JP2003127162A - 樹脂封止方法 - Google Patents

樹脂封止方法

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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体素子と配線板との接合強度の低下およ
び電気的接合部の破壊を生じることなく、キャビティC
内に配置された樹脂タブレットを加熱下で押圧すること
ができる樹脂封止方法を提供する。 【解決手段】 枠状金型22と、この枠状金型の枠内に可
動に嵌合する圧縮金型21と、枠状金型及び圧縮金型に対
向して配置された対向金型3とにより周囲を規定される
キャビティC内に、樹脂タブレットを圧縮金型の上面に
載置し、キャビティC内で被成形品を樹脂タブレットに
向き合うように配置し、圧縮金型の位置検出値と所定の
数式とに基づいてこの圧縮金型の昇降速度を算出し、そ
の算出結果に従って押圧手段による圧縮金型の昇降速度
を制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体素子
を搭載した基板(基板、リードフレーム)等を樹脂で封
止する樹脂封止方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の方法について図5乃至図7を用い
て説明する。
【0003】従来の樹脂封止方法は、固定上金型と、上
下に可動する枠状金型と、この枠状金型の枠内に可動に
嵌合する圧縮金型とからなる下型とから構成される金型
の、上型と枠状金型との間に、半導体素子を搭載し、電
気的接続をした配線板を挟み込む。
【0004】上型および枠状金型、圧縮金型はヒータに
より加熱されており、枠状金型と圧縮金型は昇降機構で
昇降自在となっている。
【0005】タブレット状に成形した熱硬化性樹脂(以
下、樹脂タブレットという)を圧縮金型の上面に載置
し、加熱溶融させ、圧縮金型で配線板方向に押し潰すこ
とにより配線板と枠状金型と圧縮金型で形成されるキャ
ビティC内に樹脂を充満させることで樹脂成形を成す。
【0006】樹脂タブレットが圧縮される際の平面的な
流動先端部の動きを図7に示す。
【0007】また、圧縮金型を等速度で上昇させた際の
流動先端部の流速変化を図5に示す。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】これらの図5及び図7
からも明らかな様に、溶融状態の樹脂は最終段階で成形
品の角部付近で急激に流速を増すことが判明している。
半導体素子が図8に示すように一様に配置されている場
合、角部付近の半導体素子は大きなせん断応力を受ける
ことになり、素子と配線板との接合強度の低下や、電気
的接合部の破壊を生じる問題があった。
【0009】本発明は上記の課題を解決するためになさ
れたものであり、半導体素子と配線板との接合強度の低
下および電気的接合部の破壊を生じることなく、キャビ
ティC内に配置された樹脂タブレットを加熱溶融させ、
最適の昇降速度で圧縮金型を押圧することができる半導
体樹脂封止方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る樹脂封止方
法は、枠状金型と、この枠状金型の枠内に可動に嵌合す
る圧縮金型と、前記枠状金型及び圧縮金型に対向して配
置された対向金型とにより周囲を規定されるキャビティ
C内に、樹脂タブレットを前記圧縮金型の上面に載置
し、被成形品を前記キャビティC内で前記樹脂タブレッ
トに向き合うように配置し、位置検出手段により検出し
た前記圧縮金型の位置検出値と所定の数式とに基づいて
流動先端速度を算出し、その算出結果に従って押圧手段
による前記圧縮金型の昇降速度を制御することを特徴と
する。
【0011】上記の所定の数式は、少なくとも3種類の
速度算出をする連続関数を持ち、前記位置検出値により
使用関数を変更するものとする。前記位置検出手段(ギ
ャップセンサ)は、上昇時に圧縮金型の変位を検出する
ことにより、圧縮金型の位置を常に監視しており、予め
計算されたデータテーブルとの比較により、流動先端速
度が規定値に達する位置に変速点を設け、圧縮金型の上
昇速度を変更する。その変速点は次式(1)〜(3)に
従って決定する。すなわち、予め設定した初期の圧縮金
型上昇速度vpから算出した流動先端速度vが予め規定
した流動先端速度の許容値に達する圧縮金型の位置を変
速点とする。この変速点以降はvpに予め設定した第2
の圧縮金型上昇速度を代入し、同様の計算を進め前記流
動先端速度の規定値に達したなら、同様に予め設定した
