JP3090708U - プリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構造。 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板のテストパターンをプローブで接続する
ときプローブを固定できて安定状態でテストパターンに
接続でき、プローブのテストピンのグランドをとれるプ
リント基板におけるテストパターンとプローブの接続構
造を提供する。 【解決手段】 テストパターン２をプリント基板１の一
方側の面に複数併設し、テストパターン２に沿って近傍
箇所に長孔３を穿設し、プリント基板１の他方側面に立
ち基板４をランド用の半田付け５で立設状態で取付け固
定し、立ち基板４の複数のテストパターン２と対応した
複数箇所にプローブ８固定用の穴６Ｂを形成し、穴６Ｂ
にフローブ８の長手方向中途部を嵌めて保持し、保持状
態で長孔３にプローブ８の先端部を差し入れてテストパ
ターン２に接続し、プローブ８の本体部８ａから延設さ
れたグランド線１０の先端に設けたワニ口１１で立ち基
板４を挟んでグランドを取るようにした。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【考案の属する技術分野】

本考案は、プリント基板の一方側の面に、テストパターンが設けられ、このテ ストパターンの近傍箇所にプローブ差し入れ用の孔部が穿設されていて、プロー ブをプリント基板の他方面側から孔部に差し入れて、その先端をテストパターン に接続するように構成したプリント基板におけるテストパターンとプローブの接 続構造に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、この種のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構造に おいては、プリント基板に設けられたテストパターンにプローブの先端から出た テストピンを接続するときに、プローブを手にもったままこの接続を行っていた ので、プローブを保持するものがなくてプローブが不安定な状態で接続を行わな ければならないという問題があった。

【０００３】 また、特開平４−７４４４９号公報には、ブローブボードが記載されている。 これは、図７に示すように、上側が配線基板１０１の上面側まで延び、下側に 接地電位が与えられるプローブ１０２と接触して電気的に接続される支持面を持 つ導電性の支持体１０３と、支持体１０３を配線基板１０１の上面側に設けられ た接地電位供給用パターン１０４に接続する配線手段１０５と、支持体１０３の 表面に第１層目の絶縁性からなる接着層１０６を介して被測定物の電極と電圧又 は電流の授受を行なう測定用プローブ１０７と、測定用プローブ１０７を固着す る第２層目の接着層１０８とを含むことを特徴とするものである。 ところが、これにおいては、プローブ１０２と測定用プローブ１０７とが接着 層１０６、１０８で支持体１０３に固着されるものであるので、プローブ１０２ と測定用プローブ１０７を取り外しできないものであった。

【０００４】 また、特開平６−２３００３３号公報には、ブローブ基板が記載されている。 これは、図８（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）（ｅ）に示すように、ブローブ２０４ を、先鋭な先端２０４ａを有した板状の弾性材により形成し、それぞれのブロー ブ２０４を、それぞれの幅広面が絶縁物２１０を介して対向するように、ブロー ブ支持部材２０５に所定の傾きをもって固定するようにし、ブローブ２０４を板 状にすることでその剛性を高め、かつ、ブローブ２０４の厚み及びそれぞれのブ ローブ２０４間を絶縁する絶縁物２１０の厚みにより、それぞれのブローブ２０ ４のピッチを決定するようにしている。また、それぞれのブローブ２０４を所定 の傾きをもってブローブ支持部材２０５に固定し、被検査体に先端が当接した際 の撓み方向が一方向となるようにしたものである。 ところが、これにおいては、集積回路チップ２１１に対してプローブ２０４が 固定されていないものであった。

【０００５】 また、特開平１１−１６０３５８号公報には、ブローブ装置が記載されている 。 これは、図９（ａ）（ｂ）に示すように、プリント基板３２１の中央窓部３２ ２にメカニカルパーツ３２３を直角に近い傾斜角度で取り付ける。メカニカルパ ーツの載置面３２３ａにコンタクトブローブ３０１を装着し、パターン配線３０ ４の後端部３０４ｃとプリント基板３２１の端子３２４をフレキシブルプリント カード３２５を介して接続し、フレキシブルプリントカード３２５はパターン配 線３０４の後端部３０４ｃとは第一コネクタ３２６で接続し、プリント基板３２ １の端子３２４とは第二コネクタ３２７で接続するものである。 ところが、これにおいては、図９（ｂ）に示すように、半導体ＩＣチップ３１ ５をコンタクトプローブ３０１を取り付けているプリント基板３２１に対して所 定箇所に配置しないとテストできないものであった。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

