミリング等の加工法で形成されるため、一度に加工さ
れる数量が多く、ロット単位で浮上量の平均値シフトが
出現する。このことは、ステップ軸受けの加工工程での
良否が磁気ヘッドスライダの浮上歩留まりを大きく左右
する原因となり、コスト的に困難な問題を生じる。
【0011】また、ステップ軸受け以外の加工起因の浮
上量ばらつきも存在し、これらも磁気ヘッドスライダの
低浮上化には阻害要因である。しかし、加工技術の高精
度化には時間と費用が必要であるため、現状の加工プロ
セス内で磁気ヘッドスライダの加工起因で生じる浮上量
変化を補正する方法が今後の低浮上化に向けて必用とさ
れている。
上量ばらつきも存在し、これらも磁気ヘッドスライダの
低浮上化には阻害要因である。しかし、加工技術の高精
度化には時間と費用が必要であるため、現状の加工プロ
セス内で磁気ヘッドスライダの加工起因で生じる浮上量
変化を補正する方法が今後の低浮上化に向けて必用とさ
れている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、磁気
ヘッドスライダの負圧溝に形成する圧力制御溝の形状、
大きさ、深さ、形成位置を制御することでスライダの浮
上量を制御することでスライダの浮上量ばらつきを低減
する磁気ヘッドスライダと、この磁気ヘッドスライダを
搭載した磁気ディスク装置を提供することにある。
ヘッドスライダの負圧溝に形成する圧力制御溝の形状、
大きさ、深さ、形成位置を制御することでスライダの浮
上量を制御することでスライダの浮上量ばらつきを低減
する磁気ヘッドスライダと、この磁気ヘッドスライダを
搭載した磁気ディスク装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は主として次のような構成を採用する。
に、本発明は主として次のような構成を採用する。
【0014】レール面、前記レール面より深いステップ
軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、からな
る浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた磁
気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側に、前記
レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフロントパ
ッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステ
ップ軸受けで形成されるとともに、前記フロントパッド
と前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記リアパッ
ドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられた磁気ト
ランスデューサと、前記リアパッドの空気流入側の前記
負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された圧力制御溝
と、を備え、前記圧力制御溝は、直線又は曲線で囲まれ
た領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮
上量を減少させる磁気ヘッドスライダ。
軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、からな
る浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた磁
気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側に、前記
レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフロントパ
ッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステ
ップ軸受けで形成されるとともに、前記フロントパッド
と前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記リアパッ
ドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられた磁気ト
ランスデューサと、前記リアパッドの空気流入側の前記
負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された圧力制御溝
と、を備え、前記圧力制御溝は、直線又は曲線で囲まれ
た領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮
上量を減少させる磁気ヘッドスライダ。
【0015】また、レール面、前記レール面より深いス
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記リアパッドへの空気流
入経路から外れ且つ前記負圧溝の圧力勾配の高い箇所
に、前記負圧溝より深く形成された圧力制御溝と、を備
え、前記圧力制御溝は、直線及び又は曲線で囲まれた領
域を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮上量
を増加させる磁気ヘッドスライダ。
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記リアパッドへの空気流
入経路から外れ且つ前記負圧溝の圧力勾配の高い箇所
に、前記負圧溝より深く形成された圧力制御溝と、を備
え、前記圧力制御溝は、直線及び又は曲線で囲まれた領
域を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮上量
を増加させる磁気ヘッドスライダ。
【0016】また、レール面、前記レール面より深いス
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記フロントパッドで囲ま
れる負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された圧力制御
溝と、を備え、前記圧力制御溝は、直線及び又は曲線で
囲まれた領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流入端側
の浮上量を減少させる磁気ヘッドスライダ。
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記フロントパッドで囲ま
れる負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された圧力制御
溝と、を備え、前記圧力制御溝は、直線及び又は曲線で
囲まれた領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流入端側
の浮上量を減少させる磁気ヘッドスライダ。
【0017】また、レール面、前記レール面より深いス
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記リアパッドの空気流入
側の前記負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された第1
の圧力制御溝と、前記フロントパッドで囲まれる負圧溝
に、前記負圧溝より深く形成された第2の圧力制御溝
と、を備え、前記第1の圧力制御溝は、直線又は曲線で
囲まれた領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近
傍の浮上量を減少させ、前記第2の圧力制御溝は、直線
及び又は曲線で囲まれた領域を前記負圧溝に形成し、前
記空気流入端側の浮上量を減少させる磁気ヘッドスライ
ダ。
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記リアパッドの空気流入
側の前記負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された第1
の圧力制御溝と、前記フロントパッドで囲まれる負圧溝
に、前記負圧溝より深く形成された第2の圧力制御溝
と、を備え、前記第1の圧力制御溝は、直線又は曲線で
囲まれた領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近
傍の浮上量を減少させ、前記第2の圧力制御溝は、直線
及び又は曲線で囲まれた領域を前記負圧溝に形成し、前
記空気流入端側の浮上量を減少させる磁気ヘッドスライ
ダ。
【0018】また、レール面、前記レール面より深いス
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記リアパッドの空気流入
側の前記負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された圧力
制御溝と、を備え、前記圧力制御溝は直線又は曲線で囲
まれた領域を前記負圧溝に形成し、前記圧力制御溝の深
さは、前記空気流出端近傍の浮上量を変化させる形状又
は寸法に関連付けされて形成される磁気ヘッドスライ
ダ。
テップ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、
からなる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備
えた磁気ヘッドスライダにおいて、前記空気流入端側
に、前記レール面と前記ステップ軸受けで形成されるフ
ロントパッドと、前記空気流出端側に、前記レール面と
前記ステップ軸受けで形成されるとともに、前記フロン
トパッドと前記負圧溝で隔てられたリアパッドと、前記
リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設けられ
た磁気トランスデューサと、前記リアパッドの空気流入
側の前記負圧溝に、前記負圧溝より深く形成された圧力
制御溝と、を備え、前記圧力制御溝は直線又は曲線で囲
まれた領域を前記負圧溝に形成し、前記圧力制御溝の深
さは、前記空気流出端近傍の浮上量を変化させる形状又
は寸法に関連付けされて形成される磁気ヘッドスライ
ダ。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施形態に係る磁
気ヘッドスライドについて、図1〜図8を用いて以下説
明する。図1は本発明の第1の実施形態に係る磁気ヘッ
ドスライダを示す斜視図であり、図2は本発明が有効な
効果を発揮できる典型的な磁気ヘッドスライダを示す図
である。
気ヘッドスライドについて、図1〜図8を用いて以下説
明する。図1は本発明の第1の実施形態に係る磁気ヘッ
ドスライダを示す斜視図であり、図2は本発明が有効な
効果を発揮できる典型的な磁気ヘッドスライダを示す図
である。
【0020】図2に示す磁気ヘッドスライダ1は、空気
流入端2、浮上面3及び空気流出端4を備えて構成され
ている。ここで、浮上面3は、空気流入端2から続いて
形成されたフロントステップ軸受け5、このフロントス
テップ軸受け5から続いて形成された一対のサイドレー
ル面6,7、前記サイドレール面から連続形成された前
記フロントステップ軸受けより深い負圧溝、フロントス
テップ軸受け5と同一深さを有する一対のサイドステッ
プ軸受け8,9、からなるフロントパッド13と、スラ
イダ1の空気流出端4側のセンタレール面11、フロン
トステップ軸受け5と同一深さでセンタレール面11を
囲むように形成されたリアステップ軸受け10、からな
るセンタパッド14と、から構成される。
流入端2、浮上面3及び空気流出端4を備えて構成され
ている。ここで、浮上面3は、空気流入端2から続いて
形成されたフロントステップ軸受け5、このフロントス
テップ軸受け5から続いて形成された一対のサイドレー
ル面6,7、前記サイドレール面から連続形成された前
記フロントステップ軸受けより深い負圧溝、フロントス
テップ軸受け5と同一深さを有する一対のサイドステッ
プ軸受け8,9、からなるフロントパッド13と、スラ
イダ1の空気流出端4側のセンタレール面11、フロン
トステップ軸受け5と同一深さでセンタレール面11を
囲むように形成されたリアステップ軸受け10、からな
るセンタパッド14と、から構成される。
【0021】図2の磁気ヘッドスライダ1の長さは1.
