JPH01101610A - チップインダクタ - Google Patents
チップインダクタInfo
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- JPH01101610A JPH01101610A JP62259898A JP25989887A JPH01101610A JP H01101610 A JPH01101610 A JP H01101610A JP 62259898 A JP62259898 A JP 62259898A JP 25989887 A JP25989887 A JP 25989887A JP H01101610 A JPH01101610 A JP H01101610A
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- chip inductor
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- epoxy resin
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、ＩＭＨｚ以上の高周波で用いられるチップイ
ンダクタに関し、特にＴＶ、ビデオテープレコーダ等に
用いられるチップインダクタに関するものである。
ンダクタに関し、特にＴＶ、ビデオテープレコーダ等に
用いられるチップインダクタに関するものである。
（従来の技術）
このチップインダクタは、従来Ｎｉ −Ｚｎ系フェライ
トであって、Ｆｅ、０．４６〜ｂ １％、残りＮｉＯ及びＣｕＯの組成を有していた。そし
て、この組成のフェライトをドラム型コアに形成し、巻
線を施し、エポキシ樹脂でモールドしていた。
トであって、Ｆｅ、０．４６〜ｂ １％、残りＮｉＯ及びＣｕＯの組成を有していた。そし
て、この組成のフェライトをドラム型コアに形成し、巻
線を施し、エポキシ樹脂でモールドしていた。
（発明が解決しようとする問題点）
従来のチップインダクタは、エポキシ樹脂で被覆する際
、エポキシ樹脂によりコアに応力が加わり、インダクタ
ンスが低下するという問題点、更には、チップインダク
タを回路基板等へ自動装着する際、チップインダクタを
磁石で保持して装着させること等による外部磁場が印加
された後に、インダクタンスが低下するという問題点が
生じていた。
、エポキシ樹脂によりコアに応力が加わり、インダクタ
ンスが低下するという問題点、更には、チップインダク
タを回路基板等へ自動装着する際、チップインダクタを
磁石で保持して装着させること等による外部磁場が印加
された後に、インダクタンスが低下するという問題点が
生じていた。
本発明は、上記の事を鑑みて、加圧特性、磁場特性の優
れたチップインダクタを提供することを目的とするもの
である。
れたチップインダクタを提供することを目的とするもの
である。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、 ３１〜４６ｍｏｌ％のＦｅ、Ｏ，、１５〜
２９＋＋＋ｏ１％のＺｎＯ２残りがＮｉＯとＣｕＯであ
り、ＮｉＯのモル比がＣｕＯのモル比よりも多いスピネ
ル型組成物であって、小量成分として０．０５〜１ 、
Ｏｖｔ％のＣｏ、 ０４又はこれに相当する量のコバ
ルト酸化物又はコバルト炭酸化物、及び０．０５〜４．
０ｗｔ％のＳｉｎ、を含むフェライト組成物からなるド
ラム型コアに巻線を施し、更にエポキシ樹脂でモールド
するものである。
２９＋＋＋ｏ１％のＺｎＯ２残りがＮｉＯとＣｕＯであ
り、ＮｉＯのモル比がＣｕＯのモル比よりも多いスピネ
ル型組成物であって、小量成分として０．０５〜１ 、
Ｏｖｔ％のＣｏ、 ０４又はこれに相当する量のコバ
ルト酸化物又はコバルト炭酸化物、及び０．０５〜４．
０ｗｔ％のＳｉｎ、を含むフェライト組成物からなるド
ラム型コアに巻線を施し、更にエポキシ樹脂でモールド
するものである。
本発明において、フェライト組成物の組成範囲を限定し
た理由は、以下のとおりである。
た理由は、以下のとおりである。
まず、主成分が上記組成範囲以外では、加圧特性、磁場
特性が悪化する。
特性が悪化する。
次に、添加物Ｓｉｎ、は、初透磁率の値を制御するため
に使用するものであり、ＳｉＯ□を４．０ｗｔ％より多
く含有せしめた場合、コアの焼結性が悪化し、密度がと
れず、コア自体の強度が低下するため、０゜０５〜４．
０ｗｔ％の範囲とする。
に使用するものであり、ＳｉＯ□を４．０ｗｔ％より多
く含有せしめた場合、コアの焼結性が悪化し、密度がと
れず、コア自体の強度が低下するため、０゜０５〜４．
０ｗｔ％の範囲とする。
そして、Ｃｏ３Ｏ４は、Ｑの周波数特性を改善するため
に使用するものである。但し、その添加量が多過ぎると
、相対温度係数が３０ｐｐｍ／ ”Ｃを超えるため、０
．０５〜１．０ｗｔ％の範囲とする。
に使用するものである。但し、その添加量が多過ぎると
、相対温度係数が３０ｐｐｍ／ ”Ｃを超えるため、０
．０５〜１．０ｗｔ％の範囲とする。
（実施例）
Ｆｅ２０，４１．５ｍｏｌ％、ＮｉＯ２０，８ｍｏｌ％
、ＺｎＯ２７，４ｍｏｌ％、Ｃｕ０１０．４ｍｏｌ％の
主成分に、５ＩＱ２１．１３ｗｔ％ｌ Ｃｏ、０４０．
２％＋１％を添加した原料を振動ミルにて混合し、８０
０〜９００℃で仮焼し、この仮焼粉体を振動ミルにて粉
砕し、バインダを加え造粒し、圧縮成形して丸棒状コア
を成形し、乾燥した後ダイヤモンドグラインダーで溝加
工し、ドラム型コアとし、これを空気中で１０５０℃で
