JP3668268B2 - 炭化水素流れの浄化方法 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の背景】
ブチルゴムの製造は、イソブチレンとイソプレンの混合物を塩化メチルの中で重合させることを伴っている。その反応槽から出て来る生成物はフラッシュタンクに送られ、そこでは、この生成物と熱水および蒸気とが接触してその塩化メチルと未反応のイソブチレンおよびイソプレンの気化が生じ、ここで、これらを全て乾燥装置に通したあと蒸留を受けさせることによって再利用する。この工程を行っている間、第三ブチルクロライドがいくらか生じ、これが、その蒸留段階から出て来るイソプレンと一緒に残存する。この再利用されたイソプレンは第三ブチルクロライドを若干含んでいることから、これを重合工程で再使用するのは不可能であると共に、この第三ブチルクロライドが存在していることが理由でそれの処分を行うのも困難である。
【0002】
炭化水素からハロゲン化有機化合物を除去する技術は多数知られているが、今までのところ、そのイソプレンを重合過程で再使用可能なようにそのイソプレンから第三ブチルクロライドを除去するにおいて技術的および経済的に満足される操作は1つも存在していない。Chemical Abstract、第30巻、25477には、n−ブチルクロライドを酸化カルシウムと一緒に加熱するとブテンが生じることが記述されている。この温度は最初275から285℃であるが、塩化カルシウムがいくらか生じた時点で、この温度を225℃に下げることができる。Chemical Abstract、第29巻、28743には、式Cn2n+1Clで表される化合物を酸化アルミニウム、酸化トリウムおよび塩化カルシウムの如き触媒の存在下で加熱すると、炭化水素であるCn2nと塩化水素が生じることが示されている。米国特許第2 920 122号には、カルシウムゼオライトAの床に第三ブチルクロライドを添加し、これをその後密封して一晩放置し、続いて、過剰の第三ブチルクロライドを除去したあと加熱することでイソブチレンを回収することが記述されている。Chemical Abstract、第51巻、15547eには、ハロゲン化炭化水素の中に浸漬されている加熱用素子を用いこれを800から1100℃に維持すると塩化水素の除去が生じることが記述されており、そして第三ブチルクロライドがイソブチレンに変化する変換率は87%であることが示されている。米国特許第4 921924号には、オレフィンモノマー混合物とアルミナとを接触させることによってこのモノマー混合物から第三ブチルクロライドを除去することが記述されている。米国特許第3 864 243号には、有機的に結合している塩素を含んでいる炭化水素を高表面積の多孔質アルミナに通すことでその化学的に結合している塩素をそのアルミナ上に吸着させることによる処理が教示されている。
【0003】
【発明の要約】
不純物として第三ブチルクロライドを含んでいる不飽和モノ−およびジ−オレフィン系炭化水素を、3族または4族化合物を少量含んでいる粒子状酸化カルシウムの上に、約130から約170℃の温度で通すことによって、それが浄化されることを見い出した。
【0004】
従って、本発明は、不飽和モノ−もしくはジ−オレフィン系炭化水素流れの中に含まれている臭化もしくは塩化炭化水素から臭素または塩素を除去する方法であり、これは、約130から約170℃の温度に維持されている、3族または4族化合物を1モル%以上から10モル%以下(酸化カルシウムを基準)の量で含んでいる粒子状酸化カルシウムに、上記炭化水素流れを接触させ、そして低下したレベルで臭化もしくは塩化炭化水素を含んでいる上記炭化水素流れを回収することによるものである。
【0005】
【詳細な記述】
炭化水素流れの中に第三ブチルクロライドが存在していると、上記流れを更に使用するか或は処分するにとって有害となり得る。特定の産業工程、例えばポリブテン類の製造などでは、C4オレフィン類、即ちブテン−1、ブテン−2、イソブチレンまたはそれらの混合物が入っている炭化水素流れが塩化ブチル類で汚染される可能性がある。ペンタジエンを他の炭化水素から分離する工程を含む他の産業工程では、ペンタジエン、即ち1,3−ペンタジエン、1,4−ペンタジエンまたはそれらの混合物が入っている炭化水素流れが塩化炭化水素で汚染される可能性がある。ブチルゴムの製造では、イソプレンが入っている炭化水素流れが第三ブチルクロライドを含む臭化もしくは塩化炭化水素で汚染される可能性がある。従って、このようなモノ−もしくはジ−オレフィン系炭化水素流れはそのような臭化もしくは塩化炭化水素を1種以上含んでいる可能性がある。上記炭化水素流れの中に入っている第三ブチルクロライドを含む臭化もしくは塩化炭化水素のレベルは、通常、この炭化水素と臭化もしくは塩化炭化水素の全重量を基準にして約50,000ppm(100万部当たりの部数)以下である。この臭化もしくは塩化炭化水素濃度を約1000ppm重量未満、好適には約250ppm重量未満、最も好適には約50ppm重量未満にまで下げるのが望ましい。
【0006】
この臭化もしくは塩化炭化水素が入っている炭化水素流れを、液相もしくは気相内で、3族もしくは4族化合物が入っている粒状形態の酸化カルシウムと接触させる。この酸化カルシウムの平均粒子サイズがその反応条件に影響を与え得るが、一般に、この酸化カルシウムは約5mm以下の平均粒子サイズを有しており、好適には約0.2から約5mm、最も好適には約0.3mmから約2mmの平均粒子サイズを有している。該3族または4族化合物は、好適には、アルミニウム、セリウム、ケイ素、チタンおよびジルコニウム化合物そしてアルミニウムとシリカの両方を含んでいる化合物から選択される。この3族または4族化合物を含んでいる酸化カルシウムは、粒子状形態の所望3族もしくは4族化合物と粒子状酸化カルシウムとを混合することによって製造されるか、或はスラリー化剤、例えばエタノールなどの中に入っている粒子状酸化カルシウムと、またスラリー化剤または溶媒、例えばエタノールなどに入っている3族または4族化合物とを乾燥混合しそして混合後そのスラリー化剤またはスラリー化剤類を蒸発させることなどでそれらを除去することを経由して、その3族または4族化合物が入っている酸化カルシウムを製造することができる。その得られる生成物を例えば約600から約800℃で約3から約8時間焼成してもよい。適切な3族または4族化合物の例には、粒子状の化合物を乾燥混合する場合、酸化アルミニウム、酸化セリウム、ケイ酸アルミニウム、酸化ケイ素、二酸化チタンおよび二酸化ジルコニウムが含まれ、そしてスラリー混合する場合、硝酸セリウム、ジルコニウムおよびチタンのアルコキサイド類、例えばチタンのテトラエトキサイドおよびジルコニウムのテトラブトキサイドなどが含まれる。この酸化カルシウム−3族もしくは4族化合物の焼成を行う場合、この3族もしくは4族化合物の性質が変化して相当する酸化物を生じる可能性があるか、或はそのカルシウムとの共化合物、例えばカルシウムチタネートなどを生じる可能性がある。この3族もしくは4族化合物は、その酸化カルシウム内に、酸化物として計算した場合その酸化カルシウムを基準にして1モル%以上から10モル%以下の量、好適には約1.5から約3モル%の量で存在している。好適な3族もしくは4族化合物は、アルミニウム、ケイ素、アルミニウム−ケイ素、チタンまたはジルコニウムを含んでいる。この粒子状の酸化カルシウムは、受け取ったまま用いられ得るか、或はこれに例えば90から120℃の加熱段階を短期間受けさせてもよい。一般に、この酸化カルシウムは受け取ったまま使用可能であることを確認した。同様に、その3族もしくは4族化合物が入っている酸化カルシウムも混合したまま使用可能であるか、或はこれに、上に記述した如き加熱段階を受けさせてもよいが、一般に、この材料も混合したまま使用可能であることを確認した。
【0007】
この3族もしくは4族化合物が入っている酸化カルシウムは固定床の形態で使用可能であり、これの上にか或はこれを貫通させて、その炭化水素流れを通すことができる。また、これは流動床の形態で使用可能であり、これを通してその炭化水素流れを送り込むことができる。この床に炭化水素流れを供給する方法は決定的でなく、これは液体としてか或は好適には蒸気として供給可能であり、これは好適には、その炭化水素流れを蒸気としてこの床に接触させるようにこれを予備加熱装置に通すことによって達成される。また、これを液体として供給して、この床の上で気化させることも可能である。この系内の圧力は、大気圧から約5気圧に及ぶ圧力、好適には大気圧または大気圧に近い圧力である。
【0008】
この3族もしくは4族化合物が入っている酸化カルシウムの床にその臭化もしくは塩化炭化水素が入っている流れを接触させる温度は、約130から約170℃、好適には約135から約155℃である。その臭素または塩素を除去するに充分な時間、この床にその流れを接触させる。一般に、この床の上を流れるその流れの空間速度(時-1)でその接触を記述することができる。適切な空間速度は、一般的指針として500から約7000時-1の範囲内であってもよく、これは容易に、その流れ内の臭化もしくは塩化炭化水素濃度、この床の温度および粒子サイズなどに応じて確立され得る。
【0009】
この3族もしくは4族化合物が入っている酸化カルシウム床の数は決定的でない。この床は1つであるか、或は床が2つ以上存在していてもよい。
【0010】
この炭化水素流れ内の臭化もしくは塩化炭化水素濃度は、よく知られている分析方法、例えばガスクロまたはガスクロと質量分光法との組み合わせなどによって測定され得る。
【0011】
好適な方法は、ブチル工程から出て来るイソプレンの中に入っている第三ブチルクロライドから塩素を除去する方法である。
【0012】
低下したレベルで臭化もしくは塩化炭化水素を含んでいる、この工程から出て来る炭化水素流れは、その気体を凝縮させて液体状態にするための冷却または圧縮と冷却を含むよく知られている方法で回収可能であり、そしてこれにさらなる精製、例えば存在し得る他の何らかの不純物を除去することが望まれている場合特に蒸留などを受けさせてもよい。
【0013】
以下の実施例は本発明を説明するものであり、本発明の範囲を限定するものではない。
【0014】
【実施例】
実施例1
長さが94cmで直径が1.8cmの鋼管を反応槽として用いた。炭化水素流れを液体としてこの反応槽の中に供給する速度を調節する手段、加熱すると共に温度を測定する手段、圧力解放弁、そしてその処理した炭化水素流れを気体形態でこの反応槽から取り出して冷却コイル(これは氷/塩混合物またはドライアイスに浸漬されている)に通すことでこの処理炭化水素を集める手段を、上記鋼管に取り付ける。その炭化水素流れを通す床として、約150から180gの酸化カルシウムをこの反応槽の中に入れた。ガスクロ単独を用いるか或は質量分光法と組み合わせて、その炭化水素流れの分析を行った。1/4x10メッシュ、即ち平均粒子サイズが約4.8mmである酸化カルシウム(CaO I)を用いるか、或は10メッシュ、即ち平均粒子サイズが約0.6mmである酸化カルシウム(CaO II)を用いた。炭化水素流れはイソプレンであり、これは、このイソプレンと第三ブチルクロライドの重量を基準にして約12,600ppm重量の量で第三ブチルクロライドを含んでいた。表1に示す結果(ここで、コラム5のtbcは第三ブチルクロライドを意味している)は、1/4x10メッシュの酸化カルシウム(CaO I)を用いると90℃の温度では第三ブチルクロライド量低下がほとんど生じないが140から160℃の温度では第三ブチルクロライド量低下が生じることを示しており、そして10メッシュの酸化カルシウム(CaO II)を用いると132から146℃の範囲の温度で第三ブチルクロライド量の低下が生じることを示している。この一連の実験は対照であり、本発明の一部ではない。
【0015】
実施例2
実施例1に記述した装置を用い、第三ブチルクロライドが12,600ppm入っているイソプレンを、CaO IIでか或は3族もしくは4族化合物が2モル%入っている酸化カルシウム(CaO II)で処理した。酸化カルシウムと酸化第二鉄を粉末混合することによってCaO/Fe23を製造した。別のサンプルでは、酸化カルシウム(200g)を80から100mLのエタノールの中でスラリー化した後、ジルコニウムブトキサイド、硝酸セリウム、硝酸ランタンまたはチタンエトキサイドの1種が150mLのエタノールの中に入っている溶液と完全混合し、このエタノールを蒸発させた後、800℃の炉の中で6時間その生成物の焼成を行うことで、相当する金属酸化物が2モル%入っている酸化カルシウムを生じさせた。
【0016】
表2の結果は、CaO IIを用いると第三ブチルクロライド量が低下すること、Fe23を存在させるとその低下率は明らかに改良されるがその度合は有意でないこと、酸化セリウムまたは酸化ランタンを存在されるとその残存する第三ブチルクロライド量が更に低下すること、そして酸化ジルコニウムまたは酸化チタンを存在させるとさらなる低下が生じて、その残存する第三ブチルクロライドのレベルが有意に低くなることを示している。
【0017】
表2において、実験番号1、2および5は本発明の範囲外の対照である。実験番号3、4および6は本発明の範囲内であり、残存する第三ブチルクロライドの量が低くなることを示している。
【0018】
【表1】
Figure 0003668268
【0019】
【表2】
Figure 0003668268
【0020】
実施例3
予備加熱装置を加えて実施例1の装置を用いた。この予備加熱装置は長さが56cmで直径が1.8cmの鋼管であり、これに直径が0.5cmのステンレス鋼製ビードを充填し、そして実施例1の反応槽と同じ様式で装備を行った。これにより、その炭化水素流れを液体としてこの予備加熱装置に供給した後これを蒸気としてその反応槽に送り込んだ。この予備加熱装置および反応槽の両方とも同じ温度で運転した。使用した酸化カルシウムはCaO IIであり、乾燥粒子混合により3族もしくは4族化合物をこれに添加した。炭化水素流れはイソプレンであり、これは、イソプレンと第三ブチルクロライドを基準にして第三ブチルクロライドを20,570ppm重量の量で含んでいた。
【0021】
表3の結果は、対照(実験番号1および6)に比較して、残存する第三ブチルクロライドの量が低くなったことを示している。
【0022】
【表3】
Figure 0003668268
【0023】
本発明の特徴および態様は以下のとうりである。
【0024】
1. 不飽和モノ−もしくはジ−オレフィン系炭化水素流れの中に含まれている臭化もしくは塩化炭化水素から臭素または塩素を除去する方法において、約130から約170℃の温度に維持されている、3族または4族化合物を1モル%以上から10モル%以下(酸化カルシウムを基準)の量で含んでいる粒子状酸化カルシウムに、上記炭化水素流れを接触させ、そして低下したレベルで臭化もしくは塩化炭化水素を含んでいる上記炭化水素流れを回収することによる方法。
【0025】
2. 上記炭化水素流れがC4オレフィン類、イソプレンおよびペンタジエンから成る群から選択される第1項の方法。
【0026】
3. 上記炭化水素流れがイソプレンを含んでいる第1項の方法。
【0027】
4. 上記臭化もしくは塩化炭化水素が第三ブチルクロライドである第1項の方法。
【0028】
5. 該臭化もしくは塩化炭化水素濃度が該炭化水素と臭化もしくは塩化炭化水素の全重量を基準にして50,000ppm以下である第1項の方法。
【0029】
6. 該3族または4族化合物がアルミニウム、セリウム、ケイ素、アルミニウム−ケイ素、チタンおよびジルコニウム化合物から選択される第1項の方法。
【0030】
7. 該酸化カルシウムが約0.2mmから約5mmの平均粒子サイズを示す第6項の方法。
【0031】
8. 該臭化もしくは塩化炭化水素の低下したレベルが約1000ppm未満である第5項の方法。
【0032】
9. 該温度が約135から約155℃であり、該臭化もしくは塩化炭化水素が該イソプレンと第三ブチルクロライドの全重量を基準にして50,000ppm以下の濃度で存在している第三ブチルクロライドであり、そして該第三ブチルクロライドの低下したレベルが約1000ppm未満である第3項の方法。
【0033】
10. 該3族または4族化合物がアルミニウム、ケイ素、アルミニウム−ケイ素、チタンおよびジルコニウム化合物から選択される第9項の方法。

Claims (1)

  1. 不飽和モノ−もしくはジ−オレフィン系炭化水素流れの中に含まれている臭化もしくは塩化炭化水素から臭素または塩素を除去する方法において、130から170℃の温度に維持されている、アルミニウム、セリウム、ケイ素、アルミニウム−ケイ素、チタンおよびジルコニウム化合物から選択される化合物を1モル%以上から10モル%以下(酸化カルシウムを基準)の量で含んでいる粒子状酸化カルシウムに、上記炭化水素流れを接触させ、そして低下したレベルで臭化もしくは塩化炭化水素を含んでいる上記炭化水素流れを回収することによる方法。
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