25mm、幅は1.0mm、厚さは0.3mmであり、
フロントステップ軸受け5の空気流入端2から一対のレ
ール面6及び7までの距離は0.08mm、一対のサイ
ドレール面6,7及びセンタレール面11を基準とした
フロントステップ軸受けの深さδsは150nmであ
る。一対のサイドレール面6,7のスライダ長手方向の
最大長さは0.45mm、スライダ短手方向の最大幅は
0.305mmであり、最大長さに対し最大幅は0.6
8倍である。
25mm、幅は1.0mm、厚さは0.3mmであり、
フロントステップ軸受け5の空気流入端2から一対のレ
ール面6及び7までの距離は0.08mm、一対のサイ
ドレール面6,7及びセンタレール面11を基準とした
フロントステップ軸受けの深さδsは150nmであ
る。一対のサイドレール面6,7のスライダ長手方向の
最大長さは0.45mm、スライダ短手方向の最大幅は
0.305mmであり、最大長さに対し最大幅は0.6
8倍である。
【0022】図3はサイドレール面6,7、センタレー
ル面11と、フロントステップ軸受け5、サイドステッ
プ軸受け7,8、リアステップ軸受け10と、負圧溝1
2の相対関係を説明するために、図2中のA−A’線断
面図である。図3において一対のサイドステップ軸受け
8,9及びリアステップ軸受け10の深さは、前述した
ようにフロントステップ軸受け5の深さδs=150n
mと同一である(以下、総称でステップ軸受けと呼ぶこ
ともある)。
ル面11と、フロントステップ軸受け5、サイドステッ
プ軸受け7,8、リアステップ軸受け10と、負圧溝1
2の相対関係を説明するために、図2中のA−A’線断
面図である。図3において一対のサイドステップ軸受け
8,9及びリアステップ軸受け10の深さは、前述した
ようにフロントステップ軸受け5の深さδs=150n
mと同一である(以下、総称でステップ軸受けと呼ぶこ
ともある)。
【0023】一対のサイドレール面6,7及びセンタレ
ール面11(以下、総称でレール面と呼ぶこともあ
る。)を基準とした負圧溝12の深さRは1μmであ
る。センタパッド14のセンタレール面11にはディス
ク記録媒体25に対して情報を記録・再生する磁気トラ
ンスデューサ19を有している。
ール面11(以下、総称でレール面と呼ぶこともあ
る。)を基準とした負圧溝12の深さRは1μmであ
る。センタパッド14のセンタレール面11にはディス
ク記録媒体25に対して情報を記録・再生する磁気トラ
ンスデューサ19を有している。
【0024】図2に示した磁気ヘッドスライダを搭載し
た磁気ディスク装置28の平面図を図4に示す。この磁
気ディスク装置28は略+7°〜−15°のヨ−角変化
を伴う2.5インチのディスク記録媒体25を搭載して
いる。ここで、ヨー角は、スライダ1がディスク記録媒
体25に対向して位置し、回転アクチュエ−タ27によ
る揺動運動によってスライダ1にディスク記録媒体25
の円周に沿って空気が流入する方向とスライダ1の長手
方向のなす角である。
た磁気ディスク装置28の平面図を図4に示す。この磁
気ディスク装置28は略+7°〜−15°のヨ−角変化
を伴う2.5インチのディスク記録媒体25を搭載して
いる。ここで、ヨー角は、スライダ1がディスク記録媒
体25に対向して位置し、回転アクチュエ−タ27によ
る揺動運動によってスライダ1にディスク記録媒体25
の円周に沿って空気が流入する方向とスライダ1の長手
方向のなす角である。
【0025】ヨー角の符号はスライダ1の長手方向に対
しディスク記録媒体25の内周側から空気が流入する方
向を正と表している。この磁気ディスク装置28は、回
転数4200rpmで回転するスピンドル26に取り付
けられたディスク記録媒体25と、回転アクチュエ−タ
27からキャリッジ24とサスペンション20を介し
て、サスペンション20の先端に取り付けられたスライ
ダ1とから構成される。
しディスク記録媒体25の内周側から空気が流入する方
向を正と表している。この磁気ディスク装置28は、回
転数4200rpmで回転するスピンドル26に取り付
けられたディスク記録媒体25と、回転アクチュエ−タ
27からキャリッジ24とサスペンション20を介し
て、サスペンション20の先端に取り付けられたスライ
ダ1とから構成される。
【0026】スライダ1はサスペンション20によって
ディスク記録媒体25上に2.7gfの力で押しつけら
れ、ディスク記録媒体25の回転よって生じる空気の流
れがスライダ1とディスク記録媒体25間に入り込むこ
とによって、スライダ1はディスク記録媒体25から浮
上量22nm程度で浮上する。スライダ1は回転アクチ
ュエ−タ27によってディスク記録媒体25上において
略15〜29mmの任意の半径位置で精度よく位置決め
され、スライダ1のセンタパッド14に搭載された磁気
トランスデュ−サ19によりディスク記録媒体25に対
して任意の位置で情報の記録・再生が行われる。
ディスク記録媒体25上に2.7gfの力で押しつけら
れ、ディスク記録媒体25の回転よって生じる空気の流
れがスライダ1とディスク記録媒体25間に入り込むこ
とによって、スライダ1はディスク記録媒体25から浮
上量22nm程度で浮上する。スライダ1は回転アクチ
ュエ−タ27によってディスク記録媒体25上において
略15〜29mmの任意の半径位置で精度よく位置決め
され、スライダ1のセンタパッド14に搭載された磁気
トランスデュ−サ19によりディスク記録媒体25に対
して任意の位置で情報の記録・再生が行われる。
【0027】図4で示した磁気ディスク装置28で使用
する図2に示す磁気ヘッドスライダ1のステップ軸受け
の深さδsに対するセンタレール面11の空気流出端4
近傍の浮上量変化を図5に示す。図5の縦軸で+数値が
大きくなるほどスライダが媒体から遠ざかり、−数値が
大きくなるほどスライダが媒体に近づくことを表す。
する図2に示す磁気ヘッドスライダ1のステップ軸受け
の深さδsに対するセンタレール面11の空気流出端4
近傍の浮上量変化を図5に示す。図5の縦軸で+数値が
大きくなるほどスライダが媒体から遠ざかり、−数値が
大きくなるほどスライダが媒体に近づくことを表す。
【0028】図5の浮上量変化はスライダ1がディスク
記録媒体25上で半径位置15mm(内周)、22mm
(中周)及び29mm(外周)に位置したときの変化を
それぞれ示している。ここで、ステップ軸受けの深さδ
sを横軸に選んだ理由として、ステップ軸受けの加工量
変化の浮上量に及ぼす影響が他の要因(たとえば、レー
ル面の平面度(通常、クラウン/キャンバとして管理さ
れる)面積、スライダ1の長さ等)に比べ特に大きいこ
とによる。その割合は既存の加工精度ではスライダ1の
浮上量ばらつきの6割近くを占める。
記録媒体25上で半径位置15mm(内周)、22mm
(中周)及び29mm(外周)に位置したときの変化を
それぞれ示している。ここで、ステップ軸受けの深さδ
sを横軸に選んだ理由として、ステップ軸受けの加工量
変化の浮上量に及ぼす影響が他の要因(たとえば、レー
ル面の平面度(通常、クラウン/キャンバとして管理さ
れる)面積、スライダ1の長さ等)に比べ特に大きいこ
とによる。その割合は既存の加工精度ではスライダ1の
浮上量ばらつきの6割近くを占める。
【0029】このことは図5のグラフにも如実に示され
ている。ステップ軸受けの深さδsの設計(ノミナル)
値からの変化量が±20nmの場合、浮上量変化は内周
で2〜3nm、中周及び外周で4〜5nmに及ぶ。詳細
には、ステップ軸受け深さδsが深くなる側(図5でA
側)では、スライダ1がディスク記録媒体25上を内
周、中周そして外周に移動したときの浮上量の変化を表
す浮上プロファイル(以下、単に浮上プロファイル)
は、設計でほぼ一定であったものが内周で2〜3nm程
度高くなり、外周でさらに高い外周上がりとなる。この
浮上プロファイルの変化は、スライダ1に搭載した磁気
トランスデューサ19の情報を記録・再生する場合、出
力の減少の原因となり好ましくない。
ている。ステップ軸受けの深さδsの設計(ノミナル)
値からの変化量が±20nmの場合、浮上量変化は内周
で2〜3nm、中周及び外周で4〜5nmに及ぶ。詳細
には、ステップ軸受け深さδsが深くなる側(図5でA
側)では、スライダ1がディスク記録媒体25上を内
周、中周そして外周に移動したときの浮上量の変化を表
す浮上プロファイル(以下、単に浮上プロファイル)
は、設計でほぼ一定であったものが内周で2〜3nm程
度高くなり、外周でさらに高い外周上がりとなる。この
浮上プロファイルの変化は、スライダ1に搭載した磁気
トランスデューサ19の情報を記録・再生する場合、出
力の減少の原因となり好ましくない。
【0030】一方、ステップ軸受けの深さδsが浅くな
る側(図5でB側)では、スライダ1の浮上プロファイ
ルは、内周で2〜3nm程度低く、外周でさらに低くな
るため、外周下がりとなる。この浮上プロファイルの変
化は、スライダ1とディスク記録媒体25との接触の危
険性を増加させるため、これもまた好ましくない。
る側(図5でB側)では、スライダ1の浮上プロファイ
ルは、内周で2〜3nm程度低く、外周でさらに低くな
るため、外周下がりとなる。この浮上プロファイルの変
化は、スライダ1とディスク記録媒体25との接触の危
険性を増加させるため、これもまた好ましくない。
【0031】一般にスライダ1はある程度の加工ばらつ
