JP2003266076A - フッ素含有排水の処理方法及び装置 - Google Patents
フッ素含有排水の処理方法及び装置Info
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Abstract
含有ケーキを得る。 【解決手段】フッ素含有排水の処理方法を、フッ素含有
排水を濃縮する工程と、濃縮された排水にカルシウム化
合物を添加して反応させる反応工程と、前記反応工程に
よって得られる反応生成物を固液分離する固液分離工
程、とを備えるようにする。
Description
処理技術に関し、特に、半導体製造工程などにおいて排
出されるフッ素含有排水の処理技術に関し、高純度なフ
ッ化カルシウムを得ることができるフッ素含有排水の処
理方法及び装置に関する。
各種のフッ素含有排水として、製造プロセスで使用され
るフッ素含有ガスの排ガスなどの処理水を挙げることが
できる。この排水は、各種フッ素含有排水のなかでも、
極めて希薄で大量に排出され、最終的には、カルシウム
塩などの水溶性カルシウム化合物を添加してCaF
2(沈殿物)を含有する汚泥を生成させ、その後、この
汚泥を固液分離する方法が用いられている。この方法に
よれば、フッ素が、CaF2という固形分で水系から排
除されることで、フッ素濃度が低減された処理水を得る
ことができる。この方法におけるCaF2の生成反応
は、以下の式に示すとおりである。 Ca2++2F-→CaF2↓
年、フッ素の排水基準が厳しくなり、環境面からもフッ
素の効率的に回収することが要望されている。また、こ
の種の排水は、Si成分を多く含み、処理上困難面があ
り、Si成分をうまく処理できる方法が要望されてい
る。このため、上記式からも明かなように、水溶性のカ
ルシウム化合物などを過剰に添加することが多く行われ
てきていた。さらに、近年、フッ素濃度がより一層低減
された処理水を得ることが要望されてきている。例え
ば、特開2001−212574号公報には、処理水に
含まれるフッ素以外のイオンであって、CaF2の生成
を抑制する難溶性塩生成するイオンの量を測定して、こ
のイオン量に基づいてカルシウム塩の添加量を制御し、
これにより高水質な処理水を得ることが開示されてい
る。また、特開平6−114382号公報には、CaF
2を含む濃縮汚泥を一部反応槽へ返送して汚泥循環させ
ることで、フッ素含有排水からのフッ素の除去効率を高
めることが開示されている。さらに、特開平5−237
4851号公報には、排水中のケイ素濃度をSiO2と
して500mg/l以下に調整する技術が開示されてい
る。
方法は、難溶性塩を生成するイオンをかなり大量に含む
場合には好適であるが、本来的にそのようなイオンを多
く含まない処理液には適合しない。さらに、処理水中の
フッ素イオン濃度を低下させることができたものの、大
量の難溶性塩がCaF2含有ケーキに含まれるおそれが
ある。加えて、固形分としての反応生成物を得るため
に、大規模な処理設備が必要となる。また、後者の方法
は、CaF2の析出を促進させる点においては効果的で
はあるものの、大量の汚泥を返送させる必要がある、こ
のために、得られるCaF2 含有ケーキには、CaF2以
外の固形分も濃縮されることになる。すなわち、これら
の方法によっては、フッ素濃度が低減された処理水を得
ることはできるものの、純度の高いCaF2含有ケーキ
を得ることは困難であった。さらに、排ガス処理工程か
ら排出されるスクラバー系排水は、フッ素は低濃度では
あるものの排出量が多いため、このような低濃度フッ素
排水からのCaF2 としての回収も要望されてきてい
る。また、この種の排水には、Siを含む成分が多く含
まれており、高純度のCaF2を回収するには、この成
分の除去が必要となる。
からフッ素を濃縮することにより、処理水を有効利用す
るとともに、後段の効率的な排水処理を達成することの
できるフッ素含有排水の処理技術を提供することを、そ
の目的とする。また、Si成分の有効な除去技術を提供
することも、その目的とする。さらに、後段の処理設備
の小規模化や、CaF2の純度の高いCaF2含有ケーキ
を得ることができる排水処理技術も提供する。
有排水を反応工程に供給する前段階における処理につい
