JP2670167B2 - 射出制御装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、射出制御装置に関するものである。

（従来の技術） 従来、加熱シリンダ内で加熱され流動化された成形材
料を高圧により金型内に射出し、その中で冷却固化又は
硬化させ、次いで金型を開いて成形品を取り出すように
した射出成形機においては、一つの射出装置に対して二
つ以上の金型ステーションを配設し、それら金型ステー
ションを往復動させて交互に射出装置にアクセスするよ
うにした竪型射出成形機、あるいは回転テーブル上に二
つ以上の金型ステーションを配設し、上記回転テーブル
を回転させてそれら金型ステーションを選択的に射出装
置にアクセスするようにしたロータリ成形機があり、こ
れら射出成形機によって効率よく成形品を得ることがで
きる。

第４図及び第５図により従来の竪型射出成形機につい
て説明する。

第４図は第１ステーションで成形している状態図、第
５図は第２ステーションで成形している状態図である。

図において、51は第１ステーション、52は第２ステー
ションであり、各ステーション51,52はそれぞれ金型、
型締装置を有しており、それぞれの下金型51a,52aが第
１スライドテーブル53及び第２スライドテーブル54の上
に載置固定されている。そして、上記各スライドテーブ
ル53,54は、Ｌ字状に形成されたスライドベース55上を
矢印Ａ（外側）−Ｂ（内側）方向及び矢印Ｃ（外側）−
Ｄ（内側）方向に摺動自在に配置されている。したがっ
て、各スライドテーブル53,54上に固定された下金型51
a,52aは、交互にＢ方向又はＤ方向に移動して図示しな
い射出装置にアクセスする。すなわち、第４図において
は第１スライドテーブル53が、第５図においては第２ス
ライドテーブル54が射出成形位置に置かれる。

なお、57は固定プラテン、58は該固定プラテン57と図
示しない可動プラテン間に配設されるタイバである。ま
た、59は下金型51a,52aがＡ方向又はＣ方向に移動した
時、金型内にネジ、ピン等をインサートするためや金型
内の成形品を取り出すためのロボットである。該ロボッ
ト59のアーム部分60は、第４図においては第２スライド
テーブル54に、第５図においてはスライドテーブル53に
対向するように方向を変えることができる。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、上記構成の竪型射出成形機において
は、二つ以上のステーションで成形を行う場合、各ステ
ーションにおいて同一の条件で射出成形が行われるの
で、金型の機差、金型温度の誤差、金型内の樹脂の流動
誤差等を補償することができず、同一の成形品を確実に
成形することができない。

また、各ステーションにおいて互いに射出容量の異な
る成形品を成形することができず、成形品の生産効率が
低い。

本発明は、上記従来の竪型射出成形機の問題点を解決
して、二つ以上のステーションで成形を行う場合、金型
の機差、金型温度の誤差、金型内の樹脂の流動誤差等が
生じても同一の成形品を確実に成形することができ、各
ステーションにおいて互いに射出容量の異なる成形品を
成形する場合、成形品の生産効率を高くすることができ
る射出制御装置を提供することを目的とする。

（課題を解決するための手段） そのために、本発明の射出制御装置においては、一つ
の射出装置を使用し、複数のステーションにおいて複数
の金型に対して射出を行うようになっている。

そして、計量データ設定、射出データ設定、並びに計
量データ設定及び射出データ設定がどのステーションに
対応するものであるかを示す位置データ設定が格納され
たメモリと、上記各ステーションのうち射出装置によっ
てアクセスされているものを検出する位置検出器と、各
ステーションにおいて同一の成形品を成形する場合は、
各金型間の差に対応させて設定された計量データ設定及
び射出データ設定を、各ステーションにおいて異なる成
形品を成形する場合は、各ステーション間の成形条件の
差に対応させて設定された計量データ設定及び射出デー
タ設定を、それぞれ上記位置検出器の検出結果に基づい
てメモリから読み出し、計量制御弁及び射出制御弁に出
力する成形条件変更回路とを有する。

（作用） 本発明によれば、上記のように射出制御装置において
は、一つの射出装置を使用し、複数のステーションにお
いて複数の金型に対して射出を行うようになっている。

そして、計量データ設定、射出データ設定、並びに計
量データ設定及び射出データ設定がどのステーションに
対応するものであるかを示す位置データ設定が格納され
たメモリと、上記各ステーションのうち射出装置によっ
てアクセスされているものを検出する位置検出器と、各
ステーションにおいて同一の成形品を成形する場合は、
各金型間の差に対応させて設定された計量データ設定及
び射出データ設定を、各ステーションにおいて異なる成
形品を成形する場合は、各ステーション間の成形条件の
差に対応させて設定された計量データ設定及び射出デー
タ設定を、それぞれ上記位置検出器の検出結果に基づい
てメモリから読み出し、計量制御弁及び射出制御弁に出
力する成形条件変更回路とを有する。

上記構成の射出制御装置によれば、各ステーションに
おいて同一の成形品を成形する場合、成形条件変更回路
は、各金型間の差に対応させて設定された計量データ設
定及び射出データ設定を上記位置検出器の検出結果に基
づいてメモリから読み出し、計量制御弁及び射出制御弁
に出力する。

また、各ステーションにおいて異なる成形品を成形す
る場合、成形条件変更回路は、各ステーション間の成形
条件の差に対応させて設定された計量データ設定及び射
出データ設定を、それぞれ上記位置検出器の検出結果に
基づいてメモリから読み出し、計量制御弁及び射出制御
弁に出力する。

（実施例） 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳
細に説明する。なお、従来の竪型射出成形機の制御装置
と同じ構造を有するものについては、同じ符号を付与す
ることによってその説明を省略する。

第１図は本発明の射出制御装置の回路ブロック図であ
る。

図において、10は射出制御を行うコントローラ（集中
処理装置）で、その内部に第１ステーション51のメモリ
11、第２ステーション52のメモリ12を有している。13は
上記コントローラ10に接続されたキーボード、デジスイ
ッチ等の設定入力装置、14は表示装置である。

設定入力された成形条件のデータは、第１ステーショ
ン51のメモリ11、第２ステーション52のメモリ12に送ら
れて格納される。

上記データは、第１ステーション51のメモリ11、第２
ステーション52のメモリ12に対して独立的に入力するこ
とができ、該データはメモリ11,12に格納され、必要に
応じて設定入力装置13によって計量データ設定、射出デ
ータ設定、位置データ設定として取り出され、成形条件
変更回路15に入力される。上記計量データはスクリュを
回転させるためのオイルモータ速度、背圧等のデータで
あり、射出データはスクリュ速度、樹脂圧力等のデータ
である。また、位置データはいずれのステーションが選
択されるかのデータである。

そして、該成形条件変更回路15から位置データ、射出
データ及び計量データがそれぞれ位置比較回路16、射出
増幅器17及び計量増幅器18の各インタフェースに出力さ
れる。これら位置比較回路16、射出増幅器17及び計量増
幅器18は、さらに位置検出器19、射出制御弁20及び計量
制御弁21の各制御対象に接続されている。

上記位置検出器19は、第１、第２ステーション51,52
のいずれが射出装置にアクセスしているかを検出して位
置比較回路16に送出するものである。そして、該位置比
較回路16は、上記成形条件変更回路15からの位置データ
出力と検出した位置データが一致するか否かを判断し
て、一致した場合に成形条件変更回路15に位置一致信号
を送る。そして、位置が一致していることが分かると、
その時に射出装置にアクセスしているステーションに対
応するメモリ11,（又は12）から射出データ及び計量デ
ータが読み出され、射出制御弁20及び計量制御弁21に送
られる。

上記構成の射出制御装置において、各ステーションご
との成形条件が設定入力装置13により設定されたデータ
をコントローラ10が読み込むと、位置検出器19からの信
号と位置データが位置比較回路16によって比較され、第
１、第２ステーション51,52のいずれが射出装置にアク
セスしているかが判断される。

そして、第１ステーション51での成形時は、第１ステ
ーション51のメモリ11から設定されたデータが読み出さ
れ、位置比較回路16に位置データを送るとともに、射出
増幅器17、計量増幅器18を介して位置検出器19、射出制
御弁20及び計量制御弁21に設定を行い、第１ステーショ
ン51の成形条件で成形する。

また、第２ステーション52での成形時は、第２ステー
ション52のメモリ12から設定されたデータが読み出さ
れ、位置比較回路16に位置データを送るとともに、射出
増幅器17、計量増幅器18を介して射出制御弁20及び計量
制御弁21に設定を行い、第２ステーション52の成形条件
で成形する。

この場合、上記第１、第２ステーション51,52のメモ
リ11,12に格納される成形条件を、各ステーション51,52
で全て異ならせてもよいし、一部のみを異ならせてもよ
い。

次に、本発明の射出制御装置の動作について第２図、
第３図を併用して説明する。

第２図は本発明の射出制御装置の動作を示すタイムチ
ャート、第３図は本発明の射出制御装置の動作を示すフ
ローチャートである。

図に示すように、スライド装置を動作させて第１、第
２スライドテーブル53,54（第１、第２ステーション51,
52）を外側から内側に交互に移動させたとき、射出装置
は内側に位置する第１ステーション51,（又は52）のメ
モリ11,（又は12）から射出データ及び計量データを読
み出し、その成形条件に基づき、型締め、射出、保圧、
冷却及び型開きの各工程を実施する。

ステップ 運転を開始すると、第１スライドテーブル
53の下金型51aを外側から内側に移動する。

ステップ ここで、型締動作を開始すると同時に、い
ずれかのステーションで成形しているかステーションチ
ェックを行う。

ステップ 成形しているステーションが第１ステー
ション51である場合、計量位置を位置比較回路16に送る
とともに、第１ステーション51の計量条件を、射出増幅
器17、計量増幅器18を介して射出制御弁20、計量制御弁
21に設定して計量を行う。

ステップ 計量が完了した時点でいずれのステーショ
ンで成形しているかステーションチェックを行う。

ステップ〜 成形しているステーションが第１ステ
ーション51である場合、射出位置を位置比較回路16に送
るとともに、第１ステーション51の射出条件を射出増幅
器17、計量増幅器18を介して射出制御弁20、計量制御弁
21に設定して射出・保圧を行い、更に冷却し型開きを行
う。

ステップ 第１スライドテーブル53の下金型51aを内
側から外側へ移動する。

ステップ ここで、第２スライドテーブル54の下金型
52aを外側から内側へ移動する。

ステップ 第１ステーション51の成形時と同様にステ
ーションチェックを行い第２ステーション52において成
形を行う。

ステップ 計量位置を位置比較回路16に送るととも
に、第２ステーション52の計量条件を射出増幅器17、計
量増幅器18を介して射出制御弁20、計量制御弁21に設定
して計量を行う。

ステップ 計量が完了した時点で、いずれのステーシ
ョンで成形しているかステーションチェックを行う。

ステップ〜 射出位置を位置比較回路16に送るとと
もに、第２ステーション52の射出条件を射出増幅器17、
計量増幅器18を介して射出制御弁20、計量制御弁21に設
定して射出・保圧を行い、更に冷却し型開きを行う。

ステップ 第２スライドテーブル54の下金型52aを内
側から外側へ移動する。

ステップ ステップ〜ステップを実行する。

ステップ ステップ〜ステップを実行する。

なお、本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、
これらを本発明の範囲から排除するものではない。

例えば、上記実施例においてはステーションを二つ有
する竪型射出成形機の制御装置について説明している
が、３つ以上のステーションを有するものについても同
様に制御することが可能である。

（発明の効果） 以上詳細に説明したように、本発明によれば、射出制
御装置においては、一つの射出装置を使用し、複数のス
テーションにおいて複数の金型に対して射出を行うよう
になっている。

そして、計量データ設定、射出データ設定、並びに計
量データ設定及び射出データ設定がどのステーションに
対応するものであるかを示す位置データ設定が格納され
たメモリと、上記各ステーションのうち射出装置によっ
てアクセスされているものを検出する位置検出器と、各
ステーションにおいて同一の成形品を成形する場合は、
各金型間の差に対応させて設定された計量データ設定及
び射出データ設定を、各ステーションにおいて異なる成
形品を成形する場合は、各ステーション間の成形条件の
差に対応させて設定された計量データ設定及び射出デー
タ設定を、それぞれ上記位置検出器の検出結果に基づい
てメモリから読み出し、計量制御弁及び射出制御弁に出
力する成形条件変更回路とを有する。

上記構成の射出制御装置によれば、各ステーションに
おいて同一の成形品を成形する場合は、各金型間の差に
対応する計量データ及び射出データに従って成形が行わ
れる。また、各ステーションにおいて異なる成形品を成
形する場合は、各ステーション間の成形条件の差に対応
する計量データ及び射出データに従って成形が行われ
る。

したがって、二つ以上のステーションで同一の成形品
を成形する場合に、金型の機差、金型温度の誤差、金型
内の樹脂の流動誤差等を補償することができるので、同
一の成形品を確実に成形することができる。また、各ス
テーションにおいて互いに射出容量の異なる成形品を成
形する場合に、成形品の生産効率を高くすることができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の射出制御装置の回路ブロック図、第２
図は本発明の射出制御装置の動作を示すタイムチャー
ト、第３図は本発明の射出制御装置の動作を示すフロー
チャート、第４図は従来の竪型射出成形機の制御装置が
第１ステーションで成形している状態図、第５図は従来
の竪型射出成形機の制御装置が第２ステーションで成形
している状態図である。 10……コントローラ、11,12……メモリ、13……設定入
力装置、14……表示装置、16……位置比較回路、17……
射出増幅器、18……計量増幅器、19……位置検出器、20
……射出制御弁、21……計量制御弁、51……第１ステー
ション、52……第２ステーション、53……第１スライド
テーブル、54……第２スライドテーブル、55……スライ
ドベース、57……固定プラテン、59……インサート用ロ
ボット。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】一つの射出装置を使用し、複数のステーシ
   ョンにおいて複数の金型に対して射出を行う射出制御装
   置において、 （ａ）計量データ設定、射出データ設定、並びに計量デ
   ータ設定及び射出データ設定がどのステーションに対応
   するものであるかを示す位置データ設定が格納されたメ
   モリと、 （ｂ）上記各ステーションのうち射出装置によってアク
   セスされているものを検出する位置検出器と、 （ｃ）各ステーションにおいて同一の成形品を成形する
   場合は、各金型間の差に対応させて設定された計量デー
   タ設定及び射出データ設定を、各ステーションにおいて
   異なる成形品を成形する場合は、各ステーション間の成
   形条件の差に対応させて設定された計量データ設定及び
   射出データ設定を、それぞれ上記位置検出器の検出結果
   に基づいてメモリから読み出し、計量制御弁及び射出制
   御弁に出力する成形条件変更回路とを有することを特徴
   とする射出制御装置。