焼成し、外径１．８ｍ、全長１ 、３ ＋ｎｍ 。
、ＺｎＯ２７，４ｍｏｌ％、Ｃｕ０１０．４ｍｏｌ％の
主成分に、５ＩＱ２１．１３ｗｔ％ｌ Ｃｏ、０４０．
２％＋１％を添加した原料を振動ミルにて混合し、８０
０〜９００℃で仮焼し、この仮焼粉体を振動ミルにて粉
砕し、バインダを加え造粒し、圧縮成形して丸棒状コア
を成形し、乾燥した後ダイヤモンドグラインダーで溝加
工し、ドラム型コアとし、これを空気中で１０５０℃で
焼成し、外径１．８ｍ、全長１ 、３ ＋ｎｍ 。
芯径０．７ｍｍのドラム型コアを得た。このドラム型コ
アに直径０．０４ｍの被膜銅線を４０ｔｕｒｎ巻き、更
にエポキシ樹脂でモールドし、チップインダクタを得た
。この本発明の一実施例のチップインダクタと従来例の
チップインダクタとの特性比較を第１表に示す。
アに直径０．０４ｍの被膜銅線を４０ｔｕｒｎ巻き、更
にエポキシ樹脂でモールドし、チップインダクタを得た
。この本発明の一実施例のチップインダクタと従来例の
チップインダクタとの特性比較を第１表に示す。
第１表
この第１表の加圧によるし変化率は、ドラム型コアのエ
ポキシ樹脂モールド前後のＬにより算出した・また、磁
場印加によるＬ変化率は、このエポキシ樹脂モールドし
た状態で、外部磁場（約１０００Ｇａｕｓｓ）印加前後
のＬにより算出した。また、Ｑは、エポキシ樹脂モール
ド前のコアを用い１周波数５ＭＨｚで測定した。また、
直流重畳は、Ｌ値が５％低下する直流電流の値を測定し
た。
ポキシ樹脂モールド前後のＬにより算出した・また、磁
場印加によるＬ変化率は、このエポキシ樹脂モールドし
た状態で、外部磁場（約１０００Ｇａｕｓｓ）印加前後
のＬにより算出した。また、Ｑは、エポキシ樹脂モール
ド前のコアを用い１周波数５ＭＨｚで測定した。また、
直流重畳は、Ｌ値が５％低下する直流電流の値を測定し
た。
この第１表から明らかなように、本発明のチップインダ
クタは、加圧特性、磁場特性が非常に優れている。
クタは、加圧特性、磁場特性が非常に優れている。
また、第１図に、含有するＦｅ２Ｏ２量と、樹脂モール
ドした状態での磁場印加（１０００Ｇａｕｓｓ）による
Ｌ変化率とのグラフを示す、同一条件で測定した従来の
チップインダクタでは、Ｌの変化率は１０％以上であり
、本発明のチップインダクタが、加圧特性及び磁場特性
に優れていることがわかる。
ドした状態での磁場印加（１０００Ｇａｕｓｓ）による
Ｌ変化率とのグラフを示す、同一条件で測定した従来の
チップインダクタでは、Ｌの変化率は１０％以上であり
、本発明のチップインダクタが、加圧特性及び磁場特性
に優れていることがわかる。
（発明の効果）
本発明のチップインダクタは、加圧特性及び磁場特性に
優れており、樹脂モールドしてもＬ値の劣化がなく、又
回路への自動装着の際に強力な磁石で保持する事等によ
る外部磁場が印加されてもＬ値の劣化の少ないチップイ
ンダクタであって、比較的温度特性も安定で、ＩＭＨｚ
以上の高周波においても損失の少ないチップインダクタ
であり、産業上極めて有益なものである。
優れており、樹脂モールドしてもＬ値の劣化がなく、又
回路への自動装着の際に強力な磁石で保持する事等によ
る外部磁場が印加されてもＬ値の劣化の少ないチップイ
ンダクタであって、比較的温度特性も安定で、ＩＭＨｚ
以上の高周波においても損失の少ないチップインダクタ
であり、産業上極めて有益なものである。
第１図は、含有するＦｅ、 Ｏ，量と、樹脂モールドし
た状態での磁場印加（１０００Ｇａｕｓｓ）によるＬ変
化率とのグラフである。
た状態での磁場印加（１０００Ｇａｕｓｓ）によるＬ変
化率とのグラフである。
Claims (1)
- ３１〜４６ｍｏｌ％のＦｅ＿２Ｏ＿３，１５〜２９ｍ
ｏｌ％のＺｎＯ，残りがＮｉＯとＣｕＯであり、ＮｉＯ
のモル比がＣｕＯのモル比よりも多いスピネル型組成物
であって、小量成分として０．０５〜１．０ｗｔ％のＣ
ｏ＿３Ｏ＿４又はこれに相当する量のコバルト酸化物又
はコバルト炭酸化物、及び０．０５〜４．０ｗｔ％のＳ
ｉＯ＿２を含むフェライト組成物からなるドラム型コア
に巻線を施し、更にエポキシ樹脂でモールドしたことを
特徴とするチップインダクタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62259898A JP2674624B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | チップインダクタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62259898A JP2674624B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | チップインダクタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01101610A true JPH01101610A (ja) | 1989-04-19 |
| JP2674624B2 JP2674624B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=17340468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62259898A Expired - Lifetime JP2674624B2 (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | チップインダクタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2674624B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02137301A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-25 | Tdk Corp | インダクタ用磁心及びインダクタデバイス |