て検討したところ、以下の手段を見出した。すなわち、
本発明によれば、以下の手段が提供される。 (1)フッ素含有排水の処理方法であって、フッ素含有
排水を濃縮する工程と、この濃縮工程で発生する処理水
を排水発生源に返流する工程と、前記濃縮工程で発生す
る濃縮液の所定の成分濃度を測定する工程、とを備え
る、方法。 (2)前記濃縮工程は、電気透析により実施する、
(1)に記載の方法。 (3)前記濃縮工程は、pHが2以上6以下にフッ素含
有排水あるいは当該範囲のpHに調整されたフッ素含有
排水に対して実施する、(2)に記載の方法。 (4)前記濃縮工程に先んじて、前記フッ素含有排水のp
Hを監視し、アルカリ性の場合には、酸性剤を投入す
る、(3)記載の方法。 (5)前記酸性剤をHFとする、(4)記載の方法。 (6)前記酸性剤としてのHFは、前記濃縮工程後の処
理液を使用する、(5)記載の方法。 (7)前記フッ素含有排水は、排ガス除害処理水あるい
はスクラバー系排水である、(1)〜(6)のいずれか
に記載の方法。 (8)さらに、濃縮された排水にカルシウム化合物を添
加してCaF2を生成させる反応工程と、前記反応工程
によって得られる反応生成物を固液分離する固液分離工
程、とを備える、(1)〜(7)のいずれかに記載の方
法。 (9)フッ素含有排水の処理装置であって、フッ素含有
排水のpH監視手段と、フッ素含有排水に対して酸化剤
を供給する手段と、フッ素含有排水を電気透析する電気
透析手段と、処理水を排水発生源に返流する経路、とを
備える、装置。 (10)さらに、前記電気透析手段による電気透析後の
フッ素含有処理液を前記酸性化剤としてフッ素含有排水
に供給する手段を備える、(9)記載の装置。
濃縮工程により、フッ素含有排水のフッ素濃度を高める
ことができて、後段における排水処理を効率的に実施す
ることができる。また、処理水を排水発生源に返流する
ことで、水の再利用を実現することができる。さらに、
濃縮液をフッ素成分回収工程に供給することで、フッ素
の高度な回収も同時に実現できる。
て詳細に説明する。本発明のフッ素含有排水の処理方法
は、フッ素含有排水を濃縮する工程と、この濃縮工程で
発生する処理水を排水発生源に返流する工程と、前記濃
縮工程で発生する濃縮液の所定の成分濃度を測定する工
程、とを備えている。
装置、すなわち、処理技術は、フッ素を含む排水処理に
適用することができる。フッ素含有排水は、例えば、シ
リコンウエハなどの半導体製造工程、プリント基板の製
造工程、ステンレス鋼鈑製造工程、フッ酸製造工程に関
連して排出されるフッ素含有排水に適用することができ
る。
程において発生するフッ素含有排水に好ましく適用する
ことができる。なかでも、半導体製造工程の成膜工程な
どで使用されるフッ素を含有する各種ガス(デポジット
ガス、クリーニングガス、ドライエッチングガスなど)
の熱分解などによる除害工程で生じるガスの洗浄工程で
発生するフッ素含有排水の処理に適している。熱分解後
のガスが、スクラバーなどによって洗浄される際、フッ
酸などが溶存した洗浄水が発生する。かかる洗浄水に適
用するのが好ましい。例えば、フッ素濃度が500mg
/l以下、好ましくは200mg/l以下、より好まし
くは、30mg/l以下のフッ素含有排水に適用するこ
とが好ましい。また、同時に、ケイ素(Si)を含有し
ている場合にも好ましく適用できる。
がら説明する。図1には、スクラバー系排水あるいは排
ガス除害装置からのフッ素含有排水を処理するのに本発
明を適用した一形態が例示されている。
程)半導体製造工程において一般的に用いられるフッ素
系ガスは、一般的に酸性ガスであるが、除害処理した後
スクラバーから排出されるスクラバー系排水は、経路内
でアルカリが投入されてアルカリ性であることもある。
半導体製造工程において排出される排水は、フッ素及び
ケイ素をヘキサフルオロ珪酸イオン(SiF2-)の形で
含有しているが、排水が酸性であるか、あるいは酸性化
させることにより、フッ素イオンが遊離するようになる
(下記反応式参照)。 H2SiF6 +2H2O ⇔ SiO2+6H++6F- 特に、電気透析手段を用いて濃縮する場合には、酸性下
においてフッ素イオンが遊離しやすい状態であると、効
