JPH0469515A - 鉛直度測定システム - Google Patents

鉛直度測定システム

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JPH0469515A
JPH0469515A JP18104790A JP18104790A JPH0469515A JP H0469515 A JPH0469515 A JP H0469515A JP 18104790 A JP18104790 A JP 18104790A JP 18104790 A JP18104790 A JP 18104790A JP H0469515 A JPH0469515 A JP H0469515A
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rotary table
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JP18104790A
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Takashi Wada
孝史 和田
Hidehiko Nakagawa
秀彦 中川
Sakae Yasuda
安田 栄
Takao Kageyama
恭男 陰山
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Shimizu Construction Co Ltd
Shimizu Corp
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Shimizu Construction Co Ltd
Shimizu Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、多層建造物における鉄骨建方および各種墨出
し等に適用される鉛直度測定システムに関する。
[従来の技術] 従来、土木、建築等の分野において、例えば鉄骨柱の建
方においては、鉄骨柱を鉛直に施工するための柱の建て
入れ直しは、鉄骨柱頭部より下げ振りや鉛直価により、
鉄骨柱頭部と脚部との寸法を計って修正している。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記従来の方法においては、検査を行う
ことができる庭さに限度があり、多層建造物においては
困難である。また、人手および作業に時間を要すると共
に、風等に影響されるため測定精度が悪いという問題を
有している。
この問題を解決するために、本発明者等は、平成2年5
月23日特許願において、既知座標に固定される回転台
と、該回転台に配設されレーザを鉛直方向に投光する発
光部と、被測定物の頭部に固定されフォトダイオードマ
トリックスにて構成される受光部と、前記発光部の既知
座標と受光部で受信した位置座標とを比較し、両者の位
置のずれを演算、出力するコントロール部とからなるこ
とを特徴とする鉛直度測定システムを提案している。
しかしながら、上記システムにおいては、被測定物が多
くなるに比例して多くの測定時間を要し、また、地上か
ら被測定物を計測する場合、仮設構造物等により測定が
しにくい場合が多いという問題を有している。
本発明は、上記問題を解決するものであって、地上から
数多くの被測定物の鉛直度を測定する場合、短時間かつ
高精度にて測定することができる鉛直度測定システムを
提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] そのために本発明の鉛直度測定システムは、地上面りの
既知座標に固定される回転台2と、回転台2に配設され
レーザを鉛直方向に投光する発光部3と、被測定物の頭
部に固定される受光部6と、発光部3の既知座標と受光
部6で受信した位置座標とを比較し、両者の位置のずれ
を演算、出力するコントロール部7と、測定フロア−M
上に設けられる3次元測量装置10とからなり、前記地
上面の既知座標を測定フロア−上に移動させた後、測定
フロア−上の被測定物の位置を測定することを特徴とす
る。
なお、上記構成に付加した番号は、理解を容易にするた
めに図面と対比させるためのもので、これにより本発明
の構成が何ら限定されるものではない。
[作用] 本発明においては、地上面しに設定された基準点Lt、
  L2を測定フロア−M上に移動させ、基準点Ml、
  M2を得、次に、測定フロア−M上において、3次
元測量装置10を用いて基準点Ml、M2の座標値を記
憶し、これに基づいて被測定物M3〜M8の座標値を測
定する。
[実施例コ 以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第1図は本発明の鉛直度測定システムを説明するための
概念図、第2図は鉛直度測定方法の構成図、第3図は3
次元測定システムの概念図、第4図は本発明による測定
方法を説明するための斜視図である。
本発明においては、先ず第1図に示すように、地上面し
に設定された基準点L11L2を鉄骨建方等の計測が容
易に実施できる測定フロア−M上に移動させ、基準点M
l、  M2を得る。これは第2図に示す鉛直度測定方
法により行われる。
第2図において鉛直度測定方法は、基台1、基台1に固
定される回転台2、回転台2に配設される発光部3、鉄
骨柱4に取付金具5により取付けられる受光部6および
受光部6に接続されるコントロール部7から構成される
基台1は、予め墨出しされた位置に回転台2および発光
部3を固定するための治具であり、回転台2は、発光部
3の下部に取り付けたセンサにより、予め設定された回
転数で一方向に回転する機構になっている。発光部3は
、レーザを鉛直方向に投光する機器である。
回転台2は、鉛直方向の゛測定精度を補正するものであ
って、基台1を予め墨出しされた位置に据え付けたとし
ても、位置すれは生じるもので、発光部3からのレーザ
の発光位置が所定の位置からずれていても、また、レー
ザ光が長い距離の間では真の鉛直線よりずれることもあ
り、この場合、回転台2を1回転、場合によっては2回
転以上自動回転させることで、例えばX方向、X方向に
おける鉛直方向の真の測定位置を決定することができる
ものである。従って、手作業に比較して短時間で真の鉛
直方向の位置精度を測定できる。
受光部6は、可視光遮断フィルタを有しN  XNX方
向の位置検出用のフォトダイオードマトリックスにて構
成され、所定の時間レーザ光の軌跡をサーチすることに
より、揺れ幅、レーザ光の輝度、測定領域等の計測パラ
メータを算出し、コントロール部7へ送信される。また
、受光部6で得られたデータは、1周期毎にコントロー
ル部7へ送信される。
コントロール部7は、受光部6からのレーザ光の位置デ
ータを受信し、中央演算処理装置にてデータ処理および
重心計算等の解析を行い、即ち、発光部3の既知座標と
、受光部6で受信した位置座標とを比較し、Xl Y方
向の既知座標とのずれを画面表示すると共に、プリンタ
ーに出力する。
その結果に基づいて鉄骨柱の建て入れ修正を行い、既知
座標へと修正を行う。
上記方法にて地上面しに設定された基準点L1、L2を
測定フロア−M上に移動させ、基準点MLM2を得る。
次に、測定フロア−M上において、3次元測量装置10
を用いて基準点M11 M2の座標値を記憶し、これに
基づいて被測定物M3〜MBの座標値を測定する。
すなわち、第3図および第4図に示すように、鉄骨柱4
にミラー9をセットし、測距、測角機能を有する3次元
測量装置10により、受光部6にミラーをセット、規準
することにより、基準点MbM2の座標値より3次元測
量装置10の位置が既知となる。次に、被測定物M3〜
MB上に同様にミラーをセットし、3次元測量装置10
により規準することにより、被測定物M3〜M8の座標
値を測定する。測定データは、可搬式パソコンエ1にて
表示され、これに基づいて被測定物の鉛直度を修正する
ことができる。
現場にて測定したデータは、フロッピィディスク12に
より事務所のコンピュータ13に入力され、計測結果作
図用プロッタ14、計測結果リスト作成用プリンタ15
に出力される。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、地上から被測定物の鉛直
度を測定する場合、仮設構造物等の存在に影響されずに
正確に測定することができる。
また、鉛直度測定を数多〈実施する場合、2点の鉛直度
を測定するだけで、後は迅速な3次元測量で対応できる
ため、測定時間の大幅な短縮を図ることができる。
しかも、鉛直度の測定は、被測定物の頭部例えば鉄骨柱
頭部に受光部を取り付けるだけで簡単に鉛直度の測定が
でき、また、コントロール部を確認するだけで、現状の
建て入れ精度を把握でき、位置決め時間を大幅に短縮す
ることができる。
従って、鉄骨建方時の測定、各種の墨出しが容易に実施
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の鉛直度測定システムを説明するための
概念図、第2図は鉛直度測定方法の構成図、第3図は3
次元測定システムの概念図、第4図は本発明による測定
方法を説明するための斜視図である。 2・・・回転台、3・・・発光部、6・・・受光部、7
・・・コントロール部、10・・・3次元測量装置、L
・・・地上面、M・・・測定フロア− M沖1]犬、フロア− 出 願 人    清水建設株式会社 復代理人弁理士  阿 部 龍 吉(外7名)第2図 第3図 第4図 (x2.yz )

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)地上面の既知座標に固定される回転台と、該回転
    台に配設されレーザを鉛直方向に投光する発光部と、被
    測定物の頭部に固定される受光部と、前記発光部の既知
    座標と受光部で受信した位置座標とを比較し、両者の位
    置のずれを演算、出力するコントロール部と、測定フロ
    アー上に設けられる3次元測量装置とからなり、前記地
    上面の既知座標を測定フロアー上に移動させた後、測定
    フロアー上の被測定物の位置を測定することを特徴とす
    る鉛直度測定システム。
JP2181047A 1990-07-09 1990-07-09 鉛直度測定システム Expired - Fee Related JP2926103B2 (ja)

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JPH0469515A true JPH0469515A (ja) 1992-03-04
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0726714U (ja) * 1993-10-20 1995-05-19 政人 市村 レーザ光線中心点表示装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6138516A (ja) * 1984-07-31 1986-02-24 Ohbayashigumi Ltd スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置
JPS6321723A (ja) * 1986-07-14 1988-01-29 Toshiba Corp 低圧金属蒸気放電灯の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6138516A (ja) * 1984-07-31 1986-02-24 Ohbayashigumi Ltd スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置
JPS6321723A (ja) * 1986-07-14 1988-01-29 Toshiba Corp 低圧金属蒸気放電灯の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0726714U (ja) * 1993-10-20 1995-05-19 政人 市村 レーザ光線中心点表示装置

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JP2926103B2 (ja) 1999-07-28

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