JP2003308193A - テスト記録パターン展開方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録装置は複数の記録媒体サイズに対して記
録可能であるが、テスト記録パターンは記録装置で標準
的に扱う１種類の記録媒体サイズのみにしか対応してい
ない為、ユーザは標準サイズの記録媒体を常に用意して
おく必要があった。 【解決手段】 １つのテストパターンを複数ブロックに
分割して展開し、記録媒体のサイズに応じて最適なブロ
ックレイアウトを行い、テストパターンを展開する

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、記録装置及び、記
録システムへの指示により、予め定められたテスト記録
パターンをメモリ展開することが可能な、テスト記録パ
ターン展開方法及び、記録装置及び、記録システムに関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、記録装置や記録システム等におい
ては、テスト記録機能が備えられている。

【０００３】このテスト記録機能は、所定のキー操作や
ホストコンピュータからの指示等により実行され、記録
ヘッドの記録位置微調整（以下「レジ調整」）を行なう
為のパターンや、記録装置内のメモリに記憶されている
装置固有の情報を表すパターンや、記録装置の機能を表
すパターン等をメモリに展開し、記録媒体に対して記録
している。

【０００４】

【発明が解決しようとしている課題】従来、記録装置は
複数の記録媒体サイズに対して記録可能であるが、テス
ト記録パターンは記録装置で標準的に扱う１種類の記録
媒体サイズのみにしか対応していない為、ユーザは標準
サイズの記録媒体を常に用意しておく必要があった。こ
れを解決する為に「特願平０５−００１１４８」や、
「特願昭６２−１２７００６」のような特許が出願され
ている。

【０００５】「特願平０５−００１１４８」は、“テー
プ幅に応じて印字内容の異なるテスト記録パターンデー
タを記録装置内部に記憶しておき、検出したテープ幅に
対応したテスト記録パターンを記録する”というもので
あるが、本発明では、対応している用紙サイズ毎のテス
ト記録パターンを記録装置の内部メモリに格納しておく
為に、大量の内部メモリが必要となりコストが高くなっ
てしまうという問題が発生する。

【０００６】「特願昭６２−１２７００６」は、“取得
した用紙サイズ情報に対応する文字サイズや文字数を含
むフォント情報を決定し、決定したフォント情報に基づ
いて用紙サイズに適したテストパターンを生成出力す
る”というものであるが、本発明では用紙が小さくなる
と記録される文字も小さくなってしまい、見づらくなっ
てしまう問題が発生する。

【０００７】さらに上記２つの発明は、文字や数字等の
図形文字を使用したテスト記録パターンを前提とした発
明であり、レジ調整を行なう等のイメージパターンに関
しては考慮されていない。

【０００８】本発明は、低コストで、記録媒体サイズ毎
に最適なテスト記録パターンが展開可能なテスト記録パ
ターン展開方法及び、記録装置及び、記録システムを提供
することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決する為の手段】上記目的を達成するため本
発明は、次の手段を実施した。

【００１０】テスト記録パターンを複数ブロックに分割
してメモリに展開するメモリ展開手段を有するテスト記
録パターン展開方法 前記メモリ展開手段は、記録媒体のサイズを取得する手
段により取得した記録媒体のサイズを基にしたブロック
レイアウトによりテスト記録パターンを展開することを
特徴とするテスト記録パターン展開方法 テスト記録パターンを複数ブロックに分割してメモリに
展開する手段と、記録媒体のサイズを取得する手段と、
取得した記録媒体のサイズを基に、最適なブロックレイ
アウトによりテスト記録パターンをメモリ展開する手段
とを有する記録システム。

【００１１】テスト記録パターンが１ページ内におさま
らない場合は、複数ページに分割してメモリ展開するこ
とを特徴とするテスト記録パターン展開方法及び、記録
装置及び、記録システム。

