JP2926103B2 - 鉛直度測定システム - Google Patents
鉛直度測定システムInfo
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- JP2926103B2 JP2926103B2 JP2181047A JP18104790A JP2926103B2 JP 2926103 B2 JP2926103 B2 JP 2926103B2 JP 2181047 A JP2181047 A JP 2181047A JP 18104790 A JP18104790 A JP 18104790A JP 2926103 B2 JP2926103 B2 JP 2926103B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、多層建造物における鉄骨建方および各種墨
出し等に適用される鉛直度測定システムに関する。
出し等に適用される鉛直度測定システムに関する。
［従来の技術］ 従来、土木、建築等の分野において、例えば鉄骨柱の
建方においては、鉄骨柱を鉛直に施工するための柱の建
て入れ直しは、鉄骨柱頭部より下げ振りや鉛直儀によ
り、鉄骨柱頭部と脚部との寸法を計って修正している。
建方においては、鉄骨柱を鉛直に施工するための柱の建
て入れ直しは、鉄骨柱頭部より下げ振りや鉛直儀によ
り、鉄骨柱頭部と脚部との寸法を計って修正している。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上記従来の方法においては、検査を行
うことができる高さに限度があり、多層建造物において
は困難である。また、人手および作業に時間を要すると
共に、風等に影響されるため測定精度が悪いという問題
を有している。
うことができる高さに限度があり、多層建造物において
は困難である。また、人手および作業に時間を要すると
共に、風等に影響されるため測定精度が悪いという問題
を有している。
この問題を解決するために、本発明者等は、特願平２
−133151号（特開平４−27817号公報）において、既知
座標に固定される回転台と、該回転台に配設されレーザ
を鉛直方向に投光する発光部と、被測定物の頭部に固定
されフォトダイオードマトリックスにて構成される受光
部と、前記発光部の既知座標と受光部で受信した位置座
標とを比較し、両者の位置のずれを演算、出力するコン
トロール部とからなることを特徴とする鉛直度測定シス
テムを提案している。
−133151号（特開平４−27817号公報）において、既知
座標に固定される回転台と、該回転台に配設されレーザ
を鉛直方向に投光する発光部と、被測定物の頭部に固定
されフォトダイオードマトリックスにて構成される受光
部と、前記発光部の既知座標と受光部で受信した位置座
標とを比較し、両者の位置のずれを演算、出力するコン
トロール部とからなることを特徴とする鉛直度測定シス
テムを提案している。
しかしながら、上記システムにおいては、被測定物が
多くなるに比例して多くの測定時間を要し、また、地上
から被測定物を計測する場合、仮設構造物等により測定
がしにくい場合が多いという問題を有している。
多くなるに比例して多くの測定時間を要し、また、地上
から被測定物を計測する場合、仮設構造物等により測定
がしにくい場合が多いという問題を有している。
本発明は、上記問題を解決するものであって、地上か
ら数多くの被測定物の鉛直度を測定する場合、短時間か
つ高精度にて測定することができる鉛直度測定システム
を提供することを目的とする。
ら数多くの被測定物の鉛直度を測定する場合、短時間か
つ高精度にて測定することができる鉛直度測定システム
を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ そのために本発明の鉛直度測定システムは、地上面Ｌ
の既知座標に固定される回転台２と、該回転台に配設さ
れレーザを鉛直方向に投光する発光部３と、被測定物の
頭部に固定される受光部６と、前記回転台２を回転させ
ることにより受光部６で受信され、レーザ光の軌跡によ
り演算される位置座標と、前記発光部の既知座標とを比
較し、両者の位置のずれを演算、出力するコントロール
部７と、測定フロアーＭ上に設けられた測距、測角機能
を有する３次元測量装置10とからなり、前記地上面の既
知座標を測定フロアー上に移動させた後、測定フロアー
上の被測定物の位置を測定することを特徴とする。
の既知座標に固定される回転台２と、該回転台に配設さ
れレーザを鉛直方向に投光する発光部３と、被測定物の