| JPH0391209A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Hitachi Ferrite Ltd | チップインダクタ |
| EP0800183A1 (fr) * | 1996-04-05 | 1997-10-08 | Thomson-Csf | Ferrite à faibles pertes entre 1 MHz et 100 MHz et procédé de réalisation |
| US5906768A (en) * | 1996-04-03 | 1999-05-25 | Tdk Corporation | Ferrite magnetic material, and ferrite core |
| JP2016196396A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | Tdk株式会社 | フェライト組成物および電子部品 |
| JP2016196397A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | Tdk株式会社 | フェライト組成物および電子部品 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4831457B2 (ja) * | 2004-11-25 | 2011-12-07 | 日立金属株式会社 | フェライト磁性材料及びこれを用いた電子部品 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6428235A (en) * | 1987-07-24 | 1989-01-30 | Fuji Electrochemical Co Ltd | Pressurization-stable oxide magnetic material |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP62259898A patent/JP2674624B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6428235A (en) * | 1987-07-24 | 1989-01-30 | Fuji Electrochemical Co Ltd | Pressurization-stable oxide magnetic material |
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| JPH02137301A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-25 | Tdk Corp | インダクタ用磁心及びインダクタデバイス |
| JPH0391209A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Hitachi Ferrite Ltd | チップインダクタ |
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| EP0800183A1 (fr) * | 1996-04-05 | 1997-10-08 | Thomson-Csf | Ferrite à faibles pertes entre 1 MHz et 100 MHz et procédé de réalisation |
| FR2747228A1 (fr) * | 1996-04-05 | 1997-10-10 | Thomson Csf | Ferrite a faibles pertes entre 1 mhz et 100 mhz et procede de realisation |
| US6071430A (en) * | 1996-04-05 | 2000-06-06 | Thomson-Csf | Low-loss ferrite working between 1 MHZ and 100 MHZ and method of manufacture |
| JP2016196396A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | Tdk株式会社 | フェライト組成物および電子部品 |
| JP2016196397A (ja) * | 2015-04-02 | 2016-11-24 | Tdk株式会社 | フェライト組成物および電子部品 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2674624B2 (ja) | 1997-11-12 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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