JPH01107971U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01107971U JPH01107971U JP1988001985U JP198588U JPH01107971U JP H01107971 U JPH01107971 U JP H01107971U JP 1988001985 U JP1988001985 U JP 1988001985U JP 198588 U JP198588 U JP 198588U JP H01107971 U JPH01107971 U JP H01107971U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- contact
- contactor
- block
- inspection device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す図、第２図は
同上要部の平面図、第３図は従来例を示す図であ
る。 １……ワーク、２……端子、１１，１２……ブ
ロツク、１３……第１の接触子、１６……第２の
接触子、１７……スプリング、１９……信号補助
線、２０……信号基線。
同上要部の平面図、第３図は従来例を示す図であ
る。 １……ワーク、２……端子、１１，１２……ブ
ロツク、１３……第１の接触子、１６……第２の
接触子、１７……スプリング、１９……信号補助
線、２０……信号基線。
Claims (1)
- ワークの端子に検査機につながれた接触子を接
触させてワークの電気的特性を検査するワーク検
査装置において、ワークの端子を挾んで対向し、
近接・離隔移動可能な絶縁体からなる一対のブロ
ツクと、一方のブロツクの挾持面に設けられた第
１の接触子と、他方のブロツクに保持されスプリ
ングにより突出付勢された第２の接触子とを備え
、これら第１及び第２の接触子を信号補助線によ
り接続し、該接続部を信号基線により検査機に接
続してなるワーク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988001985U JPH01107971U (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988001985U JPH01107971U (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01107971U true JPH01107971U (ja) | 1989-07-20 |
Family
ID=31202358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988001985U Pending JPH01107971U (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01107971U (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57197477A (en) * | 1981-05-29 | 1982-12-03 | Toshiba Corp | Measuring method for electronic parts |
-
1988
- 1988-01-13 JP JP1988001985U patent/JPH01107971U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57197477A (en) * | 1981-05-29 | 1982-12-03 | Toshiba Corp | Measuring method for electronic parts |