きをもって製作され、上述のステップ軸受けのように、
加工ばらつきはスライダ1の浮上量を変化させる。スラ
イダ1の低浮上化には、浮上量ばらつきの低減が必須で
あり、そのためにはステップ軸受けの深さδs等の加工
精度を向上することが考えられる。しかし、加工精度の
向上には高精度加工装置等への投資が必要である。
きをもって製作され、上述のステップ軸受けのように、
加工ばらつきはスライダ1の浮上量を変化させる。スラ
イダ1の低浮上化には、浮上量ばらつきの低減が必須で
あり、そのためにはステップ軸受けの深さδs等の加工
精度を向上することが考えられる。しかし、加工精度の
向上には高精度加工装置等への投資が必要である。
【0032】そこで、コスト上昇を小さく押さえながら
現状の加工装置と加工精度のもとで浮上量ばらつきを小
さくする新たな手法としてスライダ1の浮上量を制御す
る機能を有する磁気ヘッドスライダを創案したので以下
に本発明の内容をいくつかの実施形態を示しながら説明
する。
現状の加工装置と加工精度のもとで浮上量ばらつきを小
さくする新たな手法としてスライダ1の浮上量を制御す
る機能を有する磁気ヘッドスライダを創案したので以下
に本発明の内容をいくつかの実施形態を示しながら説明
する。
【0033】図1は本発明による磁気ヘッドスライダの
第1実施形態を示す斜視図、図6は同じく平面図、図7
は図6中のA−A’線断面図である。図示するように本
発明による磁気ヘッドスライダ1は図2で示した典型的
な磁気ヘッドスライダ1の構成をとることが必要であ
る。
第1実施形態を示す斜視図、図6は同じく平面図、図7
は図6中のA−A’線断面図である。図示するように本
発明による磁気ヘッドスライダ1は図2で示した典型的
な磁気ヘッドスライダ1の構成をとることが必要であ
る。
【0034】本発明による磁気ヘッドスライダ1は、セ
ンタパッド14のリアステップ軸受け10の空気流入側
に広がる負圧溝12にこの負圧溝12より深い圧力制御
溝30を有する。この圧力制御溝30の形状、深さ、面
積、形成位置と個数でスライダ1の浮上量の制御を可能
とするところが本発明による磁気ヘッドスライダであ
る。
ンタパッド14のリアステップ軸受け10の空気流入側
に広がる負圧溝12にこの負圧溝12より深い圧力制御
溝30を有する。この圧力制御溝30の形状、深さ、面
積、形成位置と個数でスライダ1の浮上量の制御を可能
とするところが本発明による磁気ヘッドスライダであ
る。
【0035】まず、図1又は図6で示した磁気ヘッドス
ライダ1の負圧溝12に形成した圧力制御溝30は、浮
上面3内で見た場合、単純な長方形であり、スライダ1
長手方向の短辺の長さは0.08mm、スライダ1短手
方向の長辺の長さはセンタパッド14(このパッド14
はスライダのセンターに配されているのでセンタパッド
と称するが、スライダの後方にも配置されているので、
フロントパッドとの対比でリアパッドとも称する)とほ
ぼ同じである。
ライダ1の負圧溝12に形成した圧力制御溝30は、浮
上面3内で見た場合、単純な長方形であり、スライダ1
長手方向の短辺の長さは0.08mm、スライダ1短手
方向の長辺の長さはセンタパッド14(このパッド14
はスライダのセンターに配されているのでセンタパッド
と称するが、スライダの後方にも配置されているので、
フロントパッドとの対比でリアパッドとも称する)とほ
ぼ同じである。
【0036】また、負圧溝12に形成した圧力制御溝3
0の長辺とセンタパッド14のリアステップ軸受け10
の空気流入端までの最小距離Drが30μmであり、圧
力制御溝30の長辺はリアステップ軸受け10の空気流
入端と平行である。ここで、最小距離Drは、ステップ
軸受けの空気流入端面と、その垂線上で圧力制御溝で最
も近接している部位と、の距離を表しており、例えば、
圧力制御溝が円形形状であれば、ステップ軸受け空気流
入端面とその端面に最も近い円形の円周上の点との距離
を云う。
0の長辺とセンタパッド14のリアステップ軸受け10
の空気流入端までの最小距離Drが30μmであり、圧
力制御溝30の長辺はリアステップ軸受け10の空気流
入端と平行である。ここで、最小距離Drは、ステップ
軸受けの空気流入端面と、その垂線上で圧力制御溝で最
も近接している部位と、の距離を表しており、例えば、
圧力制御溝が円形形状であれば、ステップ軸受け空気流
入端面とその端面に最も近い円形の円周上の点との距離
を云う。
【0037】この圧力制御溝30はあくまでも一例であ
り、形状は円形、3辺以上の多角形または任意の閉曲線
を形成する形状であってもよい。また、面積及び負圧溝
12に形成した圧力制御溝30の長辺とリアパッド14
のリアステップ軸受け10の空気流入端までの最小距離
Drは、好ましくは、0μm<Dr<100μmであり
(この数値はコンピュータシミュレーションで実証でき
た)、形状あるいは面積と密接に関係する。さらに、圧
力制御溝30は2箇所以上に存在しても良い。
り、形状は円形、3辺以上の多角形または任意の閉曲線
を形成する形状であってもよい。また、面積及び負圧溝
12に形成した圧力制御溝30の長辺とリアパッド14
のリアステップ軸受け10の空気流入端までの最小距離
Drは、好ましくは、0μm<Dr<100μmであり
(この数値はコンピュータシミュレーションで実証でき
た)、形状あるいは面積と密接に関係する。さらに、圧
力制御溝30は2箇所以上に存在しても良い。
【0038】レール面を基準にした圧力制御溝30の深
さRcavityは制御する浮上量に応じて任意に設定
することができる。図6に示す本発明の第1実施形態に
よる磁気ヘッドスライダ1を図4の磁気ディスク装置で
使用した場合のセンタレール面11の空気流出端4近傍
での浮上量の圧力制御溝30の深さRcavityに対
する変化を図8に示す。図8で示すように圧力制御溝3
0の深さRcavityは、スライダ1の浮上量を減少
させる方向に作用していることがわかる(図8で縦軸の
数値が大きくなるほど浮上量が減少してスライダが媒体
に近づくことを表す)。
さRcavityは制御する浮上量に応じて任意に設定
することができる。図6に示す本発明の第1実施形態に
よる磁気ヘッドスライダ1を図4の磁気ディスク装置で
使用した場合のセンタレール面11の空気流出端4近傍
での浮上量の圧力制御溝30の深さRcavityに対
する変化を図8に示す。図8で示すように圧力制御溝3
0の深さRcavityは、スライダ1の浮上量を減少
させる方向に作用していることがわかる(図8で縦軸の
数値が大きくなるほど浮上量が減少してスライダが媒体
に近づくことを表す)。
【0039】内周では、その効果は小さく、Rcavi
tyが2μm、すなわち、負圧溝12の深さRに比べ2
倍の深さで浮上量を2nm程度下げる効果を示す。しか
し、スライダ1の浮上量の減少量は、2μm以上ではR
cavityに対して飽和しており、浮上量の減少量を
大きくすることはできない。
tyが2μm、すなわち、負圧溝12の深さRに比べ2
倍の深さで浮上量を2nm程度下げる効果を示す。しか
し、スライダ1の浮上量の減少量は、2μm以上ではR
cavityに対して飽和しており、浮上量の減少量を
大きくすることはできない。
【0040】一方、中周そして外周では浮上量の減少量
が飽和する圧力制御溝30の深さRcavityが深
く、浮上量の減少量も大きくなる傾向がある。浮上量の
最大減少量は外周で6nm程度でその圧力制御溝30の
深さは3μmである。このような半径位置によって浮上
量の減少量が異なる特性は利用できる。
が飽和する圧力制御溝30の深さRcavityが深
く、浮上量の減少量も大きくなる傾向がある。浮上量の
最大減少量は外周で6nm程度でその圧力制御溝30の
深さは3μmである。このような半径位置によって浮上
量の減少量が異なる特性は利用できる。
【0041】すなわち、前述したようなステップ軸受け
の深さδsが過剰加工により深くなりすぎてスライダ1
の浮上プロファイルが外周上がりになった場合、ここで
示した浮上量の減少に作用する圧力制御溝30の深さR
cavityを補正したい浮上量に応じて設定すること
で、過剰加工で生じた浮上量の増加を再び適切な浮上量
に補正することが可能となる。
の深さδsが過剰加工により深くなりすぎてスライダ1
の浮上プロファイルが外周上がりになった場合、ここで
示した浮上量の減少に作用する圧力制御溝30の深さR
cavityを補正したい浮上量に応じて設定すること
で、過剰加工で生じた浮上量の増加を再び適切な浮上量
に補正することが可能となる。
【0042】この機能を利用することは磁気ヘッドスラ
イダ1の浮上量ばらつきを小さくするのに有効である。
最も浮上量に対して大きな感度を有するステップ軸受け
の深さδsを管理し、ある管理値を超えて深く為りすぎ
た場合に、この圧力制御溝30を適応すれば、極めて小
さな浮上量ばらつきを実現でき、浮上量ばらつきを小さ
くした分だけ磁気ヘッドスライダ1の低浮上化が可能と
なる。この手法を好ましくは、溝形成を行うイオンミリ
ングと同一工程で実施すれば磁気ヘッドスライダ1の浮
上量の平均値を一定に保つ効果が得られる。
イダ1の浮上量ばらつきを小さくするのに有効である。
最も浮上量に対して大きな感度を有するステップ軸受け
の深さδsを管理し、ある管理値を超えて深く為りすぎ
