JP2016207609A - 複合高分子電解質膜およびその製造方法ならびに膜電極接合体、燃料電池 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】分子鎖中に活性エネルギー線によりラジカルを発生する官能基を持つ繰り返し構造を有する芳香族高分子電解質を含み、更にスルホン酸を有するラジカル重合性化合物、ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物、2官能以上のラジカル重合性化合物から選ばれる少なくとも一つを含む樹脂組成物を多孔質基材中に充填した後、活性エネルギー線照射により重合した複合高分子電解質膜であって、高分子電解質がリン原子を0.1〜7.0質量%含む複合高分子電解質膜。
【選択図】なし
Description
すなわち、本発明は、以下の構成からなる。
下記化学式1および下記化学式2で示される繰り返し構造を有する芳香族高分子電解質を含み、更にスルホン酸を有するラジカル重合性化合物、ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物、2官能以上のラジカル重合性化合物から選ばれる少なくとも一つを含む樹脂組成物を多孔質基材中に充填した後、活性エネルギー線照射により重合した複合高分子電解質膜であって、高分子電解質がリン原子を0.1〜7.0質量%含むことを特徴とする複合高分子電解質膜。
(式中、R1、R2は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、R1、R2は同一であっても異なっていてもよい。R3は炭素数1〜20のアルキル基または置換基を有してもよい炭素数6〜20のアリール基のいずれかを示す。R3が置換基を有する場合、該置換基は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、該置換基を複数有する場合はそれらの置換基は同一であっても異なっていてもよい。a、bは1〜4の整数を示す。p、qは、p+q=1を満たす0または1である。)
(式中、m、nは正の整数、m+n=5〜1000を示す。R4は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、置換基は同一であっても異なっていてもよい。rは1または2であり、dは4−rを示す。AはOR5もしくはN(R6)(R7)を示し、R5は水素、アルカリ金属、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示し、R6及びR7は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかであり、R6及びR7は同一であっても異なっていてもよい。)
(2)前記高分子電解質がリン原子を0.5〜7.0質量%含む複合高分子電解質膜。
(3)前記ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物が下記化学式3で示される化合物である複合高分子電解質膜。
(式中、R8は水素、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかである。R9は直接結合、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかである。tは1〜5のいずれかである。)BはOR10もしくはN(R11)(R12)を示し、R10は水素、アルカリ金属、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示し、R11及びR12は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかであり、R11及びR12は同一であっても異なっていてもよい。)
(4)前記ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物がビニルホスホン酸である複合高分子電解質膜。
(5)前記多孔質基材の材質が高分子材料であることを特徴とする複合高分子電解質膜。
(6)前記高分子電解質膜のイオン交換容量が1.5meq/g〜6.0meq/gであることを特徴とする複合高分子電解質膜。
(7)複合高分子電解質膜を用いた燃料電池用高分子電解質膜電極接合体。
(8)高分子電解質膜電極接合体を用いた燃料電池。
本発明における芳香族系高分子電解質はその分子鎖中に活性エネルギー線によりラジカルを発生する官能基を有していることが好ましく、特に構造を限定されるものではないが、プロトン伝導性や耐久性の観点から化学式1および化学式2で示される繰り返し構造を有することが好ましい。
