JPH0851011A - 酸化物磁性材料 - Google Patents
酸化物磁性材料Info
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- JPH0851011A JPH0851011A JP6204525A JP20452594A JPH0851011A JP H0851011 A JPH0851011 A JP H0851011A JP 6204525 A JP6204525 A JP 6204525A JP 20452594 A JP20452594 A JP 20452594A JP H0851011 A JPH0851011 A JP H0851011A
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Landscapes
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- Magnetic Ceramics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 大きな外部応力に対してもインダクタンスの
変化が小さく、外部磁場印加後のインダクタンスの低下
の少ない酸化物磁性材料を提供する。 【構成】 Fe2O3 5〜24.5mol%、CuO
0〜30mol%(但し、0mol%を含まない)、残
部NiOからなる主成分に対し、SiO2 0〜10w
t%(但し、0wt%を含まない)、Bi2O3 0〜1
0wt%(但し、0wt%を含まない)を含有する酸化
物磁性材料、またはこれにCo3O4を0〜0.5wt%
(但し、0wt%を含まない)含有する酸化物磁性材
料。
変化が小さく、外部磁場印加後のインダクタンスの低下
の少ない酸化物磁性材料を提供する。 【構成】 Fe2O3 5〜24.5mol%、CuO
0〜30mol%(但し、0mol%を含まない)、残
部NiOからなる主成分に対し、SiO2 0〜10w
t%(但し、0wt%を含まない)、Bi2O3 0〜1
0wt%(但し、0wt%を含まない)を含有する酸化
物磁性材料、またはこれにCo3O4を0〜0.5wt%
(但し、0wt%を含まない)含有する酸化物磁性材
料。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、PHS等の通信機器、
携帯型VTR等の回路に使用されるエポキシ樹脂等で外
装した構造を有するインダクター用の磁心材料となる酸
化物磁性材料に関するものである。
携帯型VTR等の回路に使用されるエポキシ樹脂等で外
装した構造を有するインダクター用の磁心材料となる酸
化物磁性材料に関するものである。
【0002】
【従来技術】このインダクターとしては、磁心に巻線を
施した後、樹脂等でモールドされる場合があり、このよ
うな場合、コアに加わる応力によってインダクタンスが
低下するという問題点、また外部から一時的に加わる磁
界によってインダクタンスが低下するという問題点があ
った。例えば、特開平3―93667号公報に示されて
いるように、25〜45mol%のFe2O3、0〜20
mol%のZnO、残りがNiOとCuOであり、Ni
Oのモル比がCuOのモル比よりも多いスピネル型組成
物であって、少量成分として0.1〜12wt%のBi
2O3及び0.05〜4.0wt%のSiO2を含む材料
が1MHz以上の高周波においても損失が少なく、かつ
外部からの加圧及び磁場印加に対するインダクタンスの
低下が少ない材料であることが提案されている。
施した後、樹脂等でモールドされる場合があり、このよ
うな場合、コアに加わる応力によってインダクタンスが
低下するという問題点、また外部から一時的に加わる磁
界によってインダクタンスが低下するという問題点があ
った。例えば、特開平3―93667号公報に示されて
いるように、25〜45mol%のFe2O3、0〜20
mol%のZnO、残りがNiOとCuOであり、Ni
Oのモル比がCuOのモル比よりも多いスピネル型組成
物であって、少量成分として0.1〜12wt%のBi
2O3及び0.05〜4.0wt%のSiO2を含む材料
が1MHz以上の高周波においても損失が少なく、かつ
外部からの加圧及び磁場印加に対するインダクタンスの
低下が少ない材料であることが提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この外部応力に対する
インダクタンスの変化、及び外部磁場印加後のインダク
タンスの低下に対して、更なる改良の要求があり、大き
な外部応力に対してもインダクタンスの変化が小さく、
外部磁場印加後のインダクタンスの低下の少ない酸化物
磁性材料を提供することを目的とする。
インダクタンスの変化、及び外部磁場印加後のインダク
タンスの低下に対して、更なる改良の要求があり、大き
な外部応力に対してもインダクタンスの変化が小さく、
外部磁場印加後のインダクタンスの低下の少ない酸化物
磁性材料を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、Fe2O3 5
〜24.5mol%、CuO 0〜30mol%(但
し、0mol%を含まない)、残部NiOからなる主成
分に対し、SiO2 0〜10wt%(但し、0wt%
を含まない)、Bi2O3 0〜10wt%(但し、0w
t%を含まない)を含有する酸化物磁性材料である。ま
た本発明は、上記材料に、Co3O4を0〜0.5wt%
(但し、0wt%を含まない)含有するものである。
〜24.5mol%、CuO 0〜30mol%(但
し、0mol%を含まない)、残部NiOからなる主成
分に対し、SiO2 0〜10wt%(但し、0wt%
を含まない)、Bi2O3 0〜10wt%(但し、0w
t%を含まない)を含有する酸化物磁性材料である。ま
た本発明は、上記材料に、Co3O4を0〜0.5wt%