【００１２】分割ブロックの個々のブロックサイズが、
記録可能な最小記録媒体サイズにおける記録可能領域以
下のサイズであることを特徴とする、テスト記録パター
ン展開方法及び、記録装置及び、記録システム。

【００１３】テスト記録パターン情報を複数ブロックに
分割して保持する分割保持手段と、記録媒体のサイズを
取得する手段と、取得した記録媒体のサイズを基に、分
割保持しているテストパターン情報をブロックレイアウ
トによりメモリ展開する手段とを有する、テスト記録パ
ターン展開方法

【作用】本発明は、記録媒体サイズ毎に最適なテスト記
録パターンが展開可能なテスト記録パターン展開を行な
うことが出来る。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照して本発明に係わる実施例
について詳細に説明する。

【００１５】（第１の実施例）本実施例で使用するラベ
ル紙を図７に示す。

【００１６】ラベル紙（７００）はロール状に巻かれて
おり、台紙（７０１）上に複数のラベル（７０２）を貼
り付けている。

【００１７】本実施例で使用する制御装置であるパーソ
ナルコンピュータ（以下「ＰＣ」）のブロック図を図８
に示す。

【００１８】ＰＣ（１０２）は、入出力手段（８０２）
を介して記録装置であるラベル記録装置（１００）、表
示装置であるＣＲＴ（１０６）、入力装置であるキーボ
ード（１０７）とマウス（１０８）とに接続されてい
る。

【００１９】ＰＣ（１０２）は、ＭＰＵ(マイクロプロ
セッサ)（８００）、メモリ（８０１）、入出力手段
（８０２）から成り、記録情報やアプリケーションソフ
トは外部記憶装置（不図示）からメモリ（８０１）にロ
ードされ、ＭＰＵ（８００）により実行される。

【００２０】本実施例で使用する、長尺のラインヘッド
を４本使用したインクジェット方式によるカラーラベル
記録装置（１００）（以下「記録装置」）とＰＣを接続
した構成図を図１に示す。

【００２１】記録装置（１００）の正面には操作パネル
（１０５）が装着されており、給紙部（１０１）には記
録媒体であるロール状に巻かれたラベル紙（２０６）が
セットされている。

【００２２】ＰＣ（１０２）と記録装置（１００）はプ
リンタケーブル（１０３）で接続され、ＰＣ（１０２）
内のＭＰＵ（８００）がアプリケーションソフトを実行
することで、メモリ（８０１）に記憶されている記録情
報を制御コマンドに変換し、入出力手段（３１７）を介
してプリンタケーブル（１０３）に出力する。

【００２３】本実施例で使用する記録装置の概略構成を
示す断面図を図２に示す。

【００２４】記録装置は記録部（２００）と、給紙部
（１０１）を備えている。

【００２５】給紙部（１０１）は、給紙モータ（図５に
て後述）を駆動することで、ラベル紙（２０６）を記録
部（２００）に給紙する。

【００２６】記録部（２００）には、ラベル紙（２０
６）を搬送させるための搬送ベルト（２０４）と、搬送
ベルト（２０４）を駆動する為に搬送モータ（図５にて
後述）により駆動される搬送ローラ（２０３）と、イン
クを吐出させるＹ／Ｍ／Ｃ／Ｋ（イエロー／マゼンタ／
シアン／ブラック）の記録ヘッドを格納している記録ヘ
ッドユニット（２０１）と、用紙の位置を検知する為の
ＴＯＦ（Top Of Form）センサ（２０５）と、Ｙ／Ｍ／
Ｃ／Ｋのインクを各記録ヘッドに供給するインクタンク
ユニット（２０５）から成る。

【００２７】インクタンクユニット（２０５）は、記録
ヘッドユニット（２０１）とチューブ（不図示）で接続
されており、回復モータ（５１６）を制御することで記
録ヘッドユニット（２０１）へインクを供給する。

【００２８】記録部（２００）では、搬送ベルト（２０
４）上を搬送するラベル紙に対してＴＯＦセンサ（２０
５）でラベルの先端位置を検出し、検出した位置情報を
基に、画像形成信号に応じて記録ヘッドからインクを吐
出させ、ラベルの表面にインクを吹き付けて画像を形成
する。

【００２９】本実施例で使用する記録装置の操作パネル
を図３に示す。

【００３０】操作パネル上には、エラー発生を通知する
エラーＬＥＤ（３０３）、電源投入状態等を通知するレ
ディＬＥＤ（３０４）、記録ジョブを中止させる中止キ
ー（３０１）が存在する。

【００３１】本実施例において標準ラベルサイズで「レ
ジ調整」パターンを記録したラベルの例を図４に示す。

【００３２】KヘッドとＣ／Ｍ／Ｙヘッド相互の縦方
向、横方向の位置を調整する為の記録パターンである。

【００３３】本テスト記録バターンは機能別に同サイズ
のパターンにブロック化し、１行１列目に「KとＣの横
レジ調整部（４０１）」、１行２列目には「KとＭの横
レジ調整部（４０２）」、そして、１行３列目に「Kと
Ｙの横レジ調整部（４０３）」を各々展開する。

【００３４】次に２行１列目に「KとＣの縦レジ調整部
（４０４）」、２行２列目には「KとＭの縦レジ調整部
（４０５）」、そして２行３列目に「KとＹの縦レジ調
整部（４０６）」を各々展開し、記録されている。

【００３５】テスト記録パターンの１ブロックの縦サイ
ズ（４０７）と横サイズ（４０８）は予め、ＲOＭ（５
０１：図５で後述）に記憶している。

【００３６】また、１ブロックのサイズは、記録装置で
記録可能な最小ラベルの記録可能領域より小さく設定さ
れる。

【００３７】本実施例における記録装置の電気的な簡易
ブロック図を図５に示す。

【００３８】ＭＰＵ(マイクロプロセッサ)（５００）
は、プログラムＲＯＭ（５０１）に格納された制御プロ
グラムを実行することで以下の制御を実現する。 １） ＰＣ（１０２）から出力された制御コマンドをイ
ンタフェースドライバ（５０５）を制御して受信する。 ２） 受信した制御コマンドのうち、各種設定コマンド
の設定値はワークＲＡＭ（５０２）に記憶し、イメージ
データはデータ展開ＲＡＭ（５０４）に展開する。テス
ト記録実行コマンドを受信すると、データ展開ＲＡＭ
（５０４）にテスト記録パターンを展開し、ラベルに記
録を行なう。テスト記録パターンで使用するキャラクタ
データは、CGROM（５０３）に格納されている。 ３） 出力ポート（５１０）を介してモータドライバ
（５１１、５１３、５１５）を制御し、搬送モータ（５
１２）、給紙モータ（５１４）、回復モータ（５１６）
を駆動する。 ４） 記録装置の状態に応じて、出力ポート（５１０）
を介して、エラーＬＥＤ（３０３）、レディＬＥＤ（３
０４）、のＯＮ（点灯）／ＯＦＦ（消灯）を制御する。 ５） 入力ポート（５１９）を介して、周期的に中止キ
ー（３０１）、ＴＯＦセンサ（２０９）をスキャンし、
キー入力を監視する。 ６） ＴＯＦ（Top Of Form）センサ（２０９）で検知
したラベル先端位置を基準とする、ラベル位置情報に応
じて、ヘッド駆動回路（５０６）を制御することによ
り、記録ヘッドユニット（２０１）内の記録ヘッドを駆
動しインクを吐出することで、データ展開ＲＡＭ（５０
４）に展開されているイメージデータをラベルに記録す
る。

【００３９】本実施例で使用するテスト記録実行コマン
ドを図６に示す。

【００４０】記録装置（１００）は、本コマンドをＰＣ
（１０２）より受信することで、用紙の縦、横サイズ
（６０１，６０２）をワークＲＡＭ（５０２）に記憶
し、テスト記録パターン展開処理を開始する。

