JP3102995B2 - 液晶ライトバルブ - Google Patents
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Description
光演算器、波長変換器等に用いられる液晶ライトバルブ
に関するものである。
オ鑑賞用に大画面表示投射型ディスプレイの需要が増加
している。このような投射型ディスプレイでは、高輝度
化、高精細化が望まれている。その中でも液晶ライトバ
ルブは、高輝度化、高精細化の点からかなり活発に開発
が行われている。例えば、図15に示すように、液晶ラ
イトバルブ900は、表面に透明電極904、配向膜9
09を順に設けた透明基板902と、表面に透明電極9
03、光導電体層905、遮光層906、誘電体ミラー
層907、配向膜908を順に設けた透明基板901と
の間に液晶層910を挟持した構造となっている。
価回路を図16に示す。この等価回路では、それぞれ液
晶層910の等価容量をCLC、誘電体ミラー層907の
等価容量をCDM、遮光層906の等価容量をCLB、光導
電体層905の等価容量をCPC、液晶層910の等価抵
抗をRLC、誘電体ミラー層907の等価抵抗をRDM、遮
光層906の等価抵抗をRLB、光導電体層905の等価
抵抗をRPCで示している。
では、光導電体層905の等価容量CPCと等価抵抗RPC
によるインピーダンスZPC、遮光層906の等価容量C
LBと等価抵抗RLBによるインピーダンスZLB、誘電体ミ
ラー層907の等価容量CDMと等価抵抗RDMによるイン
ピーダンスZDM、液晶層910の等価容量CLCと等価抵
抗RLCによるインピーダンスZLCのインピーダンス比に
よって電圧分割が行われる。
1(図15)が照射されない場合(暗状態)には、光導
電体層905の等価抵抗RPCは高抵抗となり、インピー
ダンスZPCは大きくなる。一方、光導電体層905に書
き込み光911が照射される場合(明状態)には、光導
電体層905の等価抵抗RPCは低抵抗となりインピーダ
ンスZPCは小さくなる。つまり、上記光導電体層905
の等価抵抗RPCは、可変抵抗となっている。
ンピーダンス変化によって液晶層910にかかる電圧を
変化させ、液晶層910に画像を形成するようになって
いる。このため、光導電体層905のインピーダンス変
化を、液晶層910に効率よく伝達させるためには、誘
電体ミラー層907および遮光層906のインピーダン
ス、即ちインピーダンスZDMおよびインピーダンスZLB
を小さくすることが必要となる。
ダンス変化を液晶層910に効率よく伝達することによ
って、より小さい書き込み光量で画像形成が可能とな
り、この結果、書き込み光感度を向上させることができ
る。また、液晶層910への画像の書き込み光量が小さ
くて済むので、液晶層910の電圧変化を大きくするこ
とができると共に、コントラストを上げることができ
る。
した誘電体ミラー、誘電体干渉フィルタ、反射防止膜等
の各種フィルタは、光学特性の自由度の広さや光の利用
効率の高さや耐摩耗性の高さから光学の分野では広く使
用されている。上記の各種フィルタは、光学薄膜を電子
ビーム蒸着法で積層して作成される。
光学特性の変化は大きな問題となっている。これは、蒸
着した誘電体膜が多孔質(ポーラス)であることに起因
し、例えば、反射防止膜の場合には、季節や使用環境に
よって湿度が変化すると、分光反射特性のピークが変化
し、人間の目で観察されるわずかな反射色が、緑色から
赤味を帯びた緑色、あるいは緑色から青味を帯びた緑色
のように変化する。
れる誘電体ミラー層は光学薄膜の積層であるので、製造
中の環境の変化や経過時間等で分光反射率特性とインピ
ーダンスが変化してしまう。この分光反射率特性とイン
ピーダンスのばらつきは、液晶ライトバルブの製品間の
特性のばらつきとなるため品質の安定性を低下させると
ともに、品質の安定した製品の歩留まりが低下するとい
う問題が生じる。
は、普通、不純物を含むため、液晶の信頼性を低下させ
る原因となる。
81401号公報に開示されているイオンプレーティン
グ法を用いる蒸着方法やイオンアシスト蒸着法(IA
D)(光・薄膜技術マニュアル:オプトロニクス社)が
利用されている。
レーティング法を用いる蒸着方法では、多層反射防止膜
の空気と接する最表層をイオンプレーティング法で形成
し、最表層を充填率の高い膜にし、化学的に安定な膜に
している。また、IADで光学薄膜を成膜すると、充填
率を高めた緻密な膜にすることができるため、薄膜内へ
の水分の吸収が抑えられ、光学特性の変化を減少させる
事ができる。尚、充填率とは空隙を含む全膜体積中に膜
実質部の占める割合である。
やIADを用いると、充填率が高い緻密な膜が形成でき
るため、光学特性変化やインピーダンス変化を防ぐ事が
できる。
プレーティング法やIADを用いて充填率が高い緻密な
膜を形成した場合、膜の充填率が高くなり、インピーダ
ンスも高くなる。このため、液晶ライトバルブの誘電体
ミラー層に充填率の高い膜を適用すれば、電子ビーム蒸
着法で作成した誘電体ミラー層に比べてインピーダンス
が高くなり、誘電体ミラー層で電圧降下が生じ、光感度
もコントラストも悪化するという問題が生じる。
高くなれば、液晶ライトバルブの駆動電圧も高くなると
いう問題が生じる。
層のみ充填率を高めた膜を用いても同様に生じることに
なり、このような誘電体ミラー層を使用した場合、液晶
ライトバルブの表示性能が低下するという問題が生じ
る。
ものであって、その目的は、分光反射率特性(以下、光
学特性と称する)とインピーダンスの経時変化の少ない
誘電体ミラー層を使用することにより、表示性能の良好
な液晶ライトバルブを提供することにある。
ルブは、透明電極を有する一対の透明基板の一方の透明
電極上に、少なくとも光導電体層、遮光層、及び複数の
誘電体膜で積層された誘電体ミラー層が形成され、両透
明基板を互いの透明電極が対向するように配置し、この
透明基板間に液晶を挟持してなる液晶ライトバルブにお
いて、上記誘電体ミラー層は、液晶層側の少なくとも1
層の誘電体膜からなる高充填率部と、この高充填率部を
構成する誘電体膜以外の誘電体膜からなり、かつ高充填
率部よりも充填率が低くなるように形成された低充填率
部とからなることを特徴としている。
記載の液晶ライトバルブにおいて、液晶層側に最も近い
1層の誘電体膜からなる高充填率部の充填率は、0.9
以上かつ1.0以下であることを特徴としている。
又は2記載の液晶ライトバルブにおいて、誘電体ミラー
層の誘電物質中に、導電性物質、半導電性物質、強誘電
性物質、もしくはこれらの混合物が含まれていることを
特徴としている。
1、2又は3記載の液晶ライトバルブにおいて、誘電体
ミラー層は、導電率σが0<σ≦1×10 -7 S/cmの
酸化物半導体により形成されていることを特徴としてい
る。
液晶側の高充填率部の膜の充填率が低充填率部の膜の充
填率よりも高くなっているので、液晶側からの水分吸収
を防止するとともに、誘電体ミラー層全体のインピーダ
ンスを低下させることができる。つまり、液晶側からの
不純な水分吸収を防止するために、全ての層を高充填率
の膜で形成した場合に比べて、インピーダンスを低くす
ることができると共に、全ての層を低充填率の膜で形成
した場合に比べて水分吸収を防止することができ、この
結果、光学特性とインピーダンス特性の経時変化の少な
い誘電体ミラー層を得ることができる。
を液晶ライトバルブに適用することで、液晶ライトバル
ブの光感度とコントラストとを向上させ、駆動電圧を低
くすることができる。また、誘電体ミラー層に吸収され
る水分による液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光
学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばらつきが
少なくなるため、液晶ライトバルブの品質が安定し、歩
留まりを高くすることができる。
を向上させると共に、製造効率を向上させることができ
る。
近い1層の誘電体膜からなる高充填率部の充填率は、
0.9以上かつ1.0以下である。
を、液晶ライトバルブに適用することで、液晶ライトバ
ルブの光感度とコントラストとを向上させ、駆動電圧を
低くすることができる。また、誘電体ミラー層に吸収さ
れる水分による液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、
光学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばらつき
が少なくなるため、液晶ライトバルブの品質が安定し、
歩留まりを高くすることができる。したがって、液晶ラ
イトバルブの光学特性を向上させると共に、製造効率を
向上させることができる。
の誘電物質中に、導電性物質または半導電性物質または
強誘電性物質またはこれらの混合物が含まれていること
で、インピーダンスが低く、かつ経時変化の少ない誘電
体ミラーを提供することができる。これにより、上記の
ような誘電体ミラーを、液晶ライトバルブに適用するこ
とで、液晶ライトバルブの光感度とコントラストとを向
上させ、駆動電圧を低くすることができる。したがっ
て、光学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばら
つきが少なくなるため、液晶ライトバルブの品質が安定
し、歩留まりを高くすることができる。
は、導電率σが0<σ≦1×10 -7 S/cmの酸化物半
導体により形成されていることで、インピーダンスが低
く、かつ経時変化の少ない誘電体ミラー層を提供するこ
とができる。
を液晶ライトバルブに適用することで、液晶ライトバル
ブの光感度とコントラストとを向上させ、駆動電圧を低
くすることができる。したがって、光学特性とインピー
ダンスが安定し、製品間のばらつきが少なくなるため、
液晶ライトバルブの品質が安定し、歩留まりを高くする
ことができる。
に基づいて説明すれば、以下の通りである。
イトバルブ100は、表面に透明電極104、配向膜1
09を順に設けた透明基板102と、表面に透明電極1
03、光導電体層105、遮光層106、誘電体ミラー
層107、配向膜108を順に設けた透明基板101と
の間に液晶層110を挟持した構造となっている。
ための書き込み光113が入射される一方、上記透明基
板102には、液晶層110に形成された画像を読み出
すための読み出し光114が入射されるようになってい
る。
の不必要な反射を防止するための反射防止膜111・1
12が形成されている。尚、透明基板101においても
必要に応じて反射防止膜が形成される。
層110側に形成された高充填率の高充填率部107a
と、遮光層106側に形成された低充填率の低充填率部
107bとで構成されている。上記高充填率部107a
は、液晶層110側の少なくとも1層の誘電体膜で形成
される一方、低充填率部107bは、高充填率部107
aを構成する誘電体膜以外の誘電体膜で形成されると共
に、高充填率部107aよりも充填率が低くなるように
形成されている。尚、誘電体ミラー層107の詳細につ
いては、後述する。
0は、光導電体層105に書き込み光113による画像
信号の入力が無い状態(暗状態)では、光導電体層10
5は高インピーダンスとなるが、光導電体層105に書
き込み光113による画像信号が入力された状態(明状
態)では、光導電効果により、光導電体層105は低イ
ンピーダンスとなるため、液晶層110に印加される電
圧が閾値電圧を越え、液晶層110の配向状態が変化す
る。この配向状態の変化を読み出し光114の強度変化
として、偏光ビームスプリッタ等を通してスクリーンに
投影することで画像信号として取り出すようになってい
る。
0の製造方法について以下に説明する。
インジウム(In)の酸化物(ITO)透明導電膜と酸
化錫(SnO2 )透明導電膜からなる透明電極103
を、スパッタ法を用いて形成し、その上に、非晶質水素
化ケイ素(a−Si:H)からなる光導電体層105を
形成する。
05は、シラン(SiH4 )ガス、水素ガス(H2 )を
原料としてプラズマCVD法を用い、膜厚が6μmとな
るように作成する。
(SiH4 )ガスとゲルマン(GeH4 )ガスとを原料
として非晶質水素化シリコンゲルマニウム(a−SiG
e:H)からなる遮光層106を形成する。
ー層107を形成する。誘電体ミラー層107は、光学
膜厚としてλ/4(=nd)の低屈折率物質の膜と高屈
折率物質の膜とを交互に積層して30層の多層構造とし
た。
帯域の中心波長、nは屈折率、dは物理的膜厚である。
低屈折率物質には、二酸化ケイ素(SiO2 )、高屈折
率物質には、二酸化チタン(TiO2 )を用いた。誘電
体ミラー層107の形成には電子ビーム蒸着法(EB蒸
着法)を使用した。通常の条件は、TiO2 の蒸着レー
トは5〜10Å/sec、SiO2 の蒸着レートは10
〜20Å/secで、基板温度は300〜350℃であ
る。
填率が上がり、基板温度を下げれば膜はポーラス(多孔
性)になる。そこで、誘電体ミラー層107の遮光層1
06側の低充填率部107bは、基板温度を200℃、
TiO2 の蒸着レートを11Å/sec、SiO2 の蒸
着レートを22Å/secとして作成し、ポーラスで充
填率が0.9以下となる膜とした。また、誘電体ミラー
層107の高充填率部107aは、低充填率部107b
の蒸着レートと同じにし、基板温度を300℃に代えて
蒸着して作成し、膜の充填率が0.9以上となる膜とし
た。つまり、誘電体ミラー層107は、液晶層110側
の高充填率部107aの膜の充填率が、低充填率部10
7bの充填率よりも高くななるように形成されている。
ここで、充填率とは空隙を含む全膜体積中に膜実質部の
占める割合である。
り、低屈折率物質の場合と、高屈折率物質の場合があ
る。ここで、光学膜厚がλ/4の低屈折率物質をL、光
学膜厚がλ/4の高屈折率物質をHとすれば、同じ膜厚
のLとHとを交互に15層積層した場合、即ち[LH]
15の場合、積層数は30層となり、このとき最外層は、
TiO2 からなる膜で蒸着レートを1Å/secとして
蒸着されて形成されている。また、Lの膜厚を半分に
し、このL/2によりHを挟持した構成として交互に1
5層積層した場合、即ち[(L/2)H(L/2)]15
の場合、積層数は31層となり、最外層は、SiO2 か
らなる膜で蒸着レートを3Å/secとして蒸着して形
成されている。何れの場合の高充填率部107aにおい
ても、膜の充填率は0.9以上となった。
した透明基板101と対向基板102とのそれぞれの対
向面に、ポリイミドをスピンコートすることによって配
向膜108・109を形成する。
処理して、2枚の透明基板101・102から製造され
た両基板部を構成し、両基板部を配向膜108・109
が対向するように対向させてスペーサ(図示せず)を介
して貼り合わせ、その配向膜108・109の間に液晶
を注入して液晶層110とする。
外層を他の層と同じ基板温度、同じ蒸着レートで形成し
た比較例としての誘電体ミラー層との光学特性の経時変
化及び周波数600Hzでのインピーダンスの経時変化
の比較を行なう。この比較結果を表1に示す。
と大気中に10日間放置した結果が示されている。ま
た、光学特性の変化は図3に示す誘電体ミラーの反射率
分光特性が90%以上の帯域の中心の波長の変化を表し
ている。インピーダンスは誘電体ミラー層の面積が1c
m2 の時の値である。下落率とはインピーダンス変化量
を示す指数であり、 下落率(%)=(1−Z10/Z0 )×100 の式で示される。ここで、Z0 は作成直後のインピーダ
ンス、Z10は10日間放置後のインピーダンスを表す。
下落率0%とは、変化が無かったことを意味する。
外層を作成する際、基板温度を上げ、蒸着レートを下げ
ることにより最外層の充填率を0.9以上の緻密な膜質
にした。これによって、水分吸収による誘電体ミラー層
107の光学特性の変化とインピーダンスの変化が大幅
に減少することが分かった。さらに、本発明の誘電体ミ
ラー層107は比較例の誘電体ミラー層より低インピー
ダンスになることが分かった。
に誘電体ミラー層107にかかる電圧が減少し、光導電
体層105での光照射時と光無照射時のインピーダンス
変化による液晶層110での電圧変化が大きくなり、光
感度とコントラストが向上した。同様に、液晶ライトバ
ルブの駆動電圧も小さくなった。
は、充填率が0.9以上となっているので、誘電体ミラ
ー層107における水分の吸収による液晶の信頼性の低
下を防ぐことができ、光学特性とインピーダンスが安定
し、製品間のばらつきが少なくなるため、液晶ライトバ
ルブの品質が安定し、歩留まりが高くなった。
を用いた投射型液晶表示装置を図2に示す。
うに、液晶ライトバルブ100が、画像生成手段として
のCRT(Cathode Ray Tube) 122に接続された構成
となっている。
き込み光を照射し、液晶ライトバルブ100に画像を書
き込むようになっている。
み出し光源としての読み出しランプ121が備えられ、
この読み出しランプ121から出射された光は、レンズ
123を介して、偏光ビームスプリッタ124に入射さ
れる。この偏光ビームスプリッタ124に入射された光
は、上記書き込み光源の明暗レベルに応じて個別に変調
され、これによって得られる各読み出し画像は、偏光ビ
ームスプリッタ124、レンズ125を介してスクリー
ン126へ合成拡大投射される。
細に述べると、CRT122からの書き込み光が液晶ラ
イトバルブ100の透明基板101側から入射される。
このとき、光が当たった領域(明状態)では、光導電体
層105のインピーダンスが減少し、交流電源127に
よって印加された電圧は液晶層110に加わる。一方、
光の当たらない領域(暗状態)では、光導電体層105
のインピーダンスは変化せず、液晶層110には液晶の
閾値電圧以下の電圧しか印加されない。この明状態と暗
状態の違いにより液晶ライトバルブ100に画像が形成
される。
トバルブ100に、レンズ123、偏光ビームスプリッ
タ124を介して、ランプ121からの読み出し光のう
ちS偏光成分だけが入射する。この入射光は光反射層と
して機能する誘電体ミラー層107によって反射される
が、明状態の領域では光はP偏光となるように液晶層1
10で変調され、偏光ビームスプリッタ124を透過し
て白を表示する。暗状態の領域では光はS偏光のままで
液晶層110により変調されないため、偏光ビームスプ
リッタ124を透過できず、黒を表示する。このように
して、偏光ビームスプリッタ124を透過した光はレン
ズ125によって拡大され、これによって、液晶ライト
バルブ100に形成された画像がスクリーン126に投
影される。
107を使用すれば、光感度とコントラストが向上し、
駆動電圧が低い液晶ライトバルブ100を提供すること
ができるので、少ない書き込み光で、十分な輝度および
解像度を得ることができ、この結果、高輝度、高解像度
の投射型液晶表示装置を提供することができる。
成時、最外層である高充填率部107aに充填率の高い
膜を使うとともに、その他の膜、即ち低充填率部107
bの充填率が低くなるように制御する事で、インピーダ
ンスが低く、かつ水分吸収による光学特性とインピーダ
ンス特性の経時変化が少ない誘電体ミラーを作成でき
る。
を適用すれば、光感度とコントラストが向上し、駆動電
圧の低い液晶ライトバルブ100を提供することができ
る。さらに、誘電体ミラー層107に吸収された水分に
よる液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光学特性と
インピーダンスが安定し、製品間のばらつきが少なくな
るため、液晶ライトバルブ100の品質が安定し、歩留
まりが高くなる。
を作成するときに、最外層である高充填率部107a
と、他の層である低充填率部107bとの基板温度を変
えて膜の充填率を変えたが、例えば基板温度を変えるこ
となく、蒸着レートを従来より遅くすることで充填率を
変えても良い。
7に、充填率の高い緻密な膜として高充填率部107a
の誘電体膜を1枚としたが、高充填率部107aとして
複数の誘電体膜を充填率の高い緻密な膜にしても良く、
この場合においても同様の効果を得ることができる。
07を構成する高屈折率物質にTiO2 、低屈折率物質
にSiO2 を用いたが、これに限定するものではなく、
例えば高屈折率物質として、フッ化セリウム(Ce
F3 )、酸化アルミニウム(Al2 O3 )、酸化マグネ
シウム(MgO)、酸化ハフニウム(HfO2 )、窒化
ケイ素(Si3 N4 )、酸化ジルコニウム(Zr
O2 )、酸化アンチモン(Sb2O3 )、五酸化タンタ
ル(Ta2 O5 )、酸化セリウム(CeO2 )等でも良
く、また、低屈折率物質として、例えばフッ化バリウム
(BaF2 )、フッ化ナトリウム(NaF)、フッ化マ
グネシウム(MgF2 )、フッ化アルミニウム(AlF
3 )、フッ化カルシウム(CaF2 )、フッ化ストロン
チウム(SrF2 )等を用いても良い。
図4ないし図6に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。
イトバルブ200は、表面に透明電極204、配向膜2
09を順に設けた透明基板202と、表面に透明電極2
03、光導電体層205、遮光層206、誘電体ミラー
層207、配向膜208を順に設けた透明基板201と
の間に液晶層210を挟持した構造となっている。
ための書き込み光213が入射される一方、上記透明基
板202には、液晶層210に形成された画像を読み出
すための読み出し光214が入射されるようになってい
る。
の不必要な反射を防止するための反射防止膜211・2
12が形成されている。尚、透明基板201においても
必要に応じて反射防止膜が形成される。
層210側に形成された高充填率の高充填率部207a
と、遮光層206側に形成された低充填率の低充填率部
207bとで構成されている。尚、誘電体ミラー層20
7の詳細については、後述する。
0の製造方法について以下に説明する。
鉛(ZnO)透明導電膜からなる透明電極203を、ス
パッタ法を用いて形成し、その上に、ケイ酸ビスマス
(Bi12SiO20 略称BSO)からなる光導電体層2
05が形成されている。このBSOからなる光導電体層
205は、電子サイクロトロン共鳴スパッタ(ECR−
SP)法を用い、ビスマス(Bi)とケイ素(Si)の
スパッタターゲットを使って作成する。この光導電体層
205の膜厚は10μmとなる。さらに、光導電体層2
05上に、有機顔料であるカーボンブラックを分散させ
たアクリル系樹脂からなる遮光層206を形成する。
207を形成する。誘電体ミラー層7は、遮光層206
側の低充填率部207bと液晶層210側の最終層とし
ての高充填率部207aとで構成されている。この誘電
体ミラー層207は、光学膜厚がλ/4の低屈折率物質
の膜と高屈折率物質の膜とを交互に積む構成で20層積
層して設けた。低屈折率物質にはSiO2 、高屈折率物
質には五酸化タンタル(Ta2 O5 )を使用した。EB
蒸着法の通常の条件は、Ta2 O5 の蒸着レートは5〜
10Å/s、SiO2 の蒸着レートは10〜20Å/s
で、基板温度は300〜350℃である。
密になり、基板温度を下げれば膜はポーラスになる。そ
こで、低充填率部207bの基板温度を200℃とし、
Ta2 O5 の蒸着レートを12Å/s、SiO2 の蒸着
レートを23Å/sでそれぞれ蒸着し、ポーラスな膜を
形成した。また、高充填率部207aは、イオンビーム
アシスト蒸着法(IAD)によって、充填密度の高い膜
を形成した。
がら以下に説明する。
ム222を照射するイオン源224と、上記のイオンビ
ーム222によって基板226が帯電して膜形成を妨害
することを防ぐための中和用電子ビーム223を発生す
るニュートラライザ225とで構成された装置によって
行なわれる。つまり、EB蒸着221を行いながらイオ
ンビーム222及び中和用電子ビーム223を同時に照
射する蒸着法である。即ち、イオン源224で生成され
たイオンビーム222を、形成する膜226に照射しな
がら蒸着することで、極表面層粒子への直接的エネルギ
ー付与による蒸着粒子の化学的結合を支援し、緻密な膜
を形成するようになっている。
aは、膜の構成により、低屈折率物質の場合と、高屈折
率物質の場合がある。ここで、光学膜厚がλ/4の低屈
折率物質をL、光学膜厚がλ/4の高屈折率物質をHと
すれば、同じ膜厚のLとHとを交互に10層積層した場
合、即ち[LH]10の場合、積層数は20層となり、こ
のとき最外層は、Ta2 O5 からなる膜で蒸着レートを
1Å/secとして蒸着されて形成されている。また、
Lの膜厚を半分にし、このL/2によりHを挟持した構
成として交互に10層積層した場合、即ち[(L/2)
H(L/2)]10の場合、積層数は21層となり、最終
層としての低充填率部207bは、SiO2 からなる膜
で蒸着レートを3Å/secとして蒸着されて形成され
ている。何れの場合の高充填率部207aにおいても、
その充填率は0.9以上の膜となった。
した透明基板201と対向基板202に配向膜208・
209をポリイミドの印刷法により形成した。その後、
配向膜208・209をラビング処理して、2枚の基板
201・202から製造された両基板部を構成し、両基
板部を配向膜208・209が対向するように対向させ
てスペーサ(図示せず)を介して貼り合わせ、その配向
膜208・209の間に液晶を注入して液晶層210と
した。
外層を他の層と同じ基板温度、同じ蒸着レートで形成し
た比較例としての誘電体ミラー層との光学特性の経時変
化及び周波数600Hzでのインピーダンスの経時変化
の比較を行なう。この比較結果を表2に示す。
と大気中に10日間放置した結果が示されている。ま
た、光学特性の変化は図6に示す誘電体ミラーの反射率
分光特性が90%以上の帯域の中心の波長の変化を表し
ている。インピーダンスは誘電体ミラー層の面積が1c
m2 の時の値である。下落率はインピーダンス変化量を
示す指数であり、前述した実施例1と同様である。
り、最終層を充填率が0.9以上の緻密な膜質にするこ
とができ、これによって、水分吸収による誘電体ミラー
層の光学特性の変化とインピーダンスの変化が大幅に減
少することが分かった。
ンスであることが分かった。従って、駆動時に誘電体ミ
ラー層207にかかる電圧が減少し、光導電体層205
での光照射時と光無照射時のインピーダンス変化による
液晶層210での電圧変化が大きくなり、光感度とコン
トラストが向上した。また、液晶ライトバルブ200の
駆動電圧も小さくなることが分かった。さらに、誘電体
ミラー層207に吸収された水分による液晶の信頼性の
低下を防ぐことができ、光学特性とインピーダンスが安
定し、製品間のばらつきが少なくなるため、液晶ライト
バルブ200の品質が安定し、歩留まりが高くなった。
を作成するときに、最終層である高充填率部207a
と、他の層である低充填率部207bとの基板温度を変
えて膜の充填率を変えたが、基板温度を変えなくても蒸
着レートを従来より遅くすることで充填率を変えること
も可能である。
膜を最外層として1層だけにしたが、液晶層210側の
数層を緻密な膜としても同様の効果を得ることができ
る。
TiO2 、低屈折率物質としてSiO2 を用いたが、こ
れに限定するものではなく、例えば高屈折率物質とし
て、CeF3 、Al2 O3 、MgO、HfO2 、Si3
N4 、ZrO2 、Sb2 O3 、Ta2 O5 、CeO2 等
でも良く、低屈折率物質として、BaF2 、NaF、M
gF2 、AlF3 、CaF2 、SrF2 等でも良い。
07の成膜方法としてIAD法を用いたが、イオンプレ
ーティング法、ECRイオンアシスト法を使用しても良
い。
ついて図7および図8に基づいて説明すれば、以下の通
りである。
イトバルブ300は、表面に透明電極304、配向膜3
09を順に設けた透明基板302と、表面に透明電極3
03、光導電体層305、遮光層306、誘電体ミラー
層307、配向膜308を順に設けた透明基板301と
の間に液晶層310を挟持した構造となっている。
ための書き込み光313が入射される一方、上記透明基
板302には、液晶層310に形成された画像を読み出
すための読み出し光314が入射されるようになってい
る。
の不必要な反射を防止するための反射防止膜311・3
12が形成されている。尚、透明基板301においても
必要に応じて反射防止膜が形成される。
0の製造方法について以下に説明する。
電膜からなる透明電極303がスパッタ法を用いて形成
され、その上に、硫化カドミウム(CdS)からなる光
導電体層305が形成されている。このCdSからなる
光導電体層305は、マグネトロンスパッタ法を用い、
CdSのスパッタターゲットを使って作成する。この光
導電体層305の膜厚は9μmである。
ドミウム(CdTe)の半導体超微粒子をSiO2 中に
分散させた半導体超微粒子分散ガラスからなる遮光層3
06を形成する。
層307を形成する。誘電体ミラー層307は、光学膜
厚がλ/4の低屈折率物質の膜と、高屈折率物質の膜と
を交互に積層して10層の多層構造とした。低屈折率物
質にはSiO2 、高屈折率物質には酸化インジウム(I
n2 O3 )を用いた。誘電体ミラー層307の形成には
スパッタリング法を使用した。In2 O3 は、酸化物半
導体で透明であるため、一般に、SnをドープしてIT
Oと呼ばれる透明導電膜として使用される。
が低すぎると、印加された電圧が誘電体ミラー層307
で面方向に拡がり、液晶ライトバルブ300の解像度が
低下する。解像度を低下させないためには、In2 O3
の導電率σを、上限が1×10-7S/cm、下限が絶縁
体の導電率である1×10-14 S/cmとなる範囲、即
ち1×10-14 <σ≦1×10-7S/cmの範囲にする
必要があり、作成法を調節することで低インピーダンス
な高抵抗率の膜を作成することができる。尚、液晶ライ
トバルブ300の解像度と誘電体ミラー層307のイン
ピーダンスを適正なものにするためには、上記のIn2
O3 の導電率σを1×10-9≦σ≦1×10-7S/cm
の範囲にすることが好ましい。
条件を見出し、このITOを誘電体ミラー層307の高
屈折率層として用いた。成膜条件としては、基板温度は
室温、蒸着レートを20Å/sで、スパッタガスとして
Arだけを導入し、作成した。ITO成膜後のアニール
は行わなかった。これによって、導電率1×10-8Ω-1
cm-1の膜を形成できた。SiO2 の蒸着レートは30
Å/sで行い、充填率0.9以上の膜を形成した。
した透明基板301と対向基板302に配向膜308・
309をポリイミドの印刷法により形成した。その後、
配向膜308・309をラビング処理して、2枚の基板
301・302から製造された両基板部を構成し、両基
板部を配向膜308・309が対向するように対向させ
てスペーサ(図示せず)を介して貼り合わせ、その配向
膜308・309の間に液晶を注入して液晶層310と
した。
使用して交互に積層して形成した、比較例としての誘電
体ミラー層と、本実施例の誘電体ミラー層307との光
学特性の経時変化とインピーダンスの経時変化を比較し
た結果を表3に示す。
に10日間放置した結果がそれぞれ示されている。ま
た、光学特性の変化は図8に示す誘電体ミラーの反射率
分光特性が90%以上の帯域の中心の波長の変化を表し
ている。インピーダンスは誘電体ミラー層の面積が1c
m2 の時の600Hzでの値である。下落率はインピー
ダンス変化量を示す指数であり、前述した実施例1と同
様である。
た膜は、EB蒸着膜に比べて充填率を高くできるため、
膜質を緻密にすることができ、この結果、水分吸収によ
る誘電体ミラー層の光学特性の変化とインピーダンスの
変化が大幅に減少することが分かった。
は、比較例の誘電体ミラー層より低インピーダンスであ
ることが分かった。
動時に誘電体ミラー層307にかかる電圧が減少し、光
導電体層305での光照射時と光無照射時のインピーダ
ンス変化による液晶層310での電圧変化が大きくな
り、光感度とコントラストが向上した。また、液晶ライ
トバルブ300の駆動電圧も小さくなった。さらに、誘
電体ミラー層307に吸収された水分による液晶の信頼
性の低下を防ぐことができ、光学特性とインピーダンス
が安定し、製品間のばらつきが少なくなるため、液晶ラ
イトバルブ300の品質が安定し、歩留まりが高くなっ
た。
に、In2 O3 を用いたが、これに限定するものではな
く、例えば酸化カドミウム(CdO)、酸化亜鉛(Zn
O)、SnO2 等他の酸化物半導体を使用しても良い。
ついて図9および図10に基づいて説明すれば、以下の
通りである。
イトバルブ400は、表面に透明電極404、配向膜4
09を順に設けた透明基板402と、表面に透明電極4
03、光導電体層405、遮光層406、誘電体ミラー
層407、配向膜408を順に設けた透明基板401と
の間に液晶層410を挟持した構造となっている。
ための書き込み光413が入射される一方、上記透明基
板402には、液晶層410に形成された画像を読み出
すための読み出し光414が入射されるようになってい
る。
の不必要な反射を防止するための反射防止膜411・4
12が形成されている。尚、透明基板401においても
必要に応じて反射防止膜が形成される。
0の製造方法について以下に説明する。
透明導電膜とSnO2 透明導電膜からなる透明電極40
3をスパッタ法を用いて形成し、その上に、非晶質水素
化炭化ケイ素(a−SiC:H)からなる光導電体層4
05を形成する。このa−SiC:Hからなる光導電体
層405は、SiH4 、H2 、メタンガス(CH4 )を
原料としてプラズマCVD法を用い、作成する。この光
導電体層405の膜厚は8μmである。
らなる遮光層406を形成する。次に、本実施例の誘電
体ミラー層407を遮光層406上に形成する。
4の低屈折率物質の膜と高屈折率物質の膜を交互に24
層積層したものである。低屈折率物質にはSiO2 、高
屈折率物質にはTiO2 に微少量の金(Au)を含んだ
ものを用いた。誘電体ミラー層407の形成は、スパッ
タ法を用いた。高屈折率層の作成には、TiO2 上にA
uのチップを載せたものをターゲットとし、低屈折率層
の作成には、SiO2ターゲットを用い、スパッタリン
グガスにAr、基板温度200℃でスパッタリングを行
った。蒸着レートは、高屈折率層と低屈折率層で、それ
ぞれ20Å/sと30Å/sで行い、充填率0.9以上
の膜を形成した。
した透明基板401と対向基板402に配向膜408・
409をポリイミドの印刷法により形成した。その後、
配向膜408・409をラビング処理して、2枚の基板
401・402から製造された両基板部を構成し、両基
板部を配向膜408・409が対向するように対向させ
てスペーサ(図示せず)を介して貼り合わせ、その配向
膜408・409の間に液晶を注入して液晶層410と
した。
て形成した誘電体ミラー層の場合と本実施例の誘電体ミ
ラー層407との光学特性の変化とインピーダンスの変
化を比較したものを表4に示す。
と大気中に10日間放置した結果が示されている。ま
た、光学特性の変化は図10に示す誘電体ミラーの反射
率分光特性が90%以上の帯域の中心の波長の変化を表
している。インピーダンスは誘電体ミラー層の面積が1
cm2 の時の600Hzでの値である。下落率は、イン
ピーダンス変化量を示す指数であり、前述した実施例1
と同様である。
した膜はEB蒸着膜に比べて充填率が高くできるため、
膜質を緻密にすることができ、この結果、水分吸収によ
る誘電体ミラー層407の光学特性の変化とインピーダ
ンスの変化が大幅に減少することが分かった。
は、比較例の誘電体ミラー層より低インピーダンスであ
ることが分かった。その理由は、高屈折率層の誘電体中
に微少量の金属を分散させることで導電率を比較例の誘
電体ミラー層より高くすることができ、この結果、イン
ピーダンスの抵抗成分が小さくなるためである。
かかる電圧が減少し、光導電体層405での光照射時と
光無照射時のインピーダンス変化による液晶層410で
の電圧変化が大きくなり、光感度とコントラストが向上
した。液晶ライトバルブ400の駆動電圧も小さくなっ
た。
た水分による液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光
学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばらつきが
少なくなるため、液晶ライトバルブ400の品質が安定
し、歩留まりが高くなった。
の高屈折率層に金属を分散させたが、低屈折率層にも適
用できる。また、金属としてAuを用いたが、これに限
定するものではなく、例えばニッケル(Ni)、銅(C
u)、銀(Ag)、白金(Pt)等、他の金属を使用し
ても良い。
ついて図11および図12に基づいて説明すれば、以下
の通りである。
ライトバルブ500は、表面に透明電極504、配向膜
509を順に設けた透明基板502と、表面に透明電極
503、光導電体層505、遮光層506、誘電体ミラ
ー層507、配向膜508を順に設けた透明基板501
との間に液晶層510を挟持した構造となっている。
ための書き込み光513が入射される一方、上記透明基
板502には、液晶層510に形成された画像を読み出
すための読み出し光514が入射されるようになってい
る。
の不必要な反射を防止するための反射防止膜511・5
12が形成されている。尚、透明基板501においても
必要に応じて反射防止膜が形成される。
0の製造方法について以下に説明する。
電膜からなる透明電極503がスパッタ法を用いて形成
され、その上に、非晶質水素化窒化ケイ素(a−Si
N:H)からなる光導電体層505が形成される。この
a−SiN:Hからなる光導電体層505は、Si
H4 、H2 、アンモニアガス(NH3 )を原料としてプ
ラズマCVD法を用い、作成する。この光導電体層50
5の膜厚は5μmである。さらに、光導電体層505上
にCdTeからなる遮光層506を形成する。
ー層507を形成する。誘電体ミラー層507は、光学
膜厚としてλ/4(=nd)の低屈折率物質の膜と高屈
折率物質の膜とを交互に積層して16層の多層構造とし
た。低屈折率物質にはSiO2 、高屈折率物質にはTi
O2 に強誘電体であるメタチタン酸鉛(PbTiO3)
を少量含んだものを用いて、スパッタ法により形成し
た。このとき、高屈折率層は、TiO2 とPbTiO3
とを100:1で混合して焼結させた混合ターゲットを
用い、低屈折率層は、SiO2 ターゲットを用い、スパ
ッタリングガスにはArを使用し、基板温度を200℃
に設定してスパッタリングを行った。蒸着レートは、高
屈折率層と低屈折率層で、それぞれ20Å/sと30Å
/sで行い、充填率0.9以上の膜を形成した。
明基板501と対向基板502に配向膜508・509
をポリイミドの印刷法により形成した。その後、配向膜
508・509をラビング処理して、2枚の基板50
1、502から製造された両基板部を構成し、両基板部
を配向膜508・509が対向するように対向させてス
ペーサ(図示せず)を介して貼り合わせ、その配向膜5
08・509の間に液晶を注入して液晶層510とし
た。
をEB装置を使用して形成した比較例としての誘電体ミ
ラー層と本実施例の誘電体ミラー層507との光学特性
の経時変化とインピーダンスの経時変化を比較した結果
を表5に示す。
中に10日間放置した結果がそれぞれ示されている。ま
た、光学特性の変化は図12に示す誘電体ミラーの反射
率分光特性が90%以上の帯域の中心の波長の変化を表
している。インピーダンスは誘電体ミラー層507の面
積が1cm2 の時の600Hzでの値である。スパッタ
法によって形成した膜は、EB蒸着膜に比べて充填率が
高くできるため、膜質を緻密にすることができ、この結
果、水分吸収による誘電体ミラー層507の光学特性の
変化とインピーダンスの変化が大幅に減少することが分
かった。
例の誘電体ミラー層よりも低インピーダンスとなること
が分かった。その理由は、高屈折率層の誘電体中に微量
の強誘電体を分散させることで誘電率を比較例の誘電体
ミラー層よりも高くすることができ、この結果、インピ
ーダンスの容量成分が大きくなるためである。
ルブの駆動時には、誘電体ミラー層507にかかる電圧
が減少し、光導電体層505での光照射時と光無照射時
のインピーダンス変化による液晶層510での電圧変化
が大きくなり、光感度とコントラストが向上した。ま
た、液晶ライトバルブの駆動電圧も小さくなった。
た水分による液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光
学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばらつきが
少なくなるため、液晶ライトバルブの品質が安定し、歩
留まりが高くなった。
を分散させたが、低屈折率層にも適用できる。また、強
誘電体としてPbTiO3 を用いたが、これに限定する
ものではなく、例えばチタン酸バリウム(BaTi
O3 )、チタン酸ストロンチウム(SrTiO3 )等他
の強誘電体を使用しても良い。
7の誘電体物質中に強誘電体物質を混ぜたが、強誘電体
物質に加えて、金属物質または半導体物質を混合して使
用しても良い。
ついて図13および図14に基づいて説明すれば、以下
の通りである。
ライトバルブ600は、表面に透明電極604、配向膜
609を順に設けた透明基板602と、表面に透明電極
603、光導電体層605、遮光層606、誘電体ミラ
ー層607、配向膜608を順に設けた透明基板601
との間に液晶層610を挟持した構造となっている。
ための書き込み光613が入射される一方、上記透明基
板602には、液晶層610に形成された画像を読み出
すための読み出し光614が入射されるようになってい
る。
の不必要な反射を防止するための反射防止膜611・6
12が形成されている。尚、透明基板601においても
必要に応じて反射防止膜が形成される。
0の製造方法について以下に説明する。
O透明導電膜からなる透明電極603がスパッタ法を用
いて形成され、その上に、CdSからなる光導電体層6
05が形成されている。このCdSからなる光導電体層
605は、マグネトロンスパッタ法を用い、CdSのス
ッパッタターゲットを使って作成する。この光導電体層
605の膜厚は9μmである。
の半導体超微粒子をSiO2 中に分散させた半導体超微
粒子分散ガラスからなる遮光層606を形成する。
607を形成する。誘電体ミラー層607は、光学膜厚
としてλ/4の低屈折率物質の膜と高屈折率物質の膜と
を交互に18層積層した構造となっている。低屈折率物
質にはSiO2 、高屈折率物質にはSnO2 とTa2 O
5 を用いた。誘電体ミラー層607の形成にはスパッタ
リング法を使用した。SnO2 は、酸化物半導体で誘電
体よりも低抵抗である。
2 を、屈折率が同じで誘電体であるTa2 O5 と同時
に、蒸着レートを22Å/sでスパッタすることで、T
a2 O5 より低インピーダンスとなる高屈折率物質膜と
し、SiO2 を、蒸着レートを30Å/sでスパッタす
ることで、充填率0.9以上の低屈折率物質膜として形
成される。
した透明基板601と対向基板602に配向膜608・
609をポリイミドの印刷法により形成した。その後、
配向膜608・609をラビング処理して、2枚の基板
601・602から製造された両基板部を構成し、両基
板部を配向膜608・609が対向するように対向させ
てスペーサ(図示せず)を介して貼り合わせ、その配向
膜608・609の間に液晶を注入して液晶層610と
した。
をEB装置を使用して形成した比較例としての誘電体ミ
ラー層と本実施例の誘電体ミラー層607との光学特性
の変化とインピーダンスの変化を比較したものを表6に
示す。
に10日間放置した結果がそれぞれ示されている。光学
特性の変化は図14に示す誘電体ミラーの反射率分光特
性が90%以上の帯域の中心の波長の変化を表してい
る。インピーダンスは誘電体ミラーの面積が1cm2 の
時の600Hzでの値である。
た膜はEB蒸着膜に比べて充填率が高くできるため、膜
質を緻密にすることができ、この結果、水分吸収による
誘電体ミラー層の光学特性の変化とインピーダンスの変
化が大幅に減少することが分かった。
が比較例の誘電体ミラー層より低インピーダンスである
ことが分かった。その理由は、高屈折率層の誘電体中に
酸化物半導体を混入させることで、導電率を比較例の誘
電体ミラー層よりも高くすることができ、この結果、イ
ンピーダンスの抵抗成分が小さくなるためである。
に誘電体ミラー層607にかかる電圧が減少し、光導電
体層605での光照射時と光無照射時のインピーダンス
変化による液晶層610での電圧変化が大きくなり、光
感度とコントラストが向上した。液晶ライトバルブ60
0の駆動電圧も小さくなった。
る水分による液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光
学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばらつきが
少なくなるため、液晶ライトバルブの品質が安定し、歩
留まりが高くなった。
の低屈折率物質としてSnO2 を用いたが、これに限定
するものでなく、例えばCdO、ZnO、In2 O
3 等、他の酸化物半導体を使用しても良い。
7の誘電体物質中に半導体物質を混ぜたが、半導体物質
に加えて、金属物質または強誘電体物質または金属物質
と強誘電体物質を混合して使用しても良い。
を、液晶層側の少なくとも1層に充填率の高い膜を使
い、その他の層に対して充填率の低い膜を使用して形成
する事で、従来に比べて、インピーダンスが低く、かつ
水分吸収による光学特性とインピーダンス特性の経時変
化が少ない誘電体ミラー層を作成できることが分かっ
た。
酸化物半導体を用いる誘電体ミラー層又は、誘電物質中
に導電性物質または半導電性物質または強誘電性物質又
はこれらの混合物を含む誘電体ミラー層を用いる事で、
従来に比べて、インピーダンスが低く、かつ経時変化の
少ない誘電体ミラー層を作成できることが分かった。
尚、液晶ライトバルブの解像度と誘電体ミラー層のイン
ピーダンスを適正なものにするためには、上記の酸化物
半導体の導電率σを1×10-9≦σ≦1×10-7S/c
mの範囲にすることが好ましい。
を、液晶ライトバルブに適用すると、光感度とコントラ
ストが向上し、駆動電圧が低い液晶ライトバルブを提供
することができる。さらに、誘電体ミラー層に吸収され
た水分による液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光
学特性とインピーダンスが安定し、製品間のばらつきが
少ない液晶ライトバルブを提供することができる。
以上のように、透明電極を有する一対の透明基板の一方
の透明電極上に、少なくとも光導電体層、遮光層、及び
複数の誘電体膜で積層された誘電体ミラー層が形成さ
れ、両透明基板を互いの透明電極が対向するように配置
し、この透明基板間に液晶を挟持してなる液晶ライトバ
ルブにおいて、上記誘電体ミラー層は、液晶層側の少な
くとも1層の誘電体膜からなる高充填率部と、この高充
填率部を構成する誘電体膜以外の誘電体膜からなり、か
つ高充填率部よりも充填率が低くなるように形成された
低充填率部とからなる構成である。
コントラストとを向上させ、駆動電圧を低くすることが
できる。また、誘電体ミラー層に吸収された水分による
液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光学特性とイン
ピーダンスが安定し、製品間のばらつきが少なくなるた
め、液晶ライトバルブの品質が安定し、歩留まりを高く
することができる。
を向上させると共に、製造効率を向上させることができ
るという効果を奏する。
上のように、請求項1記載の液晶ライトバルブにおい
て、液晶層側に最も近い1層の誘電体膜からなる高充填
率部の充填率は、0.9以上かつ1.0以下である構成
である。
コントラストとを向上させ、駆動電圧を低くすることが
できる。また、誘電体ミラー層に吸収された水分による
液晶の信頼性の低下を防ぐことができ、光学特性とイン
ピーダンスが安定し、製品間のばらつきが少なくなるた
め、液晶ライトバルブの品質が安定し、歩留まりを高く
することができる。
を向上させると共に、製造効率を向上させることができ
るという効果を奏する。
上のように、請求項1又は2記載の液晶ライトバルブに
おいて、誘電体ミラー層の誘電物質中に、導電性物質ま
たは半導電性物質または強誘電性物質またはこれらの混
合物が含まれている構成である。
コントラストとを向上させ、駆動電圧を低くすることが
できる。
安定し、製品間のばらつきが少なくなるため、液晶ライ
トバルブの品質が安定し、歩留まりを高くすることがで
きるという効果を奏する。
上のように、請求項1、2又は3記載の液晶ライトバル
ブにおいて、誘電体ミラー層は、導電率σが0<σ≦1
×10 -7 S/cmの酸化物半導体により形成されている
構成である。
コントラストとを向上させ、駆動電圧を低くすることが
できる。したがって、光学特性とインピーダンスが安定
し、製品間のばらつきが少なくなるため、液晶ライトバ
ルブの品質が安定し、歩留まりを高くすることができる
という効果を奏する。
成断面図である。
晶表示装置の概略構成図である。
体ミラー層の反射率を示すグラフである。
構成断面図である。
体ミラー層の製造方法を示す説明図である。
体ミラー層の反射率を示すグラフである。
の概略構成断面図である。
体ミラー層の反射率を示すグラフである。
の概略構成断面図である。
電体ミラー層の反射率を示すグラフである。
ブの概略構成断面図である。
誘電体ミラー層の反射率を示すグラフである。
ブの概略構成断面図である。
誘電体ミラー層の反射率を示すグラフである。
ある。
である。
Claims (4)
- 【請求項1】透明電極を有する一対の透明基板の一方の
透明電極上に、少なくとも光導電体層、遮光層、及び複
数の誘電体膜で積層された誘電体ミラー層が形成され、
両透明基板を互いの透明電極が対向するように配置し、
この透明基板間に液晶を挟持してなる液晶ライトバルブ
において、 上記誘電体ミラー層は、液晶層側の少なくとも1層の誘
電体膜からなる高充填率部と、この高充填率部を構成す
る誘電体膜以外の誘電体膜からなり、かつ高充填率部よ
りも充填率が低くなるように形成された低充填率部とか
らなることを特徴とする液晶ライトバルブ。 - 【請求項2】液晶層側に最も近い1層の誘電体膜からな
る高充填率部の充填率は、0.9以上かつ1.0以下で
あることを特徴とする請求項1記載の液晶ライトバル
ブ。 - 【請求項3】誘電体ミラー層の誘電物質中に、導電性物
質、半導電性物質、強誘電性物質、もしくはこれらの混
合物が含まれていることを特徴とする請求項1又は2記
載の液晶ライトバルブ。 - 【請求項4】誘電体ミラー層は、導電率σが0<σ≦1
×10 -7 S/cmの酸化物半導体により形成されている
ことを特徴とする請求項1、2又は3記載の液晶ライト
バルブ。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06207215A JP3102995B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | 液晶ライトバルブ |
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ID=16536153
Family Applications (1)
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1995
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