率良く濃縮することができる。したがって、特に、電気
透析手段を用いて濃縮工程を実施する場合、フッ素及び
ケイ素含有排水は、酸性側に調整しておくことが好まし
い。好ましくは、pH2以上6以下の範囲である。した
がって、フッ素(ケイ素を含むこともある)含有排水
は、本来的にpH2以上6以下であるか、あるいは、そ
うでない場合には、pH2以上6以下の範囲に調整して
おくことが好ましい。
機酸の他、有機酸などの酸を酸性化剤として用いること
ができるが、好ましくは、HFを用いる。HFであれ
ば、後段の反応工程においてCaF2として回収され、
最終的に得られる固形分において不純物の量を増加させ
ることを回避できる。より好ましくは、濃縮工程によっ
て得られるフッ素濃縮液を、pH調整槽に一部返流して
使用する。これによれば、酸性剤を調達する必要がな
く、排水のためのコストを抑制することができる。な
お、濃縮工程後に得られるフッ素濃縮液においては、含
有フッ素濃度が変動する。このため、必要に応じて、酸
性剤としてHFを供給するようにすることもできる。
pH調整(監視)槽2にフッ素含有排水を導入して行う
ことができる。pH調整槽2には、酸性剤供給手段4、
pH検出手段6が備えられている。また、後段で発生す
るフッ素濃縮液の供給手段8も備えられている。酸性剤
供給手段4及びフッ素濃縮液の供給手段8は、いずれ
も、pH検出手段6によって検出されるpH値に関連し
て、図示しない制御装置により、その供給量が制御され
るようになっている。
整工程に導入するのに先だって、予めろ過などして、浮
遊物を除去する手段10が備えられている。適当なろ過
手段などにより、浮遊物除去工程を実施することで、そ
の後の工程での不具合などを解消することができる。な
お、pH調整工程で酸性化することにより、SiO2 が
析出するため、当該工程後においても、適宜ろ過手段を
用いてフッ素含有排水をろ過して固形分ないし浮遊物を
排除しておくことが好ましい。
のフッ素濃度を高める工程である。濃縮工程で用いるこ
とのできる濃縮手段としては、公知の各種手段を用いる
ことができるが、フッ素濃度を高めると同時に、併存す
る可能性のある金属(イオン)やその塩類などの不純物
を除去する(脱塩ないし精製ということもできる)がで
きる手段を採用することが好ましい。例えば、電気透析
手段を用いることができる。電気透析手段によれば、ケ
イ素系化合物などの不純物を分離除去することができ
る。図1には、濃縮手段12として、電気透析手段を用
いた形態を示している。電気透析手段としては、イオン
交換膜を用いる電気透析装置などを用いることができ
る。なお、除去対象たる不純物は、半導体製造工程は、
ケイ素系化合物であることが一般的である。電気透析手
段においては、排水中のH+、F-、SiF6 2-、SiO2
は、アニオン膜を透過して、F-、SiF6 2-が、濃縮液
側に移行し、SiO2は、そのまま通過することにな
る。イオン交換膜における膜の透過速度は、イオンによ
り異なり、このため、処理流速を調整することにより、
透過液中のフッ素イオン濃度や他のイオン濃度を調整す
ることができる。
排水は、ろ過手段14などにより浮遊物を除去した後
に、貯留槽20に貯留されることが好ましい。この貯留
槽20においては、濃縮液のフッ素濃度を検出する手段
22を備えることが好ましく、適宜あるいは経時的にフ
ッ素濃度を検出するようにすることが好ましい。濃縮工
程は、フッ素濃度が5000mg/l〜10000mg
/l程度まで可能であるが、5000mg/l以下の範
囲で行うことが好ましい。フッ素濃度が5000mg/
lを超えて濃縮するのはコストの点及び技術的観点から
困難であり、また、後述する反応工程を実施した場合に
おいて、カルシウム化合物が過剰に投入されやすくな
り、純度の高いCaF2を得られにくくなるからであ
る。また、反応工程を必要に応じ複数段にすることとな
る。より好ましくは、3000mg/l以下である。ま
た、フッ素濃度は500mg/l以上であることが好ま
しい。500mg/l未満の場合には、反応工程におい
て効率よくCaF2を生成させ難いからである。より好
ましくは、1000mg/l以上である。なお、さらに