た場合に、この圧力制御溝30を適応すれば、極めて小
さな浮上量ばらつきを実現でき、浮上量ばらつきを小さ
くした分だけ磁気ヘッドスライダ1の低浮上化が可能と
なる。この手法を好ましくは、溝形成を行うイオンミリ
ングと同一工程で実施すれば磁気ヘッドスライダ1の浮
上量の平均値を一定に保つ効果が得られる。
【0043】以上の説明では、浮上量を変化させる要因
としてステップ軸受けの深さδsを挙げたが、これ以外
にも例えば、レール面の平面度、負圧溝深さ、レールの
太さ等によっても、前記ステップ軸受けの深さδsに比
べれば小さいものの、浮上量が変化することが確かめら
れている。従って、これらの浮上量を変化させる形状、
寸法等の要因に関連させて圧力制御溝の深さを決めるこ
ともできる。
としてステップ軸受けの深さδsを挙げたが、これ以外
にも例えば、レール面の平面度、負圧溝深さ、レールの
太さ等によっても、前記ステップ軸受けの深さδsに比
べれば小さいものの、浮上量が変化することが確かめら
れている。従って、これらの浮上量を変化させる形状、
寸法等の要因に関連させて圧力制御溝の深さを決めるこ
ともできる。
【0044】本発明による磁気ヘッドスライダ1の圧力
制御溝30の深さRcavityは補正する浮上量が比
較的大きい場合、図8に示すように圧力制御溝30の深
さRcavityに対する浮上量の感度が小さい。たと
えば、図8中の最も高い感度を示す外周でみると、浮上
量を4.2nm程度補正する場合の圧力制御溝30の深
さRcavityは1.8μmであり、その付近の感度
は3nm/μm程度である。補正する浮上量を1nmの
精度で制御しようとすると0.33μmの加工精度が必
要となる。この加工精度は加工量の18%程度であり
(100×0.33/1.8)、イオンミリング加工に
よれば余裕をもって実現できる。
制御溝30の深さRcavityは補正する浮上量が比
較的大きい場合、図8に示すように圧力制御溝30の深
さRcavityに対する浮上量の感度が小さい。たと
えば、図8中の最も高い感度を示す外周でみると、浮上
量を4.2nm程度補正する場合の圧力制御溝30の深
さRcavityは1.8μmであり、その付近の感度
は3nm/μm程度である。補正する浮上量を1nmの
精度で制御しようとすると0.33μmの加工精度が必
要となる。この加工精度は加工量の18%程度であり
(100×0.33/1.8)、イオンミリング加工に
よれば余裕をもって実現できる。
【0045】圧力制御溝30は負圧溝12及センタパッ
ド14での圧力状態を変化させることでスライダ1の浮
上量を制御する。この圧力制御溝30の形成に際してレ
ール面やステップ軸受け面の平面形状は小さく抑えてお
く必要がある。なぜなら、平面形状の変化が大きい場
合、その平面形状も浮上量の変化を引き起こすため、精
度の良い浮上量制御性を実現することが困難となるため
である。
ド14での圧力状態を変化させることでスライダ1の浮
上量を制御する。この圧力制御溝30の形成に際してレ
ール面やステップ軸受け面の平面形状は小さく抑えてお
く必要がある。なぜなら、平面形状の変化が大きい場
合、その平面形状も浮上量の変化を引き起こすため、精
度の良い浮上量制御性を実現することが困難となるため
である。
【0046】したがって、圧力制御溝30の形成方法
は、ステップ軸受けや負圧溝12を形成する同一の加工
法、たとえばイオンミリングが好ましく、その他の加工
歪の発生がなるべく小さいその他既存の加工方法で形成
する必要がある。特開平7−153050号公報にスラ
イダの負圧溝あるいはスライダの裏面にレーザあるいは
ダイヤモンドカッタ等で引っ掻いてスクライブを入れる
ことで積極的に平面度を調節する方法が開示されている
が、この方法では、レール面及びステップ軸受けの平面
形状が大きく変化してしまい、高精度な浮上量制御性を
実現することは困難であると考えられる。
は、ステップ軸受けや負圧溝12を形成する同一の加工
法、たとえばイオンミリングが好ましく、その他の加工
歪の発生がなるべく小さいその他既存の加工方法で形成
する必要がある。特開平7−153050号公報にスラ
イダの負圧溝あるいはスライダの裏面にレーザあるいは
ダイヤモンドカッタ等で引っ掻いてスクライブを入れる
ことで積極的に平面度を調節する方法が開示されている
が、この方法では、レール面及びステップ軸受けの平面
形状が大きく変化してしまい、高精度な浮上量制御性を
実現することは困難であると考えられる。
【0047】以上述べたような磁気ヘッドスライダ1の
負圧溝12に形成する圧力制御溝30によって浮上量を
制御する本発明の他の実施形態について、以下説明す
る。
負圧溝12に形成する圧力制御溝30によって浮上量を
制御する本発明の他の実施形態について、以下説明す
る。
【0048】図9は、本発明の第2の実施形態に係る磁
気ヘッドスライダを示す平面図である。本発明による第
2の実施形態の磁気ヘッドスライダ1は、第1の実施形
態と同じく図2で示した磁気ヘッドスライダ1と同じ構
成をとり、特徴としては負圧溝12に形成する圧力制御
溝30が5つの円形パターンで構成される点である。こ
の円形パターンの圧力制御溝30について各々の直径が
50μmで、円形パターンの圧力制御溝30の輪郭線と
リアステップ軸受け10の空気流入端との間の最小距離
Drが30μmである。
気ヘッドスライダを示す平面図である。本発明による第
2の実施形態の磁気ヘッドスライダ1は、第1の実施形
態と同じく図2で示した磁気ヘッドスライダ1と同じ構
成をとり、特徴としては負圧溝12に形成する圧力制御
溝30が5つの円形パターンで構成される点である。こ
の円形パターンの圧力制御溝30について各々の直径が
50μmで、円形パターンの圧力制御溝30の輪郭線と
リアステップ軸受け10の空気流入端との間の最小距離
Drが30μmである。
【0049】ここでは、5つの円形パターンの圧力制御
溝30が形成されているが、そのリアステップ軸受け1
0の空気流入端との間の距離は5つのパターンですべて
同一である(図9で空気流入端の各辺とそれに直交する
線で円形パターンの最も近い部位との距離である。この
際、5つの円形パターンに対応する空気流入端の辺は、
図9の場合、3つの辺がある)。また、各円形パターン
の圧力制御溝30について中心間のピッチ間隔は80μ
mである。以上のような複数の独立した円形パターンを
センタパッド14の周辺に形成することで第1の実施形
態の磁気ヘッドスライダ1と同じく、圧力制御溝30の
深さRcavityによりスライダ1の浮上量を制御す
ることが可能である。
溝30が形成されているが、そのリアステップ軸受け1
0の空気流入端との間の距離は5つのパターンですべて
同一である(図9で空気流入端の各辺とそれに直交する
線で円形パターンの最も近い部位との距離である。この
際、5つの円形パターンに対応する空気流入端の辺は、
図9の場合、3つの辺がある)。また、各円形パターン
の圧力制御溝30について中心間のピッチ間隔は80μ
mである。以上のような複数の独立した円形パターンを
センタパッド14の周辺に形成することで第1の実施形
態の磁気ヘッドスライダ1と同じく、圧力制御溝30の
深さRcavityによりスライダ1の浮上量を制御す
ることが可能である。
【0050】次に、スライダ1の浮上量の制御よりも浮
上姿勢角の制御に効果を発揮する圧力制御溝30につい
て実施形態をあげて説明する。図10が本発明の第3の
実施形態に係る磁気ヘッドスライダを示す平面図であ
る。
上姿勢角の制御に効果を発揮する圧力制御溝30につい
て実施形態をあげて説明する。図10が本発明の第3の
実施形態に係る磁気ヘッドスライダを示す平面図であ
る。
【0051】この第3の実施形態の磁気ヘッドスライダ
も第1の実施形態と同様に図2で示した典型的な磁気ヘ
ッドスライダ1と同じ構成をとる。第3の実施形態の磁
気ヘッドスライダの特徴は、負圧溝12に形成する圧力
制御溝30をフロントパッド13で囲まれる負圧溝12
に形成するところである。この位置に形成する圧力制御
溝30は負圧溝12で発生する負圧力がわずかながら増
加させる作用があり、スライダ1の空気流入端2側の浮
上量が減少する(媒体に近づく)。一方、スライダ1の
空気流出端4側にあるセンタパッド14で発生する圧力
にはほとんど影響しない。
も第1の実施形態と同様に図2で示した典型的な磁気ヘ
ッドスライダ1と同じ構成をとる。第3の実施形態の磁
気ヘッドスライダの特徴は、負圧溝12に形成する圧力
制御溝30をフロントパッド13で囲まれる負圧溝12
に形成するところである。この位置に形成する圧力制御
溝30は負圧溝12で発生する負圧力がわずかながら増
加させる作用があり、スライダ1の空気流入端2側の浮
上量が減少する(媒体に近づく)。一方、スライダ1の
空気流出端4側にあるセンタパッド14で発生する圧力
にはほとんど影響しない。
【0052】したがって、結果的に浮上姿勢角が小さく
なる働きを生じる。この働きを利用すれば浮上姿勢角を
浮上量と同じく制御することが可能となる。
なる働きを生じる。この働きを利用すれば浮上姿勢角を
浮上量と同じく制御することが可能となる。
【0053】このような浮上姿勢角を制御するパターン
が必要とされる背景には、第1の実施形態及び第2の実
施形態の磁気ヘッドスライダでは、センタパッド14の
周辺の負圧溝12に形成する圧力制御溝30の効果によ