(但し、0wt%を含まない)含有するものである。
【0005】
【作用】本発明は、Fe2O3の含有量が24.5mol
%以下であることが、外部磁場印加後のインダクタンス
の低下が少ないことを見出したものである。本発明にお
いて、各成分を限定した理由は以下の通りである。Fe
2O3の含有量は、24.5mol%を越えると、磁場印
加後のインダクタンスの低下が大きくなり、5mol%
より少ないと、透磁率が1.5以下となり、磁性体とし
て役立たない。CuOが30mol%を越えると、透磁
率が焼成条件で敏感に変動し、特性の再現性が悪い。S
iO2は、10wt%を越えると焼結性が悪くなり、製
品の強度が低下する。Bi2O3は、10wt%を越える
と透磁率が大幅に低下する。Co3O4が0.5wt%を
越えると、磁場劣化が大きくなる。
%以下であることが、外部磁場印加後のインダクタンス
の低下が少ないことを見出したものである。本発明にお
いて、各成分を限定した理由は以下の通りである。Fe
2O3の含有量は、24.5mol%を越えると、磁場印
加後のインダクタンスの低下が大きくなり、5mol%
より少ないと、透磁率が1.5以下となり、磁性体とし
て役立たない。CuOが30mol%を越えると、透磁
率が焼成条件で敏感に変動し、特性の再現性が悪い。S
iO2は、10wt%を越えると焼結性が悪くなり、製
品の強度が低下する。Bi2O3は、10wt%を越える
と透磁率が大幅に低下する。Co3O4が0.5wt%を
越えると、磁場劣化が大きくなる。
【0006】
【実施例】Fe2O3 20.0mol%、CuO 2.
5mol%、NiO 77.5mol%の主成分に、S
iO2 0.6wt%、Bi2O3 4.0wt%、Co3
O4 0.1wt%を含有させた原料を混合し、900
℃で2時間仮焼した後、振動ミル、アトライタで粉砕
し、1.0〜1.5μmのフェライト粉末を作成した。
これを造粒し、30φのトロイダル形状の成形体と、角
棒(5×5×15mm)の成形体を得た。これを大気中
1050℃で2時間焼成し試料を作成した。これを実姉
例1とする。
5mol%、NiO 77.5mol%の主成分に、S
iO2 0.6wt%、Bi2O3 4.0wt%、Co3
O4 0.1wt%を含有させた原料を混合し、900
℃で2時間仮焼した後、振動ミル、アトライタで粉砕
し、1.0〜1.5μmのフェライト粉末を作成した。
これを造粒し、30φのトロイダル形状の成形体と、角
棒(5×5×15mm)の成形体を得た。これを大気中
1050℃で2時間焼成し試料を作成した。これを実姉
例1とする。
【0007】焼成した30φのトロイダルコアは、透磁
率、Q、相対温度係数(αμr)、焼結密度の測定に用
いた。角棒は、2×2×10mmに加工し、消磁した
後、直径0.1mmの被膜導線を40ターン密巻に巻線
を施し、応力特性の測定を行った。この応力特性は、5
kg/mm2、10kg/mm2の圧力をかけて、圧力を
かける前のインダクタンスをL1とし、軸方向に上記の
荷重を加えた状態でインダクタンスを測定し、L2と
し、(L2―L1)/L1*100により変化率(%)
とした。また、磁場特性については、10kg/mm2
の荷重を加えた状態で100mTの磁界を瞬間的に加
え、外部磁界を取り去った後インダクタンスを測定し、
L3とし、(L3−L2)/L1*100により変化率
(%)とした。
率、Q、相対温度係数(αμr)、焼結密度の測定に用
いた。角棒は、2×2×10mmに加工し、消磁した
後、直径0.1mmの被膜導線を40ターン密巻に巻線
を施し、応力特性の測定を行った。この応力特性は、5
kg/mm2、10kg/mm2の圧力をかけて、圧力を
かける前のインダクタンスをL1とし、軸方向に上記の
荷重を加えた状態でインダクタンスを測定し、L2と
し、(L2―L1)/L1*100により変化率(%)
とした。また、磁場特性については、10kg/mm2
の荷重を加えた状態で100mTの磁界を瞬間的に加
え、外部磁界を取り去った後インダクタンスを測定し、
L3とし、(L3−L2)/L1*100により変化率
(%)とした。
【0008】また、表1に示す組成比にて、上記実施例
1と同様にして各試料を作成し、特性を評価した。各試
料の特性を表2に示す。
1と同様にして各試料を作成し、特性を評価した。各試
料の特性を表2に示す。
【0009】
【表1】
【0010】
【表2】
【0011】この表1、2からわかるとおり、本発明の
実姉例は、加圧特性では従来例と大差ないが、磁場特性
において、従来例に比較し、大幅に改善されている。ま
た本発明では、添加物としてPbOを添加しても良い、
この場合、PbOは焼結促進に有効であるが、10wt
%を越えると透磁率が大幅に低下するため、10wt%
以下が望ましい。
実姉例は、加圧特性では従来例と大差ないが、磁場特性
において、従来例に比較し、大幅に改善されている。ま
た本発明では、添加物としてPbOを添加しても良い、
この場合、PbOは焼結促進に有効であるが、10wt
%を越えると透磁率が大幅に低下するため、10wt%
以下が望ましい。
【0012】
【発明の効果】本発明によれば、外部応力を受けたとき
にインダクタンスの変化が少なく、しかも外部磁界の影
響によるインダクタンスの低下が極めて少ない磁性材料
を得ることが出来る。これにより、チップインダクター
として用いられた場合、巻線後の樹脂モールドによる応
力に対してインダクタンスの変化が少なく、しかも自動
装着機などを使用した場合の磁石による吸着を受けた場
合のインダクタンスの低下の少ないチップインダクター
を得ることが出来、産業上有益である。
にインダクタンスの変化が少なく、しかも外部磁界の影
響によるインダクタンスの低下が極めて少ない磁性材料
を得ることが出来る。これにより、チップインダクター
として用いられた場合、巻線後の樹脂モールドによる応
力に対してインダクタンスの変化が少なく、しかも自動
装着機などを使用した場合の磁石による吸着を受けた場
合のインダクタンスの低下の少ないチップインダクター
を得ることが出来、産業上有益である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C04B 35/28 B
Claims (2)
- 【請求項1】 Fe2O3 5〜24.5mol%、Cu
O 0〜30mol%(但し、0mol%を含まな
い)、残部NiOからなる主成分に対し、SiO2 0
〜10wt%(但し、0wt%を含まない)、Bi2O3
0〜10wt%(但し、0wt%を含まない)を含有
することを特徴とする酸化物磁性材料。 - 【請求項2】 請求項1において、Co3O4を0〜0.
5wt%(但し、0wt%を含まない)含有することを
特徴とする酸化物磁性材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6204525A JPH0851011A (ja) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | 酸化物磁性材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6204525A JPH0851011A (ja) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | 酸化物磁性材料 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0851011A true JPH0851011A (ja) | 1996-02-20 |
Family
ID=16491984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6204525A Pending JPH0851011A (ja) | 1994-08-05 | 1994-08-05 | 酸化物磁性材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0851011A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6183659B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-02-06 | Tdk Corporation | Ferrite oxide magnetic material |
| EP1201621A1 (en) * | 2000-10-31 | 2002-05-02 | TDK Corporation | Magnetic ferrite material and inductor |
| CN102122557A (zh) * | 2010-12-14 | 2011-07-13 | 深圳顺络电子股份有限公司 | 一种低磁铁氧体材料及其制造方法 |
| JP2018052793A (ja) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | Tdk株式会社 | フェライト組成物および電子部品 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54163911A (en) * | 1978-06-15 | 1979-12-27 | Hitachi Metals Ltd | High frequency magnetic material |
| JPH0391209A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Hitachi Ferrite Ltd | チップインダクタ |
-
1994
- 1994-08-05 JP JP6204525A patent/JPH0851011A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54163911A (en) * | 1978-06-15 | 1979-12-27 | Hitachi Metals Ltd | High frequency magnetic material |
| JPH0391209A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Hitachi Ferrite Ltd | チップインダクタ |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6183659B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-02-06 | Tdk Corporation | Ferrite oxide magnetic material |
| EP1201621A1 (en) * | 2000-10-31 | 2002-05-02 | TDK Corporation | Magnetic ferrite material and inductor |
| US6583699B2 (en) | 2000-10-31 | 2003-06-24 | Tdk Corporation | Magnetic material and inductor |
| CN102122557A (zh) * | 2010-12-14 | 2011-07-13 | 深圳顺络电子股份有限公司 | 一种低磁铁氧体材料及其制造方法 |
| JP2018052793A (ja) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | Tdk株式会社 | フェライト組成物および電子部品 |
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