JPH01135332A - Ｘ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置 - Google Patents
Ｘ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置Info
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- JPH01135332A JPH01135332A JP62292486A JP29248687A JPH01135332A JP H01135332 A JPH01135332 A JP H01135332A JP 62292486 A JP62292486 A JP 62292486A JP 29248687 A JP29248687 A JP 29248687A JP H01135332 A JPH01135332 A JP H01135332A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
Ａ、産業上の利用分野
この発明は、Ｘ線コンピュータ断層装置（ＸＭＣＴ）の
データ収集袋ＦＷ （Ｄ Ａ Ｓ ）に関する。 Ｂ、従来技術 第９図の（Ａ）に示すように、Ｘ線管球１から照射され
たＸ線は被写物体２を透過し、Ｘ線検出部３に入射する
。Ｘ線検出部３は、多数の（通常数百個程度の）Ｘ線検
出器３．〜３．のアレイで構成されている。各Ｘ線検出
器３．〜３．は適当なスキャニングによって順次的にＸ
線検出データを出力する。 第８図に示すように、各Ｘ線検出器３１〜３．からの出
力はプリアンプ４で初段増幅され、積分器５によって積
分され、オートゲインアンプ６において、その入力レベ
ルに応じたゲインで増幅された後、Ａ／Ｄ変換器７によ
ってｊビットのデジタル信号であるＡ／Ｄ変換データＡ
Ｄｏｏｔに変換される。 第９図の（Ｂ）は、Ｘ線検出器３．〜３．の位置を横軸
に、Ｘ線管球１から照射されるＸ線の強度を縦軸にして
、Ｘ線強度の分布を表したものである。 この図に示すように、Ｘ線強度はダイナミックレンジが
広いために、もしオートゲインアンプ６なしでＡ／Ｄ変
換するとすれば、Ａ／Ｄ変換器７として充分なビット数
のものが必要となり、大幅なコストアップを招く。 そこで、Ａ／Ｄ変換器７がビット数の比較的少ないもの
であってもよいようにするために、オートゲインアンプ
６を用いるのである。 オートゲインアンプ６は、積分器５の出力を２に倍する
第１アンプＡｍｐ、と、第１アンプＡｌｌ１ｐｌの出力
をさらに２に倍する第２アンプＡ１１ｌｌ！と、第１ア
ンプＡｍｐ、の出力を基準電圧ｖｔｈと比較する第１コ
ンパレータＣｏｌ１＋１ ＋ と、第２アンプＡｍｐｚ
の出力を同じ基準電圧ｖｔｈと比較する第２コンパレー
タＣｏｍｐｔと、第１．第２のコンパレータＣｏｍｐ、
、 Ｃｏ＋ｎρ２の出力を入力して、ゲイン選択信号
ＮＧ （０） ＝ （ＯＯ） 。 ＮＧ（１）＝ （０１）またはＮ、 （２） ＝ （１
０）の２ビット信号を出力する論理回路８と、積分器５
の出力、第１アンプＡｓｐｌの出力、第２アンプＡｍｐ
ｌの出力を入力しゲイン選択信号Ｎｃによってそのうち
いずれか１つをＡ／Ｄ変換器７に出力するマルチプレク
サ９とから構成されている。 バッファメモリ１０は、論理回路８からの２ビツトのゲ
イン選択信号Ｎ０と、Ａ／Ｄ変換器７からのｊビットの
Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔ とを、ゲイン選択信号Ｎ
ｒ、を上位ピント、Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｙを下位
ビットとする１次画像データＹ０として記憶する大容量
のメモリである。 マイクロコンピュータのＣＰ Ｕｌｌは、ＤＡＳ制御部
１２を介してＡ／Ｄ変換器７を制御するとともに、バッ
ファメモ１月０から１次画像データＹ０を読み出し所定
の演算処理によってＣＴ画像データＹを算出し、それに
基づいてデイスプレィ１３に断層像を表示する。１４は
ＲＯＭ、１５はｌ’？ＡＭ、１６はキーボードである。 ■「２２に倍モード」 Ｘ線検出器３１〜３．のアレイのうち１番目のＸ線検出
器３、の出力をプリアンプ４．積分器５で増幅・積分し
た積分出力をＶ（、ｓ番目（ｓｋｉ）のＸ線検出器３．
の出力を同様に増幅・積分した積分出力をｖｓとして、
Ｖ、Ｘ２ｇｋ＝Ｖ、Ｘ２に＝Ｖｔｈとする。 Ｘ線検出器３．〜３１および３ｗ〜３．についての最小
レンジの積分出力の場合、第１．第２のコンパレータＣ
ｏｔ！１９１ 、 Ｃｏ１Ｉｌｌ’ｓの出力は、〔００
〕となる。 論理回路８は
データ収集袋ＦＷ （Ｄ Ａ Ｓ ）に関する。 Ｂ、従来技術 第９図の（Ａ）に示すように、Ｘ線管球１から照射され
たＸ線は被写物体２を透過し、Ｘ線検出部３に入射する
。Ｘ線検出部３は、多数の（通常数百個程度の）Ｘ線検
出器３．〜３．のアレイで構成されている。各Ｘ線検出
器３．〜３．は適当なスキャニングによって順次的にＸ
線検出データを出力する。 第８図に示すように、各Ｘ線検出器３１〜３．からの出
力はプリアンプ４で初段増幅され、積分器５によって積
分され、オートゲインアンプ６において、その入力レベ
ルに応じたゲインで増幅された後、Ａ／Ｄ変換器７によ
ってｊビットのデジタル信号であるＡ／Ｄ変換データＡ
Ｄｏｏｔに変換される。 第９図の（Ｂ）は、Ｘ線検出器３．〜３．の位置を横軸
に、Ｘ線管球１から照射されるＸ線の強度を縦軸にして
、Ｘ線強度の分布を表したものである。 この図に示すように、Ｘ線強度はダイナミックレンジが
広いために、もしオートゲインアンプ６なしでＡ／Ｄ変
換するとすれば、Ａ／Ｄ変換器７として充分なビット数
のものが必要となり、大幅なコストアップを招く。 そこで、Ａ／Ｄ変換器７がビット数の比較的少ないもの
であってもよいようにするために、オートゲインアンプ
６を用いるのである。 オートゲインアンプ６は、積分器５の出力を２に倍する
第１アンプＡｍｐ、と、第１アンプＡｌｌ１ｐｌの出力
をさらに２に倍する第２アンプＡ１１ｌｌ！と、第１ア
ンプＡｍｐ、の出力を基準電圧ｖｔｈと比較する第１コ
ンパレータＣｏｌ１＋１ ＋ と、第２アンプＡｍｐｚ
の出力を同じ基準電圧ｖｔｈと比較する第２コンパレー
タＣｏｍｐｔと、第１．第２のコンパレータＣｏｍｐ、
、 Ｃｏ＋ｎρ２の出力を入力して、ゲイン選択信号
ＮＧ （０） ＝ （ＯＯ） 。 ＮＧ（１）＝ （０１）またはＮ、 （２） ＝ （１
０）の２ビット信号を出力する論理回路８と、積分器５
の出力、第１アンプＡｓｐｌの出力、第２アンプＡｍｐ
ｌの出力を入力しゲイン選択信号Ｎｃによってそのうち
いずれか１つをＡ／Ｄ変換器７に出力するマルチプレク
サ９とから構成されている。 バッファメモリ１０は、論理回路８からの２ビツトのゲ
イン選択信号Ｎ０と、Ａ／Ｄ変換器７からのｊビットの
Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔ とを、ゲイン選択信号Ｎ
ｒ、を上位ピント、Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｙを下位
ビットとする１次画像データＹ０として記憶する大容量
のメモリである。 マイクロコンピュータのＣＰ Ｕｌｌは、ＤＡＳ制御部
１２を介してＡ／Ｄ変換器７を制御するとともに、バッ
ファメモ１月０から１次画像データＹ０を読み出し所定
の演算処理によってＣＴ画像データＹを算出し、それに
基づいてデイスプレィ１３に断層像を表示する。１４は
ＲＯＭ、１５はｌ’？ＡＭ、１６はキーボードである。 ■「２２に倍モード」 Ｘ線検出器３１〜３．のアレイのうち１番目のＸ線検出
器３、の出力をプリアンプ４．積分器５で増幅・積分し
た積分出力をＶ（、ｓ番目（ｓｋｉ）のＸ線検出器３．
の出力を同様に増幅・積分した積分出力をｖｓとして、
Ｖ、Ｘ２ｇｋ＝Ｖ、Ｘ２に＝Ｖｔｈとする。 Ｘ線検出器３．〜３１および３ｗ〜３．についての最小
レンジの積分出力の場合、第１．第２のコンパレータＣ
ｏｔ！１９１ 、 Ｃｏ１Ｉｌｌ’ｓの出力は、〔００
〕となる。 論理回路８は
〔００〕を入力して、ゲイン選択信号Ｎ、
（２） ＝ （１０）をマルチプレクサ９に出力する
。 その結果、マルチプレクサ９の×２ｚ″端子が自動的に
選択され、マルチプレクサ９は最小レンジの積分出力を
第１および第２のアンプＡｌ１１１＋ 、 Ａｍｐｌに
よって２ｚｍ倍してＡ／Ｄ変換器７に出力する。 この場合のマルチプレクサ９からのアナログ出力は、第
９図の（Ｃ）の３１〜３．および３ｗ〜３゜に対応する
出力ＡＧ、、ＡＧ、となり、Ａ／Ｄ変換器７からのＡ／
Ｄ変換データＡＤｏｕｔは第１０図のゲイン（Ｘ２”）
の範囲に対応する出力Ａ Ｄ ＋ となる。 論理回路８からの２ビツトのゲイン選択信号Ｎ６（２）
−（１０）とＡ／Ｄ変換器７からのｊビットのＡ／Ｄ変
換データＡＤｏｕｔとは、ゲイン選択信号Ｎ、 （２）
を上位ビット、Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｖを下位ビッ
トとする（ｊ＋２）ビットの１次画像データＹ０として