り浮上量は低下するが、空気流入端2側の浮上量は変化
しない。したがって、浮上姿勢角が増加してしまうた
め、その浮上姿勢角の増加のみを制御して流出端近傍の
浮上量は変化させない作用が必要となる。
が必要とされる背景には、第1の実施形態及び第2の実
施形態の磁気ヘッドスライダでは、センタパッド14の
周辺の負圧溝12に形成する圧力制御溝30の効果によ
り浮上量は低下するが、空気流入端2側の浮上量は変化
しない。したがって、浮上姿勢角が増加してしまうた
め、その浮上姿勢角の増加のみを制御して流出端近傍の
浮上量は変化させない作用が必要となる。
【0054】図11は本発明の第4の実施形態に係る磁
気ヘッドスライダを示す平面図である。第4の実施形態
では、第2の実施形態で示す磁気ヘッドスライダは浮上
姿勢角の制御効果を円形パターンでも実現できる構成例
である。
気ヘッドスライダを示す平面図である。第4の実施形態
では、第2の実施形態で示す磁気ヘッドスライダは浮上
姿勢角の制御効果を円形パターンでも実現できる構成例
である。
【0055】図12は本発明の第5の実施形態に係る磁
気ヘッドスライダを示す平面図である。第5の実施形態
の磁気ヘッドスライダ1では、図2で示した磁気ヘッド
スライダ1と空気流出端2側に位置するパッドが異な
る。第5の実施形態の磁気ヘッドスライダ1では、一対
のサイドパッド14a、14bがあり、それぞれサイド
リアステップ軸受け10a、10bと、このサイドリア
ステップ軸受け10a、10bに続いて形成されたサイ
ドレール面11a、11bから構成される。
気ヘッドスライダを示す平面図である。第5の実施形態
の磁気ヘッドスライダ1では、図2で示した磁気ヘッド
スライダ1と空気流出端2側に位置するパッドが異な
る。第5の実施形態の磁気ヘッドスライダ1では、一対
のサイドパッド14a、14bがあり、それぞれサイド
リアステップ軸受け10a、10bと、このサイドリア
ステップ軸受け10a、10bに続いて形成されたサイ
ドレール面11a、11bから構成される。
【0056】サイドリアステップ軸受け10a、10b
の深さはフロントステップ軸受け5の深さδs=150
nmで同一である。また、ディスク記録媒体25に対し
て情報を記録・再生する磁気トランスデューサ19は一
対のサイドパッドのいずれか一方、あるいは両方に形成
される。第5の実施形態の磁気ヘッドスライダ1では、
第1及び2の実施形態の磁気ヘッドスライダの浮上量制
御機能を一対のサイドパッド14a,14bのサイドリ
アステップ軸受けの空気流入側に広がる負圧溝12に形
成する圧力制御溝30により実現するものである。この
圧力制御溝30の形状及びサイドリアステップ軸受け1
0a,10bの空気流入端との間の最小距離Drは30
μmである。
の深さはフロントステップ軸受け5の深さδs=150
nmで同一である。また、ディスク記録媒体25に対し
て情報を記録・再生する磁気トランスデューサ19は一
対のサイドパッドのいずれか一方、あるいは両方に形成
される。第5の実施形態の磁気ヘッドスライダ1では、
第1及び2の実施形態の磁気ヘッドスライダの浮上量制
御機能を一対のサイドパッド14a,14bのサイドリ
アステップ軸受けの空気流入側に広がる負圧溝12に形
成する圧力制御溝30により実現するものである。この
圧力制御溝30の形状及びサイドリアステップ軸受け1
0a,10bの空気流入端との間の最小距離Drは30
μmである。
【0057】第5の実施形態の磁気ヘッドスライダ1の
圧力制御溝30は左右の形状を異なるものとすること
で、浮上量の制御だけでなく、浮上量アンバランス、す
なわち、スライダ短手方向の浮上姿勢角も制御可能とな
る。したがって、左右の圧力制御溝30の対称性には何
ら制約はない。
圧力制御溝30は左右の形状を異なるものとすること
で、浮上量の制御だけでなく、浮上量アンバランス、す
なわち、スライダ短手方向の浮上姿勢角も制御可能とな
る。したがって、左右の圧力制御溝30の対称性には何
ら制約はない。
【0058】図13は本発明の第6の実施形態に係る磁
気ヘッドスライダを示す平面図である。第6の実施形態
の磁気ヘッドスライダ1では、第5の実施形態とほとん
ど同様に構成をとる。異なる点は、圧力制御溝30を複
数の円形パターンで形成するものであり、浮上量及びス
ライダ短手方向の制御効果は同じである。
気ヘッドスライダを示す平面図である。第6の実施形態
の磁気ヘッドスライダ1では、第5の実施形態とほとん
ど同様に構成をとる。異なる点は、圧力制御溝30を複
数の円形パターンで形成するものであり、浮上量及びス
ライダ短手方向の制御効果は同じである。
【0059】図14は本発明の第7の実施形態に係る磁
気ヘッドスライダを示す平面図、図15は同じく第8の
実施形態を示す平面図、図16は同じく第9の実施形態
を示す平面図、図17は同じく第10の実施形態を示す
平面図である。
気ヘッドスライダを示す平面図、図15は同じく第8の
実施形態を示す平面図、図16は同じく第9の実施形態
を示す平面図、図17は同じく第10の実施形態を示す
平面図である。
【0060】図14から図17に示した第7から第10
の実施形態の磁気ヘッドスライダ1は、浮上量を増加さ
せる(スライダを媒体から遠ざける)方向に作用する機
能を有する。この機能は本発明の第1から第6の実施形
態で示した浮上量低減作用の反対の作用である。この作
用は、負圧溝12に形成する圧力制御溝30の位置を空
気流入側から空気流出側に向かってサイドステップ軸受
け8及び9によって囲まれる負圧溝12より、負圧が大
気圧へ遷移する領域に圧力制御溝30を形成することで
実現できる。この作用は負圧溝12で空気流入側から空
気流出側にかけて、圧力制御溝30が負圧の発生領域を
縮小し、大気圧に近い領域を増加させる働きによる。
の実施形態の磁気ヘッドスライダ1は、浮上量を増加さ
せる(スライダを媒体から遠ざける)方向に作用する機
能を有する。この機能は本発明の第1から第6の実施形
態で示した浮上量低減作用の反対の作用である。この作
用は、負圧溝12に形成する圧力制御溝30の位置を空
気流入側から空気流出側に向かってサイドステップ軸受
け8及び9によって囲まれる負圧溝12より、負圧が大
気圧へ遷移する領域に圧力制御溝30を形成することで
実現できる。この作用は負圧溝12で空気流入側から空
気流出側にかけて、圧力制御溝30が負圧の発生領域を
縮小し、大気圧に近い領域を増加させる働きによる。
【0061】付言するに、負圧溝に圧力制御溝を形成す
る場合の浮上作用についてであるが、圧力制御溝を設け
ると、負圧溝で発生した負圧を減少させてスライダを媒
体から遠ざける第1の作用と、圧力制御溝を設置するこ
とによるパッドでの圧力発生を低下させてスライダを媒
体に近付ける第2の作用とを奏するのであり、この場
合、圧力制御溝の設置個所によって、第1と第2の作用
の効き目が異なるのである。即ち、図1に示すように、
圧力制御溝をセンタパッドの手前直近に配すれば、第2
の作用が第1の作用より効いてスライダが媒体に近づく
のである。一方、図14のように、負圧から大気圧に遷
移するというような圧力勾配が大きい箇所で且つパッド
から離れた箇所に圧力制御溝を設置すると負圧を一層減
少させて、第1の作用が第2の作用より効いてスライダ
が媒体から遠ざかるのである。
る場合の浮上作用についてであるが、圧力制御溝を設け
ると、負圧溝で発生した負圧を減少させてスライダを媒
体から遠ざける第1の作用と、圧力制御溝を設置するこ
とによるパッドでの圧力発生を低下させてスライダを媒
体に近付ける第2の作用とを奏するのであり、この場
合、圧力制御溝の設置個所によって、第1と第2の作用
の効き目が異なるのである。即ち、図1に示すように、
圧力制御溝をセンタパッドの手前直近に配すれば、第2
の作用が第1の作用より効いてスライダが媒体に近づく
のである。一方、図14のように、負圧から大気圧に遷
移するというような圧力勾配が大きい箇所で且つパッド
から離れた箇所に圧力制御溝を設置すると負圧を一層減
少させて、第1の作用が第2の作用より効いてスライダ
が媒体から遠ざかるのである。
【0062】浮上量を増加させる方向に作用する負圧溝
12に形成する圧力制御溝30の例を第7から第10の
実施形態について説明する。図14に示す第7の実施形
態の磁気ヘッドスライダ1では、スライダ長手方向の長
辺が150μm、スライダ短手方向の短辺が80μmの
長方形の圧力制御溝30が、その長方形のスライダ長手
方向の中央部がほぼサイドステップ軸受けの終端付近に
あり、サイドステップ軸受け8及び9のスライダ内側の
辺とセンタパッド14のスライダ1の外側の辺との間隔
の中央に圧力制御溝30の中央線がくるような位置にあ
り、対称な位置にも圧力制御溝30がある。
12に形成する圧力制御溝30の例を第7から第10の
実施形態について説明する。図14に示す第7の実施形
態の磁気ヘッドスライダ1では、スライダ長手方向の長
辺が150μm、スライダ短手方向の短辺が80μmの
長方形の圧力制御溝30が、その長方形のスライダ長手
方向の中央部がほぼサイドステップ軸受けの終端付近に
あり、サイドステップ軸受け8及び9のスライダ内側の
辺とセンタパッド14のスライダ1の外側の辺との間隔
の中央に圧力制御溝30の中央線がくるような位置にあ
り、対称な位置にも圧力制御溝30がある。