(式中、R1、R2は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、R1、R2は同一であっても異なっていてもよい。R3は炭素数1〜20のアルキル基または置換基を有してもよい炭素数6〜20のアリール基のいずれかを示す。R3が置換基を有する場合、該置換基は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、該置換基を複数有する場合はそれらの置換基は同一であっても異なっていてもよい。a、bは1〜4の整数を示す。p、qは、p+q=1を満たす0または1である。)
(式中、m、nは正の整数、m+n=5〜1000を示す。R4は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、置換基は同一であっても異なっていてもよい。rは1または2であり、dは4−rを示す。AはOR5もしくはN(R6)(R7)を示し、R5は水素、アルカリ金属、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示し、R6及びR7は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかであり、R6及びR7は同一であっても異なっていてもよい。)
ここで、イオン交換容量とは、乾燥した高分子電解質膜1グラムあたりに導入されたイオン交換基量であり、値が大きいほどイオン交換基の量が多いことを示す。例えば、スルホン酸基とした場合、スルホン酸基密度(meq/g)の値として示すことができる。イオン交換容量は、キャピラリー電気泳動、元素分析、中和滴定などにより求めることが可能である。これらの中でも測定の容易さから、中和滴定法によりイオン交換容量を求めることが好ましい。本発明のイオン交換容量は中和滴定法により測定した値を用いるが、他の方法でも大きな差はなく採用可能である。
(化学式3中、m、nは化学式1で定義したものと同じ意味を表す。R1、R2は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、R1、R2は同一であっても異なっていてもよい。R3は炭素数1〜20のアルキル基または置換基を有してもよい炭素数6〜20のアリール基のいずれかを示す。R3の置換基は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、その置換基は同一であっても異なっていてもよい。a、bは1〜4の整数を示す。p、qは0または1であり、p+q=1を示す。化学式4中、mは化学式1で定義したものと同じ意味を表す。R4は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、置換基は同一であっても異なっていてもよい。rは1または2であり、dは4−rを示す。AはOR5、NR6 2を示し、R5は水素、アルカリ金属、炭素数1〜20のアルキル基を示し、R6は水素または炭素数1〜20のアルキル基を示す)
(式中、X、Yはフッ素を除くハロゲン原子であり、X、Yはそれぞれ同一でも異なってもよい。R1〜R3、a、b、p、qは上記で定義したものと同じ意味を表す。)
(式中、X、Yはフッ素を除くハロゲン原子であり、X、Yはそれぞれ同一でも異なってもよい。R7は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、置換基は同一であっても異なっていてもよい。sは1または2であり、eは4−sを示す。BはOR13またはNR14 2で表され、R13は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示し、R14は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示す。)
空隙率=100−100(W/ρ)/(L2×D)
上記式中のρは、フィルム密度を示す。ρはJIS K7112(1980)のD法の密度勾配管法にて求めた値を用いる。このときの密度勾配管用液は、エタノールと水を用いる。
以下に高分子電解質膜の評価方法を示す。なお評価するに際しては、特別な記載がない
限り、厚みや質量を正確に測ることを目的とし、室温が20℃で相対湿度が40±5RH
%にコントロールされた測定室内で評価を行った。なお、測定に際してサンプルは、24
時間以上、測定室内で静置したものを使用した。
複合高分子電解質膜の厚みは、マイクロメーター(Mitutoyo、標準マイクロメ
ーター)を用いて測定することにより求めた。測定は10箇所行い、その平均値を厚みと
した。
乾燥したプロトン交換膜100mgを、0.01MのNaOH水溶液50mlに浸漬し
、25℃で2時間攪拌した。その後、0.02MのHCl水溶液で中和滴定した。中和滴
定には、平沼産業(株)製、電位差滴定装置COMTITE−980を用いた。イオン交
