JPH01136342A - 半導体製造方法および窒化物のデポジション方法 - Google Patents

半導体製造方法および窒化物のデポジション方法

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JPH01136342A JP63260724A JP26072488A JPH01136342A JP H01136342 A JPH01136342 A JP H01136342A JP 63260724 A JP63260724 A JP 63260724A JP 26072488 A JP26072488 A JP 26072488A JP H01136342 A JPH01136342 A JP H01136342A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は基板表面から自然の二酸化シリコンをエツチ
ング除去した後、窒化シリコン層を直接デポジットして
シーリングし、マスキングするシリコン半導体製造方法
に関する。
〔従来の技術〕
シリコン半導体基板のアクティブ領域は、従来。
酸化環境下で、基板シリコンを使用して選ばれた領域に
二酸化シリコン誘電体を成長させることによって分離し
ていた。そのアクティブ領域は酸化を防止するためパタ
ーン化した窒化シリコン層によってマスクされる。それ
にも拘わらず、二酸化シリコンはマスクの窒化シリコン
層の端部の下まで成長して延び、°°パーツピーク”と
呼ばれる好ましくない二酸化シリコンの突出が形成され
る。パーツビークの減少のための調査研究の結果、その
主な原因は薄い二酸化シリコン・ノダツド又はバッファ
層であるということがわかった。その層は、従来、窒化
シリコン・マスキング層の下に形成され、それがなけれ
ば発生するであろう厚い窒化シリコンマスクと単結晶シ
リコン基板との間の熱膨張係数の不一致によって誘発さ
れる位置ずれ型破損を防止する。
窒化シリコン・マスクの下のパッド層を通して移動する
酸素粒子の横移動を抑制する各種方式が評価され、成功
の程度が測定された。例えば、パッド／バッファ二酸化
シリコン（酸化物）層又は単なる自然酸化物層を傾斜オ
キシナイトライドに変換するために使用する急速熱窒化
は比較的良い結果が現われ、それは゛この出願の出願人
と同一出願人による同時米国出願（ＮＣＲ連番第３９６
７号）に記載しである。自然酸化物又は窒化された自然
酸化物の上に直接デポジットされた薄いシーリング窒化
シリコン層（窒化物）の使用を含む他の方式はＩＥＥＥ
電子装置レター（１９８１年１０月）に見られるよりな
Ｈｕｉほかによる°”高密度ＭＯ８のためのセレクティ
ブ酸化技術”に記載されている。
Ｈｕｉほかの論文に最初に記載されたシールド界面ロー
カライズド酸化（ＳＩＬＯ）の拡張は米国特許筒４、４
７２．４５９号及び第４．５５１．９１０号に記載され
ている。前者の特許は中間パッド／・々ツファ酸化物層
の急速形成をせずに、基板シリコンの上に薄い窒化物層
をデポジットすることを提案している。
しかし、自然酸化物層との係わり合いについての記載は
ない。同様に、後者の特許にも自然酸化の影響の認識が
記載されていない。そこには自然酸化物層の上の窒化物
層の形成方法が記載されている。
半導体製造の処理シーケンスにおける前後関係は不揮発
性メモリー装置の形成中に行う多重誘電体層のインサイ
チュ−・デポジション方法が記載しである米国特許第４
．４３８．１５７号を参考にすることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
シリコン半導体基板のフィールド酸化物成長中、更にパ
ーツビーク効果を減少させる必要がいまだ残されている
。パーツビーク突起の実質的抑制又は除去の重要性は最
近の特許及び技術文書で発行されているよ）な種々の溝
分離構造及び方法の評価に使われている主な手段によっ
て証明しうるところかられかるであろう。
〔問題を解決するための手段〕
この処理方法は、上記の問題を解決するため、インサイ
チュ−製造に焦点を当て、自然酸化物エツチングから窒
化物デポジションまでのシーケンス中、新たな自然酸化
物の形成を除去及び禁止するようにした。