第3の圧縮金型上昇速度を代入し、計算を進める。
【0012】これを繰り返し、作成した圧縮金型の位置
に対する速度値を格納したものが、前記データテーブル
となる。
【0013】実際の動作は、前記ギャップセンサにより
検出した位置により、前記データテーブルを参照しなが
ら圧縮金型の上昇速度を変更する。流動先端速度vは、
条件によって次の(1)〜(3)式が与えられる。
【0014】樹脂タブレットが枠状金型に接していない
時の流動先端速度vは下式(1)で与えられる。
【0015】
【数1】
【0016】樹脂タブレットが枠状金型の2辺のみに接
している時の流動先端速度vは下式(2)で与えられ
る。
【0017】
【数2】
【0018】樹脂タブレットが枠状金型の4辺に接して
いる時の流動先端速度vは下式(3)で与えられる。
【0019】
【数3】
【0020】上式(1)〜(3)においては、時間tを
変数としているが、圧縮金型上昇速度vpと位置hとを
用いてt=h/vpの関係から容易に換算することがで
きる。従って、流動先端速度vに達する圧縮金型位置を
求めることができる。なお、樹脂は溶融圧縮の段階で1
0%程度の密度変位がある。これは、誤差として無視で
きるが、溶融、圧縮後の密度を使用し、タブレット体積
を換算してもよい。
【0021】上記のように溶融樹脂の流動先端が単純に
同心円に広がる状態と、長辺に接触した後の広がる状態
と、短辺に達した後に角部を充たして行く状態の3つの
状態に対し、それぞれ上式(1)〜(3)の速度方程式
を持ち、圧縮金型の位置により使用する方程式を変更し
て、より微細に流動速度を制御することができる。すな
わち、溶融樹脂の流動先端位置の流速が一定の値を超え
ないように圧縮金型の昇降速度を制御することができる
ので、キャビティC内の四隅近傍に位置する回路が損傷
すること無く、円形の断面形状をもつ樹脂タブレットの
溶融物を矩形の断面形状をもつキャビティC内の隅々に
至るまで行き渡らせることができる。
【0022】なお、本発明の成形対象物となる被成形品
は、半導体素子を搭載し電気的接続を施した配線基板ま
たはリードフレームである。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の好ましい実施の形態について説明する。
【0024】図1乃至図3に示すように、樹脂封止装置
1の金型は、本体フレーム17に固定された上型3と、
昇降機構51(9〜12),52(7)に可動支持され
た下型2とで構成されている。
【0025】この下型2は、図3に示すように圧縮金型
21および枠状金型22を備えている。圧縮金型21は
枠状金型22の枠内に可動に嵌合している。前者は昇降
機構51(9〜12)により昇降駆動され、後者は昇降
機構52(7)により昇降駆動されるようになってい
る。これらの両昇降機構51,52は制御器50により
駆動制御されるようになっている。圧縮金型21、枠状
金型22および配線板42により周囲を規定されるスペ
ースがキャビティCとなる。このキャビティC内に樹脂
タブレット44が配置され、所定の加熱加圧条件下で樹
脂封止成形が行われるようになっている。
【0026】上型3はヒータ4aにより加熱され、下型
の枠状金型22及び圧縮金型21はヒータ4bにより加
熱されるようになっている。
【0027】上型3は被成形品41を保持するためのレ
ール5を備えている。枠状金型22とベース6aとの間
にはバネ7が介在している。圧縮金型21はベース6
a,6bと断熱材8を介して可動プラテン9に取り付ら
れている。
【0028】可動プラテン9はボールネジ10とベルト
11を介してモータ12により上下に移動されるように
なっている。
【0029】図6に示すように、枠状金型22の上端面
の四隅には金型の外部に連通するエアベント23がそれ
ぞれ形成され、成形時にキャビティC内のエアが迅速に
排出されるようになっている。樹脂タブレット44は、
キャビティC内において枠状金型の周壁22aから離し
て配置される。すなわち、キャビティCのほぼ中央に置
かれた樹脂タブレット44は、底面のみが圧縮金型の上
面21aに接触し、側周面および上面は、周囲の金型部
材と被成形品の半導体素子とには非接触である。
【0030】制御器50は、ギャップセンサからの情報
に基づいて昇降機構51の圧縮金型上昇速度vpを制御
することにより、圧縮金型21の上昇速度を制御する。
【0031】なお、枠状金型22と圧縮金型21は微細
な隙間により嵌合しているので、溶融した樹脂が金型2
1,22間の摺動面に侵入することはほとんどない。
【0032】次に、上記装置を用いて半導体素子を基板
上に搭載した配線板を樹脂封止する場合について説明す