【0063】この圧力制御溝30による浮上量の増加作
用は深さに対して鈍感であり、前述した浮上量の減少作
用に比較するとその制御性は小さい。
用は深さに対して鈍感であり、前述した浮上量の減少作
用に比較するとその制御性は小さい。
【0064】したがって、ステップ深さの例で見るとス
テップ深さが過小加工の場合、図5のB側で生じる浮上
量が小さい状態に対して、浮上量を増加させることに利
用できる。すなわち、図5に示すステップ軸受けの過小
深さでスライダが媒体に近付いた分だけ、図14に示す
圧力制御溝の設置によりスライドを媒体から遠ざけよう
とするものである。このとき、加工する圧力制御溝30
の深さRcavityは負圧溝12の1.5倍程度で良
く、加工量に対して浮上量の変化が飽和しているために
低い加工精度で加工できる。
テップ深さが過小加工の場合、図5のB側で生じる浮上
量が小さい状態に対して、浮上量を増加させることに利
用できる。すなわち、図5に示すステップ軸受けの過小
深さでスライダが媒体に近付いた分だけ、図14に示す
圧力制御溝の設置によりスライドを媒体から遠ざけよう
とするものである。このとき、加工する圧力制御溝30
の深さRcavityは負圧溝12の1.5倍程度で良
く、加工量に対して浮上量の変化が飽和しているために
低い加工精度で加工できる。
【0065】第8の実施形態の磁気ヘッドスライダ1は
第7の実施形態の磁気ヘッドスライダ1の圧力制御溝3
0として長方形パターンに変わって、直径50μmの円
形パターンをピッチ80μmで直列に配置したものであ
る。この実施形態も浮上量増加の作用を実現できる。
第7の実施形態の磁気ヘッドスライダ1の圧力制御溝3
0として長方形パターンに変わって、直径50μmの円
形パターンをピッチ80μmで直列に配置したものであ
る。この実施形態も浮上量増加の作用を実現できる。
【0066】さらに、第9の実施形態及び第10の実施
形態による磁気ヘッドスライダ1はセンタパッド14に
変わり、サイドパッド14a、14bを有する例であ
る。圧力制御溝30を形成する位置はスライダ長手方向
にはその分布の中央がサイドステップの終端であり、ス
ライダ短手方向にはスライダの中央である。圧力制御溝
30の形状はそれぞれ長方形、複数の円形パターンであ
るが、その外の形状でも構わない。これらの実施形態に
よる磁気ヘッドスライダも圧力制御溝30の深さRca
vityを負圧溝12の1.5倍ぐらいで形成すれば浮
上量を増加させる作用を得ることが可能であり、浮上量
の制御に利用できる。
形態による磁気ヘッドスライダ1はセンタパッド14に
変わり、サイドパッド14a、14bを有する例であ
る。圧力制御溝30を形成する位置はスライダ長手方向
にはその分布の中央がサイドステップの終端であり、ス
ライダ短手方向にはスライダの中央である。圧力制御溝
30の形状はそれぞれ長方形、複数の円形パターンであ
るが、その外の形状でも構わない。これらの実施形態に
よる磁気ヘッドスライダも圧力制御溝30の深さRca
vityを負圧溝12の1.5倍ぐらいで形成すれば浮
上量を増加させる作用を得ることが可能であり、浮上量
の制御に利用できる。
【0067】以上が本発明による負圧溝12に形成する
圧力制御溝30によって浮上量を制御できる磁気ヘッド
スライダの実施形態である。最後に、具体的に本発明を
利用して浮上量の制御をした構成例を用いその有効性に
ついて説明する。
圧力制御溝30によって浮上量を制御できる磁気ヘッド
スライダの実施形態である。最後に、具体的に本発明を
利用して浮上量の制御をした構成例を用いその有効性に
ついて説明する。
【0068】図18が本発明による磁気ヘッドスライダ
の第11の実施形態を示す平面図である。第11の実施
形態は図2で示した磁気ヘッドスライダ1に対して、浮
上量を制御するために第1の実施形態で説明したセンタ
パッド14の空気流入端側に広がる負圧溝12に形成し
た多角形のリア圧力制御溝30aと、浮上姿勢角を制御
する目的でフロントパッド13の負圧溝12に形成した
多角形のフロント圧力制御溝30bを備えている。
の第11の実施形態を示す平面図である。第11の実施
形態は図2で示した磁気ヘッドスライダ1に対して、浮
上量を制御するために第1の実施形態で説明したセンタ
パッド14の空気流入端側に広がる負圧溝12に形成し
た多角形のリア圧力制御溝30aと、浮上姿勢角を制御
する目的でフロントパッド13の負圧溝12に形成した
多角形のフロント圧力制御溝30bを備えている。
【0069】ここで、リア圧力制御溝30aとリアステ
ップ軸受け10の空気流入端との最小距離Drは30μ
mであり、フロント圧力制御溝30bとフロントステッ
プ軸受け5の空気流出端との最小距離Dfは100μm
である。
ップ軸受け10の空気流入端との最小距離Drは30μ
mであり、フロント圧力制御溝30bとフロントステッ
プ軸受け5の空気流出端との最小距離Dfは100μm
である。
【0070】第11の実施形態の磁気ヘッドスライダ1
を図4で示した磁気ディスク装置28で使用した場合に
ついて説明する。まず、リア圧力制御溝30aとフロン
ト圧力制御溝30bを形成しないサンプル、すなわち、
図2で示したような典型的な磁気ヘッドスライダ1を設
計時のサンプルとしてその浮上プロファイルを図19に
示してある。これに対してステップ軸受けの深さδsを
ノミナルの150nmに対して20nm過剰に加工して
しまったサンプルの浮上プロファイルも示す。
を図4で示した磁気ディスク装置28で使用した場合に
ついて説明する。まず、リア圧力制御溝30aとフロン
ト圧力制御溝30bを形成しないサンプル、すなわち、
図2で示したような典型的な磁気ヘッドスライダ1を設
計時のサンプルとしてその浮上プロファイルを図19に
示してある。これに対してステップ軸受けの深さδsを
ノミナルの150nmに対して20nm過剰に加工して
しまったサンプルの浮上プロファイルも示す。
【0071】そして、ステップ軸受けの深さを過剰加工
してまった前述のサンプルに対して、浮上量を制御する
ために第11の実施形態の磁気ヘッドスライダ1につい
て1.6μmのリア圧力制御溝30aとフロント圧力制
御溝30bを形成したサンプルの浮上プロファイルの比
較を図19に示す。
してまった前述のサンプルに対して、浮上量を制御する
ために第11の実施形態の磁気ヘッドスライダ1につい
て1.6μmのリア圧力制御溝30aとフロント圧力制
御溝30bを形成したサンプルの浮上プロファイルの比
較を図19に示す。
【0072】図19では、設計時のサンプルの浮上プロ
ファイルは内周から外周にかけて1.8nm上昇する程
度である。一方、ステップ深さを設計よりも20nm過
剰加工となったサンプルでは、内周で1.8nm、外周
で6nm近く浮上量が増加し外周上がりの浮上プロファ
イルとなってしまっている。
ファイルは内周から外周にかけて1.8nm上昇する程
度である。一方、ステップ深さを設計よりも20nm過
剰加工となったサンプルでは、内周で1.8nm、外周
で6nm近く浮上量が増加し外周上がりの浮上プロファ
イルとなってしまっている。
【0073】これに対して、本発明による圧力制御溝3
0を第11の実施形態のように深さ1.6μmで形成す
ることによって、浮上量を内周でほぼ設計値に、外周で
設計値より0.8nm程度高い程度の値に補正されてお
り本発明の有効性が示されている。
0を第11の実施形態のように深さ1.6μmで形成す
ることによって、浮上量を内周でほぼ設計値に、外周で
設計値より0.8nm程度高い程度の値に補正されてお
り本発明の有効性が示されている。
【0074】次に、本発明の実施形態に係る磁気ヘッド
スライダの製造方法について説明する。ウエハを切断し
てその浮上面・裏面をラッピングした後に、深い溝を形
成して図1に示すような負圧溝12を形成する。続い
て、浅い溝を形成して図1に示すようなステップ軸受け
5,8,9,10を形成する。次に、前記ステップ軸受
けの深さを測定してその設計値からのシフト量を求め
る。前記深さ測定値、シフト量に基づいて圧力制御溝3
0を形成し、その際の図7に示すような圧力制御溝の深
さRcavityは図8に示すようなデータに基づいて
形成する。このように、ステップ軸受けのレール面11
からの深さδsを測定しその測定値に基づいて圧力制御
溝30の深さRcavityを求めて形成するのであ
る。
スライダの製造方法について説明する。ウエハを切断し
てその浮上面・裏面をラッピングした後に、深い溝を形
成して図1に示すような負圧溝12を形成する。続い
て、浅い溝を形成して図1に示すようなステップ軸受け
5,8,9,10を形成する。次に、前記ステップ軸受
けの深さを測定してその設計値からのシフト量を求め
る。前記深さ測定値、シフト量に基づいて圧力制御溝3
0を形成し、その際の図7に示すような圧力制御溝の深
さRcavityは図8に示すようなデータに基づいて
形成する。このように、ステップ軸受けのレール面11
からの深さδsを測定しその測定値に基づいて圧力制御
溝30の深さRcavityを求めて形成するのであ
る。
【0075】図14に示す圧力制御溝30を設置するの
はスライダを媒体から遠ざける作用を奏するものであっ
て、前記圧力制御溝の設置箇所については図1のものと
異なるが、その製造工程の手順については図1のものと
同一である。更に、図18に示す浮上姿勢角30bを設