本考案は、上記従来の問題を解消し、プリント基板に設けられたテストパター ンをプローブで接続するときに、プローブを固定することができてプローブを安 定した状態でテストパターンをこのプローブで接続することができ、同時にプロ ーブのテストピンのグランドをとることができるプリント基板におけるテストパ ターンとプローブの接続構造を提供することを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

本考案は、上記課題を解決するために提案されたものであって、請求項１に記 載の考案は、プリント基板の一方側の面に、テストパターンが設けられ、このテ ストパターンの近傍箇所にプローブ差し入れ用の孔部が穿設されていて、前記プ ローブをプリント基板の他方面側から前記孔部に差し入れて、その先端を前記テ ストパターンに接続するように構成したプリント基板におけるテストパターンと プローブの接続構造において、前記テストパターンは前記プリント基板の一方側 の面に複数併設され、これらのテストパターンに沿ってその近傍箇所に長孔が穿 設されていて、前記プリント基板の他方側の面に立ち基板がランド用の半田付け によって立設状態で取付け固定され、この立ち基板における前記複数のテストパ ターンと対応した複数箇所に、プローブ固定用の穴が形成されており、前記穴に 前記フローブの長手方向中途部が嵌め込まれて保持され、この保持状態で前記長 孔に前記プローブの先端部が差し入れられて前記テストパターンに接続されると ともに、前記プローブの本体部から延設されたグランド線の先端に設けられたワ ニ口で前記立ち基板を挟んでグランドを取るように構成されたことを特徴として いる。

【０００８】 請求項２に記載の考案は、プリント基板の一方側の面に、テストパターンが設 けられ、このテストパターンの近傍箇所にプローブ差し入れ用の孔部が穿設され ていて、前記プローブをプリント基板の他方面側から前記孔部に差し入れて、そ の先端を前記テストパターンに接続するように構成したプリント基板におけるテ ストパターンとプローブの接続構造において、前記プリント基板の他方側の面に 立ち基板が立設され、この立ち基板にプローブ固定用の穴が穿設されており、前 記穴に前記フローブの長手方向中途部が嵌め込まれて保持され、この保持状態で 前記孔部に前記プローブの先端部が差し入れられて前記テストパターンに接続さ れるように構成したことを特徴としている。

【０００９】 請求項３に記載の考案は、前記テストパターンは、前記プリント基板の一方側 の面に複数併設され、これらのテストパターンの各々の近傍箇所にそれぞれプロ ーブ差し入れ用の孔部が穿設されていて、前記立ち基板における前記複数のテス トパターンに対応する複数箇所に前記プローブ固定用の穴が穿設されていること を特徴としている。 請求項４に記載の考案は、前記テストパターンは、前記基板の一方側の面に複 数併設されていて、前記孔部は、前記複数のテストパターンに沿って穿設された 長穴で形成されていることを特徴としている。

【００１０】 請求項５に記載の考案は、前記立ち基板のプローブ固定用の穴は、立ち基板の 上部から下向きに穿設された凹溝で形成されていて、前記プローブには、その本 体部からグランド線が延設されてその先端にワニ口が設けられ、前記プローブが 前記立ち基板の前記凹溝に嵌め入れられた状態で、前記ワニ口が前記立ち基板の 凹溝の上端側を挟み込むように取付けられていて、このワニ口で前記プローブが 上向きに抜け出ないように固定されていることを特徴としている。 請求項６に記載の考案は、前記プローブ固定用の穴は、前記立ち基板の上端か ら下向きに略Ｌ字形の凹溝に形成されていて、前記プローブを嵌め込んだ時に、 略Ｌ字形の凹溝の奥部まで嵌め入れられて、前記プローブが前記凹溝から上向き に抜け出ないようにしたことを特徴としている。