バッファメモリ１０に記録される。 なお、Ｘ線検出器３ｔ、３ｗについてのＡ／Ｄ変換器７
の出力ＡＤ、は、ｊピントのフルスケール〔１１・・・
・１１〕となる。 ■「２に倍モード」 Ｘ線検出器３．°〜３．および３ｕ〜３ｗについての中
間レンジの積分出力の場合、ｖＪｌ、第２のコンパレー
タＣｏｍｐｌ 、 Ｇｏ＋ｌ１ｐｚの出力は、〔０１〕
となる。 論理回路８は〔Ｏ１〕を入力して、ゲイン選択信号Ｎｃ
（１）＝ （０１）をマルチプレクサ９に出力する。 その結果、マルチプレクサ９のＸ２”端子が自動的に選
択され、マルチプレクサ９は中間レンジの積分出力を第
１アンプＡｍｐｌで２に倍した出力をＡ／Ｄ変換器７に
出力する。 この場合のマルチプレクサ９からのアナログ出力は、第
９図の（Ｃ）の３．〜３．および３．〜３゜に対応する
出力ＡＧｚ 、ＡＧＪ となり、Ａ／Ｄ変換器７からＡ
／Ｄ変換データＡＤｏｕｙは第１０図のゲイン（Ｘ２”
）の範囲に対応する出力ＡＤ、となる。 論理回路８からの２ビツトのゲイン選択信号Ｎａ（１）
＝（０１１を上位ビット、Ａ／Ｄ変換器７からのｊビッ
トのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔを下位ビットとする１
次画像データＹｏがバッファメモリ１０に記録される。 なお、Ｘ線検出器３．．３．についてのＡ／Ｄ変換器７
の出力ＡＤ□は、ｊピントのフルスケール（１１・・・
・１１）となる。 ■「１倍モード」 Ｘ線検出器３．〜３ｕについての最大レンジの積分出力
の場合、第１．第２のコンパレータＣｏＩＩＩｐ１゜Ｃ
ｏｍｐｚの出力は、（１１）となる、論理回路８はＣ１
１）を入力して、ゲイン選択信号Ｎ、 （０） ＝［０
０］をマルチプレクサ９に出力する。その結果、マルチ
プレクサ９の×１端子が選択され、マルチプレクサ９は
最大レンジの積分出力を増幅することなくそのままＡ／
Ｄ変換器７に出力する。 この場合のマルチプレクサ９からのアナログ出力は、第
９図の（Ｃ）の３ｓ〜３．、に対応する出力ＡＧ、とな
り、Ａ／Ｄ変換器７からのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｏｔ
は第１０図のゲイン（×１）の範囲に対応する出力ＡＤ
ｉとなる。 論理回路８からの２ビツトのゲイン選択信号Ｎ０（０）
＝（００）を、Ｅ位ビット、Ａ／Ｄ変換器７からのｊビ
ットのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕｙを下位ビットとする
１次画像データＹｏがバッファメモリ１０に記録される
。 以−ヒによって、すべてのＸ線検出器３．〜３．からの
Ｘ線検出データが、個々のＸ線検出器３．〜３゜ごとに
、（ｊ＋２）ビットの１次画像データＹ０としてバッフ
ァメモ１月０に記録される。 ＣＰ Ｕｌｌは、バッファメモリ１０からＸ線検出器３
１〜３．の個々についての（ｊ＋２）ビットの１次画像
データＹ０を順次的に読み出し、下位ｊビットのＡ／Ｄ
変換データＡＤｏｕｔと、上位２ビツトのゲイン選択信
号Ｎ、とから、最終ＯＣＴ画像データＹを、演算、 Ｙ＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２” ） −’によって求める
。そして、Ｘ線検出器３．〜３．ごとのＣＴ画像データ
ＹをＲＡＭ１５に記憶する。 ２ｚｋ倍−１−−）’ノド！ハ、Ｎ＝ （１０３ｇ ＝
２Ｔ：あるから、 Ｙｚｚ＊ ＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２’ ） −”となっ
て、オートゲインアンプ６で２ｚｋ倍したものを２ｚｋ
分の１にして１倍モードと同一のゲインに戻す。 ２に倍モードのときは、Ｎ＝（０１）ｚ＝１であるから
、 Ｙｚｈ＝ Ａ ＤｏｕＴＸ （２’ ） −’となって
、オートゲインアンプ６で２に倍したものを２に分の１
にして１倍モードと同一のゲインに戻す。 １倍モードのときは、Ｎ＝［００）、＝Ｏであるから、 Ｙ＋ ＝ＡＤｏｕｙ Ｘ （２” ） −’となる。 積分出力を横軸、最終ＯＣＴ画像画像ダークＡ Ｄｏｕ
ｙ Ｘ （２’ ）−’を縦軸にとって表すと、第１１
図で点線で示すようになる。 第１１図に示すように、一般的にゲイン切換点において
、ＣＴ画像データＹが不連続となる。このような不連続
点をもつＣＴ画像データＹに基づいてデイスプレィ１３
に断層像を表示すると、その１ｔｌｒ層像にアーティフ
ァクト（偽像）が生じる。 ＣＴ画像データＹの不連続性の原因は、主として第１．
第２のアンプＡｍρ、 、 Ａｍｐｚのゲイン設計値（
フィードバック抵抗Ｒ＋、Ｒｔの抵抗値）の誤差にある
。 そこで、従来では、アーティファクトを防止するために
、フィードバック抵抗Ｒ＋、Ｒｚを調整して最終のＣＴ
画像データＹにおける不連続性をなくすようにしていた
。 Ｃ１発明が解決しようとする問題点 しかしながら、その調整作業には多大な手間がかかると
ともに、Ｘ線検出器とは別にオートゲインアンプ６に所
定の電圧を入力する装置を必要するとともに、さらにこ
の電圧入力装置の出力電圧のきわめて正確なも分にする
ためのプログラマブル電源を必要とするという問題があ
った。 すなわち、１倍モードと２に倍モードとの調整をとるた
めに電圧入力装置からオートゲインアンプ６にＸ線検出
器３．の積分出力に相当する入力電圧Ｖ。 を入力し、２に倍モード時のアンプ出力（ＩＶＡｚｉ＋
を求める。 次いで、１倍モードに切り換えてアンプ出力値ＶＡＩを
求め、■、！に／２にとｖＡ１とを比較する。 Ｖａｚｖ ／ ２’ ＞ＶＡＩであれば、第１アンプＡ
ＩＩＩ ９１のゲインが減少するようにフィードバッ
ク抵抗Ｒ＋を調整し、ｖＡ□／２”＜ＶＡＩであれば、
第１アンプＡｍｐ、のゲインが増加するようにフィード
バック抵抗Ｒ，を調整する。 そして、再び２１倍モードと１倍モードとを切り換えて
前記と同様のことをＶａｉｎ ／ ２ ’ ＝ ＶＡＩ
となるまで何回も繰り返し行う。 次いで、２に倍モードと２ ！に倍モードとの調整をと
るために電圧入力装置からオートゲインアンプ６にＸ線
検出器３．の積分出力に相当する入力電圧ｖ２を入力し
、２！に倍モード時のアンプ出力（ｉＶ＾ｔＺｋを求め
る。 次いで、２鯉倍モードに切り換えてアンプ出力値Ｖ、□
を求め、ｖＡ！□／２皺とＶ Ａｒｋとを比較する。 Ｖ Ａｚｚ＊／ ２ ’ ＞ Ｖ ａｚｍであれば、第
２アンプＡ ｍｐ ＠のゲインが減少するようにフィー
ドバック抵抗Ｒ２を調整し、ｖＡ、！に／２ｋ＜ｖＡ、
にであれば、第２アンプＡ ｒａ ｐ ｚのゲインが増
加するようにフィードバック抵抗Ｒ２を調整する。 そして、再び２！に倍モードと２に倍モードとを切り換
えて前記と同様のことをＶ ａｚｚｈ／’２ ’ ＝
Ｖ ａｔｍとなるまで何回も繰り返し行う。 しかし、フィードバック抵抗Ｒ，，Ｒ，の調整が微妙で
あること、および何回も繰り返す必要があることから、
調整作業が非常に面倒であるとともに多大な時間を必要
とする。また、専用のプログラマブル電源付きの電圧入
力装置は高価である。 その上、このゲイン調整作業がオートゲインアンプ単独
で行われるため、実際にＸ線コンピュータ断層装置のデ
ータ収集装置に組み込んだときには、温度などの環境条
件の相違により、なおも誤差が生じるおそれがある。 この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、オートゲインアンプのゲイン誤差に起因して発生
する最終ＯＣＴ画像データＹにおける不連続性（段差）
を、オートゲインアンプを実際のＸ線コンピュータ断層
装置のデータ収集装置に組み込んだ状態において自動的
に補正することができるようにすることを目的とする。 Ｄ０問題点を解決するための手段 この発明は、このような目的を達成するために、次のよ
うな構成をとる。 すなわち、この発明は、Ｘ線検出器からの入力レベルに
応じて自動的にゲインを選択するオートゲインアンプと
、このオートゲインアンプの出力をＡ／Ｄ変換するＡ／
Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器によるＡ／Ｄ変換出力デ
ータと前記オートゲインアンプにおいて得られたゲイン
選択信号とから０７画像データを算出する演算手段とを
備えたＸ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置にお
いて、前記オートゲインアンプのゲイン切換点における
０７画像データの誤差を記憶する記憶手段と、この誤差
を補正データとして前記演算手段による０７画像データ
を補正する補正手段とを備えたことを特徴とするもので
ある。 巳０作用 この発明の構成による作用は、次のとおりである。 記憶手段に記憶する誤差は、オートゲインアンプの出力
の誤差ではなく、最終的に求めようとする０７画像デー
タについての誤差である。この誤差を補正データとして
演算手段による０７画像データに対し補正を行うから、
温度などの環境条件の変動を受けることなく常に、最終
ＯＣＴ画像データＹにおいてゲイン切換点での不連続性
が解消される。 また、補正のために必要な人為作業は、前記のように最
終的に求めようとする０７画像データについての誤差を
求めるための作業であって、オートゲイン動作に代えて