この発明の実施形態の１つの好ましいものでは、すべて
の自然酸化物をエッチして除去するに適した塩化水素（
ＨＣｌ　）ガス流の供給に、及び前準備として圧力を下
げ、温度を上げるようにした単結晶基板ウェハの反応管
内での準備調節を含む。
ＨＣｌガス流を止めると、反応管はあけられ、エツチン
グ残留物を取除く。きれいなシリコン基板面に直接窒化
シリコンを化学的にデポジットするよう大気圧以下（準
大気圧という）でジクロロシラン（５ｉＨ２Ｃｔ２）及
びアンモニア（ＮＨ３）ガスの流れを開始する。インサ
イチュ−動作はフィールド酸化中マスクのために使用す
る薄いシーリング窒化シリコン層がそのシリコン面で酸
化物又はオキシナイトライド・デポジット層をエントラ
ップしないということを保証する。テストによシ、フィ
ールド酸化物の成長を受けたとき、インサイチュー・エ
ツチング及びデポジション・シーケンスはパーツビーク
突起のそれ以上の減少を生じさせるようなシーリング窒
化物層を提供する。
この発明の別の実施例によると、自然酸化物のインサイ
チエ−・エツチングは水素環境（Ｈ２）における高温低
圧下で行われ、それに続き前述の窒化物デポジションの
排除及び功撃を行う。
〔実施例〕
シリコン半導体基板のアクティブ領域間に誘電体を形成
する方式はあまた異なる方式が考慮され、テストされて
きた。その大きいゴールはアクティブ領域がマスク窒化
シリコン層によってカバーされている間、単結晶シリコ
ン基板のセレクティプ酸化中に直面する一般にパーツビ
ークと呼ばれるフィールド酸化物誘電体のアクティブ領
域に対する侵食を制限することであった。パーツビーク
領域が直接装置製造に使用しうるアクティブ領域から差
引かれた場合、それが相当率さな量であってもパーツビ
ーク突起の大きさを減少するよう大きく基本的希望が引
続き存在する。他方、これらの技術者達は、パーツビー
ク効果を更に減少させる製造技術はアクティブ領域に製
造される装置の特性を大きく劣化させるべきでなく、製
造時間及びコストにも悪影響を及ぼさせるべきでないと
いうことを認識している。
前述の論文で説明したシールド・インタフェース局部的
酸化（ＳＩＬＯ）は従来のセレクティブ・シリコン酸化
処理と対比して・ぐ−ノビークの長さを大きく減少する
ようにみえる技術を示した。この襞間の処理方法はＳＩ
ＬＯ方式の利点を認め、パーツビーク長を更に減少する
ことによってその利点を拡大するものである。
この処理方法は図に示す装置の状況下で実施される０そ
れは、例えば、Ｔｈｅｒｍｃｏ　Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏ
ｎ製のＬＰＣＶＤ窒化物反応炉、すなわち水晶管反応炉
１の中にデート３を使用して半導体基板ウェハ２が装填
される。管反応炉１はカバー６でシールされ、出口パル
プ４を通し、一端でアクセスを制限し、管を通して真空
ポンプに導き、マニホールド１１を通し反対端において
種々のガス源にアクセスされる。反応炉の圧力は希望に
よシデテクタ７で感知され、真空ポンプの流率を制御す
る。熱はＲＦ加熱コイル９に接続して動作可能な電源及
び温度制御８によって与えられ、調節される。反応炉１
ニ供給されるガスはマニホールド１１で混合される。混
合マニホールド１１に送られる各ガス、ジクロロシラン
又はシラン、アンモニア、及び水素又は塩化水素の流率
は夫々の電子流量コントローラ１２，１３．１４で制御
される。パルプ１６゜ｉ’ｙ、ｉｓは夫々のガス源をマ
ニホールド１１及び反応炉１から固く遮断する。
製造シーケンスの一実施例によると、まず反応炉１内の
チャンバがＲＦコイル９からの熱及び約１５分間バルブ
４からの排気によって予備調節される。その後、パルプ
１８が開けられ、マニホールド１１を通して反応炉１に
塩化水素ガスが流入される。チャンバ圧は真空−ンゾの
排気量を調節して約１００ミリトルに設定される。その
時間中、反応炉チャンバ温度は約８００〜９００℃に、
塩化水素の流量は約２５標準ｃｍ”７分（Ｓｅｅｍ）に
維持される。この状態はその後約１５分間維持され、大
気酸化状態にさらされた単結晶シリコン・ウニノ・２に
典型的に存在する０、５〜３ナノメートルの自然の二酸
化シリコンをエツチングにより完全に除去する。