【００１１】 請求項７に記載の考案は、前記立ち基板は、放熱板で構成されていることを特 徴としている。 請求項８に記載の考案は、前記立ち基板は、前記プリント基板の他方側面に、 ランド用の半田付けによって立設状態で取付け固定されていることを特徴として いる。

【００１２】

【考案の実施の形態】

以下、本考案に係るプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造の実施の形態について、図を参照しつつ説明する。 図１は本発明の第１実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプロー ブの接続構造の斜視図である。

【００１３】 この第１実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造は、図１に示すように、プリント基板１の一方側の面に、テストパターン２が 複数設置され、これらのテストパターン２の近傍箇所にテストパターン２に沿っ てプローブ差し入れ用の長孔３が穿設されている。 更に、プリント基板１の他方側の面に立ち基板４がランド用の半田付け５によ って立設状態で取付け固定され、この立ち基板４における複数のテストパターン ２と対応した複数個所に、プローブ固定用の凹溝６が形成されている。 また長孔３には、テストパターン２に対応する壁面にプローブ固定用の縦溝７ が複数設けられている。

【００１４】 そして、立ち基板４の凹溝６にプローブ８の長手方向中途部が嵌め込まれてい るとともに、このプローブ８の先端近傍部分が長孔３の縦溝７に嵌め込まれて保 持され、この保持状態で長孔３にプローブ８の先端部が差し入れられて長孔３の 孔壁に押し当てられ、そのテストピン９がこのプローブ８の先端から突出されて テストパターン２に接続されるとともに、プローブ８の本体部８ａから延設され たグランド線１０の先端に設けられたワニ口１１で立ち基板４を挟んでグランド を取るようにされている。 したがって、この第１実施形態によれば、プリント基板１に設けられたテスト パターン２をプローブ８で接続するときに、プローブ８を立ち基板４の凹溝６で 固定することができてプローブ８を安定した状態でテストパターン２をこのプロ ーブで接続することができ、同時にプローブ８のテストピン９のグランドをとる ことができる。

【００１５】 図２は第２実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続 構造の部分斜視図である。尚、上記した第１実施側における同一部材、同一箇所 には、同一符号を付してその説明を省略している。 この第２実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造は、図２に示すように、プローブ８から延設されたワニ口１０は、プローブ８ が立ち基板４の凹溝６と長孔３の縦溝７に嵌め入れられた状態で、立ち基板４の 凹溝６の上端側を挟み込むように取付けられていて、このワニ口１０でプローブ ８が上向きに抜け出さないように固定されている。 したがって、この第２実施形態によれば、ワニ口１０でプローブを抜け止め固 定することができて、プローブを安定した状態で保持することができる。

【００１６】 図３は第３実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続 構造の部分斜視図である。尚、上記した第１実施側における同一部材、同一箇所 には、同一符号を付してその説明を省略している。 この第３実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造は、図３に示すように、プローブ固定用の凹溝６は、立ち基板４の上端から下 向きに略Ｌ字形の凹溝６Ａに形成されていて、プローブ８を嵌め込んだ時に、略 Ｌ字形の凹溝６Ａの奥部まで嵌め入れられて、プローブ８がこの凹溝６Ａから上 向きに抜け出ないようにしている。 したがって、この第３実施形態によれば、プローブ８を立ち基板４の略Ｌ字形 の凹溝６Ａの奥部まで嵌め入れることによって、プローブ８は上向きに抜け出る ことがなくて、このプローブ８を安定した状態で保持することができる。

【００１７】 図４は第４実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続 構造の部分斜視図である。尚、上記した第１実施側における同一部材、同一箇所 には、同一符号を付してその説明を省略している。 この第４実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造は、図４に示すように、立ち基板４に、凹溝６に代えてプローブ８の鍔状部が 入り込める程度の穴６Ｂを穿設して、この穴６Ｂにプローブ８を差し入れるよう にしている。 したがって、この第４実施形態によれば、立ち基板４に穿設された穴６Ｂにプ ローブ８を差し入れているので、このプローブ８が外れることがなくて安定した 状態で保持することができる。

【００１８】 図５は第５実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続 構造の部分斜視図である。尚、上記した第１実施側における同一部材、同一箇所 には、同一符号を付してその説明を省略している。 この第５実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造は、図５に示すように、テストパターン２がプリント基板１における長孔３の 図にて奥側に設けられている。そして、プローブ８の内部に配設されているテス トピン９の先端を奥側に曲折して、プリント基板１のテストパターン２に接続す るようにしている。 したがって、この第５実施形態によれば、テストパターン２がプリント基板１ の図にて奥側に設けられていても、プローブ８内のテストピン９をテストパター ン２に接続することができる。

【００１９】 図６は第６実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続 構造の斜視図である。尚、上記した第１実施側における同一部材、同一箇所には 、同一符号を付してその説明を省略している。 この第６実施形態のプリント基板におけるテストパターンとプローブの接続構 造は、図６に示すように、プリント基板１に上記した長孔３を穿設せずに、各テ ストパターン２に対応した箇所に独立した角孔３Ａをそれぞれ設けて、これらの 角孔３Ａにそれぞれプローブ固定用の縦溝７を設けている。 したがって、この第６実施形態によれば、各テストパターン２に対応した角孔 ３Ａが設けられているので、プローブ８を決められた位置の角孔３Ａに差し入れ るとよいので、プローブ８を差し入れるときに振れずにセットし易い利点がある 。

【００２０】

【考案の効果】

以上説明したように、請求項１に記載の考案は、プリント基板の一方側の面に 、テストパターンが設けられ、このテストパターンの近傍箇所にプローブ差し入 れ用の孔部が穿設されていて、プローブをプリント基板の他方面側から孔部に差 し入れて、その先端をテストパターンに接続するように構成したプリント基板に おけるテストパターンとプローブの接続構造において、テストパターンはプリン ト基板の一方側の面に複数併設され、これらのテストパターンに沿ってその近傍 箇所に長孔が穿設されていて、プリント基板の他方側の面に立ち基板がランド用 の半田付けによって立設状態で取付け固定され、この立ち基板における複数のテ ストパターンと対応した複数箇所に、プローブ固定用の穴が形成されており、穴 にフローブの長手方向中途部が嵌め込まれて保持され、この保持状態で長孔にプ ローブの先端部が差し入れられてテストパターンに接続されるとともに、プロー ブの本体部から延設されたグランド線の先端に設けられたワニ口で立ち基板を挟 んでグランドを取るように構成されたので、以下に述べる効果を奏する。

【００２１】 即ち、プリント基板に設けられたテストパターンをプローブで接続するときに 、プローブを固定することができてプローブを安定した状態でテストパターンを このプローブで接続することができ、同時にプローブのテストピンのグランドを とることができる。

【００２２】 請求項２に記載の考案は、プリント基板の一方側の面に、テストパターンが設 けられ、このテストパターンの近傍箇所にプローブ差し入れ用の孔部が穿設され ていて、プローブをプリント基板の他方面側から孔部に差し入れて、その先端を テストパターンに接続するように構成したプリント基板におけるテストパターン とプローブの接続構造において、プリント基板の他方側の面に立ち基板が立設さ れ、この立ち基板にプローブ固定用の穴が穿設されており、穴に前記フローブの 長手方向中途部が嵌め込まれて保持され、この保持状態で孔部にプローブの先端 部が差し入れられてテストパターンに接続されるように構成したので、以下に述 べる効果を奏する。 即ち、プリント基板に設けられたテストパターンをプローブで接続するときに 、プローブを固定することができてプローブを安定した状態でテストパターンを このプローブで接続することができる。