【００４１】本コマンドは、テスト記録実行コマンドで
あることを識別する為の識別部（６００）と、用紙縦指
定サイズ（６０１）、及び横指定サイズ（６０１）から
構成される。

【００４２】本実施例における「テスト記録パターン展
開処理」のフローチャートを図９に示す。

【００４３】本フローは、プログラムＲＯＭ（５０１）
に格納された制御プログラムをＭＰＵ（５００）が実行
する。

【００４４】ＰＣ（１０２）からテスト記録実行コマン
ドを受信すると、本処理が起動される。

【００４５】まず、展開行列番号の初期化処理（９０
０）により、展開する行列番号の初期化が行なわれる。

【００４６】次にワークＲＡＭ（５０２）に存在する領
域であるＶ（展開行番号）に記憶されている行番号と、
ワークＲＡＭ（５０２）に存在する領域であるＨ（展開
列番号）に記憶されている列番号で示す位置に対応する
データ展開ＲＡＭ（５０４）のアドレスに「ＫＣ横レジ
調整パターン」を展開（９０１）する。

【００４７】次に、ＶとＨを次に展開する行列番号に更
新（９０２）し、後はブロック化された各テスト記録パ
ターンの展開（９０３、９０５、９０７、９０９、９１
１）と展開行列番号更新処理（９０４、９０６、９０
８、９１０）を交互に実行し、最後に展開が終了したテ
スト記録パターンをラベルに記録（９１２）する。

【００４８】前記「展開行列番号の初期化処理」（９０
０）の詳細を図１０に示す。

【００４９】「テスト記録パターン展開処理」より本処
理が起動されると、ワークＲＡＭ（５０２）に記憶され
ている用紙縦サイズと、ＲOＭ（５０１）に記憶されて
いるテスト記録パターンのブロック縦サイズ（４０７）
から、用紙縦方向に何個のブロックが展開できるか（最
大展開行番号）を算出し、ワークＲＡＭ（５０２）に存
在する領域Ａに記憶する（１０００）。

【００５０】次に、ワークＲＡＭ（５０２）に記憶され
ている用紙横サイズと、ＲOＭ（５０１）に記憶されて
いるテスト記録パターンのブロック横サイズ（４０８）
から、用紙横方向に何個のブロックが展開できるか（最
大展開列番号）を算出し、ワークＲＡＭ（５０２）に存
在する領域Bに記憶する（１００１）。

【００５１】さらに、Ｈの初期化（１００２）とＶの初
期化（１００３）を行い、データ展開ＲＡＭ（５０４）
をクリア（１００４）する。

【００５２】本実施例における「展開行列番号更新処
理」のフローチャートを図１１に示す。

【００５３】本フローも、プログラムＲＯＭ（５０１）
に格納された制御プログラムをＭＰＵ（５００）が実行
する。

【００５４】「テスト記録パターン展開処理」より本処
理が起動されると、Hをインクリメント（１１００）
し、Bと比較（１１０１）する。ＨとＢが等しい場合
（１１０１：Ｙｅｓ）は、現在展開している行にはこれ
以上展開できないので、Hに０を代入（１１０２）して
初期化し、次にＶをインクリメント（１１０３）するこ
とで展開する行番号を次の行に更新する。

【００５５】さらに、ＶとＡを比較（１１０４）し、Ｖ
とＡが等しい場合（１１０４：Ｙｅｓ）は、現在展開し
ているページにはこれ以上展開できないので、展開した
ページを記録（１１０５）する。続いて、Ｈの初期化
（１１０６）とＶの初期化（１１０７）を行い、データ
展開ＲＡＭ（５０４）をクリア（１１０８）すること
で、新しいページに展開を開始することが可能な状態と
する。