る。
【0033】レール5内に被成形品41を配置し、樹脂
タブレット44を圧縮金型21の上面に載置し、昇降機
構51,52により枠状金型22と圧縮金型21とを上
昇させ、上型3と枠状金型22とで配線板42の周縁部
を挟み込む。
【0034】配線板42を挟み込んだ後は、バネ7が圧
縮され、配線板42の周縁部を押える。そのまま圧縮金
型21の上昇を続行し、樹脂タブレット44を押し潰す
ことにより配線板42と枠状金型22と圧縮金型21で
形成されるキャビティC内に溶融樹脂を充満させること
により樹脂成形がなされる。
【0035】この樹脂成形中においては、ギャップセン
サ14を用いて圧縮金型21の変位を検出し、予め計算
されたデータテーブルとの比較により、樹脂流動先端速
度vが規定値に達する位置に変速点を設け、圧縮金型上
昇速度を変更する。
【0036】変速点は上述した数式(1)〜(3)に従
って以下のように決定する。
【0037】樹脂が枠状金型の周壁22aに接していな
い場合は、溶融樹脂の流動先端速度vは上式(1)で与
えられる。
【0038】樹脂が枠状金型の周壁22aの2辺(長
辺)のみに接している場合は、溶融樹脂の流動先端速度
vは上式(2)で与えられる。
【0039】樹脂が枠状金型の周壁22aの4辺(長辺
及び短辺)に接している場合は、溶融樹脂の流動先端速
度vは上式(3)で与えられる。
【0040】上式(1)〜(3)においては、時間tを
変数としているが、圧縮金型上昇速度vpと位置hを用
いてt=h/vpから容易に換算できる。従って、流動
先端速度vに達する圧縮金型位置を求めることができ
る。なお、樹脂は溶融圧縮の段階で10%程度の密度変
位がある。これは、誤差としてこれは無視することがで
きるが、溶融、圧縮後の密度を使用し、タブレット体積
を換算してもよい。
【0041】また、より緻密な流速制御を行う方法とし
て、上式(1)〜(3)の逆関数により、圧縮金型22
の位置毎に速度を制御し、流速がほぼ一定速度となるよ
うに制御することも可能である。ただし、最終速度は必
ず無限大に漸近するため、流速を保つことには限界があ
る。しかし、封止対象となる製品は図8に示すように、
半導体素子Aが搭載されている領域(例えば、L11×
L12)は、外周より内側にあり、現実に流速を制御す
るのは、半導体素子43の存在する範囲まででよい。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、半導体素子と配線板と
の接合強度の低下および電気的接合部の破壊を生じるこ
となく、キャビティ中央に配置された樹脂タブレットを
加熱下で押圧することができるので、不合格品が無くな
り、製品の歩留まりが格段に向上する。特に厚さ0.5
mm以下で、面積30mm角以上の薄型大型パッケージ
に対してもキャビティの四隅近傍に位置する回路に損傷
を生じることなく、樹脂を行き渡らせることができる。
このため、不合格品がほとんど発生しない等の効果が大
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の樹脂封止方法に用いる装置の要部を切
り欠いて示す部分断面図。
【図2】本発明の樹脂封止方法に用いる装置の金型及び
駆動部を示す断面図。
【図3】本発明の樹脂封止方法に用いる装置の金型にセ
ットされた成形前の配線板と樹脂タブレットを示すブロ
ック断面図。
【図4】成形中の配線板と樹脂を示す内部透視断面図。
【図5】一定速度で圧縮した場合の樹脂の流動先端部の
速度変位を示すグラフ。
【図6】金型内に投入された溶融成形樹脂タブレットを
示す斜視図。
【図7】一定速度で圧縮した場合の樹脂の流動を模式的
に示した図。
【図8】成形品である基板に半導体素子を搭載した状態
を示す平面図。
【符号の説明】
1…樹脂封止装置、 2…下型、 21…圧縮金型、 22…枠状金型、 3…上型(対向金型)、 4a,4b…ヒータ、 5…レール、 6…ベース、 7…枠状金型を押し上げるバネ、 8…断熱材、 9…可動プラテン、 10…ボールネジ、 11…タイミングベルト、 12…モータ、 13…樹脂タブレット、 14…ギャップセンサ、 15…固定ブロック、 16…可動ブロック、 17…本体フレーム、 23…エアベント、 41…被成形品、 44…樹脂タブレット、 50…制御器、 51,52…昇降機構、 C…キャビティ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F202 AD02 AD18 AD19 AH37 AP06 AR08 CA09 CB01 CB17 CQ05 4F204 AA36 AC01 AD03 AH36 AM32 AP06 AR02 AR08 FA01 FB01 FB11 FN11 FN15 FN30 5F061 AA01 BA01 BA03 CA22 DB01