ゲインを人為的に設定するだけですみ、ゲイン設定後は
、Ｘ線照射から誤差演算・記憶まで自動的に行わせるよ
うにプログラムを組んでおけばよい、すなわち、必要な
作業は従来の場合に比べてはるかに筒車であり、また、
プログラマブル電源付きの電圧入力装置のような専用の
装置も必要としない。 Ｆ、実施例 以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。 １１工胤拠 第１図はこの発明の第１実施例に係るＸ線コンピュータ
断層装置のデータ収集装置のブロック図である。第１図
において、従来例に係る第８図に示した符号と同一の符
号は、本実施例においても、その符号が示す部品１部分
等と同様のものを指す。 本実施例において、従来例と異なっている構成は、次の
とおりである。 マルチプレクサ９のゲインモード選択端子にセレクタ１
７が接続され、このセレクタ１７の入力側には論理回路
８の出力端子と、ＤＡＳＩＩＩ御部１２の竿部１２２の
ゲイン設定端子Ｔ＋、Ｔ＊と、論理回路８の出力とゲイ
ン設定端子Ｔ＋ 、Ｔｚの出力とのいずれを選択するか
を決定するためのＤＡＳ制御部１２におけるセレクト端
子Ｔ０とが接続されている。 第１．第２のゲイン設定端子Ｔ＋、Ｔ□およびセレクト
端子Ｔ、への信号出力は、キーボード１６における操作
により、ＣＰ Ｕ１１＃よびＤＡＳ制御部１２を介して
行われる。ＲＯＭ１４には、ＣＴ画像データＹを収集す
るプログラムのほかに、ＣＴ画像データＹについての誤
差を求めるためのプログラムが格納されている。 その他の構成は従来例と同様であるので、説明を省略す
る。 次に、この第１実施例の動作を説明する。 （ａ） 誤差算出・記憶動作 まず、ＣＴ画像データＹについてのゲイン切換点での誤
差を求め、ＲＡＭ１５に記憶する動作を、第２図のフロ
ーチャートに基づいて説明する。 ステップＳｌでイニシャライズし、ステップＳ２で、第
１．第２のアンプＡｓｐ、 、 Ａｌ１ガのゲイン誤差
の影響から独立してオートゲインアンプ６の倍率を決定
するために、セレクト端子Ｔ、を“Ｌ”レベルとし、第
１．第２のゲイン設定端子Ｔ、、Ｔ、の出力をセレクタ
１７に入力させる状態に切り換える。 ステップＳ３で、第１ゲイン設定端子Ｔ１を“０”にセ
ットし、ステップＳ４で、第２ゲイン設定端子Ｔ、を１
ｍにセットすることにより、２＆倍モードを選択する。 これは、第３図の（Ｂ）で示す特性に従ってＸ線検出デ
ータを収集することに相当する。 ステップＳ５で、Ｙ＝ＡＤｏｕｙ Ｘ （２” ） −
’における”Ｎ″をストアするレジスタＮに“１″をス
トアし、ステップＳ６で、Ｘ線検出器３．〜３．の個数
をカウントするレジスタｎに１＋１ｔ＋をストアする。 ステップＳ７で、Ｘ線管球１を駆動してＸ線検出器３に
対するＸ線照射を開始する。ステップＳ８で、ｎ番目の
Ｘ線検出器３７ （最初は１番目のＸ線検出器３．）か
らのデータを入力し、オートゲインアンプ６において８
倍増幅したものをＡ／Ｄ変換器７でＡ／Ｄ変換し、その
Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔｎとともにレジスタＮの内
容であるゲイン選択信号Ｎ、 （１）＝（０１）をにビ
ットの１次画像データＹ０としてバッファメモリ１０に
記憶する。 ステップＳ９で、レジスタｎの内容がｘｌ検出器３、〜
３．の個数ｍに達したかどうかを判断し、達していなけ
ればステップＳ１０に進んでレジスタｎの内容にプラス
１（＋１）Ｌ、ステップＳ８にリターンする。 すべてのＸ線検出器３１〜３．についてゲイン選択信号
Ｎ、 （１）付きの１次画像データＹ０がバッファメモ
Ｉｎ０に記憶されると、ステップＳ９の判断がＹＥＳと
なり、ステップ３１１に進んでＸ線の照射を停止する。 ステップ３１２で、フラグＦ１が１″にセットされてい
るかどうかを判断する。ステップ３１のイニシャライズ
によってフラグＦ１はθ″であるから、ステップＳ１４
に進み、バッファメモリ１０からゲイン選択信号ＮＧ（
１）付きの１次画像データＹ０を読み出し、所定の演算
によって出力飽和点近くのＸ線検出器ａｌｌを求める。 ２１倍モードのときには、Ｘ線検出器３．が求められる
（第３図参照）。 ステップＳ１５で、Ｘ線検出器３ＩＩについてのＡ Ｄ
ｏｕ！（３Ｉｌ）に（２”）−Ｈを掛は算した結果をレ
ジスタαにストアする。２に倍モードのときは、α＝Ａ
Ｄｏｕｖ （Ｌ ） Ｘ （２” ） −’となる。 ステップＳ１６で、レジスタＮの内容がｌ″であるかど
うかを判断する。２鯉倍モードのときはＹＥＳと判断し
てステップＳ１７に進み、フラグＦ、が“１°°にセッ
トされているかどうかを判断する。 ステップＳｌのイニシャライズによってフラグＦ３は０
°゛であるから、ステップ３１８に進み、レジスタαの
内容をレジスタＣにストアする。すなわち、Ｃ＝ＡＤｏ
ｕｖ （’３． ） Ｘ （２” ） −’となる。 次いで、ステップＳ２３で、レジスタＲの内容にプラス
１（＋１）Ｌ、ステップＳ２４で、レジスタＲの内容が
“４”に達したかどうかを判断する。現在、Ｒ＝１であ
るため、ステップＳ２５に進む。 ステップＳ２５で、フラグＦ１が“１”にセットされて
いるかどうかを判断する。０″であるため、ステップＳ
２６に進んでフラグＦ、を“１″にセットし、ステップ
３２７で、第２ゲイン設定端子Ｔ２を“０”にセットす
ることにより、１倍モードを選択する（第１ゲイン設定
端子Ｔ１はステップＳ３で既に°゛０°“にセットされ
ている）。これは、第３図の（Ａ）で示す特性に従って
Ｘ線検出データを収集することに相当する。 ステップ３２Ｂで、レジスタＮに１倍モードを表す°“
０°゛をストアした後、ステップＳ６にリターンする。 以下、ステップＳ６からステップＳ７に進み、次いで、
ステップＳ８→Ｓ９→ＳＩＯ→Ｓ８を繰り返し実行した
後、ステップＳｌｌからステップＳ１２に至る。 この場合、先にステップＳ２６でフラグＦ、が１”にセ
ットされているため、ステップＳ１３に進み、フラグＦ
２が“１”にセットされているかどうかを判断する。”
０”であるため、ステップ５１４をジャンプしてステッ
プＳ１５に進み、先に求めたＸ線検出器３、についての
Ａ ＤｏＩＩ？（３−）に（２’）−’を掛は算した結
果をレジスタαにストアする。１倍モードのときは、Ｎ
＝０であるから、 α＝ＡＤｏｕｔ （Ｌ ） Ｘ （２’ ） ’となる
。 Ｎ＝０であるため、ステップ５１６ではＮＯと判断して
ステップ３１９に進み、今麿はＹＥＳと判断してステッ
プＳ２０に進み、レジスタαの内容をレジスタＤにスト
アする。すなわち、 Ｄ＝ＡＤａｕｙ （３ｓ ） Ｘ （２” ） ’とな
る。 次いで、ステップＳ２３で、レジスタ只の内容にプラス
１（＋１）Ｌ、ステップＳ２４では現在、Ｒ＝２である
ため、ステップＳ２５に進み、フラグＦ１が“１ ”に
セットされているかどうかを判断する。先のステップＳ
２６で“１″にセットされているため、ステップ３２９
に進んでフラグＦ２が“１”にセットされているかどう
かを判断する。このとき“０”であるため、ステップＳ
３０に進んでフラグＦ２を“１″にセットする。 ステップＳ３１で、第１ゲイン設定端子Ｔ、を１″にセ
ットすることにより、２２に倍モードを選択する（第２
ゲイン設定端子Ｔ□はステップＳ２７で既に０″にセッ
トされている）、これは、第３図の（Ｃ）で示す特性に
従ってＸ線検出データを収集することに相当する。 ステップ＄３２で、レジスタＮに２ｚｋ倍モードを表す
“２″をストアした後、ステップＳ６にリターンする。 以下、ステップＳ６からステップＳ７に進み、次いで、
ステップＳ８→Ｓ９→５１０→Ｓ８を繰り返し実行した
後、ステップ３１１からステップＳ１２に至る。 この場合、先にステップＳ２６でフラグＦ１が“ビにセ
ントされ、ステップＳ３０でフラグＦ２が１゛にセット
されているため、ステップＳ１２→Ｓ１３→Ｓ１４と進
み、バッファメモ瞥月Ｏからゲイン選択１３号Ｎ。 （２）付きの１次画像データＹ０を読み出し、所定の演
算によって出力飽和点近くのＸ線検出器３ｘを求める。 ２″に倍モードのときには、Ｘ線検出器３．が求められ
る（第３図参照）。 ステップＳ１５で、Ｘ線検出器３ＸについてのＡ Ｄｏ
Ｉｌｉ（３Ｘ）に（２ｋ）−’を掛は算した結果をレジ
スタαにストアする。２２に倍モードのときは、α＝Ａ
Ｄｏｕｔ （３ｔ ） Ｘ （２” ） −”となる。 ２２に倍モードのときは、Ｎ＝２であるから、ステップ
３１６−３１９→Ｓ２１と進み、レジスタαの内容をレ
ジスタＡにストアする。すなわち、 Ａ＝ＡＤｏｕｔ （３ｔ ） Ｘ （２’ ） −”と
なる。 次いで、ステップ３２３で、レジスタＲの内容にプラス
１（＋ｌ）Ｌ、ステップＳ２４では現在、ｎ＝３である
ため、ステップＳ２５に進み、さらにステップＳ２９か
らステンブＳ３３に進んでフラグＦ、を“０”にセント
し、ステップＳ３４で、フラグＦ、を“１″にセットし
た後、ステップＳ３にリターンする。 すなわち、ステップＳ３で、第１ゲイン設定端子Ｔ＋を
“０°゛にセットし、ステップＳ４で、第２ゲイン設定
端子Ｔ、を“１”にセントすることにより、再び、２°
゛倍モードを選択する。 そして、前回と同様にしてステップＳ５からステップＳ
１３に至る。ステップ３３３で、フラグＦｚが０″にセ
ットされているため、ステップＳ１４をジャンプしてス
テップ３１５に進み、先に求めたＸ線検出器３殖につい
てのＡＤｏａｖ（３、）に（２ｋ）−’を掛は算した結
果をレジスタαにストアする。２に倍モードのときは、
Ｎ＝１であるから、 α＝ＡＤｏｕｔ （３ｔ ） ｘ （２” ） ’とな
る。 Ｎ＝１でかつＦ、＝１であるから、ステップＳ１６→Ｓ
１７→Ｓ２２と進み、レジスタαの内容をレジスタＢに
ストアする。すなわち、 Ｂ＝ＡＤａｕｖ （３ｔ ） Ｘ （２’ ） ’とな
る。 次いで、ステップＳ２３で、レジスタＲの内容にプラス
１（＋１）Ｌ、、ステップＳ２４では現在、ｎ＝４であ
るため、ステップ３３５に進む。 ステップＳ３５では、レジスタＤの内容からレジスタＣ
の内容を減算し、その結果を補正データ０ｆｆＳｅｔｃ
＋としてＲＡＭ１５に記憶する。補正データ０ｆｆｓｅ
ｔｃｔ＋は、 ０ｆｆｓｅｔｃＩｌ＝Ｄ Ｃ＝ＡＤＯＩＩＴ （Ｌ
） Ｘ （２’ ） ’ＡＤｏｕｔ （Ｌ ） Ｘ （
２’ ） −’である。ステップ３３６では、レジスタ
Ｂの内容からレジスタＡの内容を減算し、その結果を補
正データＯｆｆｓｅｔａｍとしてＲＡＭ１５に記憶する
。補正データＯｆｆｓｅｔａｍは、 ０ｆｆｓｅｔＡ１”Ｂ−Ａ＝ＡＤｏｏｔ （３＋ ）
Ｘ （２” ） −’−ＡＤａａｔ （３ｔ ） ｘ
（２” ） −”である。 次いで、ステップＳ３７で、セレクト端子Ｔ０を“Ｈｏ
“レベルにしてセレクタ１７を論理回路８の出力を入力
する状態に切り換え、一連のシーケンス動作を終了する
。 以上のようにして算出されＲＡＭ１５に記憶された補正
データ０ｆｆｓｅｔｃゎは、第１１図における点Ｐｏの
値と点Ｐｃの値との誤差Δ、Ｄに相当し、補正データ０
ｆｆｓｅｔ４１１は点Ｐ３の値と点Ｐ、の値との誤差Δ
Ａｌに相当する。 ■）実測時のＣＴ画像データの補正動作次に、ＣＴ画像
データの実測時における補正動作について、第４図のフ
ローチャートに基づいて説明する。 ステップ＃１で、すべてのレジスタおよびフラグをイニ
シャライズし、ステップ＃２で、レジスタｎに１’をス
トアし、ステップ＃３で、バッファメモ１月Ｏからｎ番
目の（ｊ＋２）ビットの１次画像データＹｏを読み出す
、この１次画像データＹ、は、上位２ビツトのゲイン選
択信号ＮＧと下位ｊビットのＡ／Ｄ変換データＡ Ｄ
ｏ ｕ↑とを組み合わせたちのである。 ステップ＃４で、ゲイン選択信号Ｎ、が〔Ｏ１〕（２’
倍モード）であるかどうかを判断する。ｍ個のＸ線検出
器３．〜３１は、その配列の順番にスキャニングされる
から、初めの方はゲイン選択信号Ｎｃ。 が（００）（２”倍モード）であるから、Ｎｏと判断し
、ステップ＃５に進む。 ステップ＃５で、ゲイン選択信号Ｎ、が〔１０〕（２ｔ
′″倍モード）であるかどうかを判断する。Ｘ線検出器
３１〜３ムまではＹＥＳと判断し、ステップ＃１１に進
む。 ステップ＃１１は補正後のＣＴ画像データＹ′をＲＡＭ
１５に書き込む動作であるが、２１に倍モードのときは
、ＣＴＷＩ像デークＹをそのまま補正後のＣＴ画像デー
タＹ′として書き込む（Ｙ’−Ｙ）。 ステップ＃１２で、レジスタｎの内容がＸ線検出器３１
〜３．の個数ｍに達したかどうかを判断する。 達していなければ、ステップ＃１３で、レジスタｎの内
容にプラス１’（＋１）Ｌ、た後、ステップ＃３にリタ
ーンする。ｎ＝１〜ｉのときにほぼステップ＃３→＃４
→＃５→＃１１→＃１２→＃１３→＃３を繰り返し実行
する。 ｎ＝ｉ＋１になると、２に倍モードに該当することとな
り、ステップ＃４の判断がＹＥＳとなってステップ＃６
に進み、ＲＡＭ１５から補正データＯｆｆｓｅｔａｍを
読み出し、ステップ＃７では、ＣＴ画像データＹから補
正データ０ｆｆｓｅｔ□を減算することにより、補正後
のＣＴ画像データＹ′を得る。 Ｙ ’ ＝ Ｙ −０ｆｆｓｅｔ、Ｂ −次いで、ステップ＃１１に進み、補正後のＣＴｊｉｉ
ｉ像データＹ′をＲＡＭ１５に書き込む、以下、ステッ
プ＃１２→＃１３からステップ＃３にリターンするが、
ｎ＝ｉ＋１〜Ｓのときには、ステップ＃３→＃４→＃６
→＃７→＃１１→＃１２→＃１３→＃３を繰り返し実行
する。 ｎ＝ｓ＋１になると、１倍モードに該当することとなり
、ステップ＃４の判断がＮｏ、ステップ＃５の判断もＮ
Ｏとなってステップ＃８に進み、ＲＡＭ１５から補正デ
ータ（ｌｆｆｓａｔａｍを読み出し、ステップ＃９で、
ＲＡＭ１５から補正データ０ｆｆｓｅｔｃｅを読み出し
、ステップ＃１０では、ＣＴ画像データＹから補正デー
タ０ｆｆｓｅｔＡ、および補正データ０ｆｆｓｅｔｃ＋
＋を減算することにより、補正後のＣＴ画像データＹ′
を得る。 Ｙ’ ＝Ｙ −Ｏｆｆｓｅｔａｍ−Ｏｆｆｓｅｔｃ。 次いで、ステップ＃ｌｌに進み、補正後のＣＴ画像デー
タＹ′をＲＡＭ１５に書き込む、以下、ステップ＃１２
→＃１３からステップ＃３にリターンするが、ｎ＝ｓ＋
１〜ｍのときには、ステップ＃３→＃５→＃８→＃９→
＃１０→＃１１→＃１２→＃１３→＃３を繰り返し実行
する。そして、ｎ＝ｍとなったときに一連のシーケンス
動作を終了する。 以上のように、２に倍王−ド、２！に倍モードごとに補
正することにより、ゲイン切換点において不連続性をも
つ従来のＣＴ画像データＹに代わって、求めるべき最終
ＯＣＴ画像データＹ′を第１１図の実線ＯＱで示すよう
に連続性のあるものに較正することができ、アーティフ
ァクトを防止できる。 第１夫庸班 次に、第２実施例を第５図および第６図に基づいて説明
する。 第５図において、第１実施例に係る第１図に示した符号
と同一の符号は、本実施例においても、その符号が示す
部品１部分等と同様のものを指す。 本実施例において、第１実、施例と異なっている構成は
、次のとおりである。 １８はＡ／Ｄ変換器７からのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕ
ｔを入力し、セレクタ１７からのゲイン選択信号Ｎ、に
応じてＡ／Ｄ変換データＡＤＯＩ＋Ｔの小数点位置を変
えて出力する可変ビットシフタ、ＬＵＴは、第１実施例
の場合と同様にして求めた補正データを記憶し、ゲイン
選択信号Ｎ６に応じた補正データを出力するルックアッ
プテーブル、１９は可変ビットシフタ１８の出力データ
とルックアップテーブルＬＵＴの出力データとを加算す
る加算器である。 その他の構成は第１実施例と同様であるので、説明を省
略する。 次に、この第２実施例の動作を説明する。 ルックアップテーブルＬＵＴは、第６図のフォーマット
に示すように、ゲイン選択信号Ｎ、が〔ｌＯ〕のときは
、Ｏを出力し、〔Ｏ１］のときは、−Ｏｆｆｓｅｔａｍ
を出力し、〔ＯＯ〕のときは、−（ＯｆｆＳｅｔａｓ＋
０ｆｆｌｉｅｔｃＤ）を出力する。 可変ビットシフタ１８は、第７図に示すように動作する
。ｊビットのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔを、２進表示
で、 ａｊ−１・２’−’ ＋ａ７−、 ・２ト２＋・・・
・＋ａ、・２゜ で表すとする。 ゲイン選択信号Ｎ、が
（２） ＝ （１０）をマルチプレクサ９に出力する
。 その結果、マルチプレクサ９の×２ｚ″端子が自動的に
選択され、マルチプレクサ９は最小レンジの積分出力を
第１および第２のアンプＡｌ１１１＋ 、 Ａｍｐｌに
よって２ｚｍ倍してＡ／Ｄ変換器７に出力する。 この場合のマルチプレクサ９からのアナログ出力は、第
９図の（Ｃ）の３１〜３．および３ｗ〜３゜に対応する
出力ＡＧ、、ＡＧ、となり、Ａ／Ｄ変換器７からのＡ／
Ｄ変換データＡＤｏｕｔは第１０図のゲイン（Ｘ２”）
の範囲に対応する出力Ａ Ｄ ＋ となる。 論理回路８からの２ビツトのゲイン選択信号Ｎ６（２）
−（１０）とＡ／Ｄ変換器７からのｊビットのＡ／Ｄ変
換データＡＤｏｕｔとは、ゲイン選択信号Ｎ、 （２）
を上位ビット、Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｖを下位ビッ
トとする（ｊ＋２）ビットの１次画像データＹ０として
バッファメモリ１０に記録される。 なお、Ｘ線検出器３ｔ、３ｗについてのＡ／Ｄ変換器７
の出力ＡＤ、は、ｊピントのフルスケール〔１１・・・
・１１〕となる。 ■「２に倍モード」 Ｘ線検出器３．°〜３．および３ｕ〜３ｗについての中
間レンジの積分出力の場合、ｖＪｌ、第２のコンパレー
タＣｏｍｐｌ 、 Ｇｏ＋ｌ１ｐｚの出力は、〔０１〕
となる。 論理回路８は〔Ｏ１〕を入力して、ゲイン選択信号Ｎｃ
（１）＝ （０１）をマルチプレクサ９に出力する。 その結果、マルチプレクサ９のＸ２”端子が自動的に選
択され、マルチプレクサ９は中間レンジの積分出力を第
１アンプＡｍｐｌで２に倍した出力をＡ／Ｄ変換器７に
出力する。 この場合のマルチプレクサ９からのアナログ出力は、第
９図の（Ｃ）の３．〜３．および３．〜３゜に対応する
出力ＡＧｚ 、ＡＧＪ となり、Ａ／Ｄ変換器７からＡ
／Ｄ変換データＡＤｏｕｙは第１０図のゲイン（Ｘ２”
）の範囲に対応する出力ＡＤ、となる。 論理回路８からの２ビツトのゲイン選択信号Ｎａ（１）
＝（０１１を上位ビット、Ａ／Ｄ変換器７からのｊビッ
トのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔを下位ビットとする１
次画像データＹｏがバッファメモリ１０に記録される。 なお、Ｘ線検出器３．．３．についてのＡ／Ｄ変換器７
の出力ＡＤ□は、ｊピントのフルスケール（１１・・・
・１１）となる。 ■「１倍モード」 Ｘ線検出器３．〜３ｕについての最大レンジの積分出力
の場合、第１．第２のコンパレータＣｏＩＩＩｐ１゜Ｃ
ｏｍｐｚの出力は、（１１）となる、論理回路８はＣ１
１）を入力して、ゲイン選択信号Ｎ、 （０） ＝［０
０］をマルチプレクサ９に出力する。その結果、マルチ
プレクサ９の×１端子が選択され、マルチプレクサ９は
最大レンジの積分出力を増幅することなくそのままＡ／
Ｄ変換器７に出力する。 この場合のマルチプレクサ９からのアナログ出力は、第
９図の（Ｃ）の３ｓ〜３．、に対応する出力ＡＧ、とな
り、Ａ／Ｄ変換器７からのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｏｔ
は第１０図のゲイン（×１）の範囲に対応する出力ＡＤ
ｉとなる。 論理回路８からの２ビツトのゲイン選択信号Ｎ０（０）
＝（００）を、Ｅ位ビット、Ａ／Ｄ変換器７からのｊビ
ットのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕｙを下位ビットとする
１次画像データＹｏがバッファメモリ１０に記録される
。 以−ヒによって、すべてのＸ線検出器３．〜３．からの
Ｘ線検出データが、個々のＸ線検出器３．〜３゜ごとに
、（ｊ＋２）ビットの１次画像データＹ０としてバッフ
ァメモ１月０に記録される。 ＣＰ Ｕｌｌは、バッファメモリ１０からＸ線検出器３
１〜３．の個々についての（ｊ＋２）ビットの１次画像
データＹ０を順次的に読み出し、下位ｊビットのＡ／Ｄ
変換データＡＤｏｕｔと、上位２ビツトのゲイン選択信
号Ｎ、とから、最終ＯＣＴ画像データＹを、演算、 Ｙ＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２” ） −’によって求める
。そして、Ｘ線検出器３．〜３．ごとのＣＴ画像データ
ＹをＲＡＭ１５に記憶する。 ２ｚｋ倍−１−−）’ノド！ハ、Ｎ＝ （１０３ｇ ＝
２Ｔ：あるから、 Ｙｚｚ＊ ＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２’ ） −”となっ
て、オートゲインアンプ６で２ｚｋ倍したものを２ｚｋ
分の１にして１倍モードと同一のゲインに戻す。 ２に倍モードのときは、Ｎ＝（０１）ｚ＝１であるから
、 Ｙｚｈ＝ Ａ ＤｏｕＴＸ （２’ ） −’となって
、オートゲインアンプ６で２に倍したものを２に分の１
にして１倍モードと同一のゲインに戻す。 １倍モードのときは、Ｎ＝［００）、＝Ｏであるから、 Ｙ＋ ＝ＡＤｏｕｙ Ｘ （２” ） −’となる。 積分出力を横軸、最終ＯＣＴ画像画像ダークＡ Ｄｏｕ
ｙ Ｘ （２’ ）−’を縦軸にとって表すと、第１１
図で点線で示すようになる。 第１１図に示すように、一般的にゲイン切換点において
、ＣＴ画像データＹが不連続となる。このような不連続
点をもつＣＴ画像データＹに基づいてデイスプレィ１３
に断層像を表示すると、その１ｔｌｒ層像にアーティフ
ァクト（偽像）が生じる。 ＣＴ画像データＹの不連続性の原因は、主として第１．
第２のアンプＡｍρ、 、 Ａｍｐｚのゲイン設計値（
フィードバック抵抗Ｒ＋、Ｒｔの抵抗値）の誤差にある
。 そこで、従来では、アーティファクトを防止するために
、フィードバック抵抗Ｒ＋、Ｒｚを調整して最終のＣＴ
画像データＹにおける不連続性をなくすようにしていた
。 Ｃ１発明が解決しようとする問題点 しかしながら、その調整作業には多大な手間がかかると
ともに、Ｘ線検出器とは別にオートゲインアンプ６に所
定の電圧を入力する装置を必要するとともに、さらにこ
の電圧入力装置の出力電圧のきわめて正確なも分にする
ためのプログラマブル電源を必要とするという問題があ
った。 すなわち、１倍モードと２に倍モードとの調整をとるた
めに電圧入力装置からオートゲインアンプ６にＸ線検出
器３．の積分出力に相当する入力電圧Ｖ。 を入力し、２に倍モード時のアンプ出力（ＩＶＡｚｉ＋
を求める。 次いで、１倍モードに切り換えてアンプ出力値ＶＡＩを
求め、■、！に／２にとｖＡ１とを比較する。 Ｖａｚｖ ／ ２’ ＞ＶＡＩであれば、第１アンプＡ
ＩＩＩ ９１のゲインが減少するようにフィードバッ
ク抵抗Ｒ＋を調整し、ｖＡ□／２”＜ＶＡＩであれば、
第１アンプＡｍｐ、のゲインが増加するようにフィード
バック抵抗Ｒ，を調整する。 そして、再び２１倍モードと１倍モードとを切り換えて
前記と同様のことをＶａｉｎ ／ ２ ’ ＝ ＶＡＩ
となるまで何回も繰り返し行う。 次いで、２に倍モードと２ ！に倍モードとの調整をと
るために電圧入力装置からオートゲインアンプ６にＸ線
検出器３．の積分出力に相当する入力電圧ｖ２を入力し
、２！に倍モード時のアンプ出力（ｉＶ＾ｔＺｋを求め
る。 次いで、２鯉倍モードに切り換えてアンプ出力値Ｖ、□
を求め、ｖＡ！□／２皺とＶ Ａｒｋとを比較する。 Ｖ Ａｚｚ＊／ ２ ’ ＞ Ｖ ａｚｍであれば、第
２アンプＡ ｍｐ ＠のゲインが減少するようにフィー
ドバック抵抗Ｒ２を調整し、ｖＡ、！に／２ｋ＜ｖＡ、
にであれば、第２アンプＡ ｒａ ｐ ｚのゲインが増
加するようにフィードバック抵抗Ｒ２を調整する。 そして、再び２！に倍モードと２に倍モードとを切り換
えて前記と同様のことをＶ ａｚｚｈ／’２ ’ ＝
Ｖ ａｔｍとなるまで何回も繰り返し行う。 しかし、フィードバック抵抗Ｒ，，Ｒ，の調整が微妙で
あること、および何回も繰り返す必要があることから、
調整作業が非常に面倒であるとともに多大な時間を必要
とする。また、専用のプログラマブル電源付きの電圧入
力装置は高価である。 その上、このゲイン調整作業がオートゲインアンプ単独
で行われるため、実際にＸ線コンピュータ断層装置のデ
ータ収集装置に組み込んだときには、温度などの環境条
件の相違により、なおも誤差が生じるおそれがある。 この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、オートゲインアンプのゲイン誤差に起因して発生
する最終ＯＣＴ画像データＹにおける不連続性（段差）
を、オートゲインアンプを実際のＸ線コンピュータ断層
装置のデータ収集装置に組み込んだ状態において自動的
に補正することができるようにすることを目的とする。 Ｄ０問題点を解決するための手段 この発明は、このような目的を達成するために、次のよ
うな構成をとる。 すなわち、この発明は、Ｘ線検出器からの入力レベルに
応じて自動的にゲインを選択するオートゲインアンプと
、このオートゲインアンプの出力をＡ／Ｄ変換するＡ／
Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器によるＡ／Ｄ変換出力デ
ータと前記オートゲインアンプにおいて得られたゲイン
選択信号とから０７画像データを算出する演算手段とを
備えたＸ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置にお
いて、前記オートゲインアンプのゲイン切換点における
０７画像データの誤差を記憶する記憶手段と、この誤差
を補正データとして前記演算手段による０７画像データ
を補正する補正手段とを備えたことを特徴とするもので
ある。 巳０作用 この発明の構成による作用は、次のとおりである。 記憶手段に記憶する誤差は、オートゲインアンプの出力
の誤差ではなく、最終的に求めようとする０７画像デー
タについての誤差である。この誤差を補正データとして
演算手段による０７画像データに対し補正を行うから、
温度などの環境条件の変動を受けることなく常に、最終
ＯＣＴ画像データＹにおいてゲイン切換点での不連続性
が解消される。 また、補正のために必要な人為作業は、前記のように最
終的に求めようとする０７画像データについての誤差を
求めるための作業であって、オートゲイン動作に代えて
ゲインを人為的に設定するだけですみ、ゲイン設定後は
、Ｘ線照射から誤差演算・記憶まで自動的に行わせるよ
うにプログラムを組んでおけばよい、すなわち、必要な
作業は従来の場合に比べてはるかに筒車であり、また、
プログラマブル電源付きの電圧入力装置のような専用の
装置も必要としない。 Ｆ、実施例 以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。 １１工胤拠 第１図はこの発明の第１実施例に係るＸ線コンピュータ
断層装置のデータ収集装置のブロック図である。第１図
において、従来例に係る第８図に示した符号と同一の符
号は、本実施例においても、その符号が示す部品１部分
等と同様のものを指す。 本実施例において、従来例と異なっている構成は、次の
とおりである。 マルチプレクサ９のゲインモード選択端子にセレクタ１
７が接続され、このセレクタ１７の入力側には論理回路
８の出力端子と、ＤＡＳＩＩＩ御部１２の竿部１２２の
ゲイン設定端子Ｔ＋、Ｔ＊と、論理回路８の出力とゲイ
ン設定端子Ｔ＋ 、Ｔｚの出力とのいずれを選択するか
を決定するためのＤＡＳ制御部１２におけるセレクト端