１５分間のエツチングの後、パルプ１８は閉められ、反
応炉１のチャンバはその温度及びシール状態を維持しな
がら、塩化水素ガス及びエツチング反応物の残留物を排
除するよう排出する。この排出又は排除サイクルは約１
５分間続けられる。
次に、パルプ１６．１７が開けられ、混合マニホールド
１１にアンモニアとジクロロシラン又はシラン・ガスの
どちらかが流され、明らかにウェハ２があるチャンバに
入る。ジクロロシラン又はシランの流れはコントローラ
１２によって約２０ｓｅｃｍに調節され、コントローラ
１３を通るアンモニアの流れは約７０　ｓｅｃｍに調節
される。排出率は約７００ミリトルのチャンバ圧を維持
するよう調節され、前から使用しているチャンバの温度
を約８００〜９００℃に保持される。反応炉１内におけ
る低圧及び高温下でジクロロシランとアンモニアの混合
物はウェハ２上に窒化シリコンをデポジットする化学反
応を起こし、ウェハ２はその直前にすべての二酸化シリ
コンがエツチング除去される。
ここで明らかにした状態下で、窒化物が約２ナノメート
ル／分の速度で基板ウェハにデポジットされる。好まし
くは、窒化物層の低圧化学蒸着（ＬＰＣＶＤ　）を約６
分間行い、ウェハ２のきれいな単結晶シリコン基板に直
接約１２ナノメートルの相当薄いシーリング窒化シリコ
ン層を形成する。
自然酸化物を除去するエツチングからシーリング窒化シ
リコン層を形成するデポジションへの変遷はチャンバ酸
素や大気にもウェハを露すことなく直接継続で行われる
。その結果、インサイチエ−・エツチング及びデポジシ
ョンが単結晶シリコン基板とマスキング窒化シリコン層
との間の理想的結合及び接着を保証し、フィールド酸化
物成長中窒化物層の下の酸素種の移動通路であるオキシ
ナイトライド又は二酸化シリコンの完全除去を保証する
。
代替実施例は塩化水素の代りに水素ガスを使用して自然
の二酸化シリコン・エツチング動作を行う。それによる
と、予備調節及び加熱動作はそれに続き、パルプ１８を
通して約２５　ｓｅｃｍの流速で水素ガスを供給し、排
気を制御して約１００ミリトルの圧力を維持し、約８０
０〜９００℃に反応炉温度を制御する。水素基準酸素エ
ツチング条態は窒化シリコンのデポジションの準備のた
め次の工程で行う１５分は排出を開始する前約１５分間
維持される。又、自然酸化物エツチングと窒化シリコン
のデポジションとの間のインサイチエ−変遷はフィール
ド酸化物成長動作中酸素種の通路を除去する。
シーリングの効果は比較できる７００ナノメートルのフ
ィールド酸化物層を成長するとき、相対的パーツビーク
侵食を考慮することによって最もよく評価することがで
きる。パーツビーク長又は侵食はマスキング窒化物の端
からシーリング窒化物層の下にフィールド酸化物が突通
る最遠長点までの距離と定義される。５ＩＬＯ技術は一
般に指定したフィールド酸化物の７００ナノメートルの
端に沿って０．４５〜０．６マイクロメードルからの範
囲の侵食長を発生する。逆に、この発明によるシリコン
面のインサイチュー・シーリングは４０ナノメートルの
低温デポジット酸化物と１００又は１４０ナノメートル
のＬＰＣＶＤ窒化シリコンとの組合わせによる約１３ナ
ノメートルのシーリング・シリコン窒化物層を使用した
とき０．２５〜０．３５マイクロメートルの侵食長を発
生する。約１３ナノメートルのシーリング窒化シリコン
層と、約３０ナノメートルの低温酸化物層と、約１００
ナノメートルの最終窒化物マスク層との組合わせを使用
して０．１５〜０．２５マイクロメートルに、更に侵食
の減少を得ることができるということをテストが示した
。
又、構造の断面分析は、成長したフィールド酸化物とア
クティブ領域との間の変遷は相当ゆるやかで、その後に
形成されパターン化される導通層の工程確保を容易にす
る。
【図面の簡単な説明】
図は自然酸化物のエツチング、清浄動作及び窒化シリコ
ン・デポジション動作を行うに適したインサイチエ−反
応系を示す略図である。 図中、１・・・水晶管反応炉、２・・・ウェハ、３・・
・ビート、４・・・出ロパルブ、７・・・デテクタ、８
・・・電源及び温度制御、９・・・ＲＦ加熱コイル、１
１・・・マニホールド、１２，１３．１４・・・コント
ローラ、１６．１７．１８・・・バルブ。 出願代理人　　　斉　藤　　　　勲

