JP2008043003A - 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動装置 - Google Patents

電圧駆動型半導体素子のゲート駆動装置 Download PDF

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Abstract

【課題】スイッチングタイミングを磁気結合手段で調整して、スイッチング時の電圧アンバランスを抑制することが可能であるが、磁気結合手段のリセット期間中に、次のスイッチングを行なった場合、リセット電流の影響でゲート電圧が振動するため、素子電圧アンバランスが発生する可能性がある。
【解決手段】各電圧駆動型半導体素子のゲート線を互いに磁気結合手段で結合したゲート駆動装置において、各電圧駆動型半導体素子のゲート−エミッタ間に電圧クランプ回路を接続する。
【選択図】図1

Description

本発明は、複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子駆動用のゲート駆動回路に関する。
図13に、各アームに電圧駆動型半導体素子を複数個直列接続した一般的な電力変換装置の回路構成図を示す。図13において、20は三相交流電源、21は整流回路、22は平滑用コンデンサ、23〜28は複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子で構成したスイッチングアーム、29はモータ負荷である。
図13において、複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子のスイッチングタイミングがばらついた場合、素子電圧分担が不平衡(電圧アンバランス)となり、最悪の場合には、過電圧が印加された電圧駆動型半導体素子が破壊に至る可能性がある。
この電圧アンバランスを抑制する技術として、特許文献1に開示されているように、各電圧駆動型半導体素子のゲート線を互いに磁気結合手段(コア)により結合することで、スイッチングタイミングを調整する方法がある。
図5に、上述の方法を適用した従来回路例(ゲート駆動装置の主要部分)を示す。図5は、電圧駆動型半導体素子としてIGBTを用い、IGBTを2個直列接続した場合の例である。図5において、1、2はダイオードが逆並列に接続されたIGBT、3、5はIGBTをターンオンさせるためのスイッチ素子(ここでは、MOSFET)、4、6はIGBTをターンオフさせるためのスイッチ素子(ここでは、MOSFET)、7、9はオン用ゲート抵抗、8、10はオフ用ゲート抵抗、11〜14はゲート電源用平滑コンデンサ、15は磁気結合手段(コア)である。図5より、IGBT1、2のゲートには、平滑コンデンサ、オン用ゲート抵抗、オフ用ゲート抵抗、MOSFETで構成されたゲート駆動回路がそれぞれ接続され、互いのゲート線が磁気結合手段(コア)により結合されている。
従来回路のターンオン時の動作について、図5及び図6に基づいて説明する。図5は回路構成図、図6は動作波形である。図5において、IGBT(Q2)のターンオン信号が、IGBT(Q1)よりも早く入力された場合、MOSFET5がOFF→ONに切り替わり、平滑コンデンサ13→オン用ゲート抵抗9→MOSFET5→磁気結合手段15→IGBT(Q2)のゲート→IGBT(Q2)のエミッタ→平滑コンデンサ13の経路でIGBT(Q2)のゲート電流Ig(Q2)が流れる。磁気結合手段15の一次巻線にゲート電流Ig(Q2)が流れると、磁気結合手段15の二次巻線にもゲート電流Ig(Q1)が、磁気結合手段15→IGBT(Q1)のゲート→IGBT(Q1)のエミッタ→平滑コンデンサ12→オフ用ゲート抵抗8→MOSFET4→磁気結合手段15の経路で流れるため、IGBT(Q1)のゲート電圧VGE(Q1)とIGBT(Q2)のゲート電圧VGE(Q2)が同時に上昇し、ターンオン動作を開始する。この結果、IGBT(Q1)とIGBT(Q2)のターンオンタイミングが一致し、図6に示すように、ターンオン時の素子電圧アンバランスを抑制することができる。磁気結合手段がない時はターンオン時の素子電圧VCE(Q1)とVCE(Q2)がばらついているのに対し、磁気結合手段を用いた場合にはターンオン時の素子電圧VCE(Q1)とVCE(Q2)が一致していることがわかる。
従来回路のターンオフ時の動作について、図7及び図8に基づいて説明する。図7は回路構成図、図8は動作波形である。図7において、IGBT(Q2)のターンオフ信号が、IGBT(Q1)よりも早く入力された場合、MOSFET6がOFF→ONに切り替わり、平滑コンデンサ14→IGBT(Q2)のエミッタ→IGBT(Q2)のゲート→磁気結合手段15→MOSFET6→オフ用ゲート抵抗10→平滑コンデンサ14の経路でIGBT(Q2)のゲート電流Ig(Q2)が流れる。磁気結合手段15の一次巻線にゲート電流Ig(Q2)が流れると、磁気結合回路15の二次巻線にもゲート電流Ig(Q1)が、磁気結合回路15→MOSFET3→オン用ゲート抵抗7→平滑コンデンサ11→IGBT(Q1)のエミッタ→IGBT(Q1)のゲート→磁気結合手段15の経路で流れるため、IGBT(Q1)のゲート電圧VGE(Q1)とIGBT(Q2)のゲート電圧VGE(Q2)が同時に下降し、ターンオフ動作を開始する。この結果、IGBT(Q1)とIGBT(Q2)のターンオフタイミングが一致し、図8に示すように、ターンオフ時の素子電圧アンバランスを抑制することができる。磁気結合手段がない時はターンオフ時の素子電圧VCE(Q1)とVCE(Q2)がばらついているのに対し、磁気結合手段を用いた場合にはターンオフ時の素子電圧VCE(Q1)とVCE(Q2)が一致していることがわかる。
特開2000−204578号公報
上述のように、スイッチングタイミングを磁気結合手段で調整して、スイッチング時の電圧アンバランスを抑制することが可能であるが、磁気結合手段のリセット期間中に、次のスイッチングを行なった場合、リセット電流の影響でゲート電圧が振動しているため、素子電圧アンバランスが発生する可能性がある。
ターンオン時のリセット期間中にターンオフ信号が入力された場合について、図9及び図10に基づいて説明する。図9は回路構成図、図10は動作波形である。図9において、IGBT(Q2)にターンオン信号が入力されている状態で、IGBT(Q1)用のターンオン信号が入力されると、MOSFET3がOFF→ONして、磁気結合手段の励磁エネルギーをリセットするモードに切り替わり、リセット電流Ig(Q1)、Ig(Q2)が図9に示す経路で流れる。リセット電流は、磁気結合手段の励磁インダクタンスLmとIGBTの入力容量Ciesとで共振するため、ゲート電圧VGE(Q1)とゲート電圧VGE(Q2)が振動する(図10参照)。即ち、Ig(Q1)はゲート電圧VGE(Q1)を下げる方向に、Ig(Q2)はゲート電圧VGE(Q2)を上げる方向に流れ始め、共振動作のより次の期間には逆の動作となる。このリセット期間中に、次のスイッチングであるターンオフ信号が入力されると、そのタイミングによって、ゲート電圧VGE(Q1)とゲート電圧VGE(Q2)の電圧値が異なっているため、磁気結合手段でターンオフタイミングが調整されていても、図10に示すように、素子電圧アンバランスが発生してしまう可能性がある。
ターンオフ時のリセット期間中にターンオン信号が入力された場合についても、上述と同様な理由から、素子電圧アンバランスが発生する可能性がある(図11及び図12参照)。
即ち、IGBT(Q2)用のオフ信号が先に入力された状態で、IGBT(Q1)用のオフ信号が入力された場合、図11に示す経路でリセット電流Ig(Q1)、Ig(Q2)が流れる。この電流Ig(Q1)はゲート電圧VGE(Q1)を上げる方向に、Ig(Q2)はゲート電圧VGE(Q2)を下げる方向に流れ始め、共振動作のより次の期間には逆の動作となる。このリセット期間中に、次のスイッチングであるターンオン信号が入力されると、そのタイミングによって、ゲート電圧VGE(Q1)とゲート電圧VGE(Q2)の電圧値が異なっているため、磁気結合手段でターンオンタイミングが調整されていても、図12に示すように、素子電圧アンバランスが発生してしまう可能性がある。
上述の課題を解決するために、第1の発明においては、電力変換装置の各アームに複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子のスイッチングタイミングを調整するために、各電圧駆動型半導体素子のゲート線を互いに磁気結合手段で結合したゲート駆動装置において、各電圧駆動型半導体素子のゲート−エミッタ間に電圧クランプ回路を接続する。
第2の発明においては、前記電圧クランプ回路として、定電圧ダイオードの逆直列接続回路を用いる。
本発明によれば、複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子のスイッチングタイミングを調整するために、各電圧駆動型半導体素子のゲート線を互いに磁気結合手段で結合したゲート駆動装置において、各電圧駆動型半導体素子のゲート−エミッタ間に電圧クランプ回路を接続することによって、磁気結合回路のリセット動作中にオンオフ信号が入力された場合においても、スイッチング時の素子電圧アンバランスを抑制することができる。また、本発明により、特にパルス幅変調制御を適用した電力変換装置の信頼性向上を図ることが可能となる。
本発明の要点は、電力変換装置の各アームに複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子のスイッチングタイミングを調整するために、各電圧駆動型半導体素子のゲート線を互いに磁気結合手段で結合したゲート駆動装置において、各電圧駆動型半導体素子のゲート−エミッタ間に電圧クランプ回路を接続することにより、磁気結合手段の磁気リセット中にオンオフ信号が入力された場合でもスイッチング時の素子電圧アンバランスを抑制することである。
図1に、本発明の第1の実施例を示す。図1は、電圧駆動型半導体素子としてIGBTを適用し、IGBTを2個直列に接続した場合の例である。図5の従来例と同様な機能を有するものには、同様な記号を付けている。図1において、1、2はダイオードが逆並列に接続されたIGBT、3、5はIGBTをターンオンさせるためのスイッチ素子(ここでは、MOSFET)、4、6はIGBTをターンオフさせるためのスイッチ素子(ここでは、MOSFET)、7、9はオン用ゲート抵抗、8、10はオフ用ゲート抵抗、11〜14はゲート電源用平滑コンデンサ、15は磁気結合手段、16〜19は電圧クランプ回路(ここでは、ツェナーダイオード)である。
図1より、IGBT1、2には、平滑コンデンサ、オン用ゲート抵抗、オフ用ゲート抵抗、MOSFETで構成されたゲート駆動回路がそれぞれ接続され、互いのゲート線が磁気結合手段によって結合されている。そして、IGBT1のゲート−エミッタ間に、ツェナーダイオード16、17の逆直列で構成された電圧クランプ回路が、IGBT2のゲート−エミッタ間に、ツェナーダイオード18、19の逆直列回路で構成された電圧クランプ回路が、各々接続される。
本発明によるゲート駆動装置の動作を、ターンオン時のリセット期間中にターンオフ信号が入力された場合について、図1及び図2に基づいて説明する。図1は回路構成図、図2は動作波形である。図1において、IGBT(Q2)にターンオン信号が入力されている状態(図2参照)で、IGBT(Q1)用のターンオン信号が入力されると、MOSFET3がOFF→ONして、磁気結合手段の励磁エネルギーをリセットするモードに切り替わり、ゲート電圧VGEがツェナー電圧に達すると、ゲート電圧がクランプされる。これによって、リセット電流がツェナーダイオードに流れるため、磁気結合手段の励磁インダクタンスLmとIGBTの入力容量Ciesとの共振経路がなくなり、ゲート電圧振動が抑制される。したがって、このリセット期間中に、次のスイッチングであるターンオフ信号が入力されても、電圧クランプ回路で各ゲート電圧を等しい値にクランプしているため、ゲート電圧VGE(Q1)とゲート電圧VGE(Q2)の電圧値が一致し、磁気結合回路でターンオフタイミングが調整されているため、図2に示すように、素子電圧アンバランスが発生しなくなる。
ターンオフ時のリセット期間中にターンオン信号が入力された場合についても、上述と同様な理由から、素子電圧アンバランスが発生しなくなる(図3及び図4参照)。
図3において、IGBT(Q2)にターンオフ信号が入力されている状態(図4参照)で、IGBT(Q1)用のターンオフ信号が入力されると、MOSFET4がOFF→ONして、磁気結合手段の励磁エネルギーをリセットするモードに切り替わり、ゲート電圧VGEがツェナー電圧に達すると、ゲート電圧がクランプされる。
これにより、リセット電流がツェナーダイオードに流れるため、磁気結合手段の励磁インダクタンスLmとIGBTの入力容量Ciesとの共振経路がなくなり、ゲート電圧振動が抑制される。したがって、このリセット期間中に、次のスイッチングであるターンオン信号が入力されても、電圧クランプ回路で各ゲート電圧を等しい値にクランプしているためゲート電圧VGE(Q1)とゲート電圧VGE(Q2)の電圧値が一致し、磁気結合手段でターンオンタイミングが調整されているため、図2に示すように、素子電圧アンバランスが発生しなくなる。
以上より、本発明によるゲート駆動装置は、磁気結合回路のリセット期間中のゲート電圧振動をなくすることができるため、リセット期間中にスイッチングを行なった場合の素子電圧アンバランスを抑制することができる。
本発明は、半導体スイッチング素子を直列接続して使用する場合のゲート駆動装置の構成方法に関する提案であり、高圧大容量電源、高圧大容量電動機駆動装置などへの適用が可能である。
本発明の実施例を示す回路構成図(ターンオン時) 図1の動作を示す動作波形図 本発明の実施例を示す回路構成図(ターンオフ時) 図3の動作を示す動作波形図 従来の実施例を示す回路構成図(ゲートコア動作時、ターンオン時) 図5の動作を示す動作波形図 従来の実施例を示す回路構成図(ゲートコア動作時、ターンオフ時) 図7の動作を示す動作波形図 従来の実施例を示す回路構成図(ゲートコアリセット時、ターンオン時) 図9の動作を示す動作波形図 従来の実施例を示す回路構成図(ゲートコアリセット時、ターンオフ時) 図11の動作を示す動作波形図 直列接続素子を用いた電力変換装置の回路構成図
符号の説明
1、2・・・IGBT 3、5・・・MOSFET
4、6・・・MOSFET 7、9・・・オン用ゲート抵抗
8、10・・・オフ用ゲート抵抗 11〜14・・・電源用コンデンサ
15・・・磁気結合手段(コア) 16〜19・・・ツェナーダイオード
20・・・三相交流電源 21・・・整流回路
22・・・平滑コンデンサ
23〜28・・・スイッチングアーム 29・・・モータ負荷

Claims (2)

  1. 電力変換装置の各アームに複数個直列接続された電圧駆動型半導体素子のスイッチングタイミングを調整するために、各電圧駆動型半導体素子のゲート線を互いに磁気結合手段で結合したゲート駆動装置において、各電圧駆動型半導体素子のゲート−エミッタ間に電圧クランプ回路を接続したことを特徴とするゲート駆動装置。
  2. 前記電圧クランプ回路として、定電圧ダイオードの逆直列接続回路を用いたことを特徴とするゲート駆動装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010035325A (ja) * 2008-07-29 2010-02-12 Fuji Electric Systems Co Ltd 電圧駆動型半導体素子の駆動回路
CN102801134A (zh) * 2012-08-09 2012-11-28 郭高朋 一种可阻断高电压的电力电子电路及控制方法
JP2015162999A (ja) * 2014-02-28 2015-09-07 株式会社日立製作所 電力変換装置、及び電力変換装置の制御方法
JP2023047023A (ja) * 2021-09-24 2023-04-05 国立大学法人東京工業大学 電力用半導体素子のゲート駆動装置及び電力変換装置
WO2023095244A1 (ja) * 2021-11-25 2023-06-01 三菱電機株式会社 電力変換装置
WO2024089896A1 (ja) * 2022-10-28 2024-05-02 国立大学法人東京工業大学 電力用半導体素子のゲート駆動装置及び電力変換装置
WO2025262865A1 (ja) * 2024-06-20 2025-12-26 三菱電機株式会社 ゲート駆動装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH027714A (ja) * 1988-06-27 1990-01-11 Hitachi Ltd 異常電流時の素子の保護装置
JPH0799429A (ja) * 1993-09-28 1995-04-11 Fuji Electric Co Ltd Igbtのサージ電圧抑制回路と過電流遮断回路
JP2002204578A (ja) * 2001-01-09 2002-07-19 Fuji Electric Co Ltd 直列接続された電圧駆動型半導体素子の制御装置
JP2003018820A (ja) * 2001-06-27 2003-01-17 Fuji Electric Co Ltd 直列接続された電圧駆動型半導体素子の制御装置
JP2003299343A (ja) * 2002-01-31 2003-10-17 Fuji Electric Co Ltd 直列接続された電圧駆動型半導体素子の制御装置
JP2004215416A (ja) * 2003-01-06 2004-07-29 Fuji Electric Holdings Co Ltd 電圧駆動型半導体素子の異常検出方法
JP2006109640A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Fuji Electric Holdings Co Ltd 電圧駆動型半導体素子の故障検出回路
JP2006149169A (ja) * 2004-11-24 2006-06-08 Fuji Electric Holdings Co Ltd 半導体スイッチ回路

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH027714A (ja) * 1988-06-27 1990-01-11 Hitachi Ltd 異常電流時の素子の保護装置
JPH0799429A (ja) * 1993-09-28 1995-04-11 Fuji Electric Co Ltd Igbtのサージ電圧抑制回路と過電流遮断回路
JP2002204578A (ja) * 2001-01-09 2002-07-19 Fuji Electric Co Ltd 直列接続された電圧駆動型半導体素子の制御装置
JP2003018820A (ja) * 2001-06-27 2003-01-17 Fuji Electric Co Ltd 直列接続された電圧駆動型半導体素子の制御装置
JP2003299343A (ja) * 2002-01-31 2003-10-17 Fuji Electric Co Ltd 直列接続された電圧駆動型半導体素子の制御装置
JP2004215416A (ja) * 2003-01-06 2004-07-29 Fuji Electric Holdings Co Ltd 電圧駆動型半導体素子の異常検出方法
JP2006109640A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Fuji Electric Holdings Co Ltd 電圧駆動型半導体素子の故障検出回路
JP2006149169A (ja) * 2004-11-24 2006-06-08 Fuji Electric Holdings Co Ltd 半導体スイッチ回路

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010035325A (ja) * 2008-07-29 2010-02-12 Fuji Electric Systems Co Ltd 電圧駆動型半導体素子の駆動回路
CN102801134A (zh) * 2012-08-09 2012-11-28 郭高朋 一种可阻断高电压的电力电子电路及控制方法
JP2015162999A (ja) * 2014-02-28 2015-09-07 株式会社日立製作所 電力変換装置、及び電力変換装置の制御方法
JP2023047023A (ja) * 2021-09-24 2023-04-05 国立大学法人東京工業大学 電力用半導体素子のゲート駆動装置及び電力変換装置
JP7655828B2 (ja) 2021-09-24 2025-04-02 三菱電機株式会社 電力用半導体素子のゲート駆動装置及び電力変換装置
WO2023095244A1 (ja) * 2021-11-25 2023-06-01 三菱電機株式会社 電力変換装置
JP7573763B2 (ja) 2021-11-25 2024-10-25 三菱電機株式会社 電力変換装置
WO2024089896A1 (ja) * 2022-10-28 2024-05-02 国立大学法人東京工業大学 電力用半導体素子のゲート駆動装置及び電力変換装置
WO2025262865A1 (ja) * 2024-06-20 2025-12-26 三菱電機株式会社 ゲート駆動装置

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