子Ｔ０とが接続されている。 第１．第２のゲイン設定端子Ｔ＋、Ｔ□およびセレクト
端子Ｔ、への信号出力は、キーボード１６における操作
により、ＣＰ Ｕ１１＃よびＤＡＳ制御部１２を介して
行われる。ＲＯＭ１４には、ＣＴ画像データＹを収集す
るプログラムのほかに、ＣＴ画像データＹについての誤
差を求めるためのプログラムが格納されている。 その他の構成は従来例と同様であるので、説明を省略す
る。 次に、この第１実施例の動作を説明する。 （ａ） 誤差算出・記憶動作 まず、ＣＴ画像データＹについてのゲイン切換点での誤
差を求め、ＲＡＭ１５に記憶する動作を、第２図のフロ
ーチャートに基づいて説明する。 ステップＳｌでイニシャライズし、ステップＳ２で、第
１．第２のアンプＡｓｐ、 、 Ａｌ１ガのゲイン誤差
の影響から独立してオートゲインアンプ６の倍率を決定
するために、セレクト端子Ｔ、を“Ｌ”レベルとし、第
１．第２のゲイン設定端子Ｔ、、Ｔ、の出力をセレクタ
１７に入力させる状態に切り換える。 ステップＳ３で、第１ゲイン設定端子Ｔ１を“０”にセ
ットし、ステップＳ４で、第２ゲイン設定端子Ｔ、を１
ｍにセットすることにより、２＆倍モードを選択する。 これは、第３図の（Ｂ）で示す特性に従ってＸ線検出デ
ータを収集することに相当する。 ステップＳ５で、Ｙ＝ＡＤｏｕｙ Ｘ （２” ） −
’における”Ｎ″をストアするレジスタＮに“１″をス
トアし、ステップＳ６で、Ｘ線検出器３．〜３．の個数
をカウントするレジスタｎに１＋１ｔ＋をストアする。 ステップＳ７で、Ｘ線管球１を駆動してＸ線検出器３に
対するＸ線照射を開始する。ステップＳ８で、ｎ番目の
Ｘ線検出器３７ （最初は１番目のＸ線検出器３．）か
らのデータを入力し、オートゲインアンプ６において８
倍増幅したものをＡ／Ｄ変換器７でＡ／Ｄ変換し、その
Ａ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔｎとともにレジスタＮの内
容であるゲイン選択信号Ｎ、 （１）＝（０１）をにビ
ットの１次画像データＹ０としてバッファメモリ１０に
記憶する。 ステップＳ９で、レジスタｎの内容がｘｌ検出器３、〜
３．の個数ｍに達したかどうかを判断し、達していなけ
ればステップＳ１０に進んでレジスタｎの内容にプラス
１（＋１）Ｌ、ステップＳ８にリターンする。 すべてのＸ線検出器３１〜３．についてゲイン選択信号
Ｎ、 （１）付きの１次画像データＹ０がバッファメモ
Ｉｎ０に記憶されると、ステップＳ９の判断がＹＥＳと
なり、ステップ３１１に進んでＸ線の照射を停止する。 ステップ３１２で、フラグＦ１が１″にセットされてい
るかどうかを判断する。ステップ３１のイニシャライズ
によってフラグＦ１はθ″であるから、ステップＳ１４
に進み、バッファメモリ１０からゲイン選択信号ＮＧ（
１）付きの１次画像データＹ０を読み出し、所定の演算
によって出力飽和点近くのＸ線検出器ａｌｌを求める。 ２１倍モードのときには、Ｘ線検出器３．が求められる
（第３図参照）。 ステップＳ１５で、Ｘ線検出器３ＩＩについてのＡ Ｄ
ｏｕ！（３Ｉｌ）に（２”）−Ｈを掛は算した結果をレ
ジスタαにストアする。２に倍モードのときは、α＝Ａ
Ｄｏｕｖ （Ｌ ） Ｘ （２” ） −’となる。 ステップＳ１６で、レジスタＮの内容がｌ″であるかど
うかを判断する。２鯉倍モードのときはＹＥＳと判断し
てステップＳ１７に進み、フラグＦ、が“１°°にセッ
トされているかどうかを判断する。 ステップＳｌのイニシャライズによってフラグＦ３は０
°゛であるから、ステップ３１８に進み、レジスタαの
内容をレジスタＣにストアする。すなわち、Ｃ＝ＡＤｏ
ｕｖ （’３． ） Ｘ （２” ） −’となる。 次いで、ステップＳ２３で、レジスタＲの内容にプラス
１（＋１）Ｌ、ステップＳ２４で、レジスタＲの内容が
“４”に達したかどうかを判断する。現在、Ｒ＝１であ
るため、ステップＳ２５に進む。 ステップＳ２５で、フラグＦ１が“１”にセットされて
いるかどうかを判断する。０″であるため、ステップＳ
２６に進んでフラグＦ、を“１″にセットし、ステップ
３２７で、第２ゲイン設定端子Ｔ２を“０”にセットす
ることにより、１倍モードを選択する（第１ゲイン設定
端子Ｔ１はステップＳ３で既に°゛０°“にセットされ
ている）。これは、第３図の（Ａ）で示す特性に従って
Ｘ線検出データを収集することに相当する。 ステップ３２Ｂで、レジスタＮに１倍モードを表す°“
０°゛をストアした後、ステップＳ６にリターンする。 以下、ステップＳ６からステップＳ７に進み、次いで、
ステップＳ８→Ｓ９→ＳＩＯ→Ｓ８を繰り返し実行した
後、ステップＳｌｌからステップＳ１２に至る。 この場合、先にステップＳ２６でフラグＦ、が１”にセ
ットされているため、ステップＳ１３に進み、フラグＦ
２が“１”にセットされているかどうかを判断する。”
０”であるため、ステップ５１４をジャンプしてステッ
プＳ１５に進み、先に求めたＸ線検出器３、についての
Ａ ＤｏＩＩ？（３−）に（２’）−’を掛は算した結
果をレジスタαにストアする。１倍モードのときは、Ｎ
＝０であるから、 α＝ＡＤｏｕｔ （Ｌ ） Ｘ （２’ ） ’となる
。 Ｎ＝０であるため、ステップ５１６ではＮＯと判断して
ステップ３１９に進み、今麿はＹＥＳと判断してステッ
プＳ２０に進み、レジスタαの内容をレジスタＤにスト
アする。すなわち、 Ｄ＝ＡＤａｕｙ （３ｓ ） Ｘ （２” ） ’とな
る。 次いで、ステップＳ２３で、レジスタ只の内容にプラス
１（＋１）Ｌ、ステップＳ２４では現在、Ｒ＝２である
ため、ステップＳ２５に進み、フラグＦ１が“１ ”に
セットされているかどうかを判断する。先のステップＳ
２６で“１″にセットされているため、ステップ３２９
に進んでフラグＦ２が“１”にセットされているかどう
かを判断する。このとき“０”であるため、ステップＳ
３０に進んでフラグＦ２を“１″にセットする。 ステップＳ３１で、第１ゲイン設定端子Ｔ、を１″にセ
ットすることにより、２２に倍モードを選択する（第２
ゲイン設定端子Ｔ□はステップＳ２７で既に０″にセッ
トされている）、これは、第３図の（Ｃ）で示す特性に
従ってＸ線検出データを収集することに相当する。 ステップ＄３２で、レジスタＮに２ｚｋ倍モードを表す
“２″をストアした後、ステップＳ６にリターンする。 以下、ステップＳ６からステップＳ７に進み、次いで、
ステップＳ８→Ｓ９→５１０→Ｓ８を繰り返し実行した
後、ステップ３１１からステップＳ１２に至る。 この場合、先にステップＳ２６でフラグＦ１が“ビにセ
ントされ、ステップＳ３０でフラグＦ２が１゛にセット
されているため、ステップＳ１２→Ｓ１３→Ｓ１４と進
み、バッファメモ瞥月Ｏからゲイン選択１３号Ｎ。 （２）付きの１次画像データＹ０を読み出し、所定の演
算によって出力飽和点近くのＸ線検出器３ｘを求める。 ２″に倍モードのときには、Ｘ線検出器３．が求められ
る（第３図参照）。 ステップＳ１５で、Ｘ線検出器３ＸについてのＡ Ｄｏ
Ｉｌｉ（３Ｘ）に（２ｋ）−’を掛は算した結果をレジ
スタαにストアする。２２に倍モードのときは、α＝Ａ
Ｄｏｕｔ （３ｔ ） Ｘ （２” ） −”となる。 ２２に倍モードのときは、Ｎ＝２であるから、ステップ
３１６−３１９→Ｓ２１と進み、レジスタαの内容をレ
ジスタＡにストアする。すなわち、 Ａ＝ＡＤｏｕｔ （３ｔ ） Ｘ （２’ ） −”と
なる。 次いで、ステップ３２３で、レジスタＲの内容にプラス
１（＋ｌ）Ｌ、ステップＳ２４では現在、ｎ＝３である
ため、ステップＳ２５に進み、さらにステップＳ２９か
らステンブＳ３３に進んでフラグＦ、を“０”にセント
し、ステップＳ３４で、フラグＦ、を“１″にセットし
た後、ステップＳ３にリターンする。 すなわち、ステップＳ３で、第１ゲイン設定端子Ｔ＋を
“０°゛にセットし、ステップＳ４で、第２ゲイン設定
端子Ｔ、を“１”にセントすることにより、再び、２°
゛倍モードを選択する。 そして、前回と同様にしてステップＳ５からステップＳ
１３に至る。ステップ３３３で、フラグＦｚが０″にセ
ットされているため、ステップＳ１４をジャンプしてス
テップ３１５に進み、先に求めたＸ線検出器３殖につい
てのＡＤｏａｖ（３、）に（２ｋ）−’を掛は算した結
果をレジスタαにストアする。２に倍モードのときは、
Ｎ＝１であるから、 α＝ＡＤｏｕｔ （３ｔ ） ｘ （２” ） ’とな
る。 Ｎ＝１でかつＦ、＝１であるから、ステップＳ１６→Ｓ
１７→Ｓ２２と進み、レジスタαの内容をレジスタＢに
ストアする。すなわち、 Ｂ＝ＡＤａｕｖ （３ｔ ） Ｘ （２’ ） ’とな
る。 次いで、ステップＳ２３で、レジスタＲの内容にプラス
１（＋１）Ｌ、、ステップＳ２４では現在、ｎ＝４であ
るため、ステップ３３５に進む。 ステップＳ３５では、レジスタＤの内容からレジスタＣ
の内容を減算し、その結果を補正データ０ｆｆＳｅｔｃ
＋としてＲＡＭ１５に記憶する。補正データ０ｆｆｓｅ
ｔｃｔ＋は、 ０ｆｆｓｅｔｃＩｌ＝Ｄ Ｃ＝ＡＤＯＩＩＴ （Ｌ
） Ｘ （２’ ） ’ＡＤｏｕｔ （Ｌ ） Ｘ （
２’ ） −’である。ステップ３３６では、レジスタ
Ｂの内容からレジスタＡの内容を減算し、その結果を補
正データＯｆｆｓｅｔａｍとしてＲＡＭ１５に記憶する
。補正データＯｆｆｓｅｔａｍは、 ０ｆｆｓｅｔＡ１”Ｂ−Ａ＝ＡＤｏｏｔ （３＋ ）
Ｘ （２” ） −’−ＡＤａａｔ （３ｔ ） ｘ
（２” ） −”である。 次いで、ステップＳ３７で、セレクト端子Ｔ０を“Ｈｏ
“レベルにしてセレクタ１７を論理回路８の出力を入力
する状態に切り換え、一連のシーケンス動作を終了する
。 以上のようにして算出されＲＡＭ１５に記憶された補正
データ０ｆｆｓｅｔｃゎは、第１１図における点Ｐｏの
値と点Ｐｃの値との誤差Δ、Ｄに相当し、補正データ０
ｆｆｓｅｔ４１１は点Ｐ３の値と点Ｐ、の値との誤差Δ
Ａｌに相当する。 ■）実測時のＣＴ画像データの補正動作次に、ＣＴ画像
データの実測時における補正動作について、第４図のフ
ローチャートに基づいて説明する。 ステップ＃１で、すべてのレジスタおよびフラグをイニ
シャライズし、ステップ＃２で、レジスタｎに１’をス
トアし、ステップ＃３で、バッファメモ１月Ｏからｎ番
目の（ｊ＋２）ビットの１次画像データＹｏを読み出す
、この１次画像データＹ、は、上位２ビツトのゲイン選
択信号ＮＧと下位ｊビットのＡ／Ｄ変換データＡ Ｄ
ｏ ｕ↑とを組み合わせたちのである。 ステップ＃４で、ゲイン選択信号Ｎ、が〔Ｏ１〕（２’
倍モード）であるかどうかを判断する。ｍ個のＸ線検出
器３．〜３１は、その配列の順番にスキャニングされる
から、初めの方はゲイン選択信号Ｎｃ。 が（００）（２”倍モード）であるから、Ｎｏと判断し
、ステップ＃５に進む。 ステップ＃５で、ゲイン選択信号Ｎ、が〔１０〕（２ｔ
′″倍モード）であるかどうかを判断する。Ｘ線検出器
３１〜３ムまではＹＥＳと判断し、ステップ＃１１に進
む。 ステップ＃１１は補正後のＣＴ画像データＹ′をＲＡＭ
１５に書き込む動作であるが、２１に倍モードのときは
、ＣＴＷＩ像デークＹをそのまま補正後のＣＴ画像デー
タＹ′として書き込む（Ｙ’−Ｙ）。 ステップ＃１２で、レジスタｎの内容がＸ線検出器３１
〜３．の個数ｍに達したかどうかを判断する。 達していなければ、ステップ＃１３で、レジスタｎの内
容にプラス１’（＋１）Ｌ、た後、ステップ＃３にリタ
ーンする。ｎ＝１〜ｉのときにほぼステップ＃３→＃４
→＃５→＃１１→＃１２→＃１３→＃３を繰り返し実行
する。 ｎ＝ｉ＋１になると、２に倍モードに該当することとな
り、ステップ＃４の判断がＹＥＳとなってステップ＃６
に進み、ＲＡＭ１５から補正データＯｆｆｓｅｔａｍを
読み出し、ステップ＃７では、ＣＴ画像データＹから補
正データ０ｆｆｓｅｔ□を減算することにより、補正後
のＣＴ画像データＹ′を得る。 Ｙ ’ ＝ Ｙ −０ｆｆｓｅｔ、Ｂ −次いで、ステップ＃１１に進み、補正後のＣＴｊｉｉ
ｉ像データＹ′をＲＡＭ１５に書き込む、以下、ステッ
プ＃１２→＃１３からステップ＃３にリターンするが、
ｎ＝ｉ＋１〜Ｓのときには、ステップ＃３→＃４→＃６
→＃７→＃１１→＃１２→＃１３→＃３を繰り返し実行
する。 ｎ＝ｓ＋１になると、１倍モードに該当することとなり
、ステップ＃４の判断がＮｏ、ステップ＃５の判断もＮ
Ｏとなってステップ＃８に進み、ＲＡＭ１５から補正デ
ータ（ｌｆｆｓａｔａｍを読み出し、ステップ＃９で、
ＲＡＭ１５から補正データ０ｆｆｓｅｔｃｅを読み出し
、ステップ＃１０では、ＣＴ画像データＹから補正デー
タ０ｆｆｓｅｔＡ、および補正データ０ｆｆｓｅｔｃ＋
＋を減算することにより、補正後のＣＴ画像データＹ′
を得る。 Ｙ’ ＝Ｙ −Ｏｆｆｓｅｔａｍ−Ｏｆｆｓｅｔｃ。 次いで、ステップ＃ｌｌに進み、補正後のＣＴ画像デー
タＹ′をＲＡＭ１５に書き込む、以下、ステップ＃１２
→＃１３からステップ＃３にリターンするが、ｎ＝ｓ＋
１〜ｍのときには、ステップ＃３→＃５→＃８→＃９→
＃１０→＃１１→＃１２→＃１３→＃３を繰り返し実行
する。そして、ｎ＝ｍとなったときに一連のシーケンス
動作を終了する。 以上のように、２に倍王−ド、２！に倍モードごとに補
正することにより、ゲイン切換点において不連続性をも
つ従来のＣＴ画像データＹに代わって、求めるべき最終
ＯＣＴ画像データＹ′を第１１図の実線ＯＱで示すよう
に連続性のあるものに較正することができ、アーティフ
ァクトを防止できる。 第１夫庸班 次に、第２実施例を第５図および第６図に基づいて説明
する。 第５図において、第１実施例に係る第１図に示した符号
と同一の符号は、本実施例においても、その符号が示す
部品１部分等と同様のものを指す。 本実施例において、第１実、施例と異なっている構成は
、次のとおりである。 １８はＡ／Ｄ変換器７からのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕ
ｔを入力し、セレクタ１７からのゲイン選択信号Ｎ、に
応じてＡ／Ｄ変換データＡＤＯＩ＋Ｔの小数点位置を変
えて出力する可変ビットシフタ、ＬＵＴは、第１実施例
の場合と同様にして求めた補正データを記憶し、ゲイン
選択信号Ｎ６に応じた補正データを出力するルックアッ
プテーブル、１９は可変ビットシフタ１８の出力データ
とルックアップテーブルＬＵＴの出力データとを加算す
る加算器である。 その他の構成は第１実施例と同様であるので、説明を省
略する。 次に、この第２実施例の動作を説明する。 ルックアップテーブルＬＵＴは、第６図のフォーマット
に示すように、ゲイン選択信号Ｎ、が〔ｌＯ〕のときは
、Ｏを出力し、〔Ｏ１］のときは、−Ｏｆｆｓｅｔａｍ
を出力し、〔ＯＯ〕のときは、−（ＯｆｆＳｅｔａｓ＋
０ｆｆｌｉｅｔｃＤ）を出力する。 可変ビットシフタ１８は、第７図に示すように動作する
。ｊビットのＡ／Ｄ変換データＡＤｏｕｔを、２進表示
で、 ａｊ−１・２’−’ ＋ａ７−、 ・２ト２＋・・・
・＋ａ、・２゜ で表すとする。 ゲイン選択信号Ｎ、が
〔００〕のときは、ＣＴ画像デー
タＹ＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２’ ） −’が、Ｙ＋ ”
”ＡＤｏｕｖ Ｘ （２’ ） −’−ＡＤｏｕｔ Ｘ
２゜であることから、可変ビットシフタ１８の出力デ
ータは、（ｏ、 ａｊ−１・・・・ａｏ）となる。 ゲイン選択信号ＮＧが〔０１〕のときは、Ｙｚｈ＝ＡＤ
ｏｔ＋ｔ Ｘ （２’ ） −’＝ＡＤｏｔ＋ｔ ｘ２
−にであることから、可変ビットシフタ１８の出力デー
タは、（０，０・・・・０ａｊ−＋ ・・・・ａｏ）と
なる、小数点位置をに桁ずらせたのは、（２” ）−’
＝２−”であるからである。 ゲイン選択信号Ｎ、が〔１１〕のときは、Ｙｚｔ＊
＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２’ ） −”＝ＡＤｏｕ
ｔ Ｘ ２−”であることから、可変ビットシフタ１
８の出力データは、［０，ＯＯ・・・’００ ａ、−＋
・・・・ａｏ ］となる。 小数点位置を２に桁ずらせたのは、（２＆）−”＝２−
２にであるからである。 このように小数点位置をずらせることによって、２に倍
モードのときも２０倍モードのときも１倍モードに変換
した状態で可変ビットシフタ１８から出力できるのであ
る。 加算器１９からの出力は、２■倍モードのときは、Ｙ’
＝Ｙ＋Ｏ＝Ｙ となり、２に倍モードのときは、 Ｙ ’ ”’ Ｙ −Ｏｆｆｓｅｔａｍとなり、１倍モ
ードのときは、 Ｙ’ ＝Ｙ −（Ｏｆｆｓｅｔａｌ＋０ｆｆｓｅｔｃｏ
）となる。 したがって、第１実施例の場合と同様に、求めるべき最
終のＣＴ画像データＹ′を第１１図の実線ＯＱで示すよ
うに連続性のあるものに較正することができ、アーティ
ファクトを防止できる。 Ｇ１発明の効果 この発明によれば、次の効果が発揮される。 記憶手段に記憶する誤差が、オートゲインアンプの出力
の誤差ではなく、最終的に求めようとするＣＴｉｔｆ像
データについての誤差であり、補正手段は、この誤差を
補正データとして、演算手段によるＣＴ画像データに補
正を行うから、温度などの環境条件の変動を受けること
なく常に、最終のＣＴ画像データにおいてゲイン切換点
での不連続性を解消することができ、アーティファクト
のない良好な０１画像を得ることができる。 また、補正のために必要な人為作業は、ＣＴｇ像データ
についての誤差を求めるためにオートゲイン動作に代え
てゲインを人為的に設定するだけですみ、アーティファ
クト防止のための作業を従来例に比べて著しく簡略化で
きるとともに、専用のプログラマブル電源付き電圧入力
装置を必要とせず経済的に実施することができる。
タＹ＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２’ ） −’が、Ｙ＋ ”
”ＡＤｏｕｖ Ｘ （２’ ） −’−ＡＤｏｕｔ Ｘ
２゜であることから、可変ビットシフタ１８の出力デ
ータは、（ｏ、 ａｊ−１・・・・ａｏ）となる。 ゲイン選択信号ＮＧが〔０１〕のときは、Ｙｚｈ＝ＡＤ
ｏｔ＋ｔ Ｘ （２’ ） −’＝ＡＤｏｔ＋ｔ ｘ２
−にであることから、可変ビットシフタ１８の出力デー
タは、（０，０・・・・０ａｊ−＋ ・・・・ａｏ）と
なる、小数点位置をに桁ずらせたのは、（２” ）−’
＝２−”であるからである。 ゲイン選択信号Ｎ、が〔１１〕のときは、Ｙｚｔ＊
＝ＡＤｏｕｔ Ｘ （２’ ） −”＝ＡＤｏｕ
ｔ Ｘ ２−”であることから、可変ビットシフタ１
８の出力データは、［０，ＯＯ・・・’００ ａ、−＋
・・・・ａｏ ］となる。 小数点位置を２に桁ずらせたのは、（２＆）−”＝２−
２にであるからである。 このように小数点位置をずらせることによって、２に倍
モードのときも２０倍モードのときも１倍モードに変換
した状態で可変ビットシフタ１８から出力できるのであ
る。 加算器１９からの出力は、２■倍モードのときは、Ｙ’
＝Ｙ＋Ｏ＝Ｙ となり、２に倍モードのときは、 Ｙ ’ ”’ Ｙ −Ｏｆｆｓｅｔａｍとなり、１倍モ
ードのときは、 Ｙ’ ＝Ｙ −（Ｏｆｆｓｅｔａｌ＋０ｆｆｓｅｔｃｏ
）となる。 したがって、第１実施例の場合と同様に、求めるべき最
終のＣＴ画像データＹ′を第１１図の実線ＯＱで示すよ
うに連続性のあるものに較正することができ、アーティ
ファクトを防止できる。 Ｇ１発明の効果 この発明によれば、次の効果が発揮される。 記憶手段に記憶する誤差が、オートゲインアンプの出力
の誤差ではなく、最終的に求めようとするＣＴｉｔｆ像
データについての誤差であり、補正手段は、この誤差を
補正データとして、演算手段によるＣＴ画像データに補
正を行うから、温度などの環境条件の変動を受けること
なく常に、最終のＣＴ画像データにおいてゲイン切換点
での不連続性を解消することができ、アーティファクト
のない良好な０１画像を得ることができる。 また、補正のために必要な人為作業は、ＣＴｇ像データ
についての誤差を求めるためにオートゲイン動作に代え
てゲインを人為的に設定するだけですみ、アーティファ
クト防止のための作業を従来例に比べて著しく簡略化で
きるとともに、専用のプログラマブル電源付き電圧入力
装置を必要とせず経済的に実施することができる。
第１図ないし第４図はこの発明の第１実施例に係り、第
１図はＸ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置のブ
ロック図、第２図は誤差算出・記憶動作の説明に供する
フローチャート、第３図は各倍率モードでのＡ／Ｄ変換
の特性図、第４図は実測時のＣＴ画像データの補正動作
の説明に供するフローチャートである。 第５図ないし第７図は第２実施例に係り、第５図はＸ線
コンピュータ断層装置のデータ収集装置のブロック図、
第６図はルックアップテーブルのメモリフォーマット、
第７図は可変ビットシフタの出力データのフォーマット
である。 第８図ないし第１１図は従来例に係り、第８図はＸ線コ
ンピュータ断層装置のデータ収集装置のブロック図、第
９図の（Ａ）はＸ線管球とＸ線検出器を示す概略図、（
Ｂ）はＸ線強度の分布図、（Ｃ）はオートゲインアンプ
の出力特性図、第１θ図は積分出力に対するＡ／Ｄ変換
データの特性図、第１１図は積分出力に対するＣＴ画像
データの特性図である。 ３・・・Ｘ線検出部′ ３１〜３．・・・Ｘ線検出器 ６・・・オートゲインアンプ ７・・・Ａ／Ｄ変換器 Ａ Ｄ ｏｕｖ −Ａ ／ Ｄ変換データＮ６・・・ゲ
イン選択信号 Ｙ・・・ＣＴ画像データ １５・・・ＲＡＭ （記憶手段） １１・・・ｃｐｕ （演算手段、補正手段を含む）Δ＾
、、Δｃｏ・・・誤差
１図はＸ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置のブ
ロック図、第２図は誤差算出・記憶動作の説明に供する
フローチャート、第３図は各倍率モードでのＡ／Ｄ変換
の特性図、第４図は実測時のＣＴ画像データの補正動作
の説明に供するフローチャートである。 第５図ないし第７図は第２実施例に係り、第５図はＸ線
コンピュータ断層装置のデータ収集装置のブロック図、
第６図はルックアップテーブルのメモリフォーマット、
第７図は可変ビットシフタの出力データのフォーマット
である。 第８図ないし第１１図は従来例に係り、第８図はＸ線コ
ンピュータ断層装置のデータ収集装置のブロック図、第
９図の（Ａ）はＸ線管球とＸ線検出器を示す概略図、（
Ｂ）はＸ線強度の分布図、（Ｃ）はオートゲインアンプ
の出力特性図、第１θ図は積分出力に対するＡ／Ｄ変換
データの特性図、第１１図は積分出力に対するＣＴ画像
データの特性図である。 ３・・・Ｘ線検出部′ ３１〜３．・・・Ｘ線検出器 ６・・・オートゲインアンプ ７・・・Ａ／Ｄ変換器 Ａ Ｄ ｏｕｖ −Ａ ／ Ｄ変換データＮ６・・・ゲ
イン選択信号 Ｙ・・・ＣＴ画像データ １５・・・ＲＡＭ （記憶手段） １１・・・ｃｐｕ （演算手段、補正手段を含む）Δ＾
、、Δｃｏ・・・誤差
Claims (1)
- （１）Ｘ線検出器からの入力レベルに応じて自動的にゲ
インを選択するオートゲインアンプと、このオートゲイ
ンアンプの出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、この
Ａ／Ｄ変換器によるＡ／Ｄ変換出力データと前記オート
ゲインアンプにおいて得られたゲイン選択信号とからＣ
Ｔ画像データを算出する演算手段とを備えたＸ線コンピ
ュータ断層装置のデータ収集装置において、前記オート
ゲインアンプのゲイン切換において生ずるＣＴ画像デー
タの誤差を記憶する記憶手段と、この誤差を補正データ
として前記演算手段によるＣＴ画像データを補正する補
正手段とを備えたことを特徴とするＸ線コンピュータ断
層装置のデータ収集装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62292486A JPH07121259B2 (ja) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | Ｘ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62292486A JPH07121259B2 (ja) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | Ｘ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01135332A true JPH01135332A (ja) | 1989-05-29 |
| JPH07121259B2 JPH07121259B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=17782439
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62292486A Expired - Lifetime JPH07121259B2 (ja) | 1987-11-19 | 1987-11-19 | Ｘ線コンピュータ断層装置のデータ収集装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07121259B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1000582A3 (en) * | 1998-11-12 | 2001-05-02 | Marconi Medical Systems, Inc. | Apparatus and method for imaging |
| JP2002510516A (ja) * | 1998-04-03 | 2002-04-09 | トムソン テューブ エレクトロニク | 測定値の獲得プロセスとそのプロセスを実行するための断面デンシトメータ |
| JP2009080028A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
-
1987
- 1987-11-19 JP JP62292486A patent/JPH07121259B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002510516A (ja) * | 1998-04-03 | 2002-04-09 | トムソン テューブ エレクトロニク | 測定値の獲得プロセスとそのプロセスを実行するための断面デンシトメータ |
| EP1000582A3 (en) * | 1998-11-12 | 2001-05-02 | Marconi Medical Systems, Inc. | Apparatus and method for imaging |
| US6461040B1 (en) | 1998-11-12 | 2002-10-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus and method to correct for position errors in diagnostic imaging |
| JP2009080028A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Ishida Co Ltd | Ｘ線検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07121259B2 (ja) | 1995-12-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |