JPH11295376A - コネクタ検査具 - Google Patents
コネクタ検査具Info
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- JPH11295376A JPH11295376A JP10095940A JP9594098A JPH11295376A JP H11295376 A JPH11295376 A JP H11295376A JP 10095940 A JP10095940 A JP 10095940A JP 9594098 A JP9594098 A JP 9594098A JP H11295376 A JPH11295376 A JP H11295376A
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- Japan
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- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 12
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/26—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for engaging or disengaging the two parts of a coupling device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
- H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 検査ピンが斜に挿入されても誤検知されない
ように改良したコネクタ検査具を提供する。 【解決手段】 コネクタ支持体と検査器本体を接離可能
に設け、該検査器本体に検査ピンをコネクタ支持体方向
にばね付勢してスライド可能に設け、該検査ピンが、コ
ネクタ内の端子金具に対する導通接触面と、該端子金具
を係止する可撓係止片の撓み空間に対する不完全挿入検
知突部とを有するコネクタ検査具において、該検査ピン
が、先端を導通接触面として露出させた導電性の軸部
と、該軸部の先端方に固定されて前記不完全挿入検知突
部を有する絶縁性の成形体とで構成する。
ように改良したコネクタ検査具を提供する。 【解決手段】 コネクタ支持体と検査器本体を接離可能
に設け、該検査器本体に検査ピンをコネクタ支持体方向
にばね付勢してスライド可能に設け、該検査ピンが、コ
ネクタ内の端子金具に対する導通接触面と、該端子金具
を係止する可撓係止片の撓み空間に対する不完全挿入検
知突部とを有するコネクタ検査具において、該検査ピン
が、先端を導通接触面として露出させた導電性の軸部
と、該軸部の先端方に固定されて前記不完全挿入検知突
部を有する絶縁性の成形体とで構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動車用ワイヤハ
ーネス等のコネクタの検査に用いられ、端子の導通有無
と挿入状態を検知する検査ピンの改良を図ったコネクタ
の検査具に関するものである。
ーネス等のコネクタの検査に用いられ、端子の導通有無
と挿入状態を検知する検査ピンの改良を図ったコネクタ
の検査具に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４〜図６は先に本出願人が提案（特開
平７−１１３８３６号公報）したコネクタ検査具を示す
ものである。図４において、コネクタ検査具Ａ′には台
盤１の一側において電線引出口２ａを有する固定壁２が
立設され、他側において検査器本体３が固定壁２方向に
移動可能に設けられ、回動自在の操作レバー５に連動し
て前後動する。
平７−１１３８３６号公報）したコネクタ検査具を示す
ものである。図４において、コネクタ検査具Ａ′には台
盤１の一側において電線引出口２ａを有する固定壁２が
立設され、他側において検査器本体３が固定壁２方向に
移動可能に設けられ、回動自在の操作レバー５に連動し
て前後動する。
【０００３】また固定壁２と検査器本体３の間にはコネ
クタ支持体６が設けられている。コネクタ支持体６は上
方と検査器本体３側を開設したコネクタ収容室６ａを有
する枠形状のもので、固定壁２側に電線引出口６ｂを有
する。コネクタ支持体６は固定壁２から突出してコネク
タ支持体６内に達する案内杆７に捲装されたコイルばね
８により検査器本体３方向へ付勢され、検査器本体３に
より加圧されることによりコイルばね８に抗して後退す
る。
クタ支持体６が設けられている。コネクタ支持体６は上
方と検査器本体３側を開設したコネクタ収容室６ａを有
する枠形状のもので、固定壁２側に電線引出口６ｂを有
する。コネクタ支持体６は固定壁２から突出してコネク
タ支持体６内に達する案内杆７に捲装されたコイルばね
８により検査器本体３方向へ付勢され、検査器本体３に
より加圧されることによりコイルばね８に抗して後退す
る。
【０００４】コネクタ支持体６内には上方からコネクタ
Ｂが収容され、この際にコネクタＢの後方の導出電線Ｗ
1 は電線引出口６ｂ，２ａ内に案内される。図５の如く
検査器本体３内には、コネクタＢの複数の端子収容室９
に対応して複数の検査用端子１０が設けられ、検査用端
子１０内において導電金属製の検査ピンＤ′が摺動自在
に設けられて、コイルばね２０により前方の検査室１３
内に突出付勢される。
Ｂが収容され、この際にコネクタＢの後方の導出電線Ｗ
1 は電線引出口６ｂ，２ａ内に案内される。図５の如く
検査器本体３内には、コネクタＢの複数の端子収容室９
に対応して複数の検査用端子１０が設けられ、検査用端
子１０内において導電金属製の検査ピンＤ′が摺動自在
に設けられて、コイルばね２０により前方の検査室１３
内に突出付勢される。
【０００５】検査ピンＤ′の軸部１１ｅの先端には、導
通接触面１１ａを有する頭部１１′と、該頭部１１′の
下側において前方に突出した不完全挿入検知突部１１ｂ
とが導電金属により一体に形成されている。各検査用端
子１０はリード線Ｗ2 （図４）によりチェッカー（図示
せず）に接続されている。
通接触面１１ａを有する頭部１１′と、該頭部１１′の
下側において前方に突出した不完全挿入検知突部１１ｂ
とが導電金属により一体に形成されている。各検査用端
子１０はリード線Ｗ2 （図４）によりチェッカー（図示
せず）に接続されている。
【０００６】なお、不完全挿入検知突部１１ｂの先端外
側にはテーパ状衝合面１１ｃが形成され、コネクタＢに
おける端子収容室９の可撓係止片１４を設けたハウジン
グ壁１９の前端内側には、該テーパ状衝合面１１ｃに対
するテーパ状案内面１９ａが形成されている。検査ピン
Ｄ′は根本部分において検査用端子１０に対して軸方向
と交差する方向に傾斜可能に支持されており、テーパ状
衝合面１１ｃをテーパ状案内面１９ａに当接させてハウ
ジング内の可撓係止片１４の撓み空間１６に確実に案内
させることができる。
側にはテーパ状衝合面１１ｃが形成され、コネクタＢに
おける端子収容室９の可撓係止片１４を設けたハウジン
グ壁１９の前端内側には、該テーパ状衝合面１１ｃに対
するテーパ状案内面１９ａが形成されている。検査ピン
Ｄ′は根本部分において検査用端子１０に対して軸方向
と交差する方向に傾斜可能に支持されており、テーパ状
衝合面１１ｃをテーパ状案内面１９ａに当接させてハウ
ジング内の可撓係止片１４の撓み空間１６に確実に案内
させることができる。
【０００７】検査に際しては、操作レバー５（図４）を
回動して検査器本体３を前進させてコネクタＢの前部を
検査室１３内に受け入れつつ検査ピンＤ′の頭部１１′
を端子金具Ｃと接触させる。図６において、コネクタＢ
の下側の端子収容室９における端子金具Ｃは、完全に挿
入されて可撓係止片１４の係止突起１４ａが該端子金具
Ｃの係止孔１５に進入することにより該可撓支持片１４
は完全に復元しているが、上側の端子収容室９における
端子金具Ｃ′は不完全挿入であって係止突起１４ａを介
して可撓係止片１４を下向きに変位させた状態となって
いる。
回動して検査器本体３を前進させてコネクタＢの前部を
検査室１３内に受け入れつつ検査ピンＤ′の頭部１１′
を端子金具Ｃと接触させる。図６において、コネクタＢ
の下側の端子収容室９における端子金具Ｃは、完全に挿
入されて可撓係止片１４の係止突起１４ａが該端子金具
Ｃの係止孔１５に進入することにより該可撓支持片１４
は完全に復元しているが、上側の端子収容室９における
端子金具Ｃ′は不完全挿入であって係止突起１４ａを介
して可撓係止片１４を下向きに変位させた状態となって
いる。
【０００８】そして、この状態のコネクタＢを検査する
と、端子金具Ｃに対応する検査ピンＤ′の不完全挿入検
知突部１１ｂが可撓係止片１４における撓み空間１６内
に進入するので導通接触面１１ａが端子金具Ｃの先端と
接触して検査用電気回路を導通させる。しかし、上側の
端子金具Ｃ′に対応する検査ピンＤ′の不完全挿入検知
突部１１ｂが可撓係止片１４の先端に衝合するので検査
ピンＤ′の前進が阻止され、導通接触面１１ａが端子金
具Ｃ′と非接触となり、検査用電気回路が不導通となっ
てチェッカにより挿入不良の判定を得る。
と、端子金具Ｃに対応する検査ピンＤ′の不完全挿入検
知突部１１ｂが可撓係止片１４における撓み空間１６内
に進入するので導通接触面１１ａが端子金具Ｃの先端と
接触して検査用電気回路を導通させる。しかし、上側の
端子金具Ｃ′に対応する検査ピンＤ′の不完全挿入検知
突部１１ｂが可撓係止片１４の先端に衝合するので検査
ピンＤ′の前進が阻止され、導通接触面１１ａが端子金
具Ｃ′と非接触となり、検査用電気回路が不導通となっ
てチェッカにより挿入不良の判定を得る。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のコネクタ検査具Ａ′においては、端子金具Ｃ′の先
端を当接させる導通接触面１１ａと、可撓係止片１４に
当接する不完全挿入検知突部１１ｂとを検査ピンＤ′の
軸部１１ｅと一体に導電金属材で形成しているために、
図７で示すように、検査ピンＤ′が斜に挿入された場合
は不完全挿入検知突部１１ｂが端子金具Ｃ′と接触し、
誤検知する場合があった。本発明は検査ピンが斜に挿入
されても誤検知されないように改良したコネクタ検査具
を提供することを課題とする。
来のコネクタ検査具Ａ′においては、端子金具Ｃ′の先
端を当接させる導通接触面１１ａと、可撓係止片１４に
当接する不完全挿入検知突部１１ｂとを検査ピンＤ′の
軸部１１ｅと一体に導電金属材で形成しているために、
図７で示すように、検査ピンＤ′が斜に挿入された場合
は不完全挿入検知突部１１ｂが端子金具Ｃ′と接触し、
誤検知する場合があった。本発明は検査ピンが斜に挿入
されても誤検知されないように改良したコネクタ検査具
を提供することを課題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに、請求項１の発明においては、コネクタ支持体と検
査器本体を接離可能に設け、該検査器本体に検査ピンを
コネクタ支持体方向にばね付勢してスライド可能に設
け、該検査ピンが、コネクタ内の端子金具に対する導通
接触面と、該端子金具を係止する端子支持片の撓み空間
に対する不完全挿入検知突部とを有するコネクタ検査具
において、該検査ピンが、先端を導通接触面として露出
させた導電性の軸部と、該軸部の先端方に固定されて前
記不完全挿入検知突部を有する絶縁性の成形体とで構成
されることを特徴とする。
めに、請求項１の発明においては、コネクタ支持体と検
査器本体を接離可能に設け、該検査器本体に検査ピンを
コネクタ支持体方向にばね付勢してスライド可能に設
け、該検査ピンが、コネクタ内の端子金具に対する導通
接触面と、該端子金具を係止する端子支持片の撓み空間
に対する不完全挿入検知突部とを有するコネクタ検査具
において、該検査ピンが、先端を導通接触面として露出
させた導電性の軸部と、該軸部の先端方に固定されて前
記不完全挿入検知突部を有する絶縁性の成形体とで構成
されることを特徴とする。
【００１１】検査ピンの軸部と絶縁性の成形体とを別々
に形成して圧入等によって結合するようにしたので、検
査ピンが斜に挿入されて成形体の不完全挿入検知突部が
端子金具と接触しても導通状態にはならず、誤検知を無
くすことができる。また、請求項２の発明においては、
前記成形体を金属で成形し、前記軸部との固定を絶縁体
を介して固定する。成形体を金属で成形し、軸部との固
定を絶縁体を介して固定するようにしたので、成形体
の、特に不完全挿入検知突部の強度が増して折れによる
不具合の発生を無くすことができる。
に形成して圧入等によって結合するようにしたので、検
査ピンが斜に挿入されて成形体の不完全挿入検知突部が
端子金具と接触しても導通状態にはならず、誤検知を無
くすことができる。また、請求項２の発明においては、
前記成形体を金属で成形し、前記軸部との固定を絶縁体
を介して固定する。成形体を金属で成形し、軸部との固
定を絶縁体を介して固定するようにしたので、成形体
の、特に不完全挿入検知突部の強度が増して折れによる
不具合の発生を無くすことができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１〜図３は本発明に係るコネク
タ検査具の一実施例を示すものである。このコネクタ検
査具Ａは、コネクタ支持体６方向にばね（図３）で付勢
されて検査器本体３内にスライド自在に設けられた複数
の検査ピンＤを、導電金属製の軸部１２と、該軸部１２
の先端方に金属製の成形体１１を絶縁体２０を介して固
定するようにしたものである。
タ検査具の一実施例を示すものである。このコネクタ検
査具Ａは、コネクタ支持体６方向にばね（図３）で付勢
されて検査器本体３内にスライド自在に設けられた複数
の検査ピンＤを、導電金属製の軸部１２と、該軸部１２
の先端方に金属製の成形体１１を絶縁体２０を介して固
定するようにしたものである。
【００１３】該軸部１２は例えば銅合金製の丸棒を所定
長さに切断して構成され、成形体１１は絶縁体２０を介
して軸部１２に固定される。絶縁体２０は弾性を有し、
かつ電気的に絶縁性の物質で成形され、軸部１２に対す
る挿入孔２０ａを有する円筒形をしており、また成形体
１１は、絶縁体２０に対する挿入孔１１ｆを有する断面
略矩形状の頭部１１ｄと、軸部１２の下側において頭部
１１ｄの先端から前方に突出した不完全挿入検知突部１
１ｂとが一体成形される。
長さに切断して構成され、成形体１１は絶縁体２０を介
して軸部１２に固定される。絶縁体２０は弾性を有し、
かつ電気的に絶縁性の物質で成形され、軸部１２に対す
る挿入孔２０ａを有する円筒形をしており、また成形体
１１は、絶縁体２０に対する挿入孔１１ｆを有する断面
略矩形状の頭部１１ｄと、軸部１２の下側において頭部
１１ｄの先端から前方に突出した不完全挿入検知突部１
１ｂとが一体成形される。
【００１４】図２の如く軸部１２の外径寸法ｄ1 は絶縁
体２０の挿入孔２０ａの内径寸法ｄ 2 よりも若干大きく
設定され、軸部１２が挿入孔２０ａに圧入されて絶縁体
２０は軸部１２に固定される。また絶縁体２０の外径寸
法ｄ3 は成形体１１の挿入孔１１ｆの内径寸法ｄ4 より
若干大きく設定され、軸部１２に挿着された絶縁体２０
が成形体１１の挿入孔１１ｆに圧入されて成形体１１の
頭部１１ｄに固定される。軸部１２の先端面１２ａは図
１の如く成形体１１の頭部１１ｄの先端面１１ａと同一
面に位置して露出し、端子金具Ｃ（図３）の接触ばね片
２１の先端２１ａに対する導通接触面となる。
体２０の挿入孔２０ａの内径寸法ｄ 2 よりも若干大きく
設定され、軸部１２が挿入孔２０ａに圧入されて絶縁体
２０は軸部１２に固定される。また絶縁体２０の外径寸
法ｄ3 は成形体１１の挿入孔１１ｆの内径寸法ｄ4 より
若干大きく設定され、軸部１２に挿着された絶縁体２０
が成形体１１の挿入孔１１ｆに圧入されて成形体１１の
頭部１１ｄに固定される。軸部１２の先端面１２ａは図
１の如く成形体１１の頭部１１ｄの先端面１１ａと同一
面に位置して露出し、端子金具Ｃ（図３）の接触ばね片
２１の先端２１ａに対する導通接触面となる。
【００１５】軸部１２と成形体１１とは絶縁体２０を介
して固定されているため、図７で説明したのと同様に検
査ピンＤが斜に挿入されて不完全挿入検知突部１１ｂが
端子金具Ｃと接触しても導通状態とはならず、誤検知を
無くすことができる。
して固定されているため、図７で説明したのと同様に検
査ピンＤが斜に挿入されて不完全挿入検知突部１１ｂが
端子金具Ｃと接触しても導通状態とはならず、誤検知を
無くすことができる。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば次の
効果が得られる。検査ピンの軸部と絶縁性の成形体とを
別々に形成して圧入等によって結合するようにしたの
で、検査ピンが斜に挿入されて成形体の不完全挿入検知
突部が端子金具と接触しても導通状態にはならず、誤検
知を無くすことができる。また成形体を金属で成形し、
軸部との固定を絶縁体を介して固定するようにしたの
で、成形体の、特に不完全挿入検知突部の強度が増して
折れによる不具合の発生を無くすことができる。
効果が得られる。検査ピンの軸部と絶縁性の成形体とを
別々に形成して圧入等によって結合するようにしたの
で、検査ピンが斜に挿入されて成形体の不完全挿入検知
突部が端子金具と接触しても導通状態にはならず、誤検
知を無くすことができる。また成形体を金属で成形し、
軸部との固定を絶縁体を介して固定するようにしたの
で、成形体の、特に不完全挿入検知突部の強度が増して
折れによる不具合の発生を無くすことができる。
【図１】本発明に係るコネクタ検査具の一実施例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図２】検査ピンを示す分解斜視図である。
【図３】コネクタを検査する状態の要部縦断面図であ
る。
る。
【図４】従来のコネクタ検査具を示す斜視図である。
【図５】コネクタ検査具にコネクタをセットした状態の
縦断面図である。
縦断面図である。
【図６】コネクタを検査する状態の縦断面図である。
【図７】誤検知を説明するための図である。
Ａ コネクタ検査具 Ｃ，Ｃ′ 端子金具 Ｄ 検査ピン ３ 検査器本体 ６ コネクタ支持体 １１ 成形体 １１ｂ 不完全挿入検知突部 １２ 軸部 １２ａ 導通接触面 １４ 可撓係止片 ２０ 絶縁体
Claims (2)
- 【請求項１】 コネクタ支持体と検査器本体を接離可能
に設け、該検査器本体に検査ピンをコネクタ支持体方向
にばね付勢してスライド可能に設け、該検査ピンが、コ
ネクタ内の端子金具に対する導通接触面と、該端子金具
を係止する可撓係止片の撓み空間に対する不完全挿入検
知突部とを有するコネクタ検査具において、該検査ピン
が、先端を導通接触面として露出させた導電性の軸部
と、該軸部の先端方に固定されて前記不完全挿入検知突
部を有する絶縁性の成形体とで構成されることを特徴と
するコネクタ検査具。 - 【請求項２】 前記成形体を金属で成形し、前記軸部と
の固定を絶縁体を介して固定するようにしたことを特徴
とする請求項１記載のコネクタ検査具。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10095940A JPH11295376A (ja) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | コネクタ検査具 |
| US09/287,656 US6116935A (en) | 1998-04-08 | 1999-04-07 | Connector examination instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10095940A JPH11295376A (ja) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | コネクタ検査具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11295376A true JPH11295376A (ja) | 1999-10-29 |
Family
ID=14151274
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10095940A Pending JPH11295376A (ja) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | コネクタ検査具 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6116935A (ja) |
| JP (1) | JPH11295376A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101533410B1 (ko) * | 2014-06-17 | 2015-07-03 | (주) 대하전선 | 하네스 콘넥터 고정장치 |
| CN110364873A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-10-22 | 深圳市特发信息股份有限公司 | 一种高速数据采集设备分支测试连接装置 |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001194408A (ja) * | 2000-01-11 | 2001-07-19 | Yazaki Corp | コネクタ導通検査具のランス変位検出ピンとコネクタのランスとの接触構造 |
| US7001911B2 (en) * | 2000-06-28 | 2006-02-21 | Bristol-Myers Squibb Company | Fused cyclic modulators of nuclear hormone receptor function |
| US7301356B2 (en) * | 2004-10-28 | 2007-11-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Support for a receptacle block of a unit under test |
| US7128618B1 (en) * | 2005-06-09 | 2006-10-31 | Yazaki North America, Inc. | Connector check fixture |
| US7912501B2 (en) | 2007-01-05 | 2011-03-22 | Apple Inc. | Audio I/O headset plug and plug detection circuitry |
| DE102007004795A1 (de) * | 2007-01-31 | 2008-08-07 | Kostal Kontakt Systeme Gmbh | Kontaktiereinrichtung |
| US7789697B2 (en) * | 2007-06-11 | 2010-09-07 | Apple Inc. | Plug detection mechanisms |
| KR100823634B1 (ko) * | 2007-10-04 | 2008-04-21 | 주식회사 신안오토테크 | 커넥터용 점검 장치 |
| JP2009128216A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Yazaki Corp | 導通検査治具、該導通検査治具を備えた導通検査装置、及び導通検査方法 |
| US8099857B2 (en) * | 2008-02-09 | 2012-01-24 | Cirris Systems Corporation | Apparatus for electrical pin installation and retention confirmation |
| JP5579547B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2014-08-27 | 株式会社ヨコオ | コネクタ接続用検査治具 |
| US9274643B2 (en) | 2012-03-30 | 2016-03-01 | Synaptics Incorporated | Capacitive charge measurement |
| US9105993B2 (en) | 2012-10-18 | 2015-08-11 | Actronix, Inc. | Terminal testing adapter and device |
| US9457443B2 (en) | 2014-02-20 | 2016-10-04 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Machine locating pin |
| CN104393458A (zh) * | 2014-11-19 | 2015-03-04 | 国家电网公司 | 一种检修接地设备及系统 |
| US10082447B2 (en) * | 2016-03-11 | 2018-09-25 | The Boeing Company | System and method to test a contact of a connector |
| CN109188217B (zh) * | 2018-08-22 | 2020-08-11 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种潮湿环境下电缆径向绝缘损伤模拟平台 |
| US10551426B1 (en) * | 2018-08-23 | 2020-02-04 | Gregory Hubert Piesinger | Live URD cable elbow connectivity identification method and apparatus |
| BR112022010262A2 (pt) * | 2019-12-02 | 2022-09-06 | Siemens Energy AS | Acoplador monofásico, e método de acoplar |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2871332B2 (ja) * | 1992-09-03 | 1999-03-17 | 住友電装株式会社 | コネクタ検査装置 |
| JP3029081B2 (ja) * | 1993-08-24 | 2000-04-04 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ検査具 |
| JP2575406Y2 (ja) * | 1993-08-24 | 1998-06-25 | 住友電装株式会社 | コネクタ検査装置 |
| JP3048116B2 (ja) * | 1995-04-13 | 2000-06-05 | 矢崎総業株式会社 | コネクタ端子検査器 |
-
1998
- 1998-04-08 JP JP10095940A patent/JPH11295376A/ja active Pending
-
1999
- 1999-04-07 US US09/287,656 patent/US6116935A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101533410B1 (ko) * | 2014-06-17 | 2015-07-03 | (주) 대하전선 | 하네스 콘넥터 고정장치 |
| CN110364873A (zh) * | 2019-07-16 | 2019-10-22 | 深圳市特发信息股份有限公司 | 一种高速数据采集设备分支测试连接装置 |
| CN110364873B (zh) * | 2019-07-16 | 2020-12-15 | 深圳市特发信息股份有限公司 | 一种高速数据采集设备分支测试连接装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6116935A (en) | 2000-09-12 |
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