JPH01124567U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH01124567U JPH01124567U JP16297087U JP16297087U JPH01124567U JP H01124567 U JPH01124567 U JP H01124567U JP 16297087 U JP16297087 U JP 16297087U JP 16297087 U JP16297087 U JP 16297087U JP H01124567 U JPH01124567 U JP H01124567U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- board
- printed circuit
- contact portion
- test pins
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図は本考案のプリント基板の検査用のテス
トピンの斜視図であり、第２図は本考案の断面図
であり、第３図は本考案の使用状態の断面図であ
る。 １……テストピンの接点部、２……らせん状の
溝、３……テストピンの受け部、４……突起、５
……ばね、６……プリント基板、７……外部から
の力。
トピンの斜視図であり、第２図は本考案の断面図
であり、第３図は本考案の使用状態の断面図であ
る。 １……テストピンの接点部、２……らせん状の
溝、３……テストピンの受け部、４……突起、５
……ばね、６……プリント基板、７……外部から
の力。
Claims (1)
- 部品実装されたプリント基板の検査に使用する
テストピンに関し、先端の尖つたミサイル型をし
た接点部と、それを挿入させて上下運動をさせる
円筒形の受け部と受け部と、接点部と受け部の間
にばねを入れた構造をしているものにおいて、接
点部の側面にらせん状の溝を刻み、かつ受け部の
内側に突起を設け、接点部が基板に押さえられて
下降すると同時に回転するようにして、基板と接
点部の不接触による導通不良を妨げることを特徴
とするプリント基板の検査用のテストピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16297087U JPH01124567U (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16297087U JPH01124567U (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01124567U true JPH01124567U (ja) | 1989-08-24 |
Family
ID=31447276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16297087U Pending JPH01124567U (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01124567U (ja) |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP16297087U patent/JPH01124567U/ja active Pending
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