頭部に固定される受光部６と、前記回転台２を回転させ
ることにより受光部６で受信され、レーザ光の軌跡によ
り演算される位置座標と、前記発光部の既知座標とを比
較し、両者の位置のずれを演算、出力するコントロール
部７と、測定フロアーＭ上に設けられた測距、測角機能
を有する３次元測量装置10とからなり、前記地上面の既
知座標を測定フロアー上に移動させた後、測定フロアー
上の被測定物の位置を測定することを特徴とする。
なお、上記構成に付加した番号は、理解を容易にする
ために図面と対比させるためのもので、これにより本発
明の構成が何ら限定されるものではない。
ために図面と対比させるためのもので、これにより本発
明の構成が何ら限定されるものではない。
［作用］ 本発明においては、地上面Ｌに設定された基準点L1、
L2を測定フロアーＭ上に移動させ、基準点M1、M2を得、
次に、測定フロアーＭ上において、３次元測量装置10を
用いて基準点M1、M2の座標値を記憶し、これに基づいて
被測定物M3〜M8の座標値を測定する。
L2を測定フロアーＭ上に移動させ、基準点M1、M2を得、
次に、測定フロアーＭ上において、３次元測量装置10を
用いて基準点M1、M2の座標値を記憶し、これに基づいて
被測定物M3〜M8の座標値を測定する。
［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図は本発明の鉛直度測定システムを説明するため
の概念図、第２図は鉛直度測定方法の構成図、第３図は
３次元測定システムの概念図、第４図は本発明による測
定方法を説明するための斜視図である。
の概念図、第２図は鉛直度測定方法の構成図、第３図は
３次元測定システムの概念図、第４図は本発明による測
定方法を説明するための斜視図である。
本発明においては、先ず第１図に示すように、地上面
Ｌに設定された基準点L1、L2を鉄骨建方等の計測が容易
に実施できる測定フロアーＭ上に移動させ、基準点M1、
M2を得る。これは第２図に示す鉛直度測定方法により行
われる。
Ｌに設定された基準点L1、L2を鉄骨建方等の計測が容易
に実施できる測定フロアーＭ上に移動させ、基準点M1、
M2を得る。これは第２図に示す鉛直度測定方法により行
われる。
第２図において鉛直度測定方法は、基台１、基台１に
固定される回転台２、回転台２に配設される発光部３、
鉄骨柱４に取付金具５により取付けられる受光部６およ
び受光部６に接続されるコントロール部７から構成され
る。
固定される回転台２、回転台２に配設される発光部３、
鉄骨柱４に取付金具５により取付けられる受光部６およ
び受光部６に接続されるコントロール部７から構成され
る。
基台１は、予め墨出しされた位置に回転台２および発
光部３を固定するための治具であり、回転台２は、発光
部３の下部に取り付けたセンサにより、予め設定された
回転数で一方向に回転する機構になっている。発光部３
は、レーザを鉛直方向に投光する機器である。
光部３を固定するための治具であり、回転台２は、発光
部３の下部に取り付けたセンサにより、予め設定された
回転数で一方向に回転する機構になっている。発光部３
は、レーザを鉛直方向に投光する機器である。
回転台２は、鉛直方向の測定精度を補正するものであ
って、基台１を予め墨出しされた位置に据え付けたとし
ても、位置ずれは生じるもので、発光部３からのレーザ
の発光位置が所定の位置からずれていても、また、レー
ザ光が長い距離の間では真の鉛直線よりずれることもあ
り、この場合、回転台２を１回転、場合によっては２回
転以上自動回転させることで、例えばＸ方向、Ｙ方向に
おける鉛直方向の真の測定位置を決定することができる
ものである。従って、手作業に比較して短時間で真の鉛
直方向の位置精度を測定できる。
って、基台１を予め墨出しされた位置に据え付けたとし
ても、位置ずれは生じるもので、発光部３からのレーザ
の発光位置が所定の位置からずれていても、また、レー
ザ光が長い距離の間では真の鉛直線よりずれることもあ
り、この場合、回転台２を１回転、場合によっては２回
転以上自動回転させることで、例えばＸ方向、Ｙ方向に
おける鉛直方向の真の測定位置を決定することができる
ものである。従って、手作業に比較して短時間で真の鉛
直方向の位置精度を測定できる。
受光部６は、可視光遮断フィルタを有し、Ｘ、Ｙ方向
の位置検出用のフォトダイオードマトリックスにて構成
され、所定の時間レーザ光の軌跡をサーチすることによ
り、揺れ幅、レーザ光の輝度、測定領域等の計測パラメ
ータを算出し、コントロール部７へ送信される。また、
受光部６で得られたデータは、１周期毎にコントロール
部７へ送信される。
の位置検出用のフォトダイオードマトリックスにて構成
され、所定の時間レーザ光の軌跡をサーチすることによ
り、揺れ幅、レーザ光の輝度、測定領域等の計測パラメ
ータを算出し、コントロール部７へ送信される。また、
受光部６で得られたデータは、１周期毎にコントロール
部７へ送信される。
コントロール部７は、受光部６からレーザ光の位置デ
ータを受信し、中央演算処理装置にてデータ処理および
重心計算等の解析を行い、即ち、発光部３の既知座標
と、受光部６で受信した位置座標とを比較し、Ｘ、Ｙ方
向の既知座標とのずれを画面表示すると共に、プリンタ
ーに出力する。その結果に基づいて鉄骨柱の建て入れ修
正を行い、既知座標へと修正を行う。
ータを受信し、中央演算処理装置にてデータ処理および
重心計算等の解析を行い、即ち、発光部３の既知座標
と、受光部６で受信した位置座標とを比較し、Ｘ、Ｙ方
向の既知座標とのずれを画面表示すると共に、プリンタ
ーに出力する。その結果に基づいて鉄骨柱の建て入れ修
正を行い、既知座標へと修正を行う。
上記方法にて地上面Ｌに設定された基準点L1、L2を測
定フロアーＭ上に移動させ、基準点M1、M2を得る。
定フロアーＭ上に移動させ、基準点M1、M2を得る。
次に、測定フロアーＭ上において、３次元測量装置10
を用いて基準点M1、M2の座標値を記憶し、これに基づい
て被測定物M3〜M8の座標値を測定する。
を用いて基準点M1、M2の座標値を記憶し、これに基づい
て被測定物M3〜M8の座標値を測定する。
すなわち、第３図および第４図に示すように、鉄骨柱
４にミラー９をセットし、測距、測角機能を有する３次
元測量装置10により、受光部６にミラーをセット、視準
することにより、基準点M1、M2の座標値より３次元測量
装置10の位置が既知となる。次に、被測定物M3〜M8上に
同様にミラーをセットし、３次元測量装置10により視準
することにより、被測定物M3〜M8の座標値を測定する。
測定データは、可搬式パソコン11にて表示され、これに
基づいて被測定物の鉛直度を修正することができる。
４にミラー９をセットし、測距、測角機能を有する３次
元測量装置10により、受光部６にミラーをセット、視準
することにより、基準点M1、M2の座標値より３次元測量
装置10の位置が既知となる。次に、被測定物M3〜M8上に
同様にミラーをセットし、３次元測量装置10により視準
することにより、被測定物M3〜M8の座標値を測定する。
測定データは、可搬式パソコン11にて表示され、これに
基づいて被測定物の鉛直度を修正することができる。
現場にて測定したデータは、フロッピィディスク12に
より事務所のコンピュータ13に入力され、計測結果作図
用プロッタ14、計測結果リスト作成用プリンタ15に出力
される。
より事務所のコンピュータ13に入力され、計測結果作図
用プロッタ14、計測結果リスト作成用プリンタ15に出力
される。
［発明の効果］ 以上のように本発明によれば、発光部を回転台に配設
して発光部を回転させることにより、レーザの発光位置
が所定位置よりずれていてもレーザ光の軌跡により真の
鉛直方向の位置を演算することができ、地上から被測定
物の鉛直度を測定する場合、仮設構造物等の存在に影響
されずに正確に測定することができる。
して発光部を回転させることにより、レーザの発光位置
が所定位置よりずれていてもレーザ光の軌跡により真の
鉛直方向の位置を演算することができ、地上から被測定
物の鉛直度を測定する場合、仮設構造物等の存在に影響
されずに正確に測定することができる。
また、鉛直度測定を数多く実施する場合、２点の鉛直
度を測定するだけで、後は迅速な３次元測量で対応でき
るため、測定時間の大幅な短縮を図ることができる。
度を測定するだけで、後は迅速な３次元測量で対応でき
るため、測定時間の大幅な短縮を図ることができる。
しかも、鉛直度の測定は、被測定物の頭部例えば鉄骨
柱頭部に受光部を取り付けるだけで簡単に鉛直度の測定
ができ、また、コントロール部を確認するだけで、現状
の建て入れ精度を把握でき、位置決め時間を大幅に短縮
することができる。
柱頭部に受光部を取り付けるだけで簡単に鉛直度の測定
ができ、また、コントロール部を確認するだけで、現状
の建て入れ精度を把握でき、位置決め時間を大幅に短縮
することができる。
従って、鉄骨建方時の測定、各種の墨出しが容易に実
施できる。
施できる。
第１図は本発明の鉛直度測定システムを説明するための
概念図、第２図は鉛直度測定方法の構成図、第３図は３
次元測定システムの概念図、第４図は本発明による測定
方法を説明するための斜視図である。 ２……回転台、３……発光部、６……受光部、７……コ
ントロール部、10……３次元測量装置、Ｌ……地上面、
Ｍ……測定フロアー。
概念図、第２図は鉛直度測定方法の構成図、第３図は３
次元測定システムの概念図、第４図は本発明による測定
方法を説明するための斜視図である。 ２……回転台、３……発光部、６……受光部、７……コ
ントロール部、10……３次元測量装置、Ｌ……地上面、
Ｍ……測定フロアー。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 陰山 恭男 東京都中央区京橋２丁目16番１号 清水 建設株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−38516（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−21723（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01C 15/00 G01C 9/00 - 9/36
Claims (1)
- 【請求項１】地上面の既知座標に固定される回転台と、
該回転台に配設されレーザを鉛直方向に投光する発光部
と、被測定物の頭部に固定される受光部と、前記回転台
を回転させることにより受光部で受信され、レーザ光の
軌跡により演算される位置座標と、前記発光部の既知座
標とを比較し、両者の位置のずれを演算、出力するコン
トロール部と、測定フロアー上に設けられた測距、測角
機能を有する３次元測量装置とからなり、前記地上面の
既知座標を測定フロアー上に移動させた後、測定フロア
ー上の被測定物の位置を測定することを特徴とする鉛直
度測定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2181047A JP2926103B2 (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | 鉛直度測定システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2181047A JP2926103B2 (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | 鉛直度測定システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0469515A JPH0469515A (ja) | 1992-03-04 |
| JP2926103B2 true JP2926103B2 (ja) | 1999-07-28 |
Family
ID=16093845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2181047A Expired - Fee Related JP2926103B2 (ja) | 1990-07-09 | 1990-07-09 | 鉛直度測定システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2926103B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2596971Y2 (ja) * | 1993-10-20 | 1999-06-28 | 政人 市村 | レーザ光線中心点表示装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6138516A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-24 | Ohbayashigumi Ltd | スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置 |
| JPS6321723A (ja) * | 1986-07-14 | 1988-01-29 | Toshiba Corp | 低圧金属蒸気放電灯の製造方法 |
-
1990
- 1990-07-09 JP JP2181047A patent/JP2926103B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0469515A (ja) | 1992-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |