JPH01100482A - 磁気ディスクの試験方法 - Google Patents
磁気ディスクの試験方法Info
- Publication number
- JPH01100482A JPH01100482A JP25763087A JP25763087A JPH01100482A JP H01100482 A JPH01100482 A JP H01100482A JP 25763087 A JP25763087 A JP 25763087A JP 25763087 A JP25763087 A JP 25763087A JP H01100482 A JPH01100482 A JP H01100482A
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- Japan
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- magnetic
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- abnormal
- normal
- magnetic disk
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
磁気ディスク装置に使用される磁気ディスクの試験方法
で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を検出する試
験方法に関し、 磁気ディスクの磁性膜に存在する磁気特性の異常部を明
確に検出することを目的とし、磁気ディスクを通常より
低速回転しながら通常の書込み電流で磁性膜に書込み、
その後、読取ってモジュレーションエラーチェックし、
磁気特性の異常部の有無を検出するように構成する。
で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を検出する試
験方法に関し、 磁気ディスクの磁性膜に存在する磁気特性の異常部を明
確に検出することを目的とし、磁気ディスクを通常より
低速回転しながら通常の書込み電流で磁性膜に書込み、
その後、読取ってモジュレーションエラーチェックし、
磁気特性の異常部の有無を検出するように構成する。
［産業上の利用分野］
本発明は、磁気ディスク装置に使用される磁気ディスク
の試験方法で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を
検出する試験方法に関する。
の試験方法で、特に磁性膜の磁気特性の異なる異常部を
検出する試験方法に関する。
磁気ディスクは一般に円板状の基板にスパッタリング等
により磁気材料の被膜を形勢したもので、この磁性膜に
ヘッドにより情報が直接磁化して書込まれる。従って、
磁性膜の成形状態は情報記憶に直接的に影響することに
なり、このため材料、成膜等の製造段階や製造後におい
て厳格に管理されている。ここで、製造後の製品管理と
して、磁気ディスクを実際に使用した状態での試験があ
る。
により磁気材料の被膜を形勢したもので、この磁性膜に
ヘッドにより情報が直接磁化して書込まれる。従って、
磁性膜の成形状態は情報記憶に直接的に影響することに
なり、このため材料、成膜等の製造段階や製造後におい
て厳格に管理されている。ここで、製造後の製品管理と
して、磁気ディスクを実際に使用した状態での試験があ
る。
そこで、従来比較的広範囲にわたる磁性膜の異常を調べ
るトラック試験としては、モジュレージョンエラー試験
がある。これは、所定の記録周波数を各トラックに記録
した後、トラック平均再生出力を測定し、一定のしきい
値を基準とする正、負のモジュレーションの発生から磁
性膜の異常を検出するものである。
るトラック試験としては、モジュレージョンエラー試験
がある。これは、所定の記録周波数を各トラックに記録
した後、トラック平均再生出力を測定し、一定のしきい
値を基準とする正、負のモジュレーションの発生から磁
性膜の異常を検出するものである。
〔発明が解決しようとする問題点］
一方、磁性膜の材料、成膜に関しては厳密に管理されて
いるが、磁気特性異常部の発生を完全に防ぐことはでき
ず、情報記憶に不都合な異常部の検出は最終的な試験で
検出する以外にない。不都合な異常部としては例えば保
磁力の小さい磁気特性を有する部分が考えられる。この
保磁力の小さな異常部においては、ピークシフトを起し
やすいために、予め検出することが望まれる。そして、
このような異常部を上述したモジュレーションエラー試
験により検出しようとした場合に、通常電流による書込
みでは、記憶再生にあたり正常部と同一の再生出力が得
られ、異常部の検出ができないことがある。
いるが、磁気特性異常部の発生を完全に防ぐことはでき
ず、情報記憶に不都合な異常部の検出は最終的な試験で
検出する以外にない。不都合な異常部としては例えば保
磁力の小さい磁気特性を有する部分が考えられる。この
保磁力の小さな異常部においては、ピークシフトを起し
やすいために、予め検出することが望まれる。そして、
このような異常部を上述したモジュレーションエラー試
験により検出しようとした場合に、通常電流による書込
みでは、記憶再生にあたり正常部と同一の再生出力が得
られ、異常部の検出ができないことがある。
本発明は、このような点に鑑み、磁気ディスクの磁性膜
に存在する磁気特性の異常部を明確に検出することが可
能な磁気ディスクの試験方法を提供することを目的とす
る。
に存在する磁気特性の異常部を明確に検出することが可
能な磁気ディスクの試験方法を提供することを目的とす
る。
そして本発明によれば上記目的は、磁気ディスクを通常
より低速回転しながら通常の書込み電流で磁性膜に書込
み、その後、読取ってモジュレーションエラーチェック
し、磁気特性の異常部の存無を検出とする磁気ディスク
の試験方法を提供することにより達成される。
より低速回転しながら通常の書込み電流で磁性膜に書込
み、その後、読取ってモジュレーションエラーチェック
し、磁気特性の異常部の存無を検出とする磁気ディスク
の試験方法を提供することにより達成される。
磁気ヘッドによる書込み電流と、再生時の出力電圧との
間には、一般に第２図に示すような関係があり、書込み
電流Ｉの増加に伴い、出力電圧Ｖも略リニアに増加し、
定常状態に達した後、−定範囲において定常状態を保ち
、その後、書込み電流の増加とともに、出力電圧が低下
するという挙動を示す。
間には、一般に第２図に示すような関係があり、書込み
電流Ｉの増加に伴い、出力電圧Ｖも略リニアに増加し、
定常状態に達した後、−定範囲において定常状態を保ち
、その後、書込み電流の増加とともに、出力電圧が低下
するという挙動を示す。
この時、保磁力の小さな異常部は、第２図において鎖線
で示されるように、実線で示される正常部に比較してよ
り早く定常状態に達し、定常状態を脱するが、通常、書
込み電流としては、定常状態に達した直後における電流
値■。が用いられているために、その電流値■。では、
いまだ定常状態にある異常部を検出することはできない
場合が発生する。しかし、定常状態を脱した以降の電流
（過飽和電流■ｌ）により書込みを行った場合には、正
常部と異常部との出力電圧Ｖ、 、Ｖ２に明確な差が認
められるために、この過飽和電流■１により書込みを行
い、記憶再生時の出力電圧Ｖ１、■２により異常部を検
出することは有効な検出手段と考えられる。
で示されるように、実線で示される正常部に比較してよ
り早く定常状態に達し、定常状態を脱するが、通常、書
込み電流としては、定常状態に達した直後における電流
値■。が用いられているために、その電流値■。では、
いまだ定常状態にある異常部を検出することはできない
場合が発生する。しかし、定常状態を脱した以降の電流
（過飽和電流■ｌ）により書込みを行った場合には、正
常部と異常部との出力電圧Ｖ、 、Ｖ２に明確な差が認
められるために、この過飽和電流■１により書込みを行
い、記憶再生時の出力電圧Ｖ１、■２により異常部を検
出することは有効な検出手段と考えられる。
一方、磁気ディスクの円板の回転数を低下させた状態で
書込みを行うと、磁気ヘッドの浮上量が減少し、ディス
クの磁性膜における磁界が強くなるために、通常の書込
み電流により書込みを行っても、上述した過飽和の書込
み電流による書込みと同様の効果が得られることとなる
。
書込みを行うと、磁気ヘッドの浮上量が減少し、ディス
クの磁性膜における磁界が強くなるために、通常の書込
み電流により書込みを行っても、上述した過飽和の書込
み電流による書込みと同様の効果が得られることとなる
。
本発明は、このような点に着目してなされたものであっ
て、磁気ディスクを低速回転させた状態で書込みを行う
ことにより、異常部と正常部との差別化が確実な過飽和
書込み電流により書込んだと同様の効果を発生させ、異
常部を検出するものである。
て、磁気ディスクを低速回転させた状態で書込みを行う
ことにより、異常部と正常部との差別化が確実な過飽和
書込み電流により書込んだと同様の効果を発生させ、異
常部を検出するものである。
〔実施例〕 ゛
以下、本発明の望ましい実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。
に説明する。
第１図において、本発明による磁気ディスクの試験方法
に使用される試験装置１０が示されており、円板２の表
面にガンマ酸化鉄等の磁性膜３を形成して構成される磁
気ディスク１には、書込み／読取り用ヘッド１１が近接
配置され、このヘッド１１にはコイル１２及びギャップ
１３が設けられている。上記コイル１２は書込み電流供
給回路１４及び読取りエンベロープ検出回路１５に接続
され、所定電流により磁気ディスクの磁性膜３に書込み
を行った後、その再生出力をエンベロープとして読み出
せるようになっている。
に使用される試験装置１０が示されており、円板２の表
面にガンマ酸化鉄等の磁性膜３を形成して構成される磁
気ディスク１には、書込み／読取り用ヘッド１１が近接
配置され、このヘッド１１にはコイル１２及びギャップ
１３が設けられている。上記コイル１２は書込み電流供
給回路１４及び読取りエンベロープ検出回路１５に接続
され、所定電流により磁気ディスクの磁性膜３に書込み
を行った後、その再生出力をエンベロープとして読み出
せるようになっている。
一方、磁気ディスク１の駆動回路１６には回転数制御回
路１７が接続され、磁気ディスク１の試験にあたって、
該磁気ディスク１の円板２を通常の回転数よりも低速で
回転させた状態での書込みあるいは読み出しができるよ
うにされている。
路１７が接続され、磁気ディスク１の試験にあたって、
該磁気ディスク１の円板２を通常の回転数よりも低速で
回転させた状態での書込みあるいは読み出しができるよ
うにされている。
従って、この試験装置１０を使用して磁気ディスク１を
試験するには、回転数制御回路１７により駆動回路１６
を介して磁気ディスク１を通常より低速回転させるとと
もに、供給回路１４によりヘッド１．１のコイルに通常
の書込み電流■。
試験するには、回転数制御回路１７により駆動回路１６
を介して磁気ディスク１を通常より低速回転させるとと
もに、供給回路１４によりヘッド１．１のコイルに通常
の書込み電流■。
を流して磁性膜３に書込みを行った後、その再生出力を
検出する。
検出する。
この時、磁気ディスク１が低速回転しているために、ヘ
ッド１１の浮上量は、通常状態に比較して少ないために
、磁性膜３における磁界が強まり、そのＩ−Ｖ線図は、
第３図（ａ）において実線で示すように、通常回転によ
るもの（第３図（ａ）における破線）より前方に移動す
るとともに、読取り時の円板２の周速も遅いことがら、
全体の出力レベルが低下した状態となる。
ッド１１の浮上量は、通常状態に比較して少ないために
、磁性膜３における磁界が強まり、そのＩ−Ｖ線図は、
第３図（ａ）において実線で示すように、通常回転によ
るもの（第３図（ａ）における破線）より前方に移動す
るとともに、読取り時の円板２の周速も遅いことがら、
全体の出力レベルが低下した状態となる。
また、第３図（ｂ）において鎖線で示すように、保磁力
Ｈｅ ’が正常部の保磁力Ｈｅよりも小さな異常部Ａの
Ｉ−Ｖ線図も第３図（ａ）において鎖線で示すように、
同様に出力レベルの低下を伴いながら前方にシフトする
こととなり、正常部の出力電圧■１と異常部Ａの出力電
圧ｖ２との間に大きな差が発生する。
Ｈｅ ’が正常部の保磁力Ｈｅよりも小さな異常部Ａの
Ｉ−Ｖ線図も第３図（ａ）において鎖線で示すように、
同様に出力レベルの低下を伴いながら前方にシフトする
こととなり、正常部の出力電圧■１と異常部Ａの出力電
圧ｖ２との間に大きな差が発生する。
この状態において、検出回路１５で読取りのエンベロー
プをとると、第４図に示すように全体的に出力電圧が低
下するとともに、異常部Ａにおいては、さらに低下する
ことがら、確実に異常部Ａを検出することができる。
プをとると、第４図に示すように全体的に出力電圧が低
下するとともに、異常部Ａにおいては、さらに低下する
ことがら、確実に異常部Ａを検出することができる。
なお、磁気ディスク１の回転数は、異常部Ａの磁気特性
に応じて可変にすれば、常に的確な検出を行い得る。
に応じて可変にすれば、常に的確な検出を行い得る。
以上述べてきたように、本発明によれば、磁気ディスク
の磁性膜における磁気特性の異常部の有無をチェックす
るので、ピークシフト等に伴うリードエラーを防ぐこと
ができ、品質が向上する。
の磁性膜における磁気特性の異常部の有無をチェックす
るので、ピークシフト等に伴うリードエラーを防ぐこと
ができ、品質が向上する。
磁気特性を利用し磁気ディスクを低速制御する方法であ
るから、試験が容易であり、検出精度も高く、磁気ディ
スクに与える悪影響が無い。
るから、試験が容易であり、検出精度も高く、磁気ディ
スクに与える悪影響が無い。
第１図は本発明の磁気ディスクの試験方法の 一実施例
を示す構成図、 第２図は書込電流と出力電圧との関係を示す説明図、 第３図（ａ）、（ｂ）は磁性膜の正常部と異常部の特性
図、 第４図は読取りエンベロープを示す図である。 図において、 １は磁気ディスク、 ３は磁性膜、 １０は試験装置、 １２はコイル、 １４は書込み電流供給回路、 １５は読取りエンベロープ検出回路、 １７は回転数制御回路、 Ａは異常部を示す。
を示す構成図、 第２図は書込電流と出力電圧との関係を示す説明図、 第３図（ａ）、（ｂ）は磁性膜の正常部と異常部の特性
図、 第４図は読取りエンベロープを示す図である。 図において、 １は磁気ディスク、 ３は磁性膜、 １０は試験装置、 １２はコイル、 １４は書込み電流供給回路、 １５は読取りエンベロープ検出回路、 １７は回転数制御回路、 Ａは異常部を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気ディスク（１）を通常より低速回転しながら通常の
書込み電流で磁性膜（３）に書込み、その後、読取って
モジュレーションエラー チェックし、磁気特性の異常部（Ａ）の有無を検出する
磁気ディスクの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25763087A JPH01100482A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | 磁気ディスクの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25763087A JPH01100482A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | 磁気ディスクの試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01100482A true JPH01100482A (ja) | 1989-04-18 |
Family
ID=17308914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25763087A Pending JPH01100482A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | 磁気ディスクの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01100482A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8174783B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-05-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Testing magnetic disk performance with a single slider simulating sliders of various disk drive systems |
-
1987
- 1987-10-13 JP JP25763087A patent/JPH01100482A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8174783B2 (en) | 2009-07-23 | 2012-05-08 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Testing magnetic disk performance with a single slider simulating sliders of various disk drive systems |
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