換当量は下記式で計算して求めた。
イオン交換容量[meq/g]=(10−滴定量[mL])/2
自作測定用プローブ(テフロン(登録商標)製)上で短冊状膜試料の表面に白金線(直
径:0.2mm)を押しあて、80℃、50%RHの恒温・恒湿オーブン(株式会社ナガ
ノ科学機械製作所、LH−20−01)中に試料を保持し、白金線間のインピーダンスを
SOLARTRON社1250FREQUENCY RESPONSE ANALYSE
Rにより測定した。極間距離を変化させて測定し、極間距離とC−Cプロットから見積も
られる抵抗測定値をプロットした勾配から以下の式により膜と白金線間の接触抵抗をキャ
ンセルしたプロトン伝導率(σ)を算出した。
σ[S/cm]=1/膜幅[cm]×膜厚[cm]×抵抗極間勾配[Ω/cm]
1Lメスフラスコに硫酸鉄(II)・7水和物 15mgを加え超純水を加えた。続いて50mlホールピペットを用いて30%過酸化水素水 100mlを採りメスフラスコに加えた。最後に超純水を1Lメスフラスコの標線まで加え、フェントン試薬(Fe2+、3ppm、3%H2O2)を調製した。続いて複合膜2.5×5cm片を切り取り、フェントン溶液50mlに浸漬させ、80℃に保ち3時間置いた。熱処理後、複合膜をフェントン溶液から引き上げ、ドライボックス中で一晩乾燥させた、乾燥後の複合膜の膜重量を測定した。膜重量減少率は(フェントン試験前後の膜重量減少量)/(フェントン試験前の複合膜重量)で評価した。
[触媒転写シート]DNP社より入手
触媒:TEC10E50E(田中貴金属工業 製)
電解質バインダー:NAFION DISPERSION Type:DE520(DuPont 製)
基材:PET
担持量:Pt 0.40−0.45mg/cm2
[膜−電極接合体の作製]
5×5cm複合高分子電解質膜と3×3cmの触媒転写フィルム(DNP製)を23℃50%RHで2時間以上調湿後、同環境下で内から「電解質膜/触媒転写シート/ガス拡散層(SGLカーボン製;SGL24−BCH)/テフロン(登録商標)シート/SUS板」の順で挟み込み、100℃、14kN/9cm2、5分間ホットプレスを行った。冷却後、触媒転写フィルムの基材を剥した。作製した膜−電極接合体をElectrochem社製の評価用燃料電池セルFC25−02SPに組み込んで、セル温度80℃で、アノード47%RHおよびカソード47%RHの条件で水素と酸素を供給して発電特性を評価した。性能安定後の0.3A/cm2での電圧の比較を行った。
ポリ[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]
30ml反応容器に合成したポリマー(1g、スルホン酸エステルユニット4.4mmol分に相当)、トリメチルアミン塩酸塩(2.1g、22mmol)、NMP 20mlを計量し、120℃で12時間攪拌した。反応混合物をクロロホルム100mlで洗浄し、トリメチルアミン塩酸塩の反応残渣が除去できるまでクロロホルムで洗浄した。100ml三角フラスコに精製したポリマー、陽イオン交換樹脂(ダウエックスモノスフィアー650C)10g、純水10gを計量し室温で12時間攪拌した。陽イオン交換樹脂をろ過により除去し、ポリマー水溶液を濃縮、乾燥し、目的物を0.7g合成することができた。合成したポリ[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]のイオン交換容量は5.5meq/gであった。
合成例1で得られたポリ[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]100mg、ビニルスルホン酸65mg、ビニルホスホン酸5mg、トリアリルイソシアヌレート15mgをメタノール/水[90/10(w/w)]混合溶液4.3gに溶解させた。その後、メタノールに浸漬したポリエチレン製多孔膜(サイズ:10.5×10.5cm、膜厚:9μm、空孔率:35%)をPTFE製基材上に置き、その上から上記ポリマー溶液をコートし、窒素雰囲気下室温で乾燥させた。乾燥後の複合高分子電解質膜をプラスチックの枠に固定し、電子線照射装置((株)NHVコーポレーション所有、EBC300キュアトロン)を用いて窒素雰囲気下、加速電圧250kV、電子線照射線量500kGyで電子線架橋を行った。電子線照射後、枠から複合高分子電解質膜をはずし、超純水500mlに浸け80℃の乾燥機中で24時間保持し、架橋が不十分な成分を溶出させ除去した。
得られた複合膜のイオン交換容量2.54meq/g、プロトン伝導性0.034S/cm、フェントン試験後の膜重量減少率は19%であった。発電試験時の0.3A/cm2での電圧は0.87Vであった。