【００５６】本実施例においてレジ調整パターンを、３
行２列のブロック構成で記録可能なラベルに記録したラ
ベル（１２００）の例を図１２に示す。

【００５７】１行１列目に「KとＣの横レジ調整部（１
２０１）」を展開し、１行２列目に「KとＭとの横レジ
調整部（１２０２）」を展開し、２行１列目に「KとＹ
の横レジ調整部（１２０３）」、２行２列目に「KとＣ
の縦レジ調整部（１２０４）」、３行１列目に「KとＭ
の縦レジ調整部（１２０５）」を、そして３行２列目に
「KとＹの縦レジ調整部（１２０６）」を各々展開し、
記録されている。

【００５８】本実施例においてレジ調整パターンを、２
行２列のブロック構成で記録可能なラベルに記録したラ
ベル（１３００、１３０７）例を図１３に示す。

【００５９】１ページ目（１３００）には１行１列目に
「KとＣの横レジ調整部（１３０１）」を展開し、１行
２列目に「KとＭとの横レジ調整部（１３０２）」、２
行１列目に「KとＹの横レジ調整部（１３０３）」、そ
して２行２列目に「KとＣの縦レジ調整部（１３０
４）」を展開し、記録されている。２ページ目（１３０
７）には、１行１列目に「KとＭの縦レジ調整部（１３
０５）」、そして１行２列目に「KとＹの縦レジ調整部
（１３０６）」が展開、記録されている。

【００６０】上記の構成において、記録媒体サイズ毎に
最適なテスト記録パターンが展開可能なテスト記録パタ
ーン展開方法及び、記録装置及び、記録システムの構成を
実現することができる。

【００６１】（第２の実施例）第１の実施例において、
テスト記録パターンを展開する処理をＰＣ側で行い、記
録装置は、ＰＣより受信したイメージデータをラベルに
記録することで実現する。

【００６２】本実施例において、ＣＲＴ（２０１）に表
示された、テスト記録実行画面を図１４に示す。

【００６３】本画面は、PC（１０２）のメモリ（８０
１）に格納された制御プログラムをＭＰＵ（８００）が
実行することで実現する。

【００６４】ユーザが、キーボード（１０７）を使用し
てラベルの縦サイズを用紙縦サイズ入力部（１４００）
に、横サイズを用紙横サイズ入力部（１４０１）に入力
すると、入力値はメモリ（８０１）に記憶される。次
に、マウス（１０８）を使用してテスト記録実行ボタン
（１４０２）を押下することにより、メモリ（８０１）
にテスト記録パターン展開を行い、記録装置に記録デー
タを送信する。

【００６５】本実施例における「テスト記録処理」のフ
ローチャートを図１６に示す。

【００６６】本フローは、メモリ（８０１）に格納され
た制御プログラムをＭＰＵ（８００）が実行することで
実現する。

【００６７】テスト記録実行ボタン（１４０２）の押下
を検知すると、本処理が起動され、展開行列番号の初期
化処理（１６００）により、展開するページ番号と行列
番号の初期化が行なわれる。

【００６８】次にメモリ（８０１）に存在する領域であ
るＰ（ページ番号）とＶ（展開行番号）とＨ（展開列番
号）に記憶されている値で示す位置に対応するメモリ
（８０１）に存在するデータ展開メモリ領域のアドレス
に「ＫＣ横レジ調整パターン」を展開（１６０１）す
る。

【００６９】続いて、ＶとＨを次に展開する行列番号に
更新（１６０２）し、後はブロック化された各テスト記
録パターンの展開（１６０３、１６０５、１６０７、１
６０９、１６１１）と展開行列番号更新処理（１６０
４、１６０６、１６０８、１６１０）を交互に実行す
る。最後に、展開が終了した１ページ又は複数ページの
テスト記録パターンを記録装置専用のコマンドに変換
（１６１２）し、コマンド変換した記録データを記録装
置に対して送出（１６１３）する。

