JPS59165183A - パタ−ン認識装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は撮像装置音用いた視覚−に／すによって得られ
る映像情報をも、とに認識処理を行なうパターン認識装
置に関するものである。

従来のパターン認識装置の構成図の一例を第１図に示し
説明する。１は基準物体を撮像する第１の撮像装置、２
は被測定物体を撮像する第２の撮像装置、３は第１の撮
像装置の映像信号と第２の撮像装置の映像信号の差をと
る演算回路、４は演算回路３で演算し出力した信号紫２
値化処理する２値化回路、５は信号処理のため全体のタ
イミング信号を発生する同期信号発生回路、６は該２値
化回路４で２値化処理した信号の位４目を水平、垂直座
標に、そして幅を大きさに２さらに信号の数を個数に記
憶する記憶回路、７は記憶回路６の記憶情報を取り込み
、その記憶さ汎た情報にもと丁いて処理全行なうマイク
ロコンビュータテあル。

このように構成きれたパターン認識装置は基準物体を撮
像して得しれる映像信号と被測定物体を撮像して得られ
る映１沫情号と該演算回路３で差ｒとりそして該２値化
回路で２値化処理ケ灯ない。

この２値化信号を該記・讃回路６で位相を水平、垂直座
標に１幅ケ大きさに、信号の数を個数に記憶することに
なるが１例えば被測定物体を基板に搭載したチップ部品
とすると基準基板に搭載したチ。

プ部品の位置と被測定基板に搭載したチップ部品の位置
がチップ搭載機の許容精度により±０．２ｍｍの位置ず
れを生じる。また、プｌ／ント基板製作上のパターン、
フルク印刷、レジスト等の位置にも基板ごとにはりつき
かめる。このため、基準基板の映像情報と被６１す定基
板の映像情報は１通常、厳密に一致することがないため
、該演算回路３で差ケとると本来ならば良品として許容
されるべき程度の位置ずれが不良信号としで出力さ扛る
ので記憶する必要のない信号を該記憶回路６で記憶する
ことになる。

従って該記憶回路６の記憶容量が大きくなることと、該
許容位置ずｎ量をノットウェアで処理する必要がり９．
このため処理時間が長くなる欠点があった。１だ、他の
一例として第２図に不すように２値化回路４で２値化処
理した２ｆｉｍ化信号に同期信号と第１の撮像装置又は
、第２の撮像装置で撮像して得られる映像信号ケ混合回
路８で混合してビデオモニタ９に人力し、直接ビデオモ
ニタ等で目視判定を行なう場合においても許容フれる程
度の位置ずれが不良信号として映し出さ扛るため、不良
でめるか否かの判定に時間がかかることと本来の不良位
置ずれを見逃がす欠点があった。

本発明はこのような従来方式の欠点を解決するため基準
物体と被測定物体の映像信号を比較演算し、演算した出
力信号又は該出力信号を２値化し。

この２値化して得た出力信号を時間をｈ］″変できる除
去部で許容する位置ずれ信号に相当する水平および垂直
信号成分を除去し２本来必要な不良位置すれ信号のみを
記憶してパターン認識を高速化すると共に記憶回路６の
小規模化さらに第２図に示す構成のパターン認識装置に
おいては、不良であるか否かの判定を確実に行なえるよ
うにしたことにある。

第３図、第４図は本発明によるパターン認識装置の一実
施例を示す構成図であり、この例において第１図、第２
図と同等のものは同一符号を付しである。ｌＯは、該２
値化回路４で２１１Ｍ化した信号の許容できる位置すれ
量に相当する信号の水平および垂直信号成分を除去する
除去回路で例えば垂直方向信号時間２Ｈ分と水平方向信
号時間０２μｓ分を除去する回路である。

次に第３図に示す実施例の動作を説明する。

基準物体を第１の撮像装置１で撮像して得られる映像信
号と被測定物体を第２の撮像装置２で撮像して得られる
映像信号を演算回路３で差２とると、基準物体と被測定
物体の異なる部分のみが出力信号としてとり出される。

即ち、この信号はパターン認識するための不良信号であ
るが１本来良品として許容されるべき程度の位置すれも
含ま扛て、不良信号として出力されることになる。でこ
で、許容ざ扛る位置ずれ信号に相当する水平および垂直
信号のパルス時間を除去回路１０で除去し。

許容される位置ずれ信号を不良信号として出力しないよ
うに不感帯を設けたことにある。従って。

除去回路１０からは認識に必要な不良情報のみが出力さ
れることになるので、記憶回路６の記憶容量が最小限で
構成できると共に記憶回路６に記１悪した情報がすべて
パターン認識に必要な特徴抽出データとして記憶するこ
とになるので、これらの情報ケ用いたパターン認識処理
を極めて能率よく行なうことができる。

また、第４図に示す構成のビデオモニタを観測しながら
目視判定をイボなう方式のパターン認識装置においても
前記と同様、不良情報のみがビデオモニタ上に映し出さ
れるので判定が単純となり。

不良であるか否かの検企が確実にイボなえるようになる
。

次に説明を具体的にイ行なうため、チップ部品を搭載し
たプリント基板のチップ部品の取伺状態の検査を行なう
場合を想定する。ここで第５図の１１は基準基板を第１
の撮像装置で撮像して得られる映像信号を示し、１２は
被測定基板を第２の撮像装置で、撮像して得られる映ｆ
隊信号を示す。１３は。

演算回路３で、映像信号１１と１２の差勿と９２値化回
路・１で２値化した信号を示す。

すなわち、１３の信号は不良と許容位置すれを言めた１
ｇ号を示すことになり、１３ａは被測定基板にチップ部
品が搭載されていない不良部分の信号をボし、　　１３
ｂは被測定基板の許容位置ずれによる信号を示す。１４
は、除去回路１０で不良信号１３の許容位置ずれ量を除
去した信号を示す。すなわち１４はパターン認識に必要
な不良信号のみとなる。ので前記したごとくこの不良信
号を用いてパターン認識を極めて能率よく行なうことが
できる。

ここで除去回路１０は、許容位置すれが被測定基板の状
態によって幅があるため、この許容精度に相当する不良
信号の水平および垂直信号を除去する時間即ち不感帯幅
を可変できるように考慮しである。

尚１本発明の考え方は、基準基板に関する映像情報を第
３図、第４図のように撮１象装置かＬ：）得るのではな
く別途準備した記憶装置から得る形式の認識装置ｙｃも
適用可能である。。

以上の説明は、許容する位置すれ信号の除去を２値化回
路４の出力信号で行なったが他に演算回路３の出力信号
即ち２値化回路４の人力信号を除去し７ても同一の結果
か得られる。

以上説明し／ヒごとく本発明によれば、被測定物体の許
容する位置ずれに相当する信号ｒ時間を可変できる除去
回路で水平および垂直信号成分を除去し、認識処理に必
要な位置ずれ不良信号のみを記憶することにより、該記
憶回路の記憶容量を低減でき、かつ、ソフトウェアによ
る認識処理時間を短かくすることができる。ぜらに目視
判定をイ■なう方式においては、被測定物体の検音を確
実に行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図は従来のパターン認識装置の一例をボす
構成図１第３図、第４図は本発明によるパターン認識装
置の−・実施例を示す構成図、第５図は本発明によるパ
ターン認識装置の１ｂ号タイミング図。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 被測定物体を撮像し得られる映像信号と基準物体から得
   られる映像信号との差をとり、該差信号を２値化回路で
   ２値化処理し得られる映像信号を人力信号としてＨＩ２
   　Ｈ処理するパターン認識装置において、該２値化回路
   の入力信号又は出力信号の水平および垂直信号成分の欣
   定信号時間を除去する除去部を備え付けたことを特徴と
   するパターン認識装置。