JP2575406Y2 - コネクタ検査装置 - Google Patents
コネクタ検査装置Info
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- JP2575406Y2 JP2575406Y2 JP1993046059U JP4605993U JP2575406Y2 JP 2575406 Y2 JP2575406 Y2 JP 2575406Y2 JP 1993046059 U JP1993046059 U JP 1993046059U JP 4605993 U JP4605993 U JP 4605993U JP 2575406 Y2 JP2575406 Y2 JP 2575406Y2
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- Japan
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- connector
- housing
- probe
- retainer
- inspection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
- G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49004—Electrical device making including measuring or testing of device or component part
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、例えば自動車の重要回
路に使用される、リテーナを有するコネクタを検査する
ためのコネクタ検査装置に関する。
路に使用される、リテーナを有するコネクタを検査する
ためのコネクタ検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】自動車における電装品の配線に用いられ
るワイヤーハーネスでは、ワイヤーハーネス相互間の接
続や、ワイヤーハーネスと電装品との接続のためにコネ
クタが用いられる。ところで、コネクタには、コネクタ
ハウジング内から端子金具が抜け出ないように種々の対
策が施されているものがある。例えば自動車の重要回路
に使用されるコネクタには、リテーナを付加したコネク
タが使用されている。このコネクタは、ハウジング内に
端子金具を挿入した後に、さらにハウジング内にリテー
ナを所定方向から押し込むことによって、端子金具が定
位置に位置決め固定されるようになっている。
るワイヤーハーネスでは、ワイヤーハーネス相互間の接
続や、ワイヤーハーネスと電装品との接続のためにコネ
クタが用いられる。ところで、コネクタには、コネクタ
ハウジング内から端子金具が抜け出ないように種々の対
策が施されているものがある。例えば自動車の重要回路
に使用されるコネクタには、リテーナを付加したコネク
タが使用されている。このコネクタは、ハウジング内に
端子金具を挿入した後に、さらにハウジング内にリテー
ナを所定方向から押し込むことによって、端子金具が定
位置に位置決め固定されるようになっている。
【0003】上記端子金具抜け止め用のリテーナは、ハ
ウジングに比べて小さい。そのため、コネクタの組立時
において、リテーナの装着忘れ、あるいは押し込みが不
完全なまま看過されやすく、本来の目的を達成できない
場合がある。そこで、例えば特公平2−56786号公
報等で、ワイヤーハーネスの生産の最終段階でコネクタ
の導通検査を行う際に、端子金具の装着及び電線の圧着
の不良を検査すると共に、リテーナの装着不完全を検査
することができる、コネクタ検査装置が種々提案されて
いる。上記公告公報で開示されている先行技術のうち最
も典型的な例を図7に示す。
ウジングに比べて小さい。そのため、コネクタの組立時
において、リテーナの装着忘れ、あるいは押し込みが不
完全なまま看過されやすく、本来の目的を達成できない
場合がある。そこで、例えば特公平2−56786号公
報等で、ワイヤーハーネスの生産の最終段階でコネクタ
の導通検査を行う際に、端子金具の装着及び電線の圧着
の不良を検査すると共に、リテーナの装着不完全を検査
することができる、コネクタ検査装置が種々提案されて
いる。上記公告公報で開示されている先行技術のうち最
も典型的な例を図7に示す。
【0004】図7は、先行技術に係るコネクタ検査装置
の構成を示しており、同図(a)は斜視図、同図(b)
は一部を横断して示す平面図である。同図を参照して、
上記コネクタ検査装置Dは、コネクタCの検査に際し、
リテーナ装着不完全検査部4でリテーナRの装着不完全
を検知してロックアーム43により導通検査部2の移動
を機械的に阻止するようにしたものである。具体的に
は、リテーナRがコネクタハウジングHに完全に挿入さ
れていなければ、リテーナRがハウジングHから浮き出
た状態となる。この状態でコネクタCが受け部1に挿入
されると、検知ピン41が後退し、エッジ片42が押圧
される。これに伴い、ロックアーム43が図7(b)に
示す矢印A1方向に回動される。その結果、ロックアー
ム43とアーム受け44とが係合する。そのため、カム
レバー3を引き起こすことができず、導通検査部2の受
け部1側への移動が阻止される。これにより、リテーナ
Rの装着が不完全であることが分かる。
の構成を示しており、同図(a)は斜視図、同図(b)
は一部を横断して示す平面図である。同図を参照して、
上記コネクタ検査装置Dは、コネクタCの検査に際し、
リテーナ装着不完全検査部4でリテーナRの装着不完全
を検知してロックアーム43により導通検査部2の移動
を機械的に阻止するようにしたものである。具体的に
は、リテーナRがコネクタハウジングHに完全に挿入さ
れていなければ、リテーナRがハウジングHから浮き出
た状態となる。この状態でコネクタCが受け部1に挿入
されると、検知ピン41が後退し、エッジ片42が押圧
される。これに伴い、ロックアーム43が図7(b)に
示す矢印A1方向に回動される。その結果、ロックアー
ム43とアーム受け44とが係合する。そのため、カム
レバー3を引き起こすことができず、導通検査部2の受
け部1側への移動が阻止される。これにより、リテーナ
Rの装着が不完全であることが分かる。
【0005】一方、リテーナRがコネクタハウジングH
に完全に装着されておれば、ハウジングHとリテーナR
とはほぼ面一となるから、コネクタCを受け部1に円滑
に挿入することができる。それゆえ、カムレバー3を引
き起こして導通検査部2の検出子21とコネクタCの端
子金具(図示せず。)とが接触し、これらの間で導通が
得られる。よって、コネクタCの導通検査が行えると共
に、リテーナRが完全に装着されていることも分かる。
もしも、端子金具がコネクタハウジングHに挿入されて
いないときや、端子金具に対する電線の圧着が不良であ
るときには、導通が不良となる。
に完全に装着されておれば、ハウジングHとリテーナR
とはほぼ面一となるから、コネクタCを受け部1に円滑
に挿入することができる。それゆえ、カムレバー3を引
き起こして導通検査部2の検出子21とコネクタCの端
子金具(図示せず。)とが接触し、これらの間で導通が
得られる。よって、コネクタCの導通検査が行えると共
に、リテーナRが完全に装着されていることも分かる。
もしも、端子金具がコネクタハウジングHに挿入されて
いないときや、端子金具に対する電線の圧着が不良であ
るときには、導通が不良となる。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】図7に示したものに代
表される、先行技術に係るコネクタ検査装置は、上記し
たように、リテーナの装着不完全をも検査できる点であ
る程度有用である。しかしながら、上記コネクタ検査装
置では、別途リテーナの装着不完全を検査する検査部を
設け、検査部によりリテーナの装着不完全が検知された
ときに、本来のコネクタ導通検査部の移動を機械的に阻
止するように構成しているので、その構造は複雑なもの
となっている。そのため、装置が大型化したりする等の
問題がある。
表される、先行技術に係るコネクタ検査装置は、上記し
たように、リテーナの装着不完全をも検査できる点であ
る程度有用である。しかしながら、上記コネクタ検査装
置では、別途リテーナの装着不完全を検査する検査部を
設け、検査部によりリテーナの装着不完全が検知された
ときに、本来のコネクタ導通検査部の移動を機械的に阻
止するように構成しているので、その構造は複雑なもの
となっている。そのため、装置が大型化したりする等の
問題がある。
【0007】本考案は、上記技術的課題に鑑みなされた
もので、簡単な構造で、小型のリテーナ装着忘れ検査機
能付きのコネクタ検査装置の提供を目的とする。
もので、簡単な構造で、小型のリテーナ装着忘れ検査機
能付きのコネクタ検査装置の提供を目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本考案は、ハウジング内に挿入された端子金具の接続
側と反対側から該ハウジングに装着されて少なくともそ
の挿入方向反対側端面が露出しているリテーナで上記端
子金具を二重係止するコネクタを検査するために用いら
れ、端子金具に対応して配置されている検出子を含む検
査部と、 検出子に対して端子金具の接続側を対向させる
とともに、その対向方向にハウジングが変位することを
許容した状態でハウジングを受ける受け部と、 受け部に
保持されているコネクタに対して、上記対向方向に沿
い、検査部を予め定める近接位置まで相対的に近接さ
せ、又その近接位置から元位置まで離反させるための手
段と、上記受け部に設けられ、当該リテーナの上記挿入
方向反対側端面に当接することによりハウジングハウジ
ングの上記対向方向沿いの変位寸法を規制するための寸
法規制部材と、検査部に設けられ、検査部と受け部との
近接時にコネクタを寸法規制部材との間で弾性的に挟圧
することにより、リテーナが装着されていることを条件
として検出子による端子金具の導通検査を許容する許容
手段とを備えていることを特徴とするコネクタ検査装置
である。
に本考案は、ハウジング内に挿入された端子金具の接続
側と反対側から該ハウジングに装着されて少なくともそ
の挿入方向反対側端面が露出しているリテーナで上記端
子金具を二重係止するコネクタを検査するために用いら
れ、端子金具に対応して配置されている検出子を含む検
査部と、 検出子に対して端子金具の接続側を対向させる
とともに、その対向方向にハウジングが変位することを
許容した状態でハウジングを受ける受け部と、 受け部に
保持されているコネクタに対して、上記対向方向に沿
い、検査部を予め定める近接位置まで相対的に近接さ
せ、又その近接位置から元位置まで離反させるための手
段と、上記受け部に設けられ、当該リテーナの上記挿入
方向反対側端面に当接することによりハウジングハウジ
ングの上記対向方向沿いの変位寸法を規制するための寸
法規制部材と、検査部に設けられ、検査部と受け部との
近接時にコネクタを寸法規制部材との間で弾性的に挟圧
することにより、リテーナが装着されていることを条件
として検出子による端子金具の導通検査を許容する許容
手段とを備えていることを特徴とするコネクタ検査装置
である。
【0009】好ましい態様において、上記許容手段は、
コネクタの端子金具に接触する第1のプローブ、第1の
プローブに間隔を隔てて直列に配置された第2のプロー
ブ、 及び第1のプローブを第2のプローブに対して電気
的に遮断した状態で端子金具に付勢する付勢部材を備え
た2プローブ型の上記検出子であり、上記付勢部材は、
リテーナを有するコネクタの端子金具に第1のプローブ
が衝合した際に圧縮されて、第1のプローブと第2のプ
ローブとが短絡するのを許容するとともに、リテーナの
ないコネクタの端子金具に第1のプローブが衝合した際
に、上記隙間を維持した状態で、上記コネクタを寸法規
制部材に押し付け可能に設定されているものである。
コネクタの端子金具に接触する第1のプローブ、第1の
プローブに間隔を隔てて直列に配置された第2のプロー
ブ、 及び第1のプローブを第2のプローブに対して電気
的に遮断した状態で端子金具に付勢する付勢部材を備え
た2プローブ型の上記検出子であり、上記付勢部材は、
リテーナを有するコネクタの端子金具に第1のプローブ
が衝合した際に圧縮されて、第1のプローブと第2のプ
ローブとが短絡するのを許容するとともに、リテーナの
ないコネクタの端子金具に第1のプローブが衝合した際
に、上記隙間を維持した状態で、上記コネクタを寸法規
制部材に押し付け可能に設定されているものである。
【0010】さらに別の態様において、上記許容手段
は、検出子が端子金具と接触するのに先立ってコネクタ
を寸法規制部材に対して押圧する押圧部材である。
は、検出子が端子金具と接触するのに先立ってコネクタ
を寸法規制部材に対して押圧する押圧部材である。
【0011】
【作用】本考案によれば、予め検査部と受け部とを離反
させた状態で受け部にコネクタのハウジングを装着し、
次いで、検査部と受け部とを相対的に近接させることに
より、受け部に装着されたコネクタの検査が行われる。
このとき、検査対象となるコネクタのハウジングにリテ
ーナが正規に装着されている場合には、コネクタは、リ
テーナを介して寸法規制部材によって位置決めされる一
方、この寸法規制部材との間でコネクタを弾性的に挟圧
する許容手段によって検出子による端子金具の導通検査
が許容される。
させた状態で受け部にコネクタのハウジングを装着し、
次いで、検査部と受け部とを相対的に近接させることに
より、受け部に装着されたコネクタの検査が行われる。
このとき、検査対象となるコネクタのハウジングにリテ
ーナが正規に装着されている場合には、コネクタは、リ
テーナを介して寸法規制部材によって位置決めされる一
方、この寸法規制部材との間でコネクタを弾性的に挟圧
する許容手段によって検出子による端子金具の導通検査
が許容される。
【0012】他方、リテーナがコネクタハウジングに装
着されていない場合には、ハウジングと寸法規制部材と
の間には僅かな隙間が形成されることになる。この結
果、検査時に検査部と受け部とが近接すると、許容手段
が寸法規制部材との間でコネクタを挟圧することによ
り、コネクタが接続側と反対側すなわち、検査部から離
反する方向に位置ずれしてしまい、検出子による導通検
査が許容されなくなる。
着されていない場合には、ハウジングと寸法規制部材と
の間には僅かな隙間が形成されることになる。この結
果、検査時に検査部と受け部とが近接すると、許容手段
が寸法規制部材との間でコネクタを挟圧することによ
り、コネクタが接続側と反対側すなわち、検査部から離
反する方向に位置ずれしてしまい、検出子による導通検
査が許容されなくなる。
【0013】
【実施例】以下、本考案の第1実施例を図1ないし図4
に基づき説明する。図1は、本考案の第1実施例に係る
コネクタ検査装置の構成を示す斜視図である。同図を参
照して、本実施例のコネクタ検査装置D1は、例えばワ
イヤーハーネスに取り付けられたコネクタC1を検査す
るために用いられる。ワイヤーハーネスは、電線の接続
態様が予め図示されている検査用図板(図示せず。)上
に載置されて、コネクタC1の検査がされる。
に基づき説明する。図1は、本考案の第1実施例に係る
コネクタ検査装置の構成を示す斜視図である。同図を参
照して、本実施例のコネクタ検査装置D1は、例えばワ
イヤーハーネスに取り付けられたコネクタC1を検査す
るために用いられる。ワイヤーハーネスは、電線の接続
態様が予め図示されている検査用図板(図示せず。)上
に載置されて、コネクタC1の検査がされる。
【0014】上記コネクタ検査装置D1により検査され
るコネクタC1は、例えば自動車の重要回路に使用され
るものであって、リテーナR1を有している。このコネ
クタC1は、いわゆるハウジングランス方式により、電
線W1の端部に圧着された端子金具T(図3参照)をハ
ウジングH1内に係止した後、さらにハウジングH1内
に所定形状のリテーナR1を後方から押し込む。そし
て、リテーナR1の外壁後部に設けられた係止片101
を、ハウジングH1に突設されたロック爪201に係合
させ、リテーナR1をセットしている。リテーナR1の
後端は、ハウジングH1内にセットされた状態では、ハ
ウジングH1の後端から僅かに突出している。
るコネクタC1は、例えば自動車の重要回路に使用され
るものであって、リテーナR1を有している。このコネ
クタC1は、いわゆるハウジングランス方式により、電
線W1の端部に圧着された端子金具T(図3参照)をハ
ウジングH1内に係止した後、さらにハウジングH1内
に所定形状のリテーナR1を後方から押し込む。そし
て、リテーナR1の外壁後部に設けられた係止片101
を、ハウジングH1に突設されたロック爪201に係合
させ、リテーナR1をセットしている。リテーナR1の
後端は、ハウジングH1内にセットされた状態では、ハ
ウジングH1の後端から僅かに突出している。
【0015】上記コネクタ検査装置D1は、ビス等によ
り検査用図板上に固定されるベース30を備えている。
このベース30は、前後方向に延びる長手の形状をして
おり、その上面には、ベース30の長手方向に沿って延
びる一対のスライドレール301が設けられている。ス
ライドレール301には、受け部40及び検査部50が
嵌め込まれている。
り検査用図板上に固定されるベース30を備えている。
このベース30は、前後方向に延びる長手の形状をして
おり、その上面には、ベース30の長手方向に沿って延
びる一対のスライドレール301が設けられている。ス
ライドレール301には、受け部40及び検査部50が
嵌め込まれている。
【0016】受け部40は、検査すべきコネクタC1を
保持するためのものである。この受け部40は、ベース
30の前端に下方からビス止め等によって固定されてい
る。受け部40は、スライドレール301に交差する断
面形状が略コ字形に形成されていて、検査すべきコネク
タC1を保持するための収容空間Aを有している。この
収容空間Aは、コネクタハウジングH1の先方部が検査
部50に向かって所定量突出し、且つハウジングH1か
ら引き出された電線W1が通せるように前後方向に貫通
して設けられており、その内面形状は、ハウジングH1
の形状に対応している。受け部40の前面には、略コ字
形の寸法規制板60がビス等で取り付けられている。こ
の寸法規制板60は、検査すべきコネクタC1が受け部
40の収容空間Aに挿入され検査される際に、リテーナ
R1に当接して、ハウジングH1の後方(電線のつなが
れた側)の位置決めをするためのものである。
保持するためのものである。この受け部40は、ベース
30の前端に下方からビス止め等によって固定されてい
る。受け部40は、スライドレール301に交差する断
面形状が略コ字形に形成されていて、検査すべきコネク
タC1を保持するための収容空間Aを有している。この
収容空間Aは、コネクタハウジングH1の先方部が検査
部50に向かって所定量突出し、且つハウジングH1か
ら引き出された電線W1が通せるように前後方向に貫通
して設けられており、その内面形状は、ハウジングH1
の形状に対応している。受け部40の前面には、略コ字
形の寸法規制板60がビス等で取り付けられている。こ
の寸法規制板60は、検査すべきコネクタC1が受け部
40の収容空間Aに挿入され検査される際に、リテーナ
R1に当接して、ハウジングH1の後方(電線のつなが
れた側)の位置決めをするためのものである。
【0017】検査部50は、受け部40に保持されたコ
ネクタC1の導通検査を行うためのものである。この検
査部50は、スライドレール301に沿って前後移動可
能とされている。また、検査部50には、ガイドバー3
02が挿通されている。ガイドバー302は、スライド
レール301の間に配置されており、コネクタ受け部4
0から検査部50に向かって延び、検査部50を突き抜
けている。そして、検査部50とコネクタ受け部40と
の間のガイドバー302には、検査部50を元位置に復
帰させるためのコイルばね303が介装されている。そ
れゆえ、検査部50は、コイルばね303によって常時
後方に付勢される。
ネクタC1の導通検査を行うためのものである。この検
査部50は、スライドレール301に沿って前後移動可
能とされている。また、検査部50には、ガイドバー3
02が挿通されている。ガイドバー302は、スライド
レール301の間に配置されており、コネクタ受け部4
0から検査部50に向かって延び、検査部50を突き抜
けている。そして、検査部50とコネクタ受け部40と
の間のガイドバー302には、検査部50を元位置に復
帰させるためのコイルばね303が介装されている。そ
れゆえ、検査部50は、コイルばね303によって常時
後方に付勢される。
【0018】また、検査部50は、略矩形状に形成され
ており、その前面には窓501が凹設されている。この
窓501は、コネクタハウジングH1の先端部に対応し
た形状を有しており、その開口面積は、コネクタハウジ
ングH1の先端部が挿入可能な大きさとされている。窓
501内には、コネクタC1が有する端子金具Tに対応
して、複数の検出子70が配列されている。この検出子
70は、その頭部をコネクタ受け部40に向かって突出
させて、コネクタ受け部40に向かって弾性的に付勢さ
れている。さらに、検査部50の上面には、後述するレ
バー80を案内するアッパーガイド502がビス止め等
により取り付けられている。
ており、その前面には窓501が凹設されている。この
窓501は、コネクタハウジングH1の先端部に対応し
た形状を有しており、その開口面積は、コネクタハウジ
ングH1の先端部が挿入可能な大きさとされている。窓
501内には、コネクタC1が有する端子金具Tに対応
して、複数の検出子70が配列されている。この検出子
70は、その頭部をコネクタ受け部40に向かって突出
させて、コネクタ受け部40に向かって弾性的に付勢さ
れている。さらに、検査部50の上面には、後述するレ
バー80を案内するアッパーガイド502がビス止め等
により取り付けられている。
【0019】ベース30の後端には、一対のレバー取付
片304が起立されている。このレバー取付片304に
は、スライドレール301と直交する軸線801周りに
回動自在にレバー80が取り付けられている。このレバ
ー80は、検査部50を受け部40に保持される、検査
すべきコネクタC1に対して予め定める位置まで近接さ
せ、又その近接位置から元位置まで離反させるためのも
のである。レバー80の上部には、レバー80を回動操
作するための操作ハンドル802が備えられている。ま
た、レバー80の下部には、検査部50に向かって突出
したカム803が一体的に形成されている。このカム8
03は、検査部50の後面に当接している。
片304が起立されている。このレバー取付片304に
は、スライドレール301と直交する軸線801周りに
回動自在にレバー80が取り付けられている。このレバ
ー80は、検査部50を受け部40に保持される、検査
すべきコネクタC1に対して予め定める位置まで近接さ
せ、又その近接位置から元位置まで離反させるためのも
のである。レバー80の上部には、レバー80を回動操
作するための操作ハンドル802が備えられている。ま
た、レバー80の下部には、検査部50に向かって突出
したカム803が一体的に形成されている。このカム8
03は、検査部50の後面に当接している。
【0020】上記構成において、操作ハンドル802を
掴みレバー80を前方(矢印F1方向)に引き起こす
と、カム803によって検査部50が押される。その結
果、検査部50は、コイルばね303の付勢力に抗して
スライドレール301に沿って前方(矢印F2方向)へ
スライドする。そして、ほぼ垂直位置に立つ位置までレ
バー80を回動させると、検査部50はコネクタ受け部
40に当接する。また、レバー80を後方(矢印B1方
向)に一杯戻すと、検査部50はコイルばね303の付
勢力で後方(矢印B2方向)ヘスライドされ、元位置に
戻る。
掴みレバー80を前方(矢印F1方向)に引き起こす
と、カム803によって検査部50が押される。その結
果、検査部50は、コイルばね303の付勢力に抗して
スライドレール301に沿って前方(矢印F2方向)へ
スライドする。そして、ほぼ垂直位置に立つ位置までレ
バー80を回動させると、検査部50はコネクタ受け部
40に当接する。また、レバー80を後方(矢印B1方
向)に一杯戻すと、検査部50はコイルばね303の付
勢力で後方(矢印B2方向)ヘスライドされ、元位置に
戻る。
【0021】図2は、検出子の構成を示す断面図であ
る。同図を参照して、検出子70は、検査部50に挿通
されるスリーブ73と、直列に接続された2本のプロー
ブ71,72とを有している。つまり、コネクタ受け部
40に対向して設けられ、コネクタC1の端子金具Tに
接触する第1のプローブ71と、この第1のプローブ7
1の後方に直列に配置された第2のプローブ72とを備
えた、いわゆる2プローブ型のものである。
る。同図を参照して、検出子70は、検査部50に挿通
されるスリーブ73と、直列に接続された2本のプロー
ブ71,72とを有している。つまり、コネクタ受け部
40に対向して設けられ、コネクタC1の端子金具Tに
接触する第1のプローブ71と、この第1のプローブ7
1の後方に直列に配置された第2のプローブ72とを備
えた、いわゆる2プローブ型のものである。
【0022】第1のプローブ71の先端部には、コネク
タC1の端子金具Tに接触するヘッド713が設けられ
ている。第1のプローブには、ヘッド713のフランジ
部713aに当接するようにコイルばね714が後方か
ら嵌め込まれており、さらにその後方からボス711が
スライド自在に嵌め込まれている。ボス711から突出
した第1のプローブ71の後端には、ボス711の脱落
を防止するストッパ712が取り付けられている。そし
て、ボス711は、スリーブ73の先端部側(コネクタ
受け部40側)に挿入されている。それゆえ、第1のプ
ローブ71は、コイルばね714により常時コネクタ受
け部40側(矢印F2方向)に付勢されている。
タC1の端子金具Tに接触するヘッド713が設けられ
ている。第1のプローブには、ヘッド713のフランジ
部713aに当接するようにコイルばね714が後方か
ら嵌め込まれており、さらにその後方からボス711が
スライド自在に嵌め込まれている。ボス711から突出
した第1のプローブ71の後端には、ボス711の脱落
を防止するストッパ712が取り付けられている。そし
て、ボス711は、スリーブ73の先端部側(コネクタ
受け部40側)に挿入されている。それゆえ、第1のプ
ローブ71は、コイルばね714により常時コネクタ受
け部40側(矢印F2方向)に付勢されている。
【0023】第2のプローブ72の先端には、第1のプ
ローブ71の後端に接触するヘッド722が設けられて
いる。第2のプローブ72は、先にコイルばね741が
収容された細いスリーブ74にスライド自在に挿入され
ている。細いスリーブ74の先端部には、ボス721に
挿通されている。そして、ボス721は、スリーブ73
の後端部に嵌め込まれている。それゆえ、第2のプロー
ブ72は、コイルばね741により常時第1のプローブ
71側に付勢され、且つスライド時にはヘッド722の
フランジ部722aが細いスリーブ74の内壁に摺接す
る。
ローブ71の後端に接触するヘッド722が設けられて
いる。第2のプローブ72は、先にコイルばね741が
収容された細いスリーブ74にスライド自在に挿入され
ている。細いスリーブ74の先端部には、ボス721に
挿通されている。そして、ボス721は、スリーブ73
の後端部に嵌め込まれている。それゆえ、第2のプロー
ブ72は、コイルばね741により常時第1のプローブ
71側に付勢され、且つスライド時にはヘッド722の
フランジ部722aが細いスリーブ74の内壁に摺接す
る。
【0024】また、第1のプローブ71のストッパ71
2がボス711の後端に当接している状態では、第1の
プローブ71と第2のプローブ72との間に隙間Sが形
成されている。上記コイルばね714は、リテーナR1
を有するコネクタC1の端子金具に第1のプローブ71
が衝合した際に圧縮されて、第1のプローブ71と第2
のプローブ72とが短絡するのを許容するとともに、リ
テーナR1のないコネクタC1の端子金具に第1のプロ
ーブ71が衝合した際に、上記隙間Sを維持した状態
で、上記コネクタC1を寸法規制板60に押し付け可能
な諸元に設定されている。
2がボス711の後端に当接している状態では、第1の
プローブ71と第2のプローブ72との間に隙間Sが形
成されている。上記コイルばね714は、リテーナR1
を有するコネクタC1の端子金具に第1のプローブ71
が衝合した際に圧縮されて、第1のプローブ71と第2
のプローブ72とが短絡するのを許容するとともに、リ
テーナR1のないコネクタC1の端子金具に第1のプロ
ーブ71が衝合した際に、上記隙間Sを維持した状態
で、上記コネクタC1を寸法規制板60に押し付け可能
な諸元に設定されている。
【0025】上記構成において、受け部40に検査すべ
きコネクタC1を装着し、レバー80を引き起こして検
査部50をコネクタ受け部40に向けて変位させると、
まずコネクタハウジングH1内の端子金具Tが第1のプ
ローブ71のヘッド713に当接する。この状態から、
さらに検査部50をスライドさせると、コイルばね71
4が圧縮し、ついには第1のプローブ71と第2のプロ
ーブ72との隙間Sがなくなる。その結果、第1のプロ
ーブ71の後端と第2のプローブ72のヘッド722と
が接触し、さらにコイルばね714が圧縮される。これ
により、端子金具Tと第1のプローブ71とは、コイル
ばね712から接圧を得て導通し、第1のプローブ71
と第2のプローブ72とは、コイルばね741から接圧
を得て導通する。
きコネクタC1を装着し、レバー80を引き起こして検
査部50をコネクタ受け部40に向けて変位させると、
まずコネクタハウジングH1内の端子金具Tが第1のプ
ローブ71のヘッド713に当接する。この状態から、
さらに検査部50をスライドさせると、コイルばね71
4が圧縮し、ついには第1のプローブ71と第2のプロ
ーブ72との隙間Sがなくなる。その結果、第1のプロ
ーブ71の後端と第2のプローブ72のヘッド722と
が接触し、さらにコイルばね714が圧縮される。これ
により、端子金具Tと第1のプローブ71とは、コイル
ばね712から接圧を得て導通し、第1のプローブ71
と第2のプローブ72とは、コイルばね741から接圧
を得て導通する。
【0026】したがって、細いスリーブ74に図外の検
査ユニットに接続されたリード線W2(図1参照)の端
子を接続しておけば、「端子金具T→第1のプローブ7
1→第2のプローブ72→細いスリーブ74」のように
回路が形成されたことを検知できる。コネクタC1の検
査に際しては、図1に示すように、受け部40の収容空
間A内に、端子金具Tに圧着された電線W1が前方向F
2に引き出されるようにコネクタC1が嵌め込まれる。
検査作業者は、コネクタC1を受け部40に装着した
後、レバー80を前方向F1に引き起こす。レバー80
を引き起こしていくと、検査部50がコネクタ受け部4
0に向かって前方向F2に移動し、コネクタハウジング
H1が検査部50の窓501に入り込む。また、検出子
70がコネクタC1の端子金具Tの先端に接触する。こ
の状態から、レバー80をさらに引き起こし、ほぼ垂直
位置に立つ位置までレバー80を回動させると、検査部
50とコネクタ受け部40の各端面が当接した状態に至
る。
査ユニットに接続されたリード線W2(図1参照)の端
子を接続しておけば、「端子金具T→第1のプローブ7
1→第2のプローブ72→細いスリーブ74」のように
回路が形成されたことを検知できる。コネクタC1の検
査に際しては、図1に示すように、受け部40の収容空
間A内に、端子金具Tに圧着された電線W1が前方向F
2に引き出されるようにコネクタC1が嵌め込まれる。
検査作業者は、コネクタC1を受け部40に装着した
後、レバー80を前方向F1に引き起こす。レバー80
を引き起こしていくと、検査部50がコネクタ受け部4
0に向かって前方向F2に移動し、コネクタハウジング
H1が検査部50の窓501に入り込む。また、検出子
70がコネクタC1の端子金具Tの先端に接触する。こ
の状態から、レバー80をさらに引き起こし、ほぼ垂直
位置に立つ位置までレバー80を回動させると、検査部
50とコネクタ受け部40の各端面が当接した状態に至
る。
【0027】このとき、図3(a)に示すように、コネ
クタハウジングH1にリテーナR1が装着されておれ
ば、リテーナR1が寸法規制板60に当接し、コネクタ
C1の移動が規制されるため、ハウジングH1が受け部
40内に位置決めされる。そのため、レバー80の操作
力に伴って、検出子70がハウジングH1内の端子金具
Tに押される。その結果、検出子70と端子金具Tとの
導通が得られる。具体的には、端子金具Tと第1のプロ
ーブ71とは、コイルばね714から接触圧力を得て導
通し、第1のプローブ71と第2のプローブ72とは、
コイルばね741から接触圧力を得て導通する。これに
より、端子金具Tが装着されているかどうか、端子金具
Tに対する電線W1の圧着の良好か否か等の検査が達成
される。
クタハウジングH1にリテーナR1が装着されておれ
ば、リテーナR1が寸法規制板60に当接し、コネクタ
C1の移動が規制されるため、ハウジングH1が受け部
40内に位置決めされる。そのため、レバー80の操作
力に伴って、検出子70がハウジングH1内の端子金具
Tに押される。その結果、検出子70と端子金具Tとの
導通が得られる。具体的には、端子金具Tと第1のプロ
ーブ71とは、コイルばね714から接触圧力を得て導
通し、第1のプローブ71と第2のプローブ72とは、
コイルばね741から接触圧力を得て導通する。これに
より、端子金具Tが装着されているかどうか、端子金具
Tに対する電線W1の圧着の良好か否か等の検査が達成
される。
【0028】一方、図3(b)に示すように、リテーナ
R1がコネクタハウジングH1に装着されていない場合
には、ハウジングH1と寸法規制板60との間には僅か
な隙間がある。そのため、レバー80の操作力に伴っ
て、ハウジングH1が検出子70によってF2方向に押
されて位置ずれし、ハウジングH1の端面が寸法規制板
60に当接し、この状態で受け部40内に位置決めされ
る。したがって、検出子70とコネクタハウジングH1
内の端子金具Tとが接触せず、検出子70と端子金具T
との接触圧力が得られない。その結果、検出子70と端
子金具Tとの導通が得られない。これにより、リテーナ
R1がコネクタハウジングH1に装着されていないこと
が検出される。
R1がコネクタハウジングH1に装着されていない場合
には、ハウジングH1と寸法規制板60との間には僅か
な隙間がある。そのため、レバー80の操作力に伴っ
て、ハウジングH1が検出子70によってF2方向に押
されて位置ずれし、ハウジングH1の端面が寸法規制板
60に当接し、この状態で受け部40内に位置決めされ
る。したがって、検出子70とコネクタハウジングH1
内の端子金具Tとが接触せず、検出子70と端子金具T
との接触圧力が得られない。その結果、検出子70と端
子金具Tとの導通が得られない。これにより、リテーナ
R1がコネクタハウジングH1に装着されていないこと
が検出される。
【0029】このように、本実施例のコネクタ検査装置
D1は、コネクタ受け部40の前面に寸法規制板60を
取り付け、導通検査を行うにあたって検査部50と受け
部40とを当接させた際に、リテーナR1が寸法規制板
60に当接してコネクタC1の移動が規制され、検出子
70とハウジングH1内の端子金具Tとが接触するか、
あるいはコネクタハウジングH1が位置ずれし、ハウジ
ングH1の端面が寸法規制板60に当接して、検出子7
0とハウジングH1内の端子金具Tとが接触しないかに
より、リテーナR1の装着状態が検知できるようにして
いる。つまり、従来の導通検査機構をそのままリテーナ
装着忘れ検査に利用しているため、検査装置にリテーナ
装着忘れ検査機能を付加しても、装置の構造は簡単とな
り、しかも装置が大型化することもない。
D1は、コネクタ受け部40の前面に寸法規制板60を
取り付け、導通検査を行うにあたって検査部50と受け
部40とを当接させた際に、リテーナR1が寸法規制板
60に当接してコネクタC1の移動が規制され、検出子
70とハウジングH1内の端子金具Tとが接触するか、
あるいはコネクタハウジングH1が位置ずれし、ハウジ
ングH1の端面が寸法規制板60に当接して、検出子7
0とハウジングH1内の端子金具Tとが接触しないかに
より、リテーナR1の装着状態が検知できるようにして
いる。つまり、従来の導通検査機構をそのままリテーナ
装着忘れ検査に利用しているため、検査装置にリテーナ
装着忘れ検査機能を付加しても、装置の構造は簡単とな
り、しかも装置が大型化することもない。
【0030】次に、本考案の第2実施例を図4に基づき
説明する。図4は、本考案の第2実施例に係るコネクタ
検査装置の構成を示す斜視図である。同図を参照して、
本実施例のコネクタ検査装置D2で検査されるコネクタ
C2は、断面略コ字形のリテーナR2をハウジングH2
の外周に被せ、リテーナR2の側壁肩部102に設けら
れた係止片103を、ハウジングH2の側面に突設され
たロック爪202に係合させている。
説明する。図4は、本考案の第2実施例に係るコネクタ
検査装置の構成を示す斜視図である。同図を参照して、
本実施例のコネクタ検査装置D2で検査されるコネクタ
C2は、断面略コ字形のリテーナR2をハウジングH2
の外周に被せ、リテーナR2の側壁肩部102に設けら
れた係止片103を、ハウジングH2の側面に突設され
たロック爪202に係合させている。
【0031】したがって、上記コネクタC2の検査装置
D2の特徴は、検査を行う際に、リテーナR2の肩部1
02を寸法規制板60に当接させた状態で、コネクタハ
ウジングH2をコネクタ受け部40内で位置決めするよ
うにしている点にあり、その他の構成は第1実施例と同
様である。上記構成によると、レバー80をほぼ垂直位
置に立つ位置まで引き起こし、検査部50とコネクタ受
け部40の各端面とを当接させた際に、コネクタハウジ
ングH2にリテーナR2が装着されておれば、リテーナ
R2の側壁肩部102が寸法規制板60に当接し、コネ
クタC2の移動が規制されるため、検出子70とハウジ
ングH2内の端子金具Tとが接触し、検出子70と端子
金具Tとの導通が得られる。
D2の特徴は、検査を行う際に、リテーナR2の肩部1
02を寸法規制板60に当接させた状態で、コネクタハ
ウジングH2をコネクタ受け部40内で位置決めするよ
うにしている点にあり、その他の構成は第1実施例と同
様である。上記構成によると、レバー80をほぼ垂直位
置に立つ位置まで引き起こし、検査部50とコネクタ受
け部40の各端面とを当接させた際に、コネクタハウジ
ングH2にリテーナR2が装着されておれば、リテーナ
R2の側壁肩部102が寸法規制板60に当接し、コネ
クタC2の移動が規制されるため、検出子70とハウジ
ングH2内の端子金具Tとが接触し、検出子70と端子
金具Tとの導通が得られる。
【0032】一方、リテーナR2がコネクタハウジング
H2に装着されていない場合には、ハウジングH2が検
出子70によって押されてF2方向に位置ずれし、ハウ
ジングH2の端面が寸法規制板60に当接するため、検
出子70とハウジングH2内の端子金具Tとが接触せ
ず、検出子70と端子金具Tとの接触圧力が得られな
い。
H2に装着されていない場合には、ハウジングH2が検
出子70によって押されてF2方向に位置ずれし、ハウ
ジングH2の端面が寸法規制板60に当接するため、検
出子70とハウジングH2内の端子金具Tとが接触せ
ず、検出子70と端子金具Tとの接触圧力が得られな
い。
【0033】つづいて、本考案の第3実施例を図5に基
づき説明する。図5は、本考案の第3実施例に係るコネ
クタ検査装置の構成を示す斜視図である。同図を参照し
て、本実施例のコネクタ検査装置D3で検査されるコネ
クタC3は、ハウジングH3内に板状のリテーナR3を
完全に挿入し、リテーナR3の側方に設けられた突起1
04を、ハウジングH3の側面に開けられた係合孔20
3に係合させている。
づき説明する。図5は、本考案の第3実施例に係るコネ
クタ検査装置の構成を示す斜視図である。同図を参照し
て、本実施例のコネクタ検査装置D3で検査されるコネ
クタC3は、ハウジングH3内に板状のリテーナR3を
完全に挿入し、リテーナR3の側方に設けられた突起1
04を、ハウジングH3の側面に開けられた係合孔20
3に係合させている。
【0034】したがって、上記コネクタC3の検査装置
D3の特徴は、寸法規制板60の切欠縁部に、リテーナ
R3に当接する凸部601を設けている点にあり、その
他の構成は第1実施例と同様である。上記構成におい
て、ほぼ垂直位置に立つ位置までレバー80を引き起こ
し、検査部50とコネクタ受け部40とを当接させる
と、コネクタハウジングH3にリテーナR3が装着され
ておれば、リテーナR3が寸法規制板60の凸部601
に当接した状態でハウジングH3が受け部40内に位置
決めされる。そのため、検出子70がコネクタハウジン
グH3内の端子金具Tに押される結果、検出子70と端
子金具Tとの導通が得られる。
D3の特徴は、寸法規制板60の切欠縁部に、リテーナ
R3に当接する凸部601を設けている点にあり、その
他の構成は第1実施例と同様である。上記構成におい
て、ほぼ垂直位置に立つ位置までレバー80を引き起こ
し、検査部50とコネクタ受け部40とを当接させる
と、コネクタハウジングH3にリテーナR3が装着され
ておれば、リテーナR3が寸法規制板60の凸部601
に当接した状態でハウジングH3が受け部40内に位置
決めされる。そのため、検出子70がコネクタハウジン
グH3内の端子金具Tに押される結果、検出子70と端
子金具Tとの導通が得られる。
【0035】一方、リテーナR3がコネクタハウジング
H3に装着されていない場合には、ハウジングH3が検
出子70によって押されてF2方向に位置ずれし、ハウ
ジングH1の端面が寸法規制板60に当接した状態で受
け部40内に位置決めされる。そのため、検出子70と
端子金具Tとが接触せず、その結果検出子70と端子金
具Tとの接触圧力が得られない。これにより、リテーナ
R3がコネクタハウジングH3に装着されていないこと
が検出される。
H3に装着されていない場合には、ハウジングH3が検
出子70によって押されてF2方向に位置ずれし、ハウ
ジングH1の端面が寸法規制板60に当接した状態で受
け部40内に位置決めされる。そのため、検出子70と
端子金具Tとが接触せず、その結果検出子70と端子金
具Tとの接触圧力が得られない。これにより、リテーナ
R3がコネクタハウジングH3に装着されていないこと
が検出される。
【0036】さらに、本考案の第4実施例を図6に基づ
き説明する。図6は、本考案の第4実施例に係るコネク
タ検査装置の要部拡大断面図であって、この検査装置に
おける検査動作を図解的に示している。つまり、図6
(a)はリテーナがコネクタハウジングに装着されてい
る場合の検査状態を、図6(b)はリテーナがコネクタ
ハウジングに装着されていない場合の検査状態をそれぞ
れ示している。同図を参照して、本実施例のコネクタ検
査装置D4は、図1に示すコネクタC1に対応した機種
であり、その特徴は、検査部50に、各端子金具Tに接
触して導通を得る検出子170、及びコネクタハウジン
グH1の端面に接触して当該端面を押圧する押圧子90
が備えられている点にあり、その他の構成は第1実施例
と同様である。
き説明する。図6は、本考案の第4実施例に係るコネク
タ検査装置の要部拡大断面図であって、この検査装置に
おける検査動作を図解的に示している。つまり、図6
(a)はリテーナがコネクタハウジングに装着されてい
る場合の検査状態を、図6(b)はリテーナがコネクタ
ハウジングに装着されていない場合の検査状態をそれぞ
れ示している。同図を参照して、本実施例のコネクタ検
査装置D4は、図1に示すコネクタC1に対応した機種
であり、その特徴は、検査部50に、各端子金具Tに接
触して導通を得る検出子170、及びコネクタハウジン
グH1の端面に接触して当該端面を押圧する押圧子90
が備えられている点にあり、その他の構成は第1実施例
と同様である。
【0037】検出子170は、いわゆる1プローブ型構
造を有しており、各端子金具Tに接触するヘッド部は、
受け部40に向かって前方F2に付勢されているが、各
端子金具Tに接触した時点で導通するものである。押圧
子90は、検査部50の検査面の上下に配置されてお
り、プローブ91を前から検査部50に保持されるスリ
ーブ92に嵌め込み、このプローブ91を図示しないコ
イルばねによって受け部40(F2方向)に向かって弾
性的に付勢した構造を有している。プローブ91の先端
は、検査を行わない状態においては検出子170の先端
よりも前方に位置している。それゆえ、プローブ91
は、検査部50を受け部40に対して検査を行う際に
は、検出子170が端子金具Tに接触するよりも先にハ
ウジングH1の端面に接触して当該端面を押圧する。
造を有しており、各端子金具Tに接触するヘッド部は、
受け部40に向かって前方F2に付勢されているが、各
端子金具Tに接触した時点で導通するものである。押圧
子90は、検査部50の検査面の上下に配置されてお
り、プローブ91を前から検査部50に保持されるスリ
ーブ92に嵌め込み、このプローブ91を図示しないコ
イルばねによって受け部40(F2方向)に向かって弾
性的に付勢した構造を有している。プローブ91の先端
は、検査を行わない状態においては検出子170の先端
よりも前方に位置している。それゆえ、プローブ91
は、検査部50を受け部40に対して検査を行う際に
は、検出子170が端子金具Tに接触するよりも先にハ
ウジングH1の端面に接触して当該端面を押圧する。
【0038】上記構成において、図6(a)に示すよう
に、コネクタハウジングH1にリテーナR1が装着され
ておれば、リテーナR1が寸法規制板60に当接してハ
ウジングH1が受け部40内に位置決めされている。そ
のため、検査時に、レバー80を操作して検査部50を
受け部40に近接させると、先に押圧子90のプローブ
91がハウジングH1の端面に接触するが、リテーナR
1が寸法規制板60に当接してコネクタC1の移動が規
制されているため、レバー80の操作力に伴って、プロ
ーブ91がスリーブ92内に没入する。そして、検査部
50が受け部40に当接した時点では、検出子170が
ハウジングH1内の端子金具Tに接触する。その結果、
検出子170と端子金具Tとの導通が得られる。
に、コネクタハウジングH1にリテーナR1が装着され
ておれば、リテーナR1が寸法規制板60に当接してハ
ウジングH1が受け部40内に位置決めされている。そ
のため、検査時に、レバー80を操作して検査部50を
受け部40に近接させると、先に押圧子90のプローブ
91がハウジングH1の端面に接触するが、リテーナR
1が寸法規制板60に当接してコネクタC1の移動が規
制されているため、レバー80の操作力に伴って、プロ
ーブ91がスリーブ92内に没入する。そして、検査部
50が受け部40に当接した時点では、検出子170が
ハウジングH1内の端子金具Tに接触する。その結果、
検出子170と端子金具Tとの導通が得られる。
【0039】一方、図6(b)に示すように、リテーナ
R1がハウジングH1に装着されていない場合には、ハ
ウジングH1と寸法規制板60との間には僅かな隙間が
ある。検査時のレバー80の操作力に伴って、ハウジン
グH1が押圧子90のプローブ91によってF2方向に
押されて位置ずれし、ハウジングH1の端面が寸法規制
板60に当接し、この状態で受け部40内に位置決めさ
れる。そのため、検査部50が受け部40に当接した時
点では、検出子170とハウジングH1内の端子金具T
とが接触せず、その結果検出子170と端子金具Tとの
導通が得られない。これにより、リテーナR1がコネク
タハウジングH1に装着されていないことが検出され
る。
R1がハウジングH1に装着されていない場合には、ハ
ウジングH1と寸法規制板60との間には僅かな隙間が
ある。検査時のレバー80の操作力に伴って、ハウジン
グH1が押圧子90のプローブ91によってF2方向に
押されて位置ずれし、ハウジングH1の端面が寸法規制
板60に当接し、この状態で受け部40内に位置決めさ
れる。そのため、検査部50が受け部40に当接した時
点では、検出子170とハウジングH1内の端子金具T
とが接触せず、その結果検出子170と端子金具Tとの
導通が得られない。これにより、リテーナR1がコネク
タハウジングH1に装着されていないことが検出され
る。
【0040】なお、本考案は、上記実施例に限定される
ものではなく、本考案の範囲内で多くの修正及び変更を
加え得ることは勿論である。たとえば、上記第4実施例
において、受け部40の内面形状、あるいは寸法規制板
60の形状を、図4及び図5に示すコネクタC2,C3
に対応し得るように工夫を施せば、第4実施例の構成に
おいてもコネクタC2,C3のリテーナR2,B3の検
査を行うことが可能となる。
ものではなく、本考案の範囲内で多くの修正及び変更を
加え得ることは勿論である。たとえば、上記第4実施例
において、受け部40の内面形状、あるいは寸法規制板
60の形状を、図4及び図5に示すコネクタC2,C3
に対応し得るように工夫を施せば、第4実施例の構成に
おいてもコネクタC2,C3のリテーナR2,B3の検
査を行うことが可能となる。
【0041】
【考案の効果】以上の説明から明らかな通り、本考案で
は、リテーナがコネクタハウジングに装着されていない
場合には、検出子による導通検査が許容されなくなるの
で、これに基づいて、リテーナの装着忘れ検査を行うこ
とができる。しかも、従来の導通検査機構をそのままリ
テーナ装着忘れ検査に利用することができ、検査装置に
リテーナ装着忘れ検査機能を付加しても、装置の構造は
簡単となり、しかも、装置が大型化することもないとい
った優れた効果がある。
は、リテーナがコネクタハウジングに装着されていない
場合には、検出子による導通検査が許容されなくなるの
で、これに基づいて、リテーナの装着忘れ検査を行うこ
とができる。しかも、従来の導通検査機構をそのままリ
テーナ装着忘れ検査に利用することができ、検査装置に
リテーナ装着忘れ検査機能を付加しても、装置の構造は
簡単となり、しかも、装置が大型化することもないとい