【００７０】本実施例における「展開行列番号の初期化
処理」（１６００）の詳細を図１７に示す。

【００７１】「テスト記録処理」より本処理が起動され
ると、メモリ（８０１）に記憶されている用紙縦サイズ
と、メモリ（８０１）に記憶されているテスト記録パタ
ーンのブロック縦サイズ（４０７）から、用紙縦方向に
何個のブロックが展開できるか（最大展開行番号）を算
出し、メモリ（８０１）に存在する領域Ａに記憶する
（１７００）。

【００７２】次に、メモリ（８０１）に記憶されている
用紙横サイズと、メモリ（８０１）に記憶されているテ
スト記録パターンのブロック横サイズ（４０８）から、
用紙横方向に何個のブロックが展開できるか（最大展開
列番号）を算出し、メモリ（８０１）に存在する領域Bに
記憶する（１７０１）。さらに、Ｈの初期化（１７０
２）とＶの初期化（１７０３）を行い、メモリ（８０
１）上に１ページ分のデータ展開メモリ領域を獲得しク
リア（１７０４）する。さらに、メモリ（８０１）に存
在する領域であるＰ（ページ番号）も初期化する。

【００７３】本実施例における「展開行列番号更新処
理」（１６０８）の詳細を図１８に示す。

【００７４】「テスト記録パターン展開処理」より本処
理が起動されるとHをインクリメント（１８００）し、B
と比較（１８０１）する。

【００７５】ＨとＢが等しい場合（１８０１：Ｙｅｓ）
は、現在展開している行にはこれ以上展開できないの
で、Hに０を代入（１８０２）して初期化し、Ｖをイン
クリメント（１８０３）することで展開する行番号を次
の行に更新する。

【００７６】さらに、ＶとＡを比較（１８０４）し、Ｖ
とＡが等しい場合（１８０４：Ｙｅｓ）は、現在展開し
ているページにはこれ以上展開できないので、メモリ
（８０１）上にさらに１ページ分のデータ展開メモリ領
域を獲得しクリア（１８０５）し、Ｈの初期化（１８０
６）とＶの初期化（１８０７）を行い、Ｐをインクリメ
ント（１８０８）することで、新しいページへの展開可
能な状態とする。

【００７７】上記の構成において、記録媒体サイズ毎に
最適なテスト記録パターンが展開可能なテスト記録パタ
ーン展開方法及び、記録装置及び、記録システムの構成を
実現することができる。

【００７８】（第３の実施例）第１の実施例において、
テスト記録パターンの個々のブロックサイズをブロック
毎に最適サイズにブロック化したものを使用し、展開ア
ドレスを行列番号ではなく、アドレスで管理することで
実現する。

【００７９】本実施例において標準ラベルサイズでレジ
調整パターンを記録したラベル（１９００）の例を図１
９に示す。

【００８０】本テスト記録バターンは個々のブロック毎
に最適サイズのパターンにブロック化しており、「Kと
Ｃの横レジ調整部（１９０１）」と「KとＭの横レジ調
整部（１９０２）」と「KとＹの横レジ調整部（１９０
３）」とが同一の縦サイズ（１９０７）と横サイズ（１
９０８）にブロック化し、「KとＣの縦レジ調整部（１
９０４）」と「KとＭの縦レジ調整部（４０５）」と「K
とＹの縦レジ調整部（４０６）」とが同一の縦サイズ
（１９０９）と横サイズ（１９１０）にブロック化して
展開し、記録している。

【００８１】本実施例において標準とは異なるラベルサ
イズでレジ調整パターンを展開し、記録したラベル（２
０００）例を図２０に示す。個々のブロック毎に最適な
サイズにブロック化して展開しているため。第２の実施
例と比較して、より少ないスペースでテスト記録パター
ンを展開出来る。

【００８２】上記の構成において、記録媒体サイズ毎に
最適なテスト記録パターンが展開可能で、より効率的な
テスト記録パターン展開方法及び、記録装置及び、記録シ
ステムの構成を実現することができる。