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 枠状金型と、この枠状金型の枠内に可動
    に嵌合する圧縮金型と、前記枠状金型及び圧縮金型に対
    向して配置された対向金型とにより周囲を規定されるキ
    ャビティC内に、樹脂タブレットを前記圧縮金型の上面
    に載置し、 被成形品を前記キャビティC内で前記樹脂タブレットに
    向き合うように配置し、 位置検出手段により検出した前記圧縮金型の位置検出値
    と所定の数式とに基づいて流動先端速度を算出し、その
    算出結果に従って押圧手段による前記圧縮金型の昇降速
    度を制御することを特徴とする樹脂封止方法。
  2. 【請求項2】 前記所定の数式は、少なくとも3種類の
    速度算出をする連続関数を持ち、前記位置検出値により
    使用関数を変更することを特徴とする請求項1記載の樹
    脂封止方法。
  3. 【請求項3】 前記被成形品が半導体素子を搭載し電気
    的接続を施した配線基板またはリードフレームであるこ
    とを特徴とする請求項1または2のいずれかに記載の樹
    脂封止方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2005106942A1 (ja) * 2004-04-30 2008-03-21 住友ベークライト株式会社 樹脂封止型半導体パッケージ並びにその製造方法及び製造装置
JP2008221544A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止装置
JP2010107879A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Konica Minolta Opto Inc ウエハレンズの製造方法、ウエハレンズ及びウエハレンズの製造装置
JP2011230423A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
JP2019110161A (ja) * 2017-12-15 2019-07-04 東京エレクトロン株式会社 ギャップ調整装置、ギャップ調整方法および樹脂成形装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104136191B (zh) * 2012-03-16 2016-09-14 株式会社村田制作所 密封用树脂片材的制造装置及密封用树脂片材的制造方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2005106942A1 (ja) * 2004-04-30 2008-03-21 住友ベークライト株式会社 樹脂封止型半導体パッケージ並びにその製造方法及び製造装置
JP4577309B2 (ja) * 2004-04-30 2010-11-10 住友ベークライト株式会社 樹脂封止型半導体パッケージの製造方法及び製造装置
JP2008221544A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止装置
JP2010107879A (ja) * 2008-10-31 2010-05-13 Konica Minolta Opto Inc ウエハレンズの製造方法、ウエハレンズ及びウエハレンズの製造装置
JP2011230423A (ja) * 2010-04-28 2011-11-17 Sumitomo Heavy Ind Ltd 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
KR101230403B1 (ko) 2010-04-28 2013-02-06 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 수지밀봉장치 및 수지밀봉방법
JP2019110161A (ja) * 2017-12-15 2019-07-04 東京エレクトロン株式会社 ギャップ調整装置、ギャップ調整方法および樹脂成形装置
JP7001453B2 (ja) 2017-12-15 2022-01-19 東京エレクトロン株式会社 ギャップ調整装置、ギャップ調整方法および樹脂成形装置

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