JP2014208751A - エポキシ樹脂組成物、穴埋め充填用組成物およびこれらを用いたプリント配線板 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明のエポキシ樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂と、(B)イミダゾール化合物と、(C)ホウ酸エステル化合物と、(D)無機フィラーと、を含有してなる。エポキシ樹脂組成物に(C)ホウ酸エステル化合物を添加することで、(C)ホウ酸エステル化合物が(B)イミダゾール化合物の活性基であるアミノ基に配位結合し、樹脂組成物の硬化反応を抑制するため、樹脂組成物の長期保存が可能になると考えられる。
本発明のエポキシ樹脂組成物には、公知のエポキシ樹脂を使用することができる。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAのノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族鎖状エポキシ樹脂、リン含有エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、アミノフェノール型エポキシ樹脂、アミノクレゾール型エポキシ樹脂、アルキルフェノール型エポキシ樹脂等を挙げることができる。
本発明のエポキシ樹脂組成物には、公知のイミダゾール化合物を使用することができる。本発明のエポキシ樹脂組成物においては、イミダゾール化合物は、非潜在型であることが好ましい。ここで、潜在型のイミダゾール化合物とは、例えば、エポキシ樹脂とイミダゾールの反応物等を言う。本発明の(B)イミダゾール化合物は、例えば、2−メチルイミダゾール、4−メチル−2−エチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、4−メチル−2−フェニルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−イソプロピルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール等を挙げることができる。
本発明のエポキシ樹脂組成物には、公知のホウ酸エステル化合物を用いることができる。例えば、揮発性の低いホウ酸トリフェニルや環状ホウ酸エステル等を挙げることができる。好ましくは環状ホウ酸エステル化合物である。環状ホウ酸エステル化合物とは、ホウ素が環式構造に含まれているものであり、特に、2,2’−オキシビス(5,5’−ジメチル−1,3,2−オキサボリナン)が好ましい。ホウ酸エステル化合物としては、ホウ酸トリフェニルや環状ホウ酸エステル化合物以外には、例えば、ホウ酸トリメチル、ホウ酸トリエチル、ホウ酸トリプロピル、ホウ酸トリブチル等が挙げられるが、これらのホウ酸エステル化合物は揮発性が高いため、特に高温時における組成物の保存安定性に対しては、その効果が十分ではない場合もある。なお、本発明の樹脂組成物においては、これらホウ酸エステル化合物は、単独で用いてもよく、または2種以上を併用してもよい。
本発明のエポキシ樹脂組成物には、通常の樹脂組成物に用いられる公知の無機フィラーを用いることができる。具体的には、例えば、シリカ、硫酸バリウム、炭酸カルシウム、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、窒化ホウ素、アルミナ、酸化マグネシウム、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、酸化チタン、マイカ、タルク、ノイブルグ珪土、有機ベントナイト等の非金属フィラーや、銅、金、銀、パラジウム、シリコン等の金属フィラーを挙げることができる。本発明の樹脂組成物においては、これら無機フィラーは単独で用いてもよく、または2種以上を併用してもよい。
本発明のエポキシ樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂と、(B)イミダゾール化合物と、(C)ホウ酸エステル化合物と、(D)無機フィラーと、を含有してなるものであるが、必要に応じて他の既知の添加剤を加えてもよい。例えば、フタロシアニン・ブルー、フタロシアニン・グリーン、アイオジン・グリーン、ジスアゾイエロー、クリスタルバイオレット、酸化チタン、カーボンブラック、ナフタレンブラック等の公知慣用の着色剤、保管時の保存安定性を付与するためにハイドロキノン、ハイドロキノンモノメチルエーテル、tert−ブチルカテコール、ピロガロール、フェノチアジン等の公知慣用の熱重合禁止剤、クレー、カオリン、有機ベントナイト、モンモリロナイト等の公知慣用の増粘剤もしくはチキソトロピー剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系等の消泡剤および/またはレベリング剤、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系、シランカップリング剤等の密着性付与剤のような公知慣用の添加剤類を添加することができる。特に、有機ベントナイトを用いた場合、穴部表面からはみ出した部分が研磨・除去し易い突出した状態に形成され易く、研磨性に優れたものとなるので好ましい。
本発明の穴埋め充填用組成物は、ホウ酸エステル化合物を含有するものである。穴埋め充填用組成物にホウ酸エステルを混合することで、従来よりも保存安定性に優れ、ボイドおよびクラックの発生を大幅に低減することができる研磨性および耐熱性に優れた穴埋め充填用組成物とすることができる。本発明においては、プリント配線基板等の穴埋め用に用いられている充填剤組成物にホウ酸エステルを混合することが重要であり、プリント配線基板等の穴埋め用に用いられている充填剤組成物としては既知のものを用いることができる。
本発明のプリント配線板は、上記本発明のエポキシ樹脂組成物が用いられてなるもの、好適には、プリント配線板のスルーホールやビアホールといった貫通穴等の穴部の穴埋め材として用いられたものである。以下、本発明のプリント配線板の製造方法について、図1〜3を参照しつつ、詳細に説明する。
図1は、本発明のプリント配線板の製造工程の一部の一例を示す概略断面図である。まず、図1(a)に示すように銅箔2をラミネートした基板1にドリル等で貫通孔をあけ、貫通孔の壁面および銅箔表面に無電解めっきを施してスルーホール3を形成する。基板1としては、ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、フッ素樹脂基板等の樹脂基板、またはこれらの樹脂基板の銅張積層板、セラミック基板、金属基板等を用いることができる。フッ素樹脂基板のようにめっきのつきまわりが悪い基板の場合は、有機金属ナトリウムからなる前処理剤、プラズマ処理等の表面改質を行なう。次に、厚付けのために電解めっきを行ない、図1(b)に示すように基板1の表面およびスルーホール3内壁にめっき膜4aを形成する。この電解めっきとしては銅めっきが好ましい。
基板1に形成したスルーホール3内に、図1(c)に示すように、本発明の樹脂組成物5を充填する。具体的には、スルーホール3部分に開口を設けたマスクを基板1上に載置し、印刷法等による塗布や、ドット印刷法等により、スルーホール3内に容易に充填できる。次に、樹脂組成物5を約120〜180℃で約30〜90分程度加熱して硬化させた後、図1(d)に示すように、スルーホール3からはみ出した樹脂組成物5の不要部分を研磨により除去して平坦化する。研磨は、ベルトサンダーやバフ研磨等により行なうことができる。
スルーホール3の穴埋めを行なった基板1の表面に、図1(e)に示すようにめっき膜4bを形成する。その後、図1(f)に示すようにエッチングレジスト6を形成し、レジスト非形成部分をエッチングする。次いで、エッチングレジスト6を剥離することにより、図1(g)に示すように、導体回路層7aを形成する。
図2は、図1に示す本発明のプリント配線板の製造工程の後の工程の一例を示す概略断面図である。導体回路層7a上に、層間樹脂絶縁層8aを形成する。層間樹脂絶縁層8aとしては、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、またはこれらの樹脂の複合体や混合物、ガラスクロス含浸樹脂複合体、無電解めっき用接着剤を用いることができる。
次に、図2(a)に示されるように層間樹脂絶縁層8aに開口9aを設ける。この開口9aの穿孔は、層間樹脂絶縁層8aが感光性樹脂からなる場合は、露光、現像処理にて行ない、熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂からなる場合は、レーザ光にて行なう。レーザ光にて開口9aを設けた場合は、デスミア処理を行なってもよい。
下記表1〜3に示す配合(質量部)で、エポキシ樹脂組成物を調製した。得られた各樹脂組成物につき、初期および30℃で20日間保管した後の粘度およびゲルタイムを下記の手順で測定した。その後、あらかじめパネルめっきによりスルーホールを形成したガラスエポキシ基板(板厚1.6mm、スルーホール径0.3mm)に、初期および30℃で20日間保存した各樹脂組成物をスクリーン印刷法でスルーホール内に充填した。これを熱風循環式乾燥炉に入れ、150℃で30分間保持して評価サンプルを作製した。得られた各評価サンプルにつき、クラック、ボイドの残留、研磨性、はんだ耐熱性について以下の方法で評価した。得られた結果を表4〜6に示す。
各樹脂組成物を0.2mL採取し、コーンプレート型粘度計(TV−30:東機産業(株)製)を用いて、25℃、回転数5rpmの30秒値を粘度とした。
JIS C 2105の熱板法に準拠してゲル試験機により測定した。測定温度150℃に保持した試料0.5mL中で回転棒を回転させた時のトルクが、最大トルクの30%に達するまでの時間をゲルタイムとした。ゲルタイムの差は以下の式にて算出した。
ゲルタイムの差(%)={(初期のゲルタイム−30℃20日後のゲルタイム)/初期のゲルタイム}×100
各評価サンプルをスルーホール部で切断し、断面を光学顕微鏡にて観察して、100個のスルーホールにおけるボイドの発生数を数えた。評価基準は以下のとおりである。
〇・・・0個
△・・・1〜5個
×・・・6個以上
各評価サンプルをスルーホール部で切断し、断面を光学顕微鏡にて観察して、100個のスルーホールにおけるクラックの発生数を数えた。評価基準は以下のとおりである。
〇・・・0個
△・・・1〜5個
×・・・6個以上
各評価サンプルを研磨機で#320相当の樹脂研磨用バフ1軸により物理研磨を行った。その際に完全に樹脂が除去されるまでのパス回数を比較した。
各評価サンプルを研磨機で#320相当の樹脂研磨用バフ1軸により物理研磨を行った。その後288℃のはんだ液中に10秒間、3回浸漬した後、室温まで放冷した。次いでスルーホール部で切断し、断面を光学顕微鏡にて観察して、100個のスルーホールにおけるクラックの発生数を数えた。評価基準は以下のとおりである。
〇・・・0個
△・・・1〜5個
×・・・6個以上
※2:新日鉄住金化学(株)製YDF170
※3:住友化学(株)製ELM−100
※4:ダウケミカル(株)製 DEN-431
※5:2,2’−オキシビス(5,5’−ジメチル−1,3,2−オキサボリナン)
※6:四国化成工業(株)製2MZ−A
※7:四国化成工業(株)製2P4MHZ
※8:旭化成イーマテリアルズ(株)製ノバキュアH103941HP
※9:日本化薬(株)製カヤハードA−A
※10:備北粉化工業(株)製ソフトン1800(平均粒径:1.25μm)
※11:(株)アドマテック製SO−C5(平均粒径:1.6μm)
※12:白石工業(株)製オルベン
※13:信越化学工業(株)製KS−66
2 銅箔
3 スルーホール
4 めっき膜
5 樹脂組成物
6 エッチングレジスト
7 導体回路層
8 層間樹脂絶縁層
9 開口
10 めっきレジスト層
11 バイアホール
12 ランド
13 ソルダーレジスト層
14 はんだバンプ
Claims (8)
- (A)エポキシ樹脂と、(B)イミダゾール化合物と、(C)ホウ酸エステル化合物と、(D)無機フィラーと、を含有してなることを特徴とするエポキシ樹脂組成物。
- 前記(B)イミダゾール化合物が、非潜在型である請求項1記載のエポキシ樹脂組成物。
- 前記(B)イミダゾール化合物の配合量が、前記(A)エポキシ樹脂100質量部に対して1〜20質量部である請求項1または2記載のエポキシ樹脂組成物。
- 初期のゲルタイムと、製造から20日間30℃の条件で保存した後のゲルタイムとの差が10%以内である請求項1〜3のうちいずれか一項記載のエポキシ樹脂組成物。
- プリント配線板の凹部および貫通孔の少なくとも一方の充填用である請求項1〜4のうちいずれか一項記載のエポキシ樹脂組成物。
- ホウ酸エステル化合物を含有することを特徴とする穴埋め充填用組成物。
- 請求項1〜5のうちいずれか一項記載のエポキシ樹脂組成物を用いてなることを特徴とするプリント配線板。
- 請求項6記載の穴埋め充填用組成物を用いてなることを特徴とするプリント配線板。
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