【００８３】（第４の実施例）第３の実施例において、
領域不足のために次に展開しようとしているブロックが
展開できない場合、該領域に展開することが可能なブロ
ックを検索し、展開することで実現することができる。

【００８４】本実施例において実施例３（第２０図）と
同じラベルサイズでレジ調整パターンを記録したラベル
（２１００）例を図１５に示す。

【００８５】まず「KとＣの横レジ調整部」（１５０
１）を展開するが、次の展開領域（「KとＣの横レジ調
整部」（１５０１）の右側）に「KとMの横レジ調整部」
（１５０２）を展開するスペースが無い為、該領域に展
開可能な横サイズである「KとＣの縦レジ調整部」（１
５０４）を展開するという処理を行い、最適なレイアウ
トを構築して記録する。第３の実施例と比較して、さら
に少ないスペースでテスト記録パターンを展開可能であ
る。

【００８６】上記の構成において、記録媒体サイズ毎に
最適なテスト記録パターンが展開可能で、さらに効率的
なテスト記録パターン展開方法及び、記録装置及び、記録
システムの構成を実現することができる。

【００８７】（その他の実施例）実施例では、プラスチ
ックカードや、カット紙等に記録を行なうカード記録装
置や、インクリボン等を使用する熱転写方式の記録装置
や、記録ヘッドを記録媒体の搬送方向（副走査方向）と
直交する方向（主走査方向）にシリアルスキャンさせプ
ラテン上の記録媒体に対して記録を行う記録装置等、記
録装置の種類や記録方式に限定されるものではない。

【００８８】さらに実施例では、記録媒体のサイズを取
得する手段が、記録媒体が収められているカセットの識
別部をセンサで読み取った信号から取得したり、記録媒
体のサイズをセンサで測定した信号から取得したり、操
作パネル上でユーザが入力したキー信号から取得する
等、その取得方法に限定されるものではない。

【００８９】

【発明の効果】以上説明したように、テスト記録パター
ンを複数ブロックに分割してメモリに展開する手段と、
記録媒体のサイズを取得する手段と、取得した記録媒体
のサイズを基に、最適なブロックレイアウトによりテス
ト記録パターンをメモリ展開する手段とを有することに
より、低コストで、記録媒体サイズ毎に最適なテスト記
録パターンが展開可能なテスト記録パターン展開方法及
び、記録装置及び、記録システムを提供することが出来
る。

【００９０】

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１〜４に使用した記録装置とＰＣの接続
図を示す。

【図２】実施例１〜４に使用した記録装置の断面図を示
す。

【図３】実施例１〜４に使用した記録装置の操作パネル
を示す

【図４】実施例１〜２で記録した標準サイズ（２行３列
のブロックを印字可能）のラベルでテスト記録パターン
を記録したラベルを示す。

【図５】実施例１〜４に使用した記録装置の電気的な簡
易ブロック図を示す。

【図６】実施例１及び３〜４に使用した用紙サイズ設定
コマンドを示す。

【図７】実施例１〜４に使用したラベル紙を示す。

【図８】実施例１〜４に使用したＰＣのブロック図を示
す。

【図９】実施例１に使用したテスト記録パターン展開処
理のフローチャートを示す。

【図１０】実施例１に使用した展開行列番号の初期化処
理のフローチャートを示す。

【図１１】実施例１に使用した展開行列番号更新処理の
フローチャートを示す。

【図１２】実施例１〜２で記録した「３行２列のブロッ
クを印字可能サイズ」のラベルでテスト記録パターンを
記録したラベルを示す。

【図１３】実施例１〜２で記録した「２行２列のブロッ
クを印字可能サイズ」のラベルでテスト記録パターンを
記録したラベルを示す。

【図１４】実施例２で使用したＣＲＴ（２０１）に表示
された、テスト記録実行画面を示す。

【図１５】実施例４で記録したテスト記録パターンを記
録したラベルを示す。

【図１６】実施例２に使用したテスト記録処理のフロー
チャートを示す。

【図１７】実施例２に使用した展開行列番号の初期化処
理のフローチャートを示す。

【図１８】実施例２に使用した展開行列番号更新処理の
フローチャートを示す。

【図１９】実施例３〜４で記録した標準サイズのラベル
でテスト記録パターンを記録したラベルを示す。

【図２０】実施例３で記録したテスト記録パターンを記
録したラベルを示す。

【符号の説明】

１００ インクジェット方式によるカラーラベル記録装
置 １０１ 給紙部 １０２ ＰＣ １０３ プリンタケーブル １０５ 操作パネル ２００ 記録部 ２０１ 記録ヘッドユニット ２０３ 搬送ローラ ２０４ 搬送ベルト ２０５ ＴＯＦセンサ ２０６ ラベル紙 ２０７ インクタンクユニット ３０１ 中止キー ３０３ エラーＬＥＤ ３０４ レディＬＥＤ ４００ レジ調整パターンを記録したラベル（２行３
列） ４０１ KとＣの横レジ調整部 ４０２ KとＭの横レジ調整部 ４０３ KとＹの横レジ調整部 ４０４ KとＣの縦レジ調整部 ４０５ KとＭの縦レジ調整部 ４０６ KとＹの縦レジ調整部 ４０７ ブロック縦サイズ ４０８ ブロック横サイズ ５００ ＭＰＵ ５０１ プログラムＲＯＭ ５０２ ワークＲＡＭ ５０３ ＣＧＲＯＭ ５０４ データ展開ＲＡＭ ５０５ インタフェースドライバ ５０６ ヘッド駆動回路 ５１０ 出力ポート ５１１ 搬送モータ用ドライバ ５１２ 搬送モータ ５１３ 給紙モータ用ドライバ ５１４ 給紙モータ ５１５ 回復モータ用ドライバ ５１６ 回復モータ ５１９ 入力ポート ６００ 識別部 ６０１ 用紙縦サイズのパラメータ ６０２ 用紙横サイズのパラメータ ７００ ラベル紙 ７０１ 台紙 ７０２ ラベル ８００ ＭＰＵ ８０１ メモリ ８０２ 入出力手段

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】テスト記録パターンを複数ブロックに分割
   してメモリに展開するメモリ展開手段を有するテスト記
   録パターン展開方法
2. 【請求項２】前記メモリ展開手段は、記録媒体のサイズ
   を取得する手段により取得した記録媒体のサイズを基に
   したブロックレイアウトによりテスト記録パターンを展
   開することを特徴とする請求項１に記載のテスト記録パ
   ターン展開方法
3. 【請求項３】テスト記録パターンを複数ブロックに分割
   してメモリに展開する手段と、記録媒体のサイズを取得
   する手段と、取得した記録媒体のサイズを基に、最適な
   ブロックレイアウトによりテスト記録パターンをメモリ
   展開する手段とを有する記録システム。
4. 【請求項４】テスト記録パターンが１ページ内におさま
   らない場合は、複数ページに分割してメモリ展開するこ
   とを特徴とする、請求項１〜３に記載のテスト記録パタ
   ーン展開方法及び、記録装置及び、記録システム。
5. 【請求項５】分割ブロックの個々のブロックサイズが、
   記録可能な最小記録媒体サイズにおける記録可能領域以
   下のサイズであることを特徴とする、請求項１〜４に記
   載のテスト記録パターン展開方法及び、記録装置及び、記
   録システム。
6. 【請求項６】テスト記録パターン情報を複数ブロックに
   分割して保持する分割保持手段と、記録媒体のサイズを
   取得する手段と、取得した記録媒体のサイズを基に、分
   割保持しているテストパターン情報をブロックレイアウ
   トによりメモリ展開する手段とを有する、テスト記録パ
   ターン展開方法