JPH01107581A - 超伝導薄膜の製造方法 - Google Patents
超伝導薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JPH01107581A JPH01107581A JP62263795A JP26379587A JPH01107581A JP H01107581 A JPH01107581 A JP H01107581A JP 62263795 A JP62263795 A JP 62263795A JP 26379587 A JP26379587 A JP 26379587A JP H01107581 A JPH01107581 A JP H01107581A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide
- thin film
- film
- oxides
- superconducting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、超伝導材料薄膜の製造方法に係り、特に高い
超伝導転移温度を持つ酸化物系超伝導薄膜を容易に、再
現性良く製造する方法に関する。
超伝導転移温度を持つ酸化物系超伝導薄膜を容易に、再
現性良く製造する方法に関する。
最近、Y−Ba−Cu酸化物などのペロブスカイト構造
を基本に持つ酸化物材料が70に以上の高い超伝導移温
度(臨界温度:To)を持つことが明らかにされた。ジ
ョセフソン素子や半導体回路の導電膜にこの材料を応用
するには、薄膜として作製することが必要であり、スパ
ッタ法や蒸着法で酸化物超伝導薄膜の形成が試みられて
いる。
を基本に持つ酸化物材料が70に以上の高い超伝導移温
度(臨界温度:To)を持つことが明らかにされた。ジ
ョセフソン素子や半導体回路の導電膜にこの材料を応用
するには、薄膜として作製することが必要であり、スパ
ッタ法や蒸着法で酸化物超伝導薄膜の形成が試みられて
いる。
この様な技術の例は1例えば、ジャパニーズ ジャーナ
ル オン アプライド フィジックス26巻、5号、(
1987年)頁L709−L710 (Japanes
e Journal of Applied Phys
ics。
ル オン アプライド フィジックス26巻、5号、(
1987年)頁L709−L710 (Japanes
e Journal of Applied Phys
ics。
Vo126.Na5.(,1987)pp、L709−
L710)に報じられいる。
L710)に報じられいる。
薄膜の形成法としては、成膜速度が早くてしかも組成や
膜厚の制御が容易な方法が望ましい、蒸着法はスパッタ
法に比べて成膜速度を10倍以上に出来、しかも膜形成
時に蒸着膜厚を測定できるので、超伝導薄膜の形成法と
して有望と考えられている。真空蒸着法で例えばYBa
−Cu−酸化物、薄膜を形成する場合、従来は、金属の
Y。
膜厚の制御が容易な方法が望ましい、蒸着法はスパッタ
法に比べて成膜速度を10倍以上に出来、しかも膜形成
時に蒸着膜厚を測定できるので、超伝導薄膜の形成法と
して有望と考えられている。真空蒸着法で例えばYBa
−Cu−酸化物、薄膜を形成する場合、従来は、金属の
Y。
Ba、およびCuを3つの異なる蒸着源から同時に蒸発
させ、基板上にY、Ba、Cuから成る合金膜を形成し
、ついでこの膜を酸素雰囲気中で800−950℃で加
熱処理してY−Ba−Cu酸化物膜にする方法、あるい
は、蒸着源からはY。
させ、基板上にY、Ba、Cuから成る合金膜を形成し
、ついでこの膜を酸素雰囲気中で800−950℃で加
熱処理してY−Ba−Cu酸化物膜にする方法、あるい
は、蒸着源からはY。
Ba、Cuを蒸発させつつ、基板付近に酸素を供給して
基板上でこの酸素と反応させてY−Ba−Cu酸化物膜
を形成する方法が行なわれていた。
基板上でこの酸素と反応させてY−Ba−Cu酸化物膜
を形成する方法が行なわれていた。
しかし、合金膜を酸化する方法の場合、膜の酸化に伴っ
て体積変化が生じて緻密で平坦な酸化物膜が得難く、ま
た、基板に酸素を供給する方法の場合は酸化を促進する
ために基板付近の酸素圧力を上昇させると、酸素が蒸着
源に逆流し、蒸着源の金属が一部酸化して蒸発が不安定
になって、この結果、膜の組成が変動し、良好な超伝導
特性が得難くなるという問題点があった。
て体積変化が生じて緻密で平坦な酸化物膜が得難く、ま
た、基板に酸素を供給する方法の場合は酸化を促進する
ために基板付近の酸素圧力を上昇させると、酸素が蒸着
源に逆流し、蒸着源の金属が一部酸化して蒸発が不安定
になって、この結果、膜の組成が変動し、良好な超伝導
特性が得難くなるという問題点があった。
本発明は、酸化物超伝導薄膜を真空蒸着法で形成する場
合、緻密で平坦性が良く、しかも膜組成の制御性の良い
製造方法を提供することを目的とする。
合、緻密で平坦性が良く、しかも膜組成の制御性の良い
製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために1本発明者らは蒸着原料を希
土類金属(Mり−アルカリ土類金属(Mi) t Cu
、希土類金属酸化物(MIIOx) 。
土類金属(Mり−アルカリ土類金属(Mi) t Cu
、希土類金属酸化物(MIIOx) 。
アルカリ土類金属酸化物(M x Oア)、酸化銅(C
uO2)の中で組み合せを変えて成膜を行ない、酸化物
超伝導薄膜の特性を調べ、最適な蒸着原料の選択を試み
た。この検討の結果、膜形成法として電子ビーム加熱蒸
着法(EB法)を用いる場合、蒸着原料として各金属の
酸化物(MIIOx。
uO2)の中で組み合せを変えて成膜を行ない、酸化物
超伝導薄膜の特性を調べ、最適な蒸着原料の選択を試み
た。この検討の結果、膜形成法として電子ビーム加熱蒸
着法(EB法)を用いる場合、蒸着原料として各金属の
酸化物(MIIOx。
M x Oy * Cu Oz) 、もしくは希土類お
よびアルカリ土類金属の酸化物(MIIOx、MIIO
,)とCuを使用することにより、良質の酸化物超伝導
薄膜が得られることを見い出すに至った。
よびアルカリ土類金属の酸化物(MIIOx、MIIO
,)とCuを使用することにより、良質の酸化物超伝導
薄膜が得られることを見い出すに至った。
本発明の作用を明らかにするため、本発明者らが行った
実験結果について説明する。
実験結果について説明する。
第1図(a)は実験に用いた蒸着装置の概略断面図であ
り、第1図(b)は蒸着用の3個の電子銃の配置を示す
平面図である。第1図(a)では。
り、第1図(b)は蒸着用の3個の電子銃の配置を示す
平面図である。第1図(a)では。
1個の電子銃のみ示してあり、他の2個は省略しである
。基板1として(100)SrTiO3単結晶を用い、
ヒータ2で700℃に加熱しながら、10−6〜10−
’Torrの真空中で、3個の電子銃3を動作させて膜
形成を行った。蒸着原料として、Y、Ba、Cuの金属
、およびY OX、 B a 0ytCuO□(化学的
に安定な化学量論組成の酸化物はそれぞれY2O3,B
ad、CuOであるが、それぞれ酸素欠損が起り易く、
化学量論組成からずれるためY OXp B a OF
* Cu O2と記す、)の酸化物を準備し1組合せを
変えて成膜を行った。
。基板1として(100)SrTiO3単結晶を用い、
ヒータ2で700℃に加熱しながら、10−6〜10−
’Torrの真空中で、3個の電子銃3を動作させて膜
形成を行った。蒸着原料として、Y、Ba、Cuの金属
、およびY OX、 B a 0ytCuO□(化学的
に安定な化学量論組成の酸化物はそれぞれY2O3,B
ad、CuOであるが、それぞれ酸素欠損が起り易く、
化学量論組成からずれるためY OXp B a OF
* Cu O2と記す、)の酸化物を準備し1組合せを
変えて成膜を行った。
成膜速度は10人/S、膜厚1.0μm膜組成はY:B
a:Cu=1:2:3 (モル比)となるように各電子
銃の出力を*mt、、た。成膜後、1気圧の酸素雰囲気
中で900℃の加熱処理を行って酸化物超伝導薄膜を得
た0表1に、原料の組合せを変えた場合の薄膜の平坦性
、組成ずれ、超伝導臨界温度(’r、)、および70K
における臨界電流密度(Jo)の値を比較して示す。平
坦性の評価は1表面の起伏が膜厚の5%以下:Q、5〜
10%:Δ、10%以上をx印で表した0組成ずれはY
:Ba:Cu=1:2:3の組成に対しCuの全金属(
Y+Ba+Cu)に占める割合のずれが。
a:Cu=1:2:3 (モル比)となるように各電子
銃の出力を*mt、、た。成膜後、1気圧の酸素雰囲気
中で900℃の加熱処理を行って酸化物超伝導薄膜を得
た0表1に、原料の組合せを変えた場合の薄膜の平坦性
、組成ずれ、超伝導臨界温度(’r、)、および70K
における臨界電流密度(Jo)の値を比較して示す。平
坦性の評価は1表面の起伏が膜厚の5%以下:Q、5〜
10%:Δ、10%以上をx印で表した0組成ずれはY
:Ba:Cu=1:2:3の組成に対しCuの全金属(
Y+Ba+Cu)に占める割合のずれが。
3%以下を0,3〜%:Δ、8%以上になっている酸化
物超伝導薄膜をX印で表した6 表1 蒸着原料と酸化物超伝導薄膜の特性の関係表1か
ら明らかなように、蒸着原料としてy ox。
物超伝導薄膜をX印で表した6 表1 蒸着原料と酸化物超伝導薄膜の特性の関係表1か
ら明らかなように、蒸着原料としてy ox。
Baby、Cuの組合せ、もしくはY Oz p B
a Oy tCuO2の組合せを選んだ場合に良好な特
性を持つ酸化物超伝導薄膜が得られた。
a Oy tCuO2の組合せを選んだ場合に良好な特
性を持つ酸化物超伝導薄膜が得られた。
Y−Ba−Cu酸化物のYの代りに、Nd。
Sm、 Eu、 Gd、 Dy、 Ho、 Er、 T
m、もしくはYbを用いた酸化物、あるいはYの代りに
Yを含む上記希土類金属の複数種を含む酸化物の場合、
そしてBaの1部もしくは全てをCa。
m、もしくはYbを用いた酸化物、あるいはYの代りに
Yを含む上記希土類金属の複数種を含む酸化物の場合、
そしてBaの1部もしくは全てをCa。
Srで置換した酸化物の場合も、蒸着原料として各構成
金属の酸化物だけを用いた場合とCu以外は酸化物原料
を用いた場合に良好な特性を持つ酸化物超伝導薄膜が得
られた。このように、超伝導性を示す金属酸化物(MI
Mu Cu −0+ Mr :少なくとも1種の希土
類金属1M!:少なくとも1種のアルカリ土類金属)の
薄膜をEB加熱蒸着法で形成する場合、蒸着原料として
各金属の酸化物を用いるか、もしくはCu以外は酸化物
を用いる方が、平坦性が良くて、組成ずれが少なく、良
好な超伝導特性を示し薄膜が得られる。また、基板材料
として(110)、 (111)などの方位を持つ5r
Tio3結晶、MgO,ZrO2゜Af1203.Y2
O3,S i02などの結晶や溶融体、あるいは多結晶
、 M g O−A Q z O3t M g O”S
i 02などの混合酸化物を用いても同様の効果が得
られる。Si基板の上に形成する場合は、MgOなどの
反応防止層を設けて超伝導酸化物薄膜を形成すれば、こ
れも同様の効果が得られる。
金属の酸化物だけを用いた場合とCu以外は酸化物原料
を用いた場合に良好な特性を持つ酸化物超伝導薄膜が得
られた。このように、超伝導性を示す金属酸化物(MI
Mu Cu −0+ Mr :少なくとも1種の希土
類金属1M!:少なくとも1種のアルカリ土類金属)の
薄膜をEB加熱蒸着法で形成する場合、蒸着原料として
各金属の酸化物を用いるか、もしくはCu以外は酸化物
を用いる方が、平坦性が良くて、組成ずれが少なく、良
好な超伝導特性を示し薄膜が得られる。また、基板材料
として(110)、 (111)などの方位を持つ5r
Tio3結晶、MgO,ZrO2゜Af1203.Y2
O3,S i02などの結晶や溶融体、あるいは多結晶
、 M g O−A Q z O3t M g O”S
i 02などの混合酸化物を用いても同様の効果が得
られる。Si基板の上に形成する場合は、MgOなどの
反応防止層を設けて超伝導酸化物薄膜を形成すれば、こ
れも同様の効果が得られる。
さらに、差動排気方式等によって膜形成時に基板付近に
酸素ガスを供給すると一層良好な特性を持つ超伝導酸化
物薄膜が得られる。
酸素ガスを供給すると一層良好な特性を持つ超伝導酸化
物薄膜が得られる。
以下、本発明をさに実施例で詳細に説明する。
第2図に示す真空蒸着装置を用いて第3図の構造をもつ
超伝導特性を示す酸化物薄膜を形成した。
超伝導特性を示す酸化物薄膜を形成した。
電子ビームをジャンプさせることによって3個の蒸着原
料を同時に蒸発させられる型の電子ビーム衝撃加熱源7
から蒸発した物質は基板8に堆積する。基板8は赤外線
加熱源9で所定の温度に加熱でき、しかも酸素ボンベ1
0からスローリ・−クバルブを介したパイプ11を通じ
て基板8表面付近に酸素を供給でき10−3〜10””
Torrの酸素雰囲気に保つことができる。この酸素は
差動排気によって排気をされるので、電子ビーム衝撃加
熱源7が設置されている空の真空度は10−’Torr
以下に保つことができる。
料を同時に蒸発させられる型の電子ビーム衝撃加熱源7
から蒸発した物質は基板8に堆積する。基板8は赤外線
加熱源9で所定の温度に加熱でき、しかも酸素ボンベ1
0からスローリ・−クバルブを介したパイプ11を通じ
て基板8表面付近に酸素を供給でき10−3〜10””
Torrの酸素雰囲気に保つことができる。この酸素は
差動排気によって排気をされるので、電子ビーム衝撃加
熱源7が設置されている空の真空度は10−’Torr
以下に保つことができる。
基板8として(100)Siの上に0.2 pm厚のM
gO膜1膜製2成した試料を用いた。これを600〜8
00℃に加熱しながら、Eu酸化物(E u Ox)
、 B a酸化物(Baby)およびCu酸化物(Cu
Oz)の3種の酸化物を同時に蒸発させ、0.5μm
厚の酸化物薄膜を形成した。
gO膜1膜製2成した試料を用いた。これを600〜8
00℃に加熱しながら、Eu酸化物(E u Ox)
、 B a酸化物(Baby)およびCu酸化物(Cu
Oz)の3種の酸化物を同時に蒸発させ、0.5μm
厚の酸化物薄膜を形成した。
E u OX、 B a O,、Cu Ozの割合は、
各蒸着原料を照射する電子ビームの滞在時間の比を変え
ることによって調整し、Eu:Ba:Cu=1:2:3
となるようにした。膜形成後、基板付近の酸化圧力を1
02〜10−3Torrに上昇し2〜3時間試料のアニ
ーリングを行った後、室温まで1℃/minの速度で冷
却した。
各蒸着原料を照射する電子ビームの滞在時間の比を変え
ることによって調整し、Eu:Ba:Cu=1:2:3
となるようにした。膜形成後、基板付近の酸化圧力を1
02〜10−3Torrに上昇し2〜3時間試料のアニ
ーリングを行った後、室温まで1℃/minの速度で冷
却した。
得られた酸化物薄膜13の超伝導特性を調べ、T、=8
4に、70KにおけるJ。= 3 X 105A/ c
m ”の値を確認した。膜の表面の平坦性は良く。
4に、70KにおけるJ。= 3 X 105A/ c
m ”の値を確認した。膜の表面の平坦性は良く。
表面起伏は0.05μm以下であった。
また、蒸着原料としてE u OX、 B a Oy、
Cuを用いた以外は前記と同様な条件で酸化物薄膜の
形成を試み、T、=80に、70KにおけるJc=IX
10’A/cm”+の値を得た。表面起伏も0.06μ
m以下であった。
Cuを用いた以外は前記と同様な条件で酸化物薄膜の
形成を試み、T、=80に、70KにおけるJc=IX
10’A/cm”+の値を得た。表面起伏も0.06μ
m以下であった。
以上述べたように1本発明によれば高い臨界温度を持つ
良質の酸化物超伝導薄膜を真空蒸着法で再現性良く、容
易に、しかも高速で形成できる。
良質の酸化物超伝導薄膜を真空蒸着法で再現性良く、容
易に、しかも高速で形成できる。
この様な技術的特徴は産業分野での量産に適したもので
あり、優れた超伝導特性を示す酸化物系超伝導材料の用
途を拡大する効果がある。
あり、優れた超伝導特性を示す酸化物系超伝導材料の用
途を拡大する効果がある。
第1図は、本発明を生むに至った実験に用いた蒸着装置
の概略断面図、第2図は本発明の実施に用いた真空蒸着
装置の断面図、第3図は基板上に形成した超伝導酸化物
薄膜の断面図である。 1・・・基板、2・・・ヒータ、3・・・電子銃、4・
・・膜厚計、5・・・シャッタ、6・・・シャッタ、7
・・・電子ビーム衝撃加熱源、8・・・基板、9・・・
赤外線加熱源、10・・・酸素ボンベ、11・・・パイ
プ、12・・・MgO膜、13・・・超伝導酸化物薄膜
。 第7目 ′2 2.茎叔 2:と−タ 第2@ AIA−
の概略断面図、第2図は本発明の実施に用いた真空蒸着
装置の断面図、第3図は基板上に形成した超伝導酸化物
薄膜の断面図である。 1・・・基板、2・・・ヒータ、3・・・電子銃、4・
・・膜厚計、5・・・シャッタ、6・・・シャッタ、7
・・・電子ビーム衝撃加熱源、8・・・基板、9・・・
赤外線加熱源、10・・・酸素ボンベ、11・・・パイ
プ、12・・・MgO膜、13・・・超伝導酸化物薄膜
。 第7目 ′2 2.茎叔 2:と−タ 第2@ AIA−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、金属酸化物(M_ I −M_II−Cu−O、M_ I
:少なくとも1種の希土類金属、M_II:少なくとも
1種のアルカリ土類金属)から成る超伝導薄膜の製造法
において、膜形成法として電子ビーム加熱蒸着法、蒸着
原料として各金属の酸化物(M_ I O_x、M_IIO
_y、CuO_z)を用いることを特徴とする超伝導薄
膜の製造方法。 2、金属酸化物(M_ I −M_II−Cu−O、M_ I
:少なくとも1種の希土類金属、M_II:少なくとも
1種のアルカリ土類金属)から成る超伝導薄膜の製造方
法において、膜形成法として電子ビーム加熱蒸着法、蒸
着原料としてM_ I およびM_IIの酸化物(M_ I O
_x、M_IIO_y)と金属のCuを用いることを特徴
とする超伝導薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62263795A JPH01107581A (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 超伝導薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62263795A JPH01107581A (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 超伝導薄膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01107581A true JPH01107581A (ja) | 1989-04-25 |
Family
ID=17394358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62263795A Pending JPH01107581A (ja) | 1987-10-21 | 1987-10-21 | 超伝導薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01107581A (ja) |
-
1987
- 1987-10-21 JP JP62263795A patent/JPH01107581A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2711253B2 (ja) | 超伝導膜及びその形成方法 | |
| JP3188358B2 (ja) | 酸化物超電導体薄膜の製造方法 | |
| JPH02167820A (ja) | T1系複合酸化物超電導体薄膜の成膜方法 | |
| JPH01107581A (ja) | 超伝導薄膜の製造方法 | |
| JPS63301424A (ja) | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 | |
| JPH026394A (ja) | 超伝導薄層 | |
| JP2544759B2 (ja) | 超電導薄膜の作成方法 | |
| JP2645730B2 (ja) | 超電導薄膜 | |
| JP2567416B2 (ja) | 超電導薄膜の作製方法 | |
| JP2545422B2 (ja) | 複合酸化物超電導薄膜とその作製方法 | |
| JPH01106481A (ja) | 超伝導材料構造 | |
| JP2544761B2 (ja) | 超電導薄膜の作製方法 | |
| JP2502344B2 (ja) | 複合酸化物超電導体薄膜の作製方法 | |
| JPH0829938B2 (ja) | 複合酸化物超電導薄膜とその作製方法 | |
| JP2544760B2 (ja) | 超電導薄膜の作製方法 | |
| JP2501609B2 (ja) | 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 | |
| JPH01167218A (ja) | 超電導薄膜の作製方法 | |
| JPH01170078A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
| JPH01106484A (ja) | 超伝導材料の形成方法 | |
| JPH0761867B2 (ja) | 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 | |
| JPH01170060A (ja) | 超電導体層を有する半導体基板 | |
| JPH01107420A (ja) | 酸化物超伝導体 | |
| JPS63248019A (ja) | 酸化物超電導薄膜の製造方法 | |
| JPH0297419A (ja) | 薄膜超電導体の製造方法 | |
| JPH01167220A (ja) | 超電導薄膜の作製方法 |