合成例1で得られたポリ[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]100mg、ビニルスルホン酸50mg、ビニルホスホン酸20mg、トリアリルイソシアヌレート15mgをメタノール/水[90/10(w/w)]混合溶液4.3gに溶解させた。その後、メタノールに浸漬したポリエチレン製多孔膜(サイズ:10×10cm、膜厚:9μm、空孔率:35%)をPTFE製基材上に置き、その上から上記ポリマー溶液をコートし、窒素雰囲気下室温で乾燥させた。乾燥後の複合高分子電解質膜をプラスチックの枠に固定し、電子線照射装置((株)NHVコーポレーション所有、EBC300キュアトロン)を用いて窒素雰囲気下、加速電圧250kV、電子線照射線量500kGyで電子線架橋を行った。電子線照射後、枠から複合高分子電解質膜をはずし、超純水500mlに浸け80℃の乾燥機中で24時間保持し、架橋が不十分な成分を溶出させ除去した。
得られた複合膜のイオン交換容量2.51meq/g、プロトン伝導性0.018S/cm、フェントン試験後の膜重量減少率は3%であった。発電試験時の0.3A/cm2での電圧は0.87Vであった。
合成例1で得られたポリ[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]100mg、ビニルスルホン酸35mg、ビニルホスホン酸35mg、トリアリルイソシアヌレート15mgをメタノール/水[90/10(w/w)]混合溶液4.3gに溶解させた。その後、メタノールに浸漬したポリエチレン製多孔膜(サイズ:10.5×10.5cm、膜厚:9μm、空孔率:35%)をPTFE製基材上に置き、その上から上記ポリマー溶液をコートし、窒素雰囲気下室温で乾燥させた。乾燥後の複合高分子電解質膜をプラスチックの枠に固定し、電子線照射装置((株)NHVコーポレーション所有、EBC300キュアトロン)を用いて窒素雰囲気下、加速電圧250kV、電子線照射線量500kGyで電子線架橋を行った。電子線照射後、枠から複合高分子電解質膜をはずし、超純水500mlに浸け80℃の乾燥機中で24時間保持し、架橋が不十分な成分を溶出させ除去した。
得られた複合膜のイオン交換容量2.80meq/g、プロトン伝導性0.008S/cm、フェントン試験後の膜重量減少率は0%であった。発電試験時の0.3A/cm2での電圧は0.83Vであった。
合成例1で得られたポリ[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]100mg、ビニルスルホン酸20mg、ビニルホスホン酸50mg、トリアリルイソシアヌレート15mgをメタノール/水[90/10(w/w)]混合溶液4.3gに溶解させた。その後、メタノールに浸漬したポリエチレン製多孔膜(サイズ:10.5×10.5cm、膜厚:9μm、空孔率:35%)をPTFE製基材上に置き、その上から上記ポリマー溶液をコートし、窒素雰囲気下室温で乾燥させた。乾燥後の複合高分子電解質膜をプラスチックの枠に固定し、電子線照射装置((株)NHVコーポレーション所有、EBC300キュアトロン)を用いて窒素雰囲気下、加速電圧250kV、電子線照射線量500kGyで電子線架橋を行った。電子線照射後、枠から複合高分子電解質膜をはずし、超純水500mlに浸け80℃の乾燥機中で24時間保持し、架橋が不十分な成分を溶出させ除去した。
得られた複合膜のイオン交換容量3.06meq/g、プロトン伝導性0.004S/cm、フェントン試験後の膜重量減少率は0%であった。
合成例1で得られた[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]100mg、ビニルホスホン酸70mg、トリアリルイソシアヌレート15mgをメタノール/水[90/10(w/w)]混合溶液4.3gに溶解させた。その後、メタノールに浸漬したポリエチレン製多孔膜サイズ:10.5×10.5cm、膜厚:9μm、空孔率:35%)をPTFE製基材上に置き、その上から上記ポリマー溶液をコートし、窒素雰囲気下室温で乾燥させた。乾燥後の複合高分子電解質膜をプラスチックの枠に固定し、電子線照射装置((株)NHVコーポレーション所有、EBC300キュアトロン)を用いて窒素雰囲気下、加速電圧250kV、電子線照射線量500kGyで電子線架橋を行った。電子線照射後、枠から複合高分子電解質膜をはずし、超純水500mlに浸け80℃の乾燥機中で24時間保持し、架橋が不十分な成分を溶出させ除去した。
得られた複合膜のイオン交換容量2.53meq/g、プロトン伝導性は膜抵抗が高く測定できなかった。フェントン試験後の膜重量減少率は0%であった。
合成例1で得られた[(p−フェニレンスルホン酸)−2,5−ベンゾフェノン]100mg、ビニルスルホン酸70mg、トリアリルイソシアヌレート15mgをメタノール/水[90/10(w/w)]混合溶液4.3gに溶解させた。その後、メタノールに浸漬したポリエチレン製多孔膜サイズ:10.5×10.5cm、膜厚:9μm、空孔率:35%)をPTFE製基材上に置き、その上から上記ポリマー溶液をコートし、窒素雰囲気下室温で乾燥させた。乾燥後の複合高分子電解質膜をプラスチックの枠に固定し、電子線照射装置((株)NHVコーポレーション所有、EBC300キュアトロン)を用いて窒素雰囲気下、加速電圧250kV、電子線照射線量500kGyで電子線架橋を行った。電子線照射後、枠から複合高分子電解質膜をはずし、超純水500mlに浸け80℃の乾燥機中で24時間保持し、架橋が不十分な成分を溶出させ除去した。
得られた複合膜のイオン交換容量2.59meq/g、プロトン伝導性0.041S/cm、フェントン試験後の膜重量減少率は34%であった。発電試験時の0.3A/cm2での電圧は0.86Vであった。
Claims (9)
- 下記化学式1および下記化学式2で示される繰り返し構造を有する芳香族高分子電解質を含み、更にスルホン酸を有するラジカル重合性化合物、ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物、2官能以上のラジカル重合性化合物から選ばれる少なくとも一つを含む樹脂組成物を多孔質基材中に充填した後、活性エネルギー線照射により重合した複合高分子電解質膜であって、高分子電解質がリン原子を0.1〜7.0質量%含むことを特徴とする複合高分子電解質膜。
(式中、R1、R2は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、R1、R2は同一であっても異なっていてもよい。R3は炭素数1〜20のアルキル基または置換基を有してもよい炭素数6〜20のアリール基のいずれかを示す。R3が置換基を有する場合、該置換基は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、該置換基を複数有する場合はそれらの置換基は同一であっても異なっていてもよい。a、bは1〜4の整数を示す。p、qは、p+q=1を満たす0または1である。)
(式中、m、nは正の整数、m+n=5〜1000を示す。R4は水素、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数6〜20のアリール基のいずれかであり、置換基は同一であっても異なっていてもよい。rは1または2であり、dは4−rを示す。AはOR5もしくはN(R6)(R7)を示し、R5は水素、アルカリ金属、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示し、R6及びR7は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかであり、R6及びR7は同一であっても異なっていてもよい。) - 前記高分子電解質がリン原子を0.5〜7.0質量%含む請求項1に記載の複合高分子電解質膜。
- 前記ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物が下記化学式3で示される化合物である、請求項1〜2のいずれかに記載の複合高分子電解質膜。
(式中、R8は水素、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかである。R9は直接結合、炭素数1〜20のアルキル基、フェニル基のいずれかである。tは1〜5のいずれかである。)BはOR10もしくはN(R11)(R12)を示し、R10は水素、アルカリ金属、炭素数1〜20のアルキル基のいずれかを示し、R11及びR12は水素または炭素数1〜20のアルキル基のいずれかであり、R11及びR12は同一であっても異なっていてもよい。) - 前記ホスホン酸を有するラジカル重合性化合物がビニルホスホン酸である請求項1〜3のいずれかに記載の複合高分子電解質膜
- 前記活性エネルギー線が電子線もしくは紫外線である請求項1〜4のいずれかに記載の複合高分子電解質膜
- 前記多孔質基材の材質が高分子材料であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の複合高分子電解質膜。
- 前記高分子電解質膜のイオン交換容量が1.5meq/g〜6.0meq/gであることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の複合高分子電解質膜。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の複合高分子電解質膜を用いた燃料電池用高分子電解質膜電極接合体。
- 請求項8に記載の高分子電解質膜電極接合体を用いた燃料電池。
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