濃縮の必要性がある場合には、貯留相20から濃縮液を
濃縮手段12へ再度供給し、濃縮工程を複数段実施する
ことにより、好ましいフッ素濃度に到達させることがで
きる。
ど脱塩ないし精製も同時に実施する場合には、濃縮液中
のSi系成分などの不純物濃度を検出する手段22を備
えることが好ましい。また、適宜あるいは経時的にこれ
らの不純物の濃度を検出するようにすることが好まし
い。不純物濃度として、例えば、SiO2濃度は、10
mg/l以下とするまで脱塩ないし精製することが好ま
しい。SiO2濃度が10mg/lを超えていると、後
述する反応工程で純度の高いCaF2を得にくくなるか
らである。好ましくは、5mg/l以下とする。
ことにより、濃縮液に対して実施する反応工程を適宜選
択することができる。例えば、SiO2濃度が一定基準
より高い場合には、不純物含有フッ化カルシウム回収側
のCaF2生成反応工程へ濃縮液を供給するようにバル
ブの開閉制御を行い、一方、SiO2濃度が一定基準よ
りも低い場合には、高純度フッ化カルシウム回収側のC
aF2生成反応工程へ濃縮液を供給するようにバルブの
開閉制御を行うことができる。さらに、濃縮液の導電率
の測定手段を設けることが好ましい。導電率を測定する
ことにより、濃縮液に状況について情報を得るための有
効な手段である。
の処理液(電気透析手段においては透過液側となる)
は、フッ素濃度を20mg/l以下にまで低下させ、ス
クラバーブロー側あるいは排ガス除害装置側への供給用
手段16を介して、スクラバーあるいは排ガス除害装置
へ供給することができる。このように、濃縮工程での生
成物を再利用することで、排ガス処理系において大量に
使用される洗浄水や処理水などを低減することができ
る。
用するのに好ましい、CaF2生成反応工程について説
明する。反応工程は、フッ素含有排水にカルシウム化合
物を添加して得られる反応系のpHを10を超え12.
5以下に維持して、CaF2を生成させる工程である。
この工程には、少なくとも1個の反応槽を備えており、
2以上の反応槽を備えることもできる。2以上の反応槽
を備える場合には、オーバーフローなどにより反応槽間
を反応液が移動するように構成することができる。な
お、一つの槽が実質的に区画されて2以上の反応区画に
分画されることで2以上の反応槽が構成されていてもよ
い。反応槽は、必要に応じて貯留槽にもなる。濃縮液
は、適当な供給手段を介して反応槽に供給されるように
なっている。反応槽は、槽内の反応系のpHを検出する
手段と、Ca(OH)2などのカルシウム化合物を反応
槽に供給するための供給手段8とを備えることができ
る。さらに、反応槽内の後段側には、フッ素イオン濃度
測定手段を備えることもできる。
て、CaF2生成のために用いることのできるカルシウ
ム化合物(以下、固定化剤ともいう。)は特に限定しな
いで、この反応に従来使用されている化合物を使用する
ことができる。例えば、CaCO3、生石灰(Ca
O)、Ca(NO3)2、Ca(OH)2などを用いるこ
とができる。最終的に得られる固形分の再利用を考慮す
れば、好ましくは、Ca(OH)2である。
末、溶液などの形態で反応系に供給することもできる
が、好ましくは、水に懸濁したスラリー状として供給す
る。スラリーにおいては、濃厚なCa(OH)2溶液に
Ca(OH)2粒子が分散された状態となっている。ス
ラリーを用いることにより、反応系におけるCa(O
H)2 の溶解性に基づいて粒子が溶解していくのに従っ
て徐々にCa(OH)2が反応系に供給されることにな
る。このため反応系において、CaF2の生成に対して
過剰なCa(OH)2の存在が回避され、結果として、
得られる固形分からも液体(処理水)からも不純物とし
てのCa系化合物濃度が低下する。Ca(OH)2のス
ラリー濃度は特に限定しないが、約20wt%〜約40wt%
程度とすることができる。
濃縮液に対して、カルシウム化合物供給手段によってカ
ルシウム化合物が供給される。カルシウム化合物の供給
量の制御は、反応槽内の反応液のpHによって行うこと
ができる。pHが10を超える条件に維持することが好
ましい。pHが10以下となると、カルシウム化合物の
投入不足で未反応フッ素が顕著に増加するからである。