ける製造手順も圧力制御溝30aと同様である。
はスライダを媒体から遠ざける作用を奏するものであっ
て、前記圧力制御溝の設置箇所については図1のものと
異なるが、その製造工程の手順については図1のものと
同一である。更に、図18に示す浮上姿勢角30bを設
ける製造手順も圧力制御溝30aと同様である。
【0076】以上説明したように、本発明の実施形態
は、次のような構成例を含むものである。
は、次のような構成例を含むものである。
【0077】空気流入端と浮上面と空気流出端とを備
え、前記浮上面が、前記空気流入端から連続形成された
サブミクロンの深さを有するフロントステップ軸受け
と、前記フロントステップ軸受けから連続形成されたレ
ール面と、前記レール面から連続形成された前記フロン
トステップ軸受けより深い負圧溝と、前記レール面から
連続形成された前記フロントステップ軸受けと同一深さ
を有するサイドステップ軸受けと、で形成されるフロン
トパッドと、前記フロントパッドと前記負圧溝で隔てら
れ、前記フロントステップ軸受けと同一深さを有するリ
アステップ軸受けと、前記リアステップ軸受けから連続
形成されたレール面と、で構成されるリアパッドを1つ
以上有し、少なくとも1つの前記リアパッドで前記レー
ル面の空気流出端近傍に磁気トランスデューサを有する
磁気ヘッドスライダにおいて、前記リアパッドの空気流
入側に広がる前記負圧溝に、前記負圧溝よりも深い深さ
で形成された圧力制御溝を有し、前記負圧溝との境界線
が閉曲線あるいは3辺以上の多角形であるような前記圧
力制御溝を1つ以上有する磁気ヘッドスライダである。
ここで形成した圧力制御溝の形状、深さ、形成位置を浮
上量に応じて設定することで、磁気ヘッドスライダの浮
上量を制御し、浮上量ばらつきを低減する。
え、前記浮上面が、前記空気流入端から連続形成された
サブミクロンの深さを有するフロントステップ軸受け
と、前記フロントステップ軸受けから連続形成されたレ
ール面と、前記レール面から連続形成された前記フロン
トステップ軸受けより深い負圧溝と、前記レール面から
連続形成された前記フロントステップ軸受けと同一深さ
を有するサイドステップ軸受けと、で形成されるフロン
トパッドと、前記フロントパッドと前記負圧溝で隔てら
れ、前記フロントステップ軸受けと同一深さを有するリ
アステップ軸受けと、前記リアステップ軸受けから連続
形成されたレール面と、で構成されるリアパッドを1つ
以上有し、少なくとも1つの前記リアパッドで前記レー
ル面の空気流出端近傍に磁気トランスデューサを有する
磁気ヘッドスライダにおいて、前記リアパッドの空気流
入側に広がる前記負圧溝に、前記負圧溝よりも深い深さ
で形成された圧力制御溝を有し、前記負圧溝との境界線
が閉曲線あるいは3辺以上の多角形であるような前記圧
力制御溝を1つ以上有する磁気ヘッドスライダである。
ここで形成した圧力制御溝の形状、深さ、形成位置を浮
上量に応じて設定することで、磁気ヘッドスライダの浮
上量を制御し、浮上量ばらつきを低減する。
【0078】
【発明の効果】以上のように磁気ヘッドスライダの浮上
量が加工起因で変化した場合に、負圧溝12に圧力制御
溝30として制御したい浮上量に応じて深さや位置、形
状を決めてやれば、磁気ヘッドスライダの浮上量を適正
な値に制御することが可能となり結果的に浮上量ばらつ
きを低減できる。
量が加工起因で変化した場合に、負圧溝12に圧力制御
溝30として制御したい浮上量に応じて深さや位置、形
状を決めてやれば、磁気ヘッドスライダの浮上量を適正
な値に制御することが可能となり結果的に浮上量ばらつ
きを低減できる。
【図1】本発明の第1の実施形態に係る磁気ヘッドスラ
イダの斜視図である。
イダの斜視図である。
【図2】本発明が有効な効果を発揮できる典型的な磁気
ヘッドスライダの平面図である。
ヘッドスライダの平面図である。
【図3】図2中のA−A’線の断面図である。
【図4】本発明に係る磁気ヘッドスライダを搭載した磁
気ディスク装置の平面図である。
気ディスク装置の平面図である。
【図5】図2で示した磁気ヘッドスライダのステップ軸
受け深さδsの設計値(ノミナル値)からのシフト量と
浮上量の設計値からの変化量との関係を示すグラフであ
る。
受け深さδsの設計値(ノミナル値)からのシフト量と
浮上量の設計値からの変化量との関係を示すグラフであ
る。
【図6】本発明の第1の実施形態に係る磁気ヘッドスラ
イダの平面図である。
イダの平面図である。
【図7】図6中のA−A’線の断面図である。
【図8】第1の実施形態に係る磁気ヘッドスライダにお
ける圧力制御溝の深さと浮上量の関係を示すグラフであ
る。
ける圧力制御溝の深さと浮上量の関係を示すグラフであ
る。
【図9】本発明の第2の実施形態に係る磁気ヘッドスラ
イダの平面図である。
イダの平面図である。
【図10】本発明の第3の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図11】本発明の第4の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図12】本発明の第5の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図13】本発明の第6の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図14】本発明の第7の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図15】本発明の第8の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図16】本発明の第9の実施形態に係る磁気ヘッドス
ライダの平面図である。
ライダの平面図である。
【図17】本発明の第10の実施形態に係る磁気ヘッド
スライダの平面図である。
スライダの平面図である。
【図18】本発明の第11の実施形態に係る磁気ヘッド
スライダの平面図である。
スライダの平面図である。
【図19】第11に実施形態を構成例として、本発明の
効果を浮上プロファイルで比較するグラフである。
効果を浮上プロファイルで比較するグラフである。
1 スライダ 2 空気流入端 3 浮上面 4 空気流出端 5 フロントステップ軸受け 6,7 一対のレール面 8,9 一対のサイドステップ軸受け 10 リアステップ軸受け 10a,10b 一対のサイドリアステップ軸受け 11 センタレール面 11a,11b 一対のサイドレール面 12 負圧溝 13 フロントパッド 14 センタパッド 14a,14b 一対のリアサイドパッド 19 磁気トランスデュ−サ 20 サスペンション 24 キャリッジ 25 ディスク記録媒体 26 スピンドル 27 回転アクチュエータ 28 磁気ディスク装置 30 圧力制御溝 30a リア圧力制御溝 30b フロント圧力制御溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遠藤 正義 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内 (72)発明者 厚見 昌宏 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内 Fターム(参考) 5D042 NA02 PA01 PA05 QA02
Claims (11)
- 【請求項1】 レール面、前記レール面より深いステッ
プ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、から
なる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた
磁気ヘッドスライダにおいて、 前記空気流入端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるフロントパッドと、 前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるとともに、前記フロントパッドと前記負
圧溝で隔てられたリアパッドと、 前記リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設け
られた磁気トランスデューサと、 前記リアパッドの空気流入側の前記負圧溝に、前記負圧
溝より深く形成された圧力制御溝と、を備え、 前記圧力制御溝は、直線又は曲線で囲まれた領域を前記
負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮上量を減少さ
せることを特徴とする磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項2】 レール面、前記レール面より深いステッ
プ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、から
なる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた
磁気ヘッドスライダにおいて、 前記空気流入端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるフロントパッドと、 前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるとともに、前記フロントパッドと前記負