【００２３】 請求項３に記載の考案は、テストパターンは、プリント基板の一方側の面に複 数併設され、これらのテストパターンの各々の近傍箇所にそれぞれプローブ差し 入れ用の孔部が穿設されていて、立ち基板における複数のテストパターンに対応 する複数箇所にプローブ固定用の穴が穿設されているので、各テストパターンに 対応した孔部が設けられているので、プローブを決められた位置の孔部に差し入 れるとよいので、プローブを差し入れるときに振れずにセットし易い。 請求項４に記載の考案は、テストパターンは、基板の一方側の面に複数併設さ れていて、孔部は、複数のテストパターンに沿って穿設された長穴で形成されて いるので、長穴は１つ設ければよくてこの長穴の形成を簡単に行うことができる 。

【００２４】 請求項５に記載の考案は、立ち基板のプローブ固定用の穴は、立ち基板の上部 から下向きに穿設された凹溝で形成されていて、プローブには、その本体部から グランド線が延設されてその先端にワニ口が設けられ、プローブが前記立ち基板 の凹溝に嵌め入れられた状態で、ワニ口が立ち基板の凹溝の上端側を挟み込むよ うに取付けられていて、このワニ口でプローブが上向きに抜け出ないように固定 されているので、プローブをこの凹溝に上側から嵌め込むだけで保持できるので 、プローブを簡単に保持することができる。

【００２５】 請求項６に記載の考案は、プローブ固定用の穴は、立ち基板の上端から下向き に略Ｌ字形の凹溝に形成されていて、プローブを嵌め込んだ時に、略Ｌ字形の凹 溝の奥部まで嵌め入れられて、プローブが凹溝から上向きに抜け出ないようにし たので、プローブを立ち基板の略Ｌ字形の凹溝の奥部まで嵌め入れることによっ て、プローブは上向きに抜け出ることがなくて、このプローブを安定した状態で 保持することができる。 請求項７に記載の考案は、立ち基板は、放熱板で構成されているので、この放 熱板で部品の放熱とプローブの保持とを兼ねることができる。

【００２６】 請求項８に記載の考案は、立ち基板は、プリント基板の他方側面に、ランド用 の半田付けによって立設状態で取付け固定されているので、立ち基板をプリント 基板に立設状態で簡単に固定することができ、且つ立ち基板を倒れることなく強 固に立設状態で固定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態のプリント基板における
テストパターンとプローブの接続構造の斜視図である。

【図２】第２実施形態のプリント基板におけるテストパ
ターンとプローブの接続構造の部分斜視図である。

【図３】第３実施形態のプリント基板におけるテストパ
ターンとプローブの接続構造の部分斜視図である。

【図４】第４実施形態のプリント基板におけるテストパ
ターンとプローブの接続構造の部分斜視図である。

【図５】第５実施形態のプリント基板におけるテストパ
ターンとプローブの接続構造の部分斜視図である。

【図６】第６実施形態のプリント基板におけるテストパ
ターンとプローブの接続構造の斜視図である。

【図７】従来のプローブボードを示す一部概略断面図で
ある。

【図８】従来のプローブ基板を示し、（ａ）はその分解
斜視図、（ｂ）はそのＡ−Ａ線断面図、（ｃ）はそのプ
ローブの拡大斜視図、（ｄ）はそのプローブへパッドを
押し付ける前の断面図、（ｅ）はそのプローブへパッド
を押し付けた後の断面図である。

【図９】従来のプローブ装置コンタクトプローブとプリ
ント基板との接続状態を示し、（ａ）はその部分斜視
図、（ｂ）はそのＢ−Ｂ線断面図である。

【符号の説明】

１ プリント基板 ２ テストパターン ３ 長孔 ４ 立ち基板 ５ 半田付け ６ 凹溝 ６Ａ 略Ｌ字形の凹溝 ６Ｂ 穴 ８ プローブ ８ａ 本体部 ９ テストピン １０ グランド線 １１ ワニ口

Claims (8)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント基板の一方側の面に、テストパ
   ターンが設けられ、このテストパターンの近傍箇所にプ
   ローブ差し入れ用の孔部が穿設されていて、前記プロー
   ブをプリント基板の他方面側から前記孔部に差し入れ
   て、その先端を前記テストパターンに接続するように構
   成したプリント基板におけるテストパターンとプローブ
   の接続構造において、前記テストパターンは前記プリン
   ト基板の一方側の面に複数併設され、これらのテストパ
   ターンに沿ってその近傍箇所に長孔が穿設されていて、
   前記プリント基板の他方側の面に立ち基板がランド用の
   半田付けによって立設状態で取付け固定され、この立ち
   基板における前記複数のテストパターンと対応した複数
   箇所に、プローブ固定用の穴が形成されており、前記穴
   に前記フローブの長手方向中途部が嵌め込まれて保持さ
   れ、この保持状態で前記長孔に前記プローブの先端部が
   差し入れられて前記テストパターンに接続されるととも
   に、前記プローブの本体部から延設されたグランド線の
   先端に設けられたワニ口で前記立ち基板を挟んでグラン
   ドを取るように構成されたことを特徴とするプリント基
   板におけるテストパターンとプローブの接続構造。
2. 【請求項２】 プリント基板の一方側の面に、テストパ
   ターンが設けられ、このテストパターンの近傍箇所にプ
   ローブ差し入れ用の孔部が穿設されていて、前記プロー
   ブをプリント基板の他方面側から前記孔部に差し入れ
   て、その先端を前記テストパターンに接続するように構
   成したプリント基板におけるテストパターンとプローブ
   の接続構造において、前記プリント基板の他方側の面に
   立ち基板が立設され、この立ち基板にプローブ固定用の
   穴が穿設されており、前記穴に前記フローブの長手方向
   中途部が嵌め込まれて保持され、この保持状態で前記孔
   部に前記プローブの先端部が差し入れられて前記テスト
   パターンに接続されるように構成したことを特徴とする
   プリント基板におけるテストパターンとプローブの接続
   構造。
3. 【請求項３】 前記テストパターンは、前記プリント基
   板の一方側の面に複数併設され、これらのテストパター
   ンの各々の近傍箇所にそれぞれプローブ差し入れ用の孔
   部が穿設されていて、前記立ち基板における前記複数の
   テストパターンに対応する複数箇所に前記プローブ固定
   用の穴が穿設されていることを特徴とする請求項１に記
   載のプリント基板におけるテストパターンとプローブの
   接続構造。
4. 【請求項４】 前記テストパターンは、前記基板の一方
   側の面に複数併設されていて、前記孔部は、前記複数の
   テストパターンに沿って穿設された長穴で形成されてい
   ることを特徴とする請求項２又は３に記載のプリント基
   板におけるテストパターンとプローブの接続構造。
5. 【請求項５】 前記立ち基板のプローブ固定用の穴は、
   立ち基板の上部から下向きに穿設された凹溝で形成され
   ていて、前記プローブには、その本体部からグランド線
   が延設されてその先端にワニ口が設けられ、前記プロー
   ブが前記立ち基板の前記凹溝に嵌め入れられた状態で、
   前記ワニ口が前記立ち基板の凹溝の上端側を挟み込むよ
   うに取付けられていて、このワニ口で前記プローブが上
   向きに抜け出ないように固定されていることを特徴とす
   る請求項２乃至４のいずれかに記載のプリント基板にお
   けるテストパターンとプローブの接続構造。
6. 【請求項６】 前記プローブ固定用の穴は、前記立ち基
   板の上端から下向きに略Ｌ字形の凹溝に形成されてい
   て、前記プローブを嵌め込んだ時に、略Ｌ字形の凹溝の
   奥部まで嵌め入れられて、前記プローブが前記凹溝から
   上向きに抜け出ないようにしたことを特徴とする請求項
   ２乃至４のいずれかに記載のプリント基板におけるテス
   トパターンとプローブの接続構造。
7. 【請求項７】 前記立ち基板は、放熱板で構成されてい
   ることを特徴とする請求項２乃至６のいずれかに記載の
   プリント基板におけるテストパターンとプローブの接続
   構造。
8. 【請求項８】 前記立ち基板は、前記プリント基板の他
   方側面に、ランド用の半田付けによって立設状態で取付
   け固定されていることを特徴とする請求項２乃至６のい
   ずれかに記載のプリント基板におけるテストパターンと
   プローブの接続構造。