また、上限は、12.5以下とすることが好ましい。1
2.5を超えると、カルシウム化合物の投入過剰で固形
分において不純物となるカルシウム化合物が多くなるか
らである。当該pH制御によれば、過剰なカルシウム化
合物の供給を簡易に回避することができ、この結果、純
度の高いCaF2を得やすくなる。また、カルシウム化
合物の供給量は、反応液のフッ素イオン濃度が所定濃度
以下あるいは当初の濃縮液のフッ素イオン濃度に対して
所定割合、例えば、約20%以下となった時点でカルシ
ウム化合物の供給を停止することによっても制御をする
ことができる。このようなフッ素イオン濃度制御によれ
ば、過剰なカルシウム化合物の供給を確実に回避するこ
とができ、この結果、純度の高いCaF2を得やすくな
る。カルシウム化合物の供給量制御は、好ましくは、フ
ッ素イオン濃度によって制御し、より好ましくは、フッ
素イオン濃度制御とpH制御との双方によって行う。な
お、双方で制御する場合には、フッ素イオン濃度制御を
優先して行うことが好ましい。
g/l以下の場合には、フッ素イオン濃度の下限を約5
00mg/lに設定することが好ましく、より好ましく
は、約300mg/lである。また、当初濃縮液におけ
るフッ素濃度の約20%〜約40%を下限として設定す
ることが好ましい。
として、Ca(OH)2スラリーを用い、上記pH制御
を実施することにより、反応系における余剰のCaの存
在を回避しつつ、効率よくCaF2を沈殿させることが
できる。このため、かかる第1の工程を実施することに
より、高い純度のCaF2を得られやすくなる。
分離工程を実施することで、CaF2含有固形分を得る
ことができるが、固液分離工程に先んじて、中和工程、
凝集工程を実施することが好ましい。中和工程は、最終
的に得られる固形分の安全性などを考慮して、反応液の
pHを低下させておくために実施することが好ましい。
中和工程では、pHは7.5〜10.0とすることが好
ましく、より好ましくは、pH8〜9である。中和剤と
しては、各種無機酸あるいは有機酸を使用することがで
きるが、最終的に得られる固形分の用途を考慮すれば、
硫酸を使用することが好ましい。本処理技術によれば、
上述の反応工程において、過剰のカルシウム化合物の供
給が抑制ないし回避されているために、中和のために要
する硫酸などの中和剤の量を低減することができる。こ
の結果、硫酸塩などの不純物の少ない固形分を得ること
ができる。
観点から、中和工程後あるいは中和工程を経ることなく
凝集工程を実施することが好ましい。凝集工程は、公知
の高分子凝集剤などの凝集剤を添加し、混合し、凝集物
を形成させることによって行う。CaF2含有液に使用
できる凝集剤は、当該分野の当業者においてよく知られ
ており、これらの凝集剤を本発明処理技術においても使
用することができる。
ましくは、さらに、中和工程及び/又は凝集工程実施後
に、固液分離工程を実施する。上述のようなカルシウム
化合物の供給量制御をしながら、CaF2の生成反応工
程を実施することにより、CaF2を高純度に含有する
固形分を得ることができる。固液分離工程は、公知の固
液分離手段を用いて行うことができる。例えば、クラリ
ファイヤーやシックナーなどを用いて行うことができ
る。
必要に応じてさらなる排水処理工程に供給される。一
方、分離された固形分は、CaF2を高純度に含有して
いるとともに、CaF2以外のCa塩などCa分が低減
されている。本処理技術によれば、90重量%以上のC
aF2を含有する固形分を得ることができる。かかる高
純度CaF2は、フッ酸製造原料として再利用すること
ができる。したがって、本処理技術によれば、フッ素含
有排水の処理のみならず、フッ酸製造原料への再生ない
し再利用のための方法を提供することができる。また、
半導体製造工程由来のフッ素含有排水を、半導体製造工
程のフッ酸製造原料として再利用する場合には、循環型
の利用システムを構築することができる。
フッ素イオン濃度及び/又はpHに基づくカルシウム化
合物の供給量制御により、反応系に存在する過剰な、す
なわち、フッ素イオンに対して過剰なカルシウム供給が
抑制されている。このため、最終的に得られる固形分に
おける固定化剤やその他のカルシウム塩の含有量が低下