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）シリコン基板面におけるフィールド酸化物の成長
    中に使用しうるシーリング層をデポジットする方法であ
    って、 圧力を減じ、温度を高めたチャンバにおいて前記基板を
    予め調節し、 第１の準大気圧及び高い温度を維持しながら前記チャン
    バを通して二酸化シリコン・エッチャント・ガス流を開
    始することにより前記シリコン基板から自然二酸化シリ
    コンを除去し、 排出することによりエッチング又は酸化ガスを前記チャ
    ンバから除去し、 窒化シリコン・デポジション・ガスの流れを開始して前
    記チャンバに満たし、高められた温度を維持しながら第
    ２の準大気圧レベルまで圧力を上げ、 前記シリコン基板の上に直接、厚さ１０乃至２０ナノメ
    ートルの公称範囲に窒化シリコンのシールド界面マスキ
    ング層をデポジットする各工程を含むようにした半導体
    の製造方法。
  2. （２）前記二酸化シリコン・エッチャント・ガスはＨＣ
    ｌを含み、前記第１の準大気圧は１００ミリトルの範囲
    にあり、前記高められた温度は８００〜９００℃の範囲
    にあることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の半
    導体の製造方法。
  3. （３）前記窒化シリコン・デポジション・ガスはシラン
    又はジクロロシラン及びアンモニアを含み、前記第２の
    準大気圧は７００ミリトルの範囲にある特許請求の範囲
    第２項記載の半導体の製造方法。
  4. （４）前記二酸化シリコン・エッチャント・ガスはＨ２
    を含み、前記第１の準大気圧は１００ミリトルの範囲に
    あり、前記高められた温度は８００〜９００℃の範囲に
    ある特許請求の範囲第１項記載の半導体の製造方法。
  5. （５）前記窒化シリコン・デポジション・ガスはシラン
    又はジクロロシラン及びアンモニアを含み、前記第２の
    準大気圧は７００ミリトルの範囲にある特許請求の範囲
    第４項記載の半導体の製造方法。
  6. （６）シリコン基板に直接薄い窒化シリコン層をデポジ
    ットする方法であって、 第１の準大気圧及び高められた温度に維持されたチャン
    バにおいてＨＣｌ混合ガスを使用して前記シリコン基板
    から自然二酸化シリコンをエッチングし、 排出することにより前記チャンバから残留ガスを除去し
    、 前記チャンバを第２の準大気圧及び高められた温度に維
    持しつつ、インサイチュー及び排出直後においてシラン
    又はジクロロシラン及びアンモニアを使用し前記基板に
    窒化シリコンをデポジットする各工程を含むデポジショ
    ン方法。
  7. （７）前記第１の準大気圧は１００ミリトルの範囲にあ
    り、前記高められた温度は８００〜９００℃の範囲にあ
    る特許請求の範囲第６項記載のデポジション方法。
  8. （８）第１の準大気圧及び高められた温度に維持された
    チャンバ内でＨ＿２混合ガスを使用しシリコン基板から
    自然二酸化シリコンをエッチングし、排出により前記チ
    ャンバから残留ガスを除外し、第２の準大気圧及び高め
    られた温度に前記チャンバを維持しつつインサイチュー
    及び排出直後にシラン又はジクロロシラン及びアンモニ
    アを使用して前記基板に窒化シリコンをデポジットする
    各工程を含むシリコン基板に直接薄い窒化シリコン層を
    デポジットする方法。
  9. （９）前記第１の準大気圧は１００ミリトルの範囲にあ
    り、前記高められた温度は８００〜９００℃の範囲にあ
    る特許請求の範囲第８項記載の方法。
JP63260724A 1987-10-22 1988-10-18 半導体製造方法および窒化物のデポジション方法 Expired - Fee Related JP2777644B2 (ja)

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