った優れた効果がある。
【図1】本考案の第1実施例に係るコネクタ検査装置の
構成を示す斜視図である。
構成を示す斜視図である。
【図2】図1の第1実施例に係る検出子の構成を示す断
面図である。
面図である。
【図3】検査動作を図解的に示す図であって、同図
(a)はリテーナがコネクタハウジングに装着されてい
る場合の検査状態を、同図(b)はリテーナがハウジン
グに装着されていない場合の検査状態をそれぞれ示して
いる。
(a)はリテーナがコネクタハウジングに装着されてい
る場合の検査状態を、同図(b)はリテーナがハウジン
グに装着されていない場合の検査状態をそれぞれ示して
いる。
【図4】本考案の第2実施例に係るコネクタ検査装置の
構成を示す斜視図である。
構成を示す斜視図である。
【図5】本考案の第3実施例に係るコネクタ検査装置の
構成を示す斜視図である。
構成を示す斜視図である。
【図6】本考案の第4実施例に係るコネクタ検査装置の
要部拡大断面図であって、同図(a)はリテーナがコネ
クタハウジングに装着されている場合の検査状態を、同
図(b)は、リテーナがコネクタハウジングに装着され
ていない場合の検査状態をそれぞれ図解的に示してい
る。
要部拡大断面図であって、同図(a)はリテーナがコネ
クタハウジングに装着されている場合の検査状態を、同
図(b)は、リテーナがコネクタハウジングに装着され
ていない場合の検査状態をそれぞれ図解的に示してい
る。
【図7】先行技術に係るコネクタ検査装置の構成を示し
ており、同図(a)は斜視図、同図(b)は一部を横断
して示す平面図である。
ており、同図(a)は斜視図、同図(b)は一部を横断
して示す平面図である。
C1〜C3 コネクタ H1〜H3 ハウジング T 端子金具 R1〜R3 リテーナ D1〜D4 コネクタ検査装置 303 コイルばね 40 受け部 50 検査部 60 寸法規制板 70 検出子(許容手段) 71 第1のプローブ 714 コイルばね(付勢部材) 72 第2のプローブ 741 コイルばね 80 レバー 803 カム 90 押圧子(許容手段) 91 プローブ170 検出子
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01R 31/04 H01R 13/42 H01R 13/64 H01R 43/00 H01R 43/26
Claims (3)
- 【請求項1】ハウジング内に挿入された端子金具の接続
側と反対側から該ハウジングに装着されて少なくともそ
の挿入方向反対側端面が露出しているリテーナで上記端
子金具を二重係止するコネクタを検査するために用いら
れ、端子金具に対応して配置されている検出子を含む検査部
と、 検出子に対して端子金具の接続側を対向させるととも
に、その対向方向にハウジングが変位することを許容し
た状態でハウジングを受ける受け部と、 受け部に保持されているコネクタに対して、上記対向方
向に沿い、検査部を予め定める近接位置まで相対的に 近
接させ、又その近接位置から元位置まで離反させるため
の手段と、上記受け部に設けられ、当該リテーナの上記挿入方向反
対側端面に当接することによりハウジングの上記対向方
向沿いの変位寸法を規制 するための寸法規制部材と、検査部に設けられ、検査部と受け部との近接時にコネク
タを寸法規制部材との間で弾性的に挟圧することによ
り、リテーナが装着されていることを条件として検出子
による端子金具の導通検査を許容する許容手段と を備え
ていることを特徴とするコネクタ検査装置。 - 【請求項2】請求項1記載のコネクタ検査装置におい
て、 上記許容手段は、コネクタの端子金具に接触する第1の
プローブ、第1のプローブに間隔を隔てて直列に配置さ
れた第2のプローブ、及び第1のプローブを第2のプロ
ーブに対して電気的に遮断した状態で端子金具に付勢す
る付勢部材を備えた2プローブ型の上記検出子であり、 上記付勢部材は、リテーナを有するコネクタの端子金具
に第1のプローブが衝合した際に圧縮されて、第1のプ
ローブと第2のプローブとが短絡するのを許容するとと
もに、リテーナのないコネクタの端子金具に第1のプロ
ーブが衝合した 際に、上記隙間を維持した状態で、上記
コネクタを寸法規制部材に押し付け可能に設定されてい
るものである コネクタ検査装置。 - 【請求項3】 請求項1記載のコネクタ検査装置におい
て、 上記許容手段は、検出子が端子金具と接触するのに先立
ってコネクタを寸法規制部材に対して押圧する押圧部材
であるコネクタ検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993046059U JP2575406Y2 (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | コネクタ検査装置 |
| GB9416850A GB2281454B (en) | 1993-08-24 | 1994-08-19 | Connector inspecting apparatus |
| US08/294,728 US5467023A (en) | 1993-08-24 | 1994-08-22 | Connector inspecting apparatus having size regulating member for retainer test fitting probes external to the connetor for retainer integrity detection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993046059U JP2575406Y2 (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | コネクタ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0716390U JPH0716390U (ja) | 1995-03-17 |
| JP2575406Y2 true JP2575406Y2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=12736449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993046059U Expired - Lifetime JP2575406Y2 (ja) | 1993-08-24 | 1993-08-24 | コネクタ検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5467023A (ja) |
| JP (1) | JP2575406Y2 (ja) |
| GB (1) | GB2281454B (ja) |
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- 1994-08-22 US US08/294,728 patent/US5467023A/en not_active Expired - Lifetime
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