されている。特に、反応工程においてフッ素イオン濃度
に基づく固定化剤の供給量制御が実施されている場合に
は、より精密な固定化剤供給制御が達成できるため、最
終固形分におけるCaF2含有量を高純度で安定化させ
ることができる。
いて、過剰なカルシウム系の固定化剤の供給が回避され
ているため、添加する中和剤量を低減することができ
る。したがって、中和によって生成するカルシウム塩な
どの不純物の生成を抑制し、最終固形分における不純物
低減に寄与することができる。
て、Ca(OH)2の粉末あるいはスラリーを用いる場
合には、その難溶性ゆえに徐々に反応系中に溶解し、比
較的ゆっくりとフッ素イオンと反応する。したがって、
pHの変動が緩やかである。一方、Ca(OH)2はそ
れ自体、強アルカリ性であり、容易に、反応系を強アル
カリに維持することができる。以上のことから、固定化
剤として、粉末あるいはスラリー状のCa(OH)
2(好ましくはスラリー状)を用いると、過剰なカルシ
ウムの供給を回避することが容易となる。結果として、
高純度のCaF2を含有し、CaF2以外のカルシウム分
が低減された固形分を得ることが容易になる。
酸、塩酸、炭酸、リン酸などを使用しないことにより、
フッ酸製造に好ましい原料を供給することができるよう
になる。例えば、硝酸イオン、塩素イオン及び炭酸イオ
ンの総量が1000ppm以下の固形分を得ることがで
きる。
は、再利用などする他、他のCaF2生成反応工程に供
給することができる。このように返送することにより、
固形分中に残留した固定化剤を有効に再利用することが
できる。
めて希薄なフッ素含有排水に対して、CaF2生成反応
工程の前段において、Si成分を除去しながら濃縮し、
処理水を有効利用可能な濃縮操作を実施することによ
り、CaF2生成工程における装置をコンパクト化する
ことができると同時に、高純度のCaF2を回収でき、
CaF2の回収量も増大させることができる。加えて、
濃縮工程で発生する水分(透過水)をスクラバー用ブロ
ー水用に供給することにより、当該水分の有効利用と排
水処理工程での水の使用量を低減することができる。
からフッ素を濃縮することにより、処理水を有効利用す
るとともに、後段の効率的な排水処理を達成することが
できる。
示す図である。
手段 20 貯留槽 22 SiO2濃度検出手段
Claims (10)
- 【請求項1】フッ素含有排水の処理方法であって、 フッ素含有排水を濃縮する工程と、 この濃縮工程で発生する処理水を排水発生源に返流する
工程と、 前記濃縮工程で発生する濃縮液の所定の成分濃度を測定
する工程、とを備える、方法。 - 【請求項2】前記濃縮工程は、電気透析により実施す
る、請求項1に記載の方法。 - 【請求項3】前記濃縮工程は、pHが2以上6以下にフ
ッ素含有排水あるいは当該範囲のpHに調整されたフッ
素含有排水に対して実施する、請求項2に記載の方法。 - 【請求項4】前記濃縮工程に先んじて、前記フッ素含有
排水のpHを監視し、アルカリ性の場合には酸性剤を投
入する、請求項3記載の方法。 - 【請求項5】前記酸性剤をHFとする、請求項4記載の
方法。 - 【請求項6】前記酸性剤としてのHFは、前記濃縮工程
後の処理液を使用する、請求項5記載の方法。 - 【請求項7】前記フッ素含有排水は、排ガス除害処理水
あるいはスクラバー系排水である、請求項1〜6のいず
れかに記載の方法。 - 【請求項8】さらに、濃縮された排水にカルシウム化合
物を添加してCaF2を生成させる反応工程と、 前記反応工程によって得られる反応生成物を固液分離す
る固液分離工程、とを備える、請求項1〜7のいずれか
に記載の方法。 - 【請求項9】フッ素含有排水の処理装置であって、 フッ素含有排水のpH監視手段と、 フッ素含有排水に対して酸化剤を供給する手段と、 フッ素含有排水を電気透析する電気透析手段と、 処理水を排水発生源に返流する経路、 とを備える、装置。
- 【請求項10】さらに、前記電気透析手段による電気透
析後のフッ素含有処理液を前記酸性化剤としてフッ素含
有排水に供給する手段を備える、請求項9記載の装置。
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