圧溝で隔てられたリアパッドと、 前記リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設け
られた磁気トランスデューサと、 前記リアパッドへの空気流入経路から外れ且つ前記負圧
溝の圧力勾配の高い箇所に、前記負圧溝より深く形成さ
れた圧力制御溝と、を備え、 前記圧力制御溝は、直線及び又は曲線で囲まれた領域を
前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮上量を増
加させることを特徴とする磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項3】 レール面、前記レール面より深いステッ
プ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、から
なる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた
磁気ヘッドスライダにおいて、 前記空気流入端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるフロントパッドと、 前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるとともに、前記フロントパッドと前記負
圧溝で隔てられたリアパッドと、 前記リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設け
られた磁気トランスデューサと、 前記フロントパッドで囲まれる負圧溝に、前記負圧溝よ
り深く形成された圧力制御溝と、を備え、 前記圧力制御溝は、直線及び又は曲線で囲まれた領域を
前記負圧溝に形成し、前記空気流入端側の浮上量を減少
させることを特徴とする磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項4】 レール面、前記レール面より深いステッ
プ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、から
なる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた
磁気ヘッドスライダにおいて、 前記空気流入端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるフロントパッドと、 前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるとともに、前記フロントパッドと前記負
圧溝で隔てられたリアパッドと、 前記リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設け
られた磁気トランスデューサと、 前記リアパッドの空気流入側の前記負圧溝に、前記負圧
溝より深く形成された第1の圧力制御溝と、 前記フロントパッドで囲まれる負圧溝に、前記負圧溝よ
り深く形成された第2の圧力制御溝と、を備え、 前記第1の圧力制御溝は、直線又は曲線で囲まれた領域
を前記負圧溝に形成し、前記空気流出端近傍の浮上量を
減少させ、 前記第2の圧力制御溝は、直線及び又は曲線で囲まれた
領域を前記負圧溝に形成し、前記空気流入端側の浮上量
を減少させることを特徴とする磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項5】 レール面、前記レール面より深いステッ
プ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、から
なる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた
磁気ヘッドスライダにおいて、 前記空気流入端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるフロントパッドと、 前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるとともに、前記フロントパッドと前記負
圧溝で隔てられたリアパッドと、 前記リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設け
られた磁気トランスデューサと、 前記リアパッドの空気流入側の前記負圧溝に、前記負圧
溝より深く形成された圧力制御溝と、を備え、 前記圧力制御溝は直線又は曲線で囲まれた領域を前記負
圧溝に形成し、 前記圧力制御溝の深さは、前記空気流出端近傍の浮上量
を変化させる形状又は寸法に関連付けされて形成される
ことを特徴とする磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項6】 レール面、前記レール面より深いステッ
プ軸受け、前記ステップ軸受け面より深い負圧溝、から
なる浮上面と、空気流入端と、空気流出端と、を備えた
磁気ヘッドスライダにおいて、 前記空気流入端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるフロントパッドと、 前記空気流出端側に、前記レール面と前記ステップ軸受
けで形成されるとともに、前記フロントパッドと前記負
圧溝で隔てられたリアパッドと、 前記リアパッドの前記レール面の空気流出端近傍に設け
られた磁気トランスデューサと、 前記リアパッドの空気流入側の前記負圧溝に、前記負圧
溝より深く形成された圧力制御溝と、を備え、 前記圧力制御溝は直線又は曲線で囲まれた領域を前記負
圧溝に形成し、 前記圧力制御溝の深さは、前記ステップ軸受けのレール
面からの深さに関連付けされて形成されることを特徴と
する磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項7】 請求項1又は6に記載の磁気ヘッドスラ
イダにおいて、 前記リアパッドのステップ軸受けの空気流入端面と、そ
の垂線上で圧力制御溝の最も近接している部位と、の距
離Drが、 0μm<Dr<100μm であることを特徴とする磁
気ヘッドスライダ。 - 【請求項8】 請求項3に記載の磁気ヘッドスライダに
おいて、 前記フロントパッドのステップ軸受けの空気流出端と、
その垂線上で圧力制御溝の最も近接している部位と、の
距離Dfが、 0μm<Df<200μm であることを特徴とする磁
気ヘッドスライダ。 - 【請求項9】 請求項1、3又は6に記載の磁気ヘッド
スライダにおいて、 前記レール面を基準とした前記圧力制御溝の深さRca
vityと前記レール面を基準とした前記負圧溝の深さ
Rとの比が、 1<(Rcavity/R)<100 であることを特徴とする磁気ヘッドスライダ。 - 【請求項10】 請求項1乃至9のいずれか1つの請求
項に記載の磁気ヘッドスライダにおいて、 前記圧力制御溝は3辺以上の多角形状又は複数の円形形
状群から形成されることを特徴とする磁気ヘッドスライ
ダ。 - 【請求項11】 請求項1乃至10のいずれか1つの請
求項に記載の磁気ヘッドスライダを搭載したことを特徴
とする磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11162712A JP2000353370A (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 負圧溝に形成する圧力制御溝で浮上量を制御できる磁気ヘッドスライダ及びそれを搭載した磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11162712A JP2000353370A (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 負圧溝に形成する圧力制御溝で浮上量を制御できる磁気ヘッドスライダ及びそれを搭載した磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000353370A true JP2000353370A (ja) | 2000-12-19 |
Family
ID=15759870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11162712A Pending JP2000353370A (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 負圧溝に形成する圧力制御溝で浮上量を制御できる磁気ヘッドスライダ及びそれを搭載した磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000353370A (ja) |
Cited By (11)
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-
1999
- 1999-06-09 JP JP11162712A patent/JP2000353370A/ja active Pending
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