JPH01121710A - パターン位置検出装置 - Google Patents
パターン位置検出装置Info
- Publication number
- JPH01121710A JPH01121710A JP62279722A JP27972287A JPH01121710A JP H01121710 A JPH01121710 A JP H01121710A JP 62279722 A JP62279722 A JP 62279722A JP 27972287 A JP27972287 A JP 27972287A JP H01121710 A JPH01121710 A JP H01121710A
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- Japan
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はパターン位置検出装置、特にプリント配線板（
以下ＰＷＢと略記〉のパターン位置検出に適用しうるパ
ターン位置検出装置に関する。
以下ＰＷＢと略記〉のパターン位置検出に適用しうるパ
ターン位置検出装置に関する。
従来のパターン位置検出装置としては例えばＰＷＢ下に
光源をおき、ＰＷＢのスルーホールを通ってきた光を多
数の受光素子を組合せた位置検出器で検出しスルーホー
ルの位置を求め、それからスルーホールまわりのパター
ンの位置を求めるものがある。
光源をおき、ＰＷＢのスルーホールを通ってきた光を多
数の受光素子を組合せた位置検出器で検出しスルーホー
ルの位置を求め、それからスルーホールまわりのパター
ンの位置を求めるものがある。
上述した従来のパターン位置検出装置は、スルーホール
の位置からパターンの位置を求めているので、スルーホ
ールに対するパターンの位置が一定でなければ正確に求
まらないという欠点があった。また近傍にスルーホール
のないパターンに対しては位置を求められないという欠
点もあった。
の位置からパターンの位置を求めているので、スルーホ
ールに対するパターンの位置が一定でなければ正確に求
まらないという欠点があった。また近傍にスルーホール
のないパターンに対しては位置を求められないという欠
点もあった。
Ｃ問題点を解決するための手段〕
本発明のパターン位置検出装置は、位置決めされた被試
験パターンを撮像する撮像手段と、撮像手段の出力信号
を２値化データに変換する２値化手段と、２値化データ
から被試験パターンの中心座標を求める座標測定手段と
、被試験パターン中心座標と正常パターン中心座標の差
を求めパターンずれ信号を出力する正常パターン座標比
較手段とを含んで構成される。
験パターンを撮像する撮像手段と、撮像手段の出力信号
を２値化データに変換する２値化手段と、２値化データ
から被試験パターンの中心座標を求める座標測定手段と
、被試験パターン中心座標と正常パターン中心座標の差
を求めパターンずれ信号を出力する正常パターン座標比
較手段とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図に示すパターン位置検出装置は、正常パターンデ
ータ１２で被試験ＰＷＢ １０を設置したＸＹステージ
１１を動作させ被試験パターン情報をＴＶ右カメラ３で
取り込む。被試験パターン情報は２値化回路１４で２値
化データとしてマイクロコンピュータ１５へ送り、被試
験パターンの中心座標を測定し正常パターン中心座標と
のずれを求める。
ータ１２で被試験ＰＷＢ １０を設置したＸＹステージ
１１を動作させ被試験パターン情報をＴＶ右カメラ３で
取り込む。被試験パターン情報は２値化回路１４で２値
化データとしてマイクロコンピュータ１５へ送り、被試
験パターンの中心座標を測定し正常パターン中心座標と
のずれを求める。
第１図に示す構成でパターン位置を検出する手順を第２
図、第３図を用いて説明する。
図、第３図を用いて説明する。
第２図は被試験ＰＷＢの一例を示す平面図である。
被試験ＰＷＢ １０は位置決めピン穴２０を原点とし、
電子部品のリードが半田付されるパターン群２２が設計
値（Ｘｌ、Ｙｌ）の座標にある。また、パターン群２２
の位置を求めるためのマーキングパターン２１．２１ｂ
がそれぞれ設計値（Ｘ２ 、 Ｙ２ ） 、 （ＸＳ
、 Ｙｌ ）の座標にある。
電子部品のリードが半田付されるパターン群２２が設計
値（Ｘｌ、Ｙｌ）の座標にある。また、パターン群２２
の位置を求めるためのマーキングパターン２１．２１ｂ
がそれぞれ設計値（Ｘ２ 、 Ｙ２ ） 、 （ＸＳ
、 Ｙｌ ）の座標にある。
ＴＶ右カメラ３はＸＹステージ１１が原点のとき位置決
めピン穴２０を観測する位置にある。
めピン穴２０を観測する位置にある。
いま、被試験ＰＷＢ１０は位置決めピン穴２０．２０ｂ
をＸＹステージ１１の位置決めピンによって固定されて
いる。まず、ＸＹステージ１１は（Ｘ２．Ｙ２）の座標
骨、移動しＴＶ右カメラ３がマーキングパターン２１を
観測できるようにする。このときの様子を第３図に示す
。
をＸＹステージ１１の位置決めピンによって固定されて
いる。まず、ＸＹステージ１１は（Ｘ２．Ｙ２）の座標
骨、移動しＴＶ右カメラ３がマーキングパターン２１を
観測できるようにする。このときの様子を第３図に示す
。
第３図は正常パターン３０に対するマーキングパターン
２１の位置ずれを示すものである。同図において、正常
パターン３０の中心座標からＸ軸方向にΔｘｌ、ｙ軸方
向に△Ｙｌずれた位置にマーキングパターン２１が観測
されている。もしマーキングパターン２１が設計値通り
の位置にあれば正常パターン３０の位置に観測される。
２１の位置ずれを示すものである。同図において、正常
パターン３０の中心座標からＸ軸方向にΔｘｌ、ｙ軸方
向に△Ｙｌずれた位置にマーキングパターン２１が観測
されている。もしマーキングパターン２１が設計値通り
の位置にあれば正常パターン３０の位置に観測される。
第３図のΔＸｌ、ΔＹ１はマイクロコンピュータ１５に
よって２値化データを処理して求められる。最初に２値
化データのマーキングパターン３１を示すデータのＸ成
分の１／２の位置をＸ座標とし、Ｙ成分の１／２の位置
をＹ座標としてマーキングパターン２１の中心座標を求
める。次に、その中心座標から、あらかじめ記憶されて
いる正常パターンの中心座標を引くことにより求められ
る。
よって２値化データを処理して求められる。最初に２値
化データのマーキングパターン３１を示すデータのＸ成
分の１／２の位置をＸ座標とし、Ｙ成分の１／２の位置
をＹ座標としてマーキングパターン２１の中心座標を求
める。次に、その中心座標から、あらかじめ記憶されて
いる正常パターンの中心座標を引くことにより求められ
る。
同様の方法でマーキングパターン２１ｂの△Ｘ２＋ Δ
Ｙ２を求め、（１）式よりパターン群２２のパターン位
置ずれ量が求められる。
Ｙ２を求め、（１）式よりパターン群２２のパターン位
置ずれ量が求められる。
したがってパターン群２２のパターン位置は（２）式で
示される。
示される。
本実施例では、パターン群２２の位置を求めるために、
対角に配置した２個のマーキングパターン２１．２１ｂ
を用いたが、パターン群が小さければ１個のマーキング
パターンでもよく、また、直接パターンを観測して、位
置を求めることも可能である。
対角に配置した２個のマーキングパターン２１．２１ｂ
を用いたが、パターン群が小さければ１個のマーキング
パターンでもよく、また、直接パターンを観測して、位
置を求めることも可能である。
本発明のパターン位置検出装置は、スルーホールの位置
の代りにパターンを直接検出しているのでパターン位置
を正確に求められるという効果がある。また、パターン
のずれ量からスルーホールに対するパターンの良否を判
定できるという効果もある。
の代りにパターンを直接検出しているのでパターン位置
を正確に求められるという効果がある。また、パターン
のずれ量からスルーホールに対するパターンの良否を判
定できるという効果もある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
第１図に示す被試験ＰＷＢの平面図、第３図は動作説明
図である。 １０・・・被試験ＰＷＢ、１１・・・ＸＹステージ、１
２正常パターンデータ、１３・・・ＴＶカメラ、１４・
・・２値化回路、１５・・・マイクロコンピュータ、２
０．２０ｂ・・・位置決めピン穴、２１．２１ｂ・・・
マーキングパターン、２２・・・パターン群、３０・・
・正常パターン。
第１図に示す被試験ＰＷＢの平面図、第３図は動作説明
図である。 １０・・・被試験ＰＷＢ、１１・・・ＸＹステージ、１
２正常パターンデータ、１３・・・ＴＶカメラ、１４・
・・２値化回路、１５・・・マイクロコンピュータ、２
０．２０ｂ・・・位置決めピン穴、２１．２１ｂ・・・
マーキングパターン、２２・・・パターン群、３０・・
・正常パターン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （Ａ）位置決めされた被試験パターンを撮像する撮像手
段 （Ｂ）撮像手段の出力信号を２値化データに変換する２
値化手段 （Ｃ）２値化データから被試験パターンの中心座標を求
める座標測定手段 （Ｄ）被試験パターン中心座標と正常パターン中心座標
の差を求めパターンずれ信号を出力する正常パターン座
標比較手段 とを含むことを特徴とするパターン位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62279722A JPH01121710A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | パターン位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62279722A JPH01121710A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | パターン位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01121710A true JPH01121710A (ja) | 1989-05-15 |
Family
ID=17614965
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62279722A Pending JPH01121710A (ja) | 1987-11-04 | 1987-11-04 | パターン位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01121710A (ja) |
-
1987
- 1987-11-04 JP JP62279722A patent/JPH01121710A/ja active Pending
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