JPH01148718A - 石英るつぼの製造方法 - Google Patents
石英るつぼの製造方法Info
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- JPH01148718A JPH01148718A JP30462487A JP30462487A JPH01148718A JP H01148718 A JPH01148718 A JP H01148718A JP 30462487 A JP30462487 A JP 30462487A JP 30462487 A JP30462487 A JP 30462487A JP H01148718 A JPH01148718 A JP H01148718A
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- dioxide powder
- quartz
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B19/00—Other methods of shaping glass
- C03B19/09—Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould
- C03B19/095—Other methods of shaping glass by fusing powdered glass in a shaping mould by centrifuging, e.g. arc discharge in rotating mould
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Glass Melting And Manufacturing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えばシリコン単結晶等の単結晶引き上げ用
の石英ルツボの製造方法及びこの方法により製造された
石英ルツボに関する。
の石英ルツボの製造方法及びこの方法により製造された
石英ルツボに関する。
従来、シリコン半導体単結晶の製造は、容器中で多結晶
シリコンを溶融し、高純度の単結晶シリコン(種結晶)
先端を浸して、回転させながら引き上げ、種結晶と同じ
方位を持つ単結晶を成長させる、いわゆるチョクラルス
キー法が広く行われている。
シリコンを溶融し、高純度の単結晶シリコン(種結晶)
先端を浸して、回転させながら引き上げ、種結晶と同じ
方位を持つ単結晶を成長させる、いわゆるチョクラルス
キー法が広く行われている。
この単結晶引き上げに使用される容器としては、通常、
石英ルツボか使用されているが、これについては製法上
の理由による外観上の違いから、透明石英ルツボと、生
地内に微小な気泡を多量に含有している為不透明もしく
は半透明な外観を有する石英ルツボがある(以下、半透
明石英ルツボと呼ぶ)。
石英ルツボか使用されているが、これについては製法上
の理由による外観上の違いから、透明石英ルツボと、生
地内に微小な気泡を多量に含有している為不透明もしく
は半透明な外観を有する石英ルツボがある(以下、半透
明石英ルツボと呼ぶ)。
半透明石英ルツボは、粉体を原料として使用する事によ
り透明石英ルツボよりも高強度な物が容易に製造でき、
また大口径の鞠か比較的低コストで製造できること、更
に含有する(放小気泡により透明石英ルツボよりも均一
な熱分布が得られることから、工業的に広く利用されて
いる。
り透明石英ルツボよりも高強度な物が容易に製造でき、
また大口径の鞠か比較的低コストで製造できること、更
に含有する(放小気泡により透明石英ルツボよりも均一
な熱分布が得られることから、工業的に広く利用されて
いる。
しかし、従来から製造されている半透明石英ルツボでは
単結晶の製造時に、しはしは単結晶化が不安定になって
欠陥か生じて、単結晶の収率が低下するという問題かあ
る。
単結晶の製造時に、しはしは単結晶化が不安定になって
欠陥か生じて、単結晶の収率が低下するという問題かあ
る。
引き上げ時の単結晶化か不安定になる原因としては、引
き上げ設備・条件の池にも種々の要因が考えられ、それ
ら他の要因としては、高温時に於けるシリコン融液と石
英ガラスの反応により、内表面か侵食されて表面か荒れ
たり、更に侵食が進んで内部の微小気泡が露出すること
、即ち、シリコン融液の液面に当たる部分のルツボの表
面か荒れていることによって、原料の減少による液面の
降下かスムースに行われず、液面が振動すること、およ
び上記石英ガラスの表面荒れによって生じた微hFdな
突起は、石英〃ラスの結晶化反応の核となってクリスト
バライトの斑点を石英ルツボの表面に生じ、この結晶か
引上工程の進行とともに、石英ルツボから離脱し、シリ
コン融液中に落下する現象か起こり、結晶成長を阻害す
ることがあけられる。さらに、石英ルツボ内表面近傍に
おいて、金属不純物か局所的に、例えば微小気泡表面に
濃縮され、これが引上時に高温加熱によって石英ガラス
のクリストバライトへの結晶化が促進され、石英ルツボ
内表面に露出しなりリストパライトの斑点となる。また
同じような議論から石英ルツボの表面も、その当初にお
いて微細な突起や傷があるのは好ましくない。
き上げ設備・条件の池にも種々の要因が考えられ、それ
ら他の要因としては、高温時に於けるシリコン融液と石
英ガラスの反応により、内表面か侵食されて表面か荒れ
たり、更に侵食が進んで内部の微小気泡が露出すること
、即ち、シリコン融液の液面に当たる部分のルツボの表
面か荒れていることによって、原料の減少による液面の
降下かスムースに行われず、液面が振動すること、およ
び上記石英ガラスの表面荒れによって生じた微hFdな
突起は、石英〃ラスの結晶化反応の核となってクリスト
バライトの斑点を石英ルツボの表面に生じ、この結晶か
引上工程の進行とともに、石英ルツボから離脱し、シリ
コン融液中に落下する現象か起こり、結晶成長を阻害す
ることがあけられる。さらに、石英ルツボ内表面近傍に
おいて、金属不純物か局所的に、例えば微小気泡表面に
濃縮され、これが引上時に高温加熱によって石英ガラス
のクリストバライトへの結晶化が促進され、石英ルツボ
内表面に露出しなりリストパライトの斑点となる。また
同じような議論から石英ルツボの表面も、その当初にお
いて微細な突起や傷があるのは好ましくない。
石英ルツボの製造方法については従来幾つかの発明が為
されている。例えは、特開昭59−213697号には
ルツボを内面から長時間加熱、若しくは透明石英管を溶
接して円筒部の一部を透明管と為し、少なくとも原料融
液と接する部分を1胴以上の厚さの透明石英ガラス層と
する石英ルツボの製造方法が記載されている。また、米
国特許4,528,163号には、天然石英粒子で外側
を形成し、内側を合成石英粒子でライニングし、このラ
イニング層の表面に平滑な薄い非晶質層を形成した石英
ルツボの製造方法が記載されている。
されている。例えは、特開昭59−213697号には
ルツボを内面から長時間加熱、若しくは透明石英管を溶
接して円筒部の一部を透明管と為し、少なくとも原料融
液と接する部分を1胴以上の厚さの透明石英ガラス層と
する石英ルツボの製造方法が記載されている。また、米
国特許4,528,163号には、天然石英粒子で外側
を形成し、内側を合成石英粒子でライニングし、このラ
イニング層の表面に平滑な薄い非晶質層を形成した石英
ルツボの製造方法が記載されている。
更に、米国特許4,416,680号および4.632
,686号には石英ルツボ中の気泡を減少させる方法と
して、外側を減圧にして溶融する石英ルツボの製造方法
か記載されている。
,686号には石英ルツボ中の気泡を減少させる方法と
して、外側を減圧にして溶融する石英ルツボの製造方法
か記載されている。
ところが、これら先行文献には、ルツボ内面の表面状態
に要求される無気泡性、平滑性、均−性等の特性の技術
的課題を同時に解決する石英ルツボの製造方法及びそれ
らの特性を同時に具備する石英ルツボに関し、何ら開示
がなされていない。
に要求される無気泡性、平滑性、均−性等の特性の技術
的課題を同時に解決する石英ルツボの製造方法及びそれ
らの特性を同時に具備する石英ルツボに関し、何ら開示
がなされていない。
すなわち、特開昭59−213697号には、ルツボ内
面の表面状態に要求される特性のうち、原料融液と接す
る部分の侵食防止について半透明石英ガラス層の内面を
更に加熱して透明層を得る方法と透明管を溶融して透明
なリング状の部分を挟み込むことか示されている。とこ
ろが、前者の方法は石英ガラス層の内部の未溶融部分を
更に溶融して、場合によっては気泡として形成された残
溜ガスを加熱膨張により破裂させて、内部の気泡を開放
していく方法であるが、この方法では気泡は完全に除か
れず、又、透明石英ガラス層に多量の気泡の痕跡か残る
為、半導体引き上げにおいて特に減圧にさらされた場合
に再び膨張を起こし、単結晶化が不安定になって欠陥を
生じ収率が低下する。また、後者の透明管を溶融する方
法は、作業が煩雑でその継目がルツボ内面を完全な滑ら
かな面にするのを阻害したり、又溶融の歪み除去のため
のアニールが必要となり、ルツボの生産性が悪くなる。
面の表面状態に要求される特性のうち、原料融液と接す
る部分の侵食防止について半透明石英ガラス層の内面を
更に加熱して透明層を得る方法と透明管を溶融して透明
なリング状の部分を挟み込むことか示されている。とこ
ろが、前者の方法は石英ガラス層の内部の未溶融部分を
更に溶融して、場合によっては気泡として形成された残
溜ガスを加熱膨張により破裂させて、内部の気泡を開放
していく方法であるが、この方法では気泡は完全に除か
れず、又、透明石英ガラス層に多量の気泡の痕跡か残る
為、半導体引き上げにおいて特に減圧にさらされた場合
に再び膨張を起こし、単結晶化が不安定になって欠陥を
生じ収率が低下する。また、後者の透明管を溶融する方
法は、作業が煩雑でその継目がルツボ内面を完全な滑ら
かな面にするのを阻害したり、又溶融の歪み除去のため
のアニールが必要となり、ルツボの生産性が悪くなる。
また、米国特許4,528,163号においても、ルツ
ボの内外層を同時に溶融し、内側部に合成石英を使用し
たことによるルツボ内面の特性の向上はみられるか、そ
の内側部に多数の気泡、空隙が残存することが避けられ
ず、単結晶引き上げ時に溶融物が気泡、空隙の孔に捕捉
され、引き上げ操作が著しく妨げられる。
ボの内外層を同時に溶融し、内側部に合成石英を使用し
たことによるルツボ内面の特性の向上はみられるか、そ
の内側部に多数の気泡、空隙が残存することが避けられ
ず、単結晶引き上げ時に溶融物が気泡、空隙の孔に捕捉
され、引き上げ操作が著しく妨げられる。
更に、米国特許4,416,680号および4.632
.686号には石英ルツボ中の気泡を真空引きして減少
させることが記載されているが、気泡が外側の比教的低
温の石英層を通過する゛に際し著しい抵抗かあり、ルツ
ボ内面までの気泡の除去は充分になし得ない。
.686号には石英ルツボ中の気泡を真空引きして減少
させることが記載されているが、気泡が外側の比教的低
温の石英層を通過する゛に際し著しい抵抗かあり、ルツ
ボ内面までの気泡の除去は充分になし得ない。
この他単結晶引き上げにおいて、その引き上げか安定に
行われることと共に、単結晶の中に混入する酸素の正確
な制御か要求されるが、従来法によって作られる石英ル
ツボは引き上は中に内表層の均質性か不十分なこと、ま
た気泡が多いなどの理由で荒れるので、石英ルツボ表面
からの内部のシリコン溶融体への溶解か不安定なため、
かかる要求を満足することか困難である。
行われることと共に、単結晶の中に混入する酸素の正確
な制御か要求されるが、従来法によって作られる石英ル
ツボは引き上は中に内表層の均質性か不十分なこと、ま
た気泡が多いなどの理由で荒れるので、石英ルツボ表面
からの内部のシリコン溶融体への溶解か不安定なため、
かかる要求を満足することか困難である。
本発明は、羊結晶引き上げにおいてその内表面が滑らか
で凹凸か少なく均質なこと、さらに重要なことであるか
実質的に無気泡であるため、溶融シリコン中へのその表
面の溶解速度か安定し、表面の荒れその他の理由による
石英ルツボ内面のクリストバライトの発生原因となるこ
とがなく、さらに石英ルツボ表面が平滑に保持されるの
で、単結晶引上がきわめて安定して行われるような石英
ルツボ及び当該石英ルツボをきわめて容易に製造するこ
とか可能な石英ルツボの製造方法を提供することを目的
とする。
で凹凸か少なく均質なこと、さらに重要なことであるか
実質的に無気泡であるため、溶融シリコン中へのその表
面の溶解速度か安定し、表面の荒れその他の理由による
石英ルツボ内面のクリストバライトの発生原因となるこ
とがなく、さらに石英ルツボ表面が平滑に保持されるの
で、単結晶引上がきわめて安定して行われるような石英
ルツボ及び当該石英ルツボをきわめて容易に製造するこ
とか可能な石英ルツボの製造方法を提供することを目的
とする。
そこで本発明は結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素粉
末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を加熱処理
して形成した半透明の石英ルツボを回転式の型内に嵌合
し、前記型を回転しながら前記石英ルツボ内に加熱源を
挿入して石英ルツボ内に高温ガス雰囲気を作り、この高
温ガス雰囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素
粉末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少量ず
つ通過させて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を溶融
せしめ、この溶融粉末を前記石英ルツボ内表面上に飛散
せしめて付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラス層
を前記石英ルツボ内表面上に一体融合的に所定の厚さに
形成するようにしな。
末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を加熱処理
して形成した半透明の石英ルツボを回転式の型内に嵌合
し、前記型を回転しながら前記石英ルツボ内に加熱源を
挿入して石英ルツボ内に高温ガス雰囲気を作り、この高
温ガス雰囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素
粉末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少量ず
つ通過させて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を溶融
せしめ、この溶融粉末を前記石英ルツボ内表面上に飛散
せしめて付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラス層
を前記石英ルツボ内表面上に一体融合的に所定の厚さに
形成するようにしな。
また、回転式の型を回転しながら前記型内に結晶性およ
び非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち少なくとも1種の
二酸化ケイ素粉末で構成された未溶融の石英ルツボ用予
備成形体を形成し、当該予備成形体内に加熱源を挿入し
て予備成形体内に高温ガス雰囲気を作り当該予備成形体
を内部より高温加熱して溶融ガラス化すると同時に、こ
の高温ガス雰囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケ
イ素粉末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少
量ずつ通過させて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を
溶融せしめ、この溶融粉末を前記予備成形体内表面上に
飛散せしめて付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラ
ス層を前記予備成形体内表面上に一体融合的に所定の厚
さに形成するようにした。
び非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち少なくとも1種の
二酸化ケイ素粉末で構成された未溶融の石英ルツボ用予
備成形体を形成し、当該予備成形体内に加熱源を挿入し
て予備成形体内に高温ガス雰囲気を作り当該予備成形体
を内部より高温加熱して溶融ガラス化すると同時に、こ
の高温ガス雰囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケ
イ素粉末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少
量ずつ通過させて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を
溶融せしめ、この溶融粉末を前記予備成形体内表面上に
飛散せしめて付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラ
ス層を前記予備成形体内表面上に一体融合的に所定の厚
さに形成するようにした。
回転式の型内に基体として透明又は少なくとも外fil
ljの一部か半透明層を有する石英ルツボの成形体を嵌
合し、或いは該回転体の遠心力と重力を利用して結晶性
及び非結晶性の二酸化ケイ素粉末の少なくとも一種から
構成される未/′8融の石英ルツボ用予備成形体を形成
し、この内部に例えば炭素型、極間のアーク放電により
高温ガス雰囲気を創出し、あらかじめ嵌合された石英ル
ツボの表面または未溶融の石英ルツボ予備成形体の内部
まで溶融するよう充分に加熱し、同時に高温ガスの流動
によって系外に飛敗せぬよう、また加熱雰囲気内を落下
しルツボ表面に到達するよう適当な粒径サイズの結晶性
及び非結晶性二酸化ケイ素粉末の少なくとも一種からな
る二酸化ケイ素粉末を少量づつ連続的に上部から供給し
、高温ガス雰囲気の特に高温部を必ず通過させて、少な
くとも該粉末粒子の一部を溶融し、この溶融粉末を基体
の溶融表面に飛着させ、該飛着溶融粉末を基体表面に溶
着し、その上に飛着溶融粉末層か更に積層される以前に
、上記高温ガス雰囲気による伝導熱及び高温熱源の輻射
エネルギーによって溶融か進み、基体表面と一体的に融
合し、且つほぼ完全に無気泡の薄層を形成する。回転す
る型と共に基体表面は回転し、飛着溶融粒子により融@
叶加される層は、少なくとも基体の側面の厚さ方向の一
定幅上で積層され、基体表面のかかる付加融着層を一定
の厚さに成長させる。飛着溶融粒子により融着付加され
る層は充分に溶融され、かつ薄層であるが故に溶融層が
冷却固化の際に如何なる微少な気泡も残存することを許
されない。このように実質的に無気泡の透明石英ガラス
層が基体と一体融合に成長されるので、かかる溶融層は
基体との接着は極めて良好である。この溶融付加層は以
上の説明から理解出来るように均質であり、また気泡か
ないので溶融ガラス層中の不純物が部分的に異常に析出
することかなく、これを実際の単結晶引き上げ工程で内
部にシリコン溶融体を保持した場合表面がシリコン溶融
体に浸食されるときに、その浸食面は従来法の半透明石
英ルツボに対してより平滑であり、これによってシソコ
ン溶融体表面の振動か著しく軽減され、単結晶化率の向
上即ち生産性の向上に役立つ。また融着された透明石英
ガラス層が均質であることからシリコン融体への石英ガ
ラス表面の溶解速度を安定化せしめ、引き上げ単結晶中
の酸素4度を制御するときにシリコン溶融体中の酸素の
濃度制御を容易にする。更に大きな利点は、引き上げ工
程中の石英ルツボのシリコン溶融体接触面上のクリスト
バライトの形成とその相転移に伴なう同クリストバライ
トの剥離による単結晶の乱れ発生か著しく低減される。
ljの一部か半透明層を有する石英ルツボの成形体を嵌
合し、或いは該回転体の遠心力と重力を利用して結晶性
及び非結晶性の二酸化ケイ素粉末の少なくとも一種から
構成される未/′8融の石英ルツボ用予備成形体を形成
し、この内部に例えば炭素型、極間のアーク放電により
高温ガス雰囲気を創出し、あらかじめ嵌合された石英ル
ツボの表面または未溶融の石英ルツボ予備成形体の内部
まで溶融するよう充分に加熱し、同時に高温ガスの流動
によって系外に飛敗せぬよう、また加熱雰囲気内を落下
しルツボ表面に到達するよう適当な粒径サイズの結晶性
及び非結晶性二酸化ケイ素粉末の少なくとも一種からな
る二酸化ケイ素粉末を少量づつ連続的に上部から供給し
、高温ガス雰囲気の特に高温部を必ず通過させて、少な
くとも該粉末粒子の一部を溶融し、この溶融粉末を基体
の溶融表面に飛着させ、該飛着溶融粉末を基体表面に溶
着し、その上に飛着溶融粉末層か更に積層される以前に
、上記高温ガス雰囲気による伝導熱及び高温熱源の輻射
エネルギーによって溶融か進み、基体表面と一体的に融
合し、且つほぼ完全に無気泡の薄層を形成する。回転す
る型と共に基体表面は回転し、飛着溶融粒子により融@
叶加される層は、少なくとも基体の側面の厚さ方向の一
定幅上で積層され、基体表面のかかる付加融着層を一定
の厚さに成長させる。飛着溶融粒子により融着付加され
る層は充分に溶融され、かつ薄層であるが故に溶融層が
冷却固化の際に如何なる微少な気泡も残存することを許
されない。このように実質的に無気泡の透明石英ガラス
層が基体と一体融合に成長されるので、かかる溶融層は
基体との接着は極めて良好である。この溶融付加層は以
上の説明から理解出来るように均質であり、また気泡か
ないので溶融ガラス層中の不純物が部分的に異常に析出
することかなく、これを実際の単結晶引き上げ工程で内
部にシリコン溶融体を保持した場合表面がシリコン溶融
体に浸食されるときに、その浸食面は従来法の半透明石
英ルツボに対してより平滑であり、これによってシソコ
ン溶融体表面の振動か著しく軽減され、単結晶化率の向
上即ち生産性の向上に役立つ。また融着された透明石英
ガラス層が均質であることからシリコン融体への石英ガ
ラス表面の溶解速度を安定化せしめ、引き上げ単結晶中
の酸素4度を制御するときにシリコン溶融体中の酸素の
濃度制御を容易にする。更に大きな利点は、引き上げ工
程中の石英ルツボのシリコン溶融体接触面上のクリスト
バライトの形成とその相転移に伴なう同クリストバライ
トの剥離による単結晶の乱れ発生か著しく低減される。
かかるクリストバライトの形成は、石英ルツボ表面の凹
凸及び表面近傍の不純物、不完全溶融のなめ結晶の規則
性を僅かに残した部分が、クリストバライト形成の核と
なり、ルツボ表面とシリコン溶融体との界面の高濃度の
二酸化ケイ素雰囲気がルツボ表面方向にクリストバライ
ト結晶を選択的に成長する原因となることが考えられる
。クリストバライトはシリコン溶融体と接触する高温(
約1450°C)においてβ型で形成され、シリコン溶
融面か下がって引き上げ室内のガス雰囲気に暴露されて
冷却するとα型となり剥離の原因となる。
凸及び表面近傍の不純物、不完全溶融のなめ結晶の規則
性を僅かに残した部分が、クリストバライト形成の核と
なり、ルツボ表面とシリコン溶融体との界面の高濃度の
二酸化ケイ素雰囲気がルツボ表面方向にクリストバライ
ト結晶を選択的に成長する原因となることが考えられる
。クリストバライトはシリコン溶融体と接触する高温(
約1450°C)においてβ型で形成され、シリコン溶
融面か下がって引き上げ室内のガス雰囲気に暴露されて
冷却するとα型となり剥離の原因となる。
以下、本発明の実施例について説明する。第1図におい
て、支持回転軸2を有する回転式の型1のキャビティ内
には予め加熱形成された半透明のの石英ルツボの成形体
3が嵌合されている。この型1の回転中に加熱源5か成
形体3内に挿入される。また成形体3の開口部にリング
状の開ロア5を残すように閉塞板71が設けられ、こう
して成形体3内が半密閉状態とされる。同時に、加熱源
5により高温ガス雰囲気8が形成され、この高温ガス雰
囲気8中を一定量の結晶性または非結晶性の高純度の二
酸化ケイ素粉末6が通過される。前記二酸化ケイ素粉末
6は結晶性のものと非結晶性のものとか混じったもので
もよく、少なくともその一部か7g融された状態で内表
面に付着され、こうして透明石英ガラスN4が一体融合
的に設層される。
て、支持回転軸2を有する回転式の型1のキャビティ内
には予め加熱形成された半透明のの石英ルツボの成形体
3が嵌合されている。この型1の回転中に加熱源5か成
形体3内に挿入される。また成形体3の開口部にリング
状の開ロア5を残すように閉塞板71が設けられ、こう
して成形体3内が半密閉状態とされる。同時に、加熱源
5により高温ガス雰囲気8が形成され、この高温ガス雰
囲気8中を一定量の結晶性または非結晶性の高純度の二
酸化ケイ素粉末6が通過される。前記二酸化ケイ素粉末
6は結晶性のものと非結晶性のものとか混じったもので
もよく、少なくともその一部か7g融された状態で内表
面に付着され、こうして透明石英ガラスN4が一体融合
的に設層される。
前記二酸化ケイ素粉末6は、通常、撹拌プロペラ91を
有する供給タンク9から定量フィーダー92で供給量を
制御されながら、ノズル93により高温ガス雰囲気8中
に少しずつ放出される。
有する供給タンク9から定量フィーダー92で供給量を
制御されながら、ノズル93により高温ガス雰囲気8中
に少しずつ放出される。
前記型1は水冷機構を有していてもよく、また、型1の
キャビティーの形状、大きさは、作製しようとする石英
ルツボの形状・大きさに適合させる。
キャビティーの形状、大きさは、作製しようとする石英
ルツボの形状・大きさに適合させる。
型1の材質は耐熱性、機械的強度および加工性かあれば
よく、金属あるいはカーボン等の材質でよい。
よく、金属あるいはカーボン等の材質でよい。
図示例では、型1のキャビティー内に予め二酸化ケイ素
粉末を加熱成形して形成した半透明の石英ルツボの成形
体3を嵌合しその内面に二酸化ケイ素粉末を付着させる
ようにしているが、加熱処理済の成形体3を使用する代
わりに、型1を回転させながら、そのキャビティー内に
結晶性または非結晶性の二酸化ケイ素粉末(結晶性のも
のと非結晶性のものとが混じっていてもよい)を供給し
て遠心力により型1のキャビティー内壁面に石英ルツボ
用の予備成形体を形成し透明層用の二酸化ケイ素粉末6
を供給しつつ予備成形体と同時に加熱してルツボを形成
するようにしてもよい。このように予備成形体と二酸化
ケイ素粉末を同時に加熱すれば、不透明石英ガラス層の
形成と透明石英ガラス層の設層を同一の型で行うことが
でき有利である。
粉末を加熱成形して形成した半透明の石英ルツボの成形
体3を嵌合しその内面に二酸化ケイ素粉末を付着させる
ようにしているが、加熱処理済の成形体3を使用する代
わりに、型1を回転させながら、そのキャビティー内に
結晶性または非結晶性の二酸化ケイ素粉末(結晶性のも
のと非結晶性のものとが混じっていてもよい)を供給し
て遠心力により型1のキャビティー内壁面に石英ルツボ
用の予備成形体を形成し透明層用の二酸化ケイ素粉末6
を供給しつつ予備成形体と同時に加熱してルツボを形成
するようにしてもよい。このように予備成形体と二酸化
ケイ素粉末を同時に加熱すれば、不透明石英ガラス層の
形成と透明石英ガラス層の設層を同一の型で行うことが
でき有利である。
なお、予備成形体を形成する場合、型1の回転速度が大
きすぎると、供給された二酸化ケイ素粉末がキャビティ
の側壁方向に移動し、底部への粉末の堆積が″)トさく
なりすぎる場合かあるので回転速度の調節が必要である
。更に、予備成形体の粉末の堆積厚か型1の内面の場所
によっては不均一となる場合かあるので、成形板を用い
て堆積厚を均一とし、余剰分を型1の上部より排除する
ことにより、肉厚の安定した石英ルツボを作製すること
ができる。
きすぎると、供給された二酸化ケイ素粉末がキャビティ
の側壁方向に移動し、底部への粉末の堆積が″)トさく
なりすぎる場合かあるので回転速度の調節が必要である
。更に、予備成形体の粉末の堆積厚か型1の内面の場所
によっては不均一となる場合かあるので、成形板を用い
て堆積厚を均一とし、余剰分を型1の上部より排除する
ことにより、肉厚の安定した石英ルツボを作製すること
ができる。
また、型1の回転速度は、少なくとも一部が溶融した二
酸化ケイ素粉末6の粒子か成形体3の内表面から落下し
ない範囲で、加熱′a5からの加熱エネルギーの供給量
との関係で定めればよく、通常50〜300 r、D、
lIl、程度である。
酸化ケイ素粉末6の粒子か成形体3の内表面から落下し
ない範囲で、加熱′a5からの加熱エネルギーの供給量
との関係で定めればよく、通常50〜300 r、D、
lIl、程度である。
本発明の石英ルツボの製造方法は、通常の空気雰囲気中
でも充分その効果を奏することかできるが、異物の混入
を防ぐなめ、例えばクラス1.000程度の清浄度の雰
囲気であることが好ましい。
でも充分その効果を奏することかできるが、異物の混入
を防ぐなめ、例えばクラス1.000程度の清浄度の雰
囲気であることが好ましい。
前記加熱源5としては、アーク放電、高周波プラズマ放
電等を使用することができるが、2本の炭素電極51.
52で構成されるアーク放電か好ましい。この場合、外
部電源10から直流あるいは交流の高電圧電流を炭素量
tif151,52に供給してアーク放電を発生させる
。そして、このようなアーク放電あるいは高周波プラズ
マ放電により供給される加熱エネルギーは充分に大きい
ことが要求される。
電等を使用することができるが、2本の炭素電極51.
52で構成されるアーク放電か好ましい。この場合、外
部電源10から直流あるいは交流の高電圧電流を炭素量
tif151,52に供給してアーク放電を発生させる
。そして、このようなアーク放電あるいは高周波プラズ
マ放電により供給される加熱エネルギーは充分に大きい
ことが要求される。
炭素電極によるアーク放電を用いる場合、例えば成形体
3の底部中央部に加熱を集中して先すその表面を溶融す
る。次いでアーク放電によって生じた高温ガス雰囲気8
中に、二酸化ケイ素粉末6を通過させる。二酸化ケイ素
粉末6の粒子か所定の肉厚で成形体3に付着するように
その供給量を調節した後、徐々に炭素電極51.52の
先端放電部分を成形体3の内表面に沿って垂直方向に移
動させる。
3の底部中央部に加熱を集中して先すその表面を溶融す
る。次いでアーク放電によって生じた高温ガス雰囲気8
中に、二酸化ケイ素粉末6を通過させる。二酸化ケイ素
粉末6の粒子か所定の肉厚で成形体3に付着するように
その供給量を調節した後、徐々に炭素電極51.52の
先端放電部分を成形体3の内表面に沿って垂直方向に移
動させる。
なお、二酸化ケイ素粉末6の供給量および炭素電極54
.52の移動速度を調節して、成形体3の特定の場所で
透明石英ガラス層4の設層厚みを制御することも可能で
ある。
.52の移動速度を調節して、成形体3の特定の場所で
透明石英ガラス層4の設層厚みを制御することも可能で
ある。
前記加熱源5をルツボの内壁のある位置に接近させた場
合に溶融状態で成形体3の内表面に付着した二酸化ケイ
素粉末6の粉体は加熱源から離れた位置で直ちに固化し
易いか、上述のように、加熱エネルギーの供給量と型1
の回転速度を調節することにより、石英ルツボ表面を溶
融状態で保持しつつ、次の二酸化ケイ素粉末6の粒子を
付着することかできる。
合に溶融状態で成形体3の内表面に付着した二酸化ケイ
素粉末6の粉体は加熱源から離れた位置で直ちに固化し
易いか、上述のように、加熱エネルギーの供給量と型1
の回転速度を調節することにより、石英ルツボ表面を溶
融状態で保持しつつ、次の二酸化ケイ素粉末6の粒子を
付着することかできる。
また、成形体の内表面に融着した透明石英ガラス層は、
型1の回転数が遅すぎた場合、成形体表面か局部的に高
温になり、成形体内部の溶融か進むと同時に表面層か過
度に流動性を増し、流下したり、成形体か変形すること
らあり得るので、加熱源5の熱量と型1の回転は上述の
ように適当に制御されなければならないのは当然である
。
型1の回転数が遅すぎた場合、成形体表面か局部的に高
温になり、成形体内部の溶融か進むと同時に表面層か過
度に流動性を増し、流下したり、成形体か変形すること
らあり得るので、加熱源5の熱量と型1の回転は上述の
ように適当に制御されなければならないのは当然である
。
また、透明石英ガラス層は一度で所定厚に設層してもよ
いが、炭素量&51.52を、成形体3の内表面の下方
から上方へ、あるいは上方から下方へ一方向で繰り返し
移動させ、あるいは上方および下方間を往復移動させて
所定の厚さの透明石英ガラス層4を設層してもよい。
いが、炭素量&51.52を、成形体3の内表面の下方
から上方へ、あるいは上方から下方へ一方向で繰り返し
移動させ、あるいは上方および下方間を往復移動させて
所定の厚さの透明石英ガラス層4を設層してもよい。
なお、前述のように、加熱処理済の成形体3の代りに二
酸化ケイ素粉末からなる予備成形体を使用する場合は、
アーク放電により予備成形体をほぼ完全に溶融しつつ上
記の操作を行うこととなる。
酸化ケイ素粉末からなる予備成形体を使用する場合は、
アーク放電により予備成形体をほぼ完全に溶融しつつ上
記の操作を行うこととなる。
また、アーク放電は、炭素電極51.52の先端放電部
分から四方にふくらむように形成されるため、アーク放
電による高温ガス雰囲気8中を通過した二酸化ケイ素粉
末6の粒子は、成形体3の内表面の広範囲に向って飛散
する。
分から四方にふくらむように形成されるため、アーク放
電による高温ガス雰囲気8中を通過した二酸化ケイ素粉
末6の粒子は、成形体3の内表面の広範囲に向って飛散
する。
さらに、本発明では閉塞板71を設けであることにより
、石英ルツボ基体3内が半密閉状態となり、発生した高
温ガスは撹乱しつつルツボの内表面に沿って上昇し、リ
ング状の開ロア5を通って石英ルツボ外へ排出される(
第1図の矢印)。このため、高温ガス雰囲気8中を通過
した二酸化ケイ素粉末6の粒子はこの上昇撹乱気流によ
りルツボの側面方向に均一に分散し、上記のアーク放電
の飛散効果と相まって、成形体3の内表面にきわめて均
一に付着する。更に、成形体内を半密閉状態にしてアー
ク放電させれば瞬間的な膨張がおこり、内部温度の高温
化が容易であり、また石英ルツボ表面の全体にわたって
の温度均一化か進み、溶融状態又は半溶融状態の二酸化
ケイ素粒子が成形体内表面に密着し、これが透明層内の
実質的無気泡化に大きな影響を与えるとともに成形体と
二酸化ケイ素粒子との一体融合化とその均質化が増長さ
れ、さらにエネルギーの節約が可能となり、低コスト化
に役立つ。
、石英ルツボ基体3内が半密閉状態となり、発生した高
温ガスは撹乱しつつルツボの内表面に沿って上昇し、リ
ング状の開ロア5を通って石英ルツボ外へ排出される(
第1図の矢印)。このため、高温ガス雰囲気8中を通過
した二酸化ケイ素粉末6の粒子はこの上昇撹乱気流によ
りルツボの側面方向に均一に分散し、上記のアーク放電
の飛散効果と相まって、成形体3の内表面にきわめて均
一に付着する。更に、成形体内を半密閉状態にしてアー
ク放電させれば瞬間的な膨張がおこり、内部温度の高温
化が容易であり、また石英ルツボ表面の全体にわたって
の温度均一化か進み、溶融状態又は半溶融状態の二酸化
ケイ素粒子が成形体内表面に密着し、これが透明層内の
実質的無気泡化に大きな影響を与えるとともに成形体と
二酸化ケイ素粒子との一体融合化とその均質化が増長さ
れ、さらにエネルギーの節約が可能となり、低コスト化
に役立つ。
なお、前記閉塞板71か成形体3の上部開口部を閉塞す
る割合は、加熱源5の条件、成形体3の大きさ等から決
定すればよいが、通常は上部開口部の20〜95%を閉
塞することか好ましい。
る割合は、加熱源5の条件、成形体3の大きさ等から決
定すればよいが、通常は上部開口部の20〜95%を閉
塞することか好ましい。
また、上記のリング状の開ロア5は成形体3の上部開口
部よりも寸法が大きい前記閉塞板71を成形体3の上部
開口部の上方に間隙をおいて設置することにより形成さ
れてらよい。
部よりも寸法が大きい前記閉塞板71を成形体3の上部
開口部の上方に間隙をおいて設置することにより形成さ
れてらよい。
また、本発明では、第2図に示されるように、炭素電極
を支持回転軸2の軸方向に対し成形体3の側面方向にそ
の先端を傾けてもよい。
を支持回転軸2の軸方向に対し成形体3の側面方向にそ
の先端を傾けてもよい。
このように傾けることにより、成形#3の内表面の溶融
領域を所定の幅に正確に制御することか可能となる。こ
の場合、二酸化ケイ素粉末6を放出するノズル93も同
時に同方向に傾けることにより、高温ガス雰囲気8を通
過した二酸化ケイ素粉末6の粒子の放出される主方向を
、上記溶融領域に適確に合わせることができ、二酸化ケ
イ素粉末6の粒子と成形体3の内表面との融合がより完
全となり、透明石英ガラス層かより均一なものとなる。
領域を所定の幅に正確に制御することか可能となる。こ
の場合、二酸化ケイ素粉末6を放出するノズル93も同
時に同方向に傾けることにより、高温ガス雰囲気8を通
過した二酸化ケイ素粉末6の粒子の放出される主方向を
、上記溶融領域に適確に合わせることができ、二酸化ケ
イ素粉末6の粒子と成形体3の内表面との融合がより完
全となり、透明石英ガラス層かより均一なものとなる。
本発明では、二酸化ケイ素粉末6の大きさは通常30〜
1,000μm程度か好ましい。大きさが30μm未満
である場合、高温ガス雰囲気8の上昇撹乱気流等によっ
て、充分に加熱することなく飛散するという不都合が生
じる。逆に、大きさが1,000μmより大きいと、加
熱エネルギーかその中心部に充分伝達される前に成形体
3の内表面に付着し、更に加熱を受けても溶融せす、透
明石英ガラス層が不均一になるという不都合か生じる。
1,000μm程度か好ましい。大きさが30μm未満
である場合、高温ガス雰囲気8の上昇撹乱気流等によっ
て、充分に加熱することなく飛散するという不都合が生
じる。逆に、大きさが1,000μmより大きいと、加
熱エネルギーかその中心部に充分伝達される前に成形体
3の内表面に付着し、更に加熱を受けても溶融せす、透
明石英ガラス層が不均一になるという不都合か生じる。
また、二酸化ケイ素粉末6の供給量は、前述のように、
加熱源5の放出する加熱エネルギー、加熱源5の移動速
度および型1の回転速度等により定められるが、通常5
〜300t/分程度が好ましい。
加熱源5の放出する加熱エネルギー、加熱源5の移動速
度および型1の回転速度等により定められるが、通常5
〜300t/分程度が好ましい。
なお、二酸化ケイ素粉末6の大きさ、および、供給量が
上述の好ましい範囲であっても、前述のように、更に加
熱源としてのアーク放電または高周波プラズマ放電の加
熱エネルギーも充分に大きいことが必要である。
上述の好ましい範囲であっても、前述のように、更に加
熱源としてのアーク放電または高周波プラズマ放電の加
熱エネルギーも充分に大きいことが必要である。
前記二酸化ケイ素粉末6は、結晶性でも非結晶性でもい
ずれであってもよいか、設層される透明石英ガラス層中
の不純物の存在を少なくするため、高純度の材料である
ことを要する。このように、高純度の透明内1ITII
層を形成すれば、石英ガラス加熱処理済成形体あるいは
予備成形体の材料である二酸化ケイ素粉末については、
それが高純度であることを要求しなくてもよいことにな
り、石英ルツボの製造コストの低減か可能となる。
ずれであってもよいか、設層される透明石英ガラス層中
の不純物の存在を少なくするため、高純度の材料である
ことを要する。このように、高純度の透明内1ITII
層を形成すれば、石英ガラス加熱処理済成形体あるいは
予備成形体の材料である二酸化ケイ素粉末については、
それが高純度であることを要求しなくてもよいことにな
り、石英ルツボの製造コストの低減か可能となる。
本発明では、上記の操作により二酸化ケイ素粉末の粒子
を少量づつ溶融させながら付着させて透明石英ガラス層
を設層するため、個々の二酸化ケイ素粉末の粒子間に気
泡か組み込まれることかほとんとなく、また、不純物か
きわめて少なくなる。
を少量づつ溶融させながら付着させて透明石英ガラス層
を設層するため、個々の二酸化ケイ素粉末の粒子間に気
泡か組み込まれることかほとんとなく、また、不純物か
きわめて少なくなる。
さらに、水酸基も少なくすることができif#熱性が増
す。
す。
透明石英ガラス層の二酸化ケイ素か天然石英水晶粉から
作られる場合には、本来水酸基か少ないので、本発明に
よる内面の透明石英ガラス層の水酸基はこれを超えるこ
とはないか、かかる二酸化ケイ素は高温ガス雰囲気を通
過し、同粉末は微粒子の状態で超高温にさらされるので
、脱離による水酸基の減少或いはその他不純物の揮散除
去が行われる。
作られる場合には、本来水酸基か少ないので、本発明に
よる内面の透明石英ガラス層の水酸基はこれを超えるこ
とはないか、かかる二酸化ケイ素は高温ガス雰囲気を通
過し、同粉末は微粒子の状態で超高温にさらされるので
、脱離による水酸基の減少或いはその他不純物の揮散除
去が行われる。
さらに、透明石英ガラス層の設層厚みを、二酸化ケイ素
粉末の供給量、型の回転速度を調節することにより、容
易かつ正確に制御でき、十分に厚い透明層をも形成でき
る。
粉末の供給量、型の回転速度を調節することにより、容
易かつ正確に制御でき、十分に厚い透明層をも形成でき
る。
さらに本発明では、第1図および第2図に示すような炭
素電極2本の組み合せのほかに、炭素電極を3本以上組
み合わせることも可能である。又、これらの電極を適当
に動かすことも可能である。
素電極2本の組み合せのほかに、炭素電極を3本以上組
み合わせることも可能である。又、これらの電極を適当
に動かすことも可能である。
なお、加熱源として、この池に酸水素炎が考えられるか
、この場合には高周波放電あるいはアーク放電と比較し
て熱源温度が低いので、後述の二酸化ケイ素粉末6の粒
子サイズ及び供給速度を低く抑え、また、加熱源5の移
動速度も低く抑えることか必要となる。この結果、水酸
基が透明石英ガラス層中に500p、p、ff1.程度
存在することとなり耐熱性が悪くなり好ましくない。
、この場合には高周波放電あるいはアーク放電と比較し
て熱源温度が低いので、後述の二酸化ケイ素粉末6の粒
子サイズ及び供給速度を低く抑え、また、加熱源5の移
動速度も低く抑えることか必要となる。この結果、水酸
基が透明石英ガラス層中に500p、p、ff1.程度
存在することとなり耐熱性が悪くなり好ましくない。
また、本発明では、第3図に示されるように、型1の天
地を逆にし、開口部を下方に向は下方方向から加熱源5
およびノズル93を成形体3内に挿入して、前述と同様
の操作を行い透明石英ガラス層4を設層してもよい。こ
の場合、成形体3を型」のキャビティ内に嵌合し、型1
に対して取りはずし自在の支持部材11で成形体3を支
持し、この支持部材11を介して駆動ローラ12により
型1を回転させるものであってもよい。
地を逆にし、開口部を下方に向は下方方向から加熱源5
およびノズル93を成形体3内に挿入して、前述と同様
の操作を行い透明石英ガラス層4を設層してもよい。こ
の場合、成形体3を型」のキャビティ内に嵌合し、型1
に対して取りはずし自在の支持部材11で成形体3を支
持し、この支持部材11を介して駆動ローラ12により
型1を回転させるものであってもよい。
本発明は上述のように、高温ガス雰囲気中を通過した二
酸化ケイ素粉末の粒子を成形体の内表面に少量ずつ付着
させるものであり、粒子間に気泡を組み込むことかなく
、きわめて均一な透明石英ガラス層を設層することがで
きる。
酸化ケイ素粉末の粒子を成形体の内表面に少量ずつ付着
させるものであり、粒子間に気泡を組み込むことかなく
、きわめて均一な透明石英ガラス層を設層することがで
きる。
この透明石英ガラス層は、均一であるという特性ととも
に、実質的に無気泡であるということにより、単結晶の
引き上げ時に、従来法による石英ルツボにみられる気泡
の膨張による破裂がほとんどない。したがって、石英ル
ツボの表面層からの石英の溶出量すなわち、酸素のシリ
コン溶融体中への供給量を正確に制御できる。一般に、
ルツボの表面は、溶融体であるシリコンと接触してシリ
コンと化学作用によりその一部が溶融し、シリコン中に
ケイ素及び酸素が溶質として供給される。
に、実質的に無気泡であるということにより、単結晶の
引き上げ時に、従来法による石英ルツボにみられる気泡
の膨張による破裂がほとんどない。したがって、石英ル
ツボの表面層からの石英の溶出量すなわち、酸素のシリ
コン溶融体中への供給量を正確に制御できる。一般に、
ルツボの表面は、溶融体であるシリコンと接触してシリ
コンと化学作用によりその一部が溶融し、シリコン中に
ケイ素及び酸素が溶質として供給される。
このとき、本発明方法によるルツボの表面は高純度であ
り、しかIJ無気泡なのでケイ素の溶1iiLfflは
安定し、単一結晶引き上げ工程において溶融体に混入す
る酸素濃度制御が容易となり、集積回路素子用基板とし
てのシリコン基板中の酸素濃度を高めて、機械的強度を
高めたり、或いはイントリンシックゲッター効果を目的
とする制御の精度を高めることが出来る。また、ルツボ
の内側層に気泡を含むと、気泡は通常その大きさ及び分
布の点て均一性を欠き、気泡の密集するところはルツボ
内表面か溶出し易くルツボ表面の凹凸によるシリコン溶
融体表面の振動が引き上は単結晶の乱れに大きく影響す
るか、本発明によればかかる影響はない。
り、しかIJ無気泡なのでケイ素の溶1iiLfflは
安定し、単一結晶引き上げ工程において溶融体に混入す
る酸素濃度制御が容易となり、集積回路素子用基板とし
てのシリコン基板中の酸素濃度を高めて、機械的強度を
高めたり、或いはイントリンシックゲッター効果を目的
とする制御の精度を高めることが出来る。また、ルツボ
の内側層に気泡を含むと、気泡は通常その大きさ及び分
布の点て均一性を欠き、気泡の密集するところはルツボ
内表面か溶出し易くルツボ表面の凹凸によるシリコン溶
融体表面の振動が引き上は単結晶の乱れに大きく影響す
るか、本発明によればかかる影響はない。
更に、ルツボ内面に気泡が存在すると、その気泡表面に
石英ガラス中の金属不純物が濃縮されたとき又は気泡か
石英ルツボ表面の融解で溶液中に好ましくない凹凸部か
露出したときに高温でクリストバライトの結晶核となる
おそれかあるが、本発明によればかかるおそれもない。
石英ガラス中の金属不純物が濃縮されたとき又は気泡か
石英ルツボ表面の融解で溶液中に好ましくない凹凸部か
露出したときに高温でクリストバライトの結晶核となる
おそれかあるが、本発明によればかかるおそれもない。
このクリストバライトの形成は表面の金属汚れがその一
因と考えられているが、このクリストバライトは先ずβ
型で形成され、次いでルツボが冷却されたときにα型に
転換して表面から剥離してシリコン単結晶化を乱すが、
本発明によればかかる高純度の透明石英ガラス層の形成
故にクリストバライトの発生が有効に防止できるのは容
易に理解出来る。
因と考えられているが、このクリストバライトは先ずβ
型で形成され、次いでルツボが冷却されたときにα型に
転換して表面から剥離してシリコン単結晶化を乱すが、
本発明によればかかる高純度の透明石英ガラス層の形成
故にクリストバライトの発生が有効に防止できるのは容
易に理解出来る。
この透明石英ガラス層4における実質的に無気泡である
という基準は、従来の石英ルツボの製造方法による通常
の半導体用透明石英ガラスに比べてその含有する気泡が
極めて少ないということである0通常の半導体用石英ガ
ラスは、肉眼で観察しうる程度の大きさの100μm〜
1 rnrn程度の気泡、及び光を当てて気泡による散
乱によって観察が可能な程度の微小な気泡を大量に含ん
でいる。
という基準は、従来の石英ルツボの製造方法による通常
の半導体用透明石英ガラスに比べてその含有する気泡が
極めて少ないということである0通常の半導体用石英ガ
ラスは、肉眼で観察しうる程度の大きさの100μm〜
1 rnrn程度の気泡、及び光を当てて気泡による散
乱によって観察が可能な程度の微小な気泡を大量に含ん
でいる。
本発明における無気泡の具体的な例としては、6個の未
使用の石英ルツボを倍率30倍の顕(、”rk、鏡の視
野的8++Jの範囲で、各ルツボにつき内壁部4ケ所、
底部1ケ所の計5ケ所で総計30ケ所観察したところ、
直径20μm以上の各泡か2〜3ケ所でわずかに見られ
る程度である。その1例として、前記30ケ所の測定点
で直径20μm以上の気泡が2個見られたのは1ケ所、
1個見られたのは2ケ所であり、気泡の存在密度は0.
13個/8ml1I(Icdに換算すると約1.6個/
、ff1)であり、柘めて均質性の高い層か可能となる
。
使用の石英ルツボを倍率30倍の顕(、”rk、鏡の視
野的8++Jの範囲で、各ルツボにつき内壁部4ケ所、
底部1ケ所の計5ケ所で総計30ケ所観察したところ、
直径20μm以上の各泡か2〜3ケ所でわずかに見られ
る程度である。その1例として、前記30ケ所の測定点
で直径20μm以上の気泡が2個見られたのは1ケ所、
1個見られたのは2ケ所であり、気泡の存在密度は0.
13個/8ml1I(Icdに換算すると約1.6個/
、ff1)であり、柘めて均質性の高い層か可能となる
。
したかって、従来の石英ルツボでは、特に減圧下でのシ
リコン単結晶引き上げにおいて気泡の膨張破裂によりル
ツボ内表面に凹凸が生じ、この凹凸によるシリコン溶融
体表面の振動が引き上げ単結晶の乱れに大きく影響する
が、本発明によればかかる影響はない。
リコン単結晶引き上げにおいて気泡の膨張破裂によりル
ツボ内表面に凹凸が生じ、この凹凸によるシリコン溶融
体表面の振動が引き上げ単結晶の乱れに大きく影響する
が、本発明によればかかる影響はない。
通常、このような透明石英ガラス層の厚さは少なくとも
0.3n+m以上、実際には0.8〜1nun以上であ
ることか好ましい。
0.3n+m以上、実際には0.8〜1nun以上であ
ることか好ましい。
(実験例)
次に本発明の実験例について説明する。
実験例1
本発明の方法により、直径1.4インチの石英ルツボ(
本発明試料)を作製した。
本発明試料)を作製した。
また、従来の方法により、直径14インチの石英ルツボ
(比較試料)を作製した。
(比較試料)を作製した。
上記の試料について、本発明に係る透明石英ガラス層の
効果を調べるため、単結晶引き上げによるルツボ内表面
の表面■さの変化を測定した。すなわち、本発明試料お
よび比較試料を使用して110時間の単結晶成長を行っ
た後のルツボの内表面の粗さを測定しな。
効果を調べるため、単結晶引き上げによるルツボ内表面
の表面■さの変化を測定した。すなわち、本発明試料お
よび比較試料を使用して110時間の単結晶成長を行っ
た後のルツボの内表面の粗さを測定しな。
測定は触針式表面粗さ計〈小板研究所社製)で行った。
第4図には、単結晶成長を行った後の本発明試料の表面
粗さ、第5図には、単結晶成長を行った後の比較試料の
表面粗さの測定結果を示す。
粗さ、第5図には、単結晶成長を行った後の比較試料の
表面粗さの測定結果を示す。
各図から明らかなように、本発明の石英ルツボは使用後
においても最大粗さ33.7μmとかなり平滑な内表面
を維持しているが、従来のルツボではその粗さが本発明
試料の約2.5倍になり、これによって本発明のルツボ
においてはシリコンの溶融面の乱れが生じにくくなるこ
とが判る。
においても最大粗さ33.7μmとかなり平滑な内表面
を維持しているが、従来のルツボではその粗さが本発明
試料の約2.5倍になり、これによって本発明のルツボ
においてはシリコンの溶融面の乱れが生じにくくなるこ
とが判る。
また、結晶成長終了後のルツボ内表面の点火透の状態を
第6A図および第6B図に示す。
第6A図および第6B図に示す。
第6A図は本発明試料の内表面、第6B図は比較試料の
内表面を示すものである。これによれば、本発明のルツ
ボの内表面には、クリストバライトの発生か従来のもの
に比較して著しく少なくなることか判る。
内表面を示すものである。これによれば、本発明のルツ
ボの内表面には、クリストバライトの発生か従来のもの
に比較して著しく少なくなることか判る。
すなわち、本発明の石英ルツボの内面は極めて均質であ
り、結晶化反応の核となる突起等が少ないため、クリス
トバライトによる点失透の発生が少ない。
り、結晶化反応の核となる突起等が少ないため、クリス
トバライトによる点失透の発生が少ない。
実験例2
実験例1と同様に製造した本発明試料および比較試料を
曲用した場合のシリコン単結晶製造の成績を示す。
曲用した場合のシリコン単結晶製造の成績を示す。
製造条件は、アルゴン雰囲気下で減圧(10mb)で、
引上げ速度が約0.5IiIn/分、ルツボ回転が1
Or、Lm、 (種結晶と逆回転)で直径100mm、
長さ90c11]の単結晶を製造しな(1バツチの操業
時間は約40時間)。
引上げ速度が約0.5IiIn/分、ルツボ回転が1
Or、Lm、 (種結晶と逆回転)で直径100mm、
長さ90c11]の単結晶を製造しな(1バツチの操業
時間は約40時間)。
製造した単結晶インゴットについてその単結晶育成成功
率を求めた。その結果を表1に示す。
率を求めた。その結果を表1に示す。
ここで、(li−結晶育成成功率は単結晶インゴットの
全引き上t−y数(表中で「繰り返し回数」と表示)の
中で、単結晶育成不成功(引き上かったインゴットに−
・部!1結晶していない部分を含むもの)のインゴット
を除いたインゴットの数のパーセント表示で示した。
全引き上t−y数(表中で「繰り返し回数」と表示)の
中で、単結晶育成不成功(引き上かったインゴットに−
・部!1結晶していない部分を含むもの)のインゴット
を除いたインゴットの数のパーセント表示で示した。
表1 単結晶育成成功率
表1より、本発明°による石英ルツボは、常に安定した
単結晶製造をもならずことか明らかである。
単結晶製造をもならずことか明らかである。
これに対し、比較試料で単結晶育成成功率か低いのは、
石英ルツボの表面の凹凸および生成したクリストバライ
トの剥離か原因と考えられる。
石英ルツボの表面の凹凸および生成したクリストバライ
トの剥離か原因と考えられる。
次に、上記のシリコン単結晶の引き上げに用いた、本発
明により製造した石英ルツボおよび従来の方法により製
造した石英ルツボの透明石英ガラス層中の直径20μm
以上の気泡数を表2に示し、また、直胴部と底部の縦断
面の状態を第7図および第8図に示す。
明により製造した石英ルツボおよび従来の方法により製
造した石英ルツボの透明石英ガラス層中の直径20μm
以上の気泡数を表2に示し、また、直胴部と底部の縦断
面の状態を第7図および第8図に示す。
表2 単結晶引き上げ後の石英ルツボの物性*上記の気
泡数は6個の石英ルツボを倍率30倍の顕微鏡の視野的
8−の範囲で、1個のルツボにつき内壁部4ケ所、底部
1ケ所の計5ケ所で総計30ケ所にて測定した。
泡数は6個の石英ルツボを倍率30倍の顕微鏡の視野的
8−の範囲で、1個のルツボにつき内壁部4ケ所、底部
1ケ所の計5ケ所で総計30ケ所にて測定した。
ここで注意を要するのは、石英ルツボは約1450℃の
高温で長時間、しかも減圧状態で加熱されているなめ、
たとえその使用前に無気泡とみなされても、この個々の
気泡か石英ガラスの軟化のために膨張し、観察か容易に
なることである。すなわち、石英ルツボ製造時に石英ガ
ラス−層に溶封されている気泡は、大気圧下の雰囲気ガ
ス(石英ルツボ製造か空気中で行われる場合には空気)
で充填されており、高温度減圧下では当然ながら膨張す
る。しかしながら、表2および第7A図、第7B図に示
されるように本発明による石英ルツボは、使用後におい
てもその内表面に明瞭な無気泡の透明石英ガラス層を有
している。一方、従来法による石英ルツボは、シリコン
単結晶の引き上げ前には内表面にある程度無気泡の薄い
透明石英ガラス層を有しているか、シリコン単結晶の引
き上げ時に気泡か膨張し、これらが相互に融合して■大
化し、このため、シリコン単結晶の引き上げ後の石英ル
ツボ内表面に明瞭な気泡の密集状7gかみられる(表2
および第8A図、第8B図)。
高温で長時間、しかも減圧状態で加熱されているなめ、
たとえその使用前に無気泡とみなされても、この個々の
気泡か石英ガラスの軟化のために膨張し、観察か容易に
なることである。すなわち、石英ルツボ製造時に石英ガ
ラス−層に溶封されている気泡は、大気圧下の雰囲気ガ
ス(石英ルツボ製造か空気中で行われる場合には空気)
で充填されており、高温度減圧下では当然ながら膨張す
る。しかしながら、表2および第7A図、第7B図に示
されるように本発明による石英ルツボは、使用後におい
てもその内表面に明瞭な無気泡の透明石英ガラス層を有
している。一方、従来法による石英ルツボは、シリコン
単結晶の引き上げ前には内表面にある程度無気泡の薄い
透明石英ガラス層を有しているか、シリコン単結晶の引
き上げ時に気泡か膨張し、これらが相互に融合して■大
化し、このため、シリコン単結晶の引き上げ後の石英ル
ツボ内表面に明瞭な気泡の密集状7gかみられる(表2
および第8A図、第8B図)。
本発明は、高温ガス雰囲気中を通過した二酸化ケイ素粉
末の粒子をルツボ内表面に付着させ、かつ高温ガス雰囲
気により石英ルツボと当該粒子を完全に溶融密着させる
ようにしなので、実質的に無気泡の水酸基の少ないほぼ
純粋成分の透明石英ガラス層をルツボ内表面に一体融合
的に厚さ調節可能に設層することかできる。
末の粒子をルツボ内表面に付着させ、かつ高温ガス雰囲
気により石英ルツボと当該粒子を完全に溶融密着させる
ようにしなので、実質的に無気泡の水酸基の少ないほぼ
純粋成分の透明石英ガラス層をルツボ内表面に一体融合
的に厚さ調節可能に設層することかできる。
このため、単結晶の引き上は時にルツボの内表面の凹凸
の発生、あるいはクリストバライトの発生がほとんどな
く、安定した単結晶の引き上げが可能となる。
の発生、あるいはクリストバライトの発生がほとんどな
く、安定した単結晶の引き上げが可能となる。
また、本発明は、その作業性がきわめて良好であり、従
来法に比べ特性の優れた石英ルツボを容易に製造できる
とともに、透明石英ガラス層の設層厚み等の制御も正確
になし得るものである。
来法に比べ特性の優れた石英ルツボを容易に製造できる
とともに、透明石英ガラス層の設層厚み等の制御も正確
になし得るものである。
さらに、本発明においては、透明層中に不純物、空気の
混入がないので上記の種々の効果を得るために材料に要
求される純度は、透明石英ガラス層設層用の二酸化ケイ
素粉末のみ高純度とすればよく、石英ルツボの製造コス
トの低減が可能となる。
混入がないので上記の種々の効果を得るために材料に要
求される純度は、透明石英ガラス層設層用の二酸化ケイ
素粉末のみ高純度とすればよく、石英ルツボの製造コス
トの低減が可能となる。
またさらに、単結晶引き上げ時のシリコン融液中への石
英溶解量が一定となりその制御か容易で高純度のシリコ
ン単結晶の引き上げか可能となる。
英溶解量が一定となりその制御か容易で高純度のシリコ
ン単結晶の引き上げか可能となる。
また、本発明の石英ルツボは、単結晶の引き上げ時にル
ツボの内表面の凹凸の発生、あるいはクリストバライト
の発生がほとんどなく、安定した引き上げが可能となる
ものである。
ツボの内表面の凹凸の発生、あるいはクリストバライト
の発生がほとんどなく、安定した引き上げが可能となる
ものである。
第1図は、本発明の一実施例を説明するための製造装置
の縦断面図、第2図は、本発明の一実施例における炭素
電極を説明するための製造装置の横断面図、第3図は、
本発明の他の実施例を説明するための製造装置の縦断面
図、第4図は、本発明による石英ルツボの単結晶成長後
の内表面の租さを示すグラフ、第5図は、従来法による
石英ルツボの単結晶成長後の内表面の粗さを示すグラフ
、第6A図および第6B図は単結晶成長後のルツボ内表
面の点失透の状態を示す図面であり、第6A図は本発明
のルツボの内表面を、第6B図は従来のルツボの内表面
をそれぞれ示し、第7A図および第7B図は本発明のル
ツボの壁の縦断面の状態を示す図面、第8A図および第
8B図は従来のルツボの壁の縦断面の状態を示す図面で
ある。 1・・・型、2・・・支持回転軸、3・・・成形体、4
・・・透明石英ガラス1a、5・・・加熱源、51,5
2゜53・・・炭素電極、6・・・二酸化ケイ素粉末、
71・・・閉塞板、75・・・開口、8・・・高温ガス
雰囲気、9・・・供給タンク、91・・・撹拌プロペラ
、92・・・定量フィーダー、93・・・ノズル、10
・・・外部電源、11・・・支持部材、12・・・駆動
ローラ。 出頭人代理人 石 川 泰 男第 1 図 第 2 図 U 第3図 1mm 測定長〔mm〕 最大粗さ: 33.7μm 第 4 図 本発明による石英ルツボの単結晶成長後の内表面粗さm
m 測定長(: mm ) 最大粗さ二85μlη 第 5 図 従来法による石英ルツボの単結晶成長後の内表面粗さ第
6A ll] 本発明による石英ルツボの[Ii結晶成長後の内表面第
6B図 従来法による石英ルツボのI11結晶成長後の内表面第
7A図 本発明による石英ルツボの縦断面(直t+1ii1部)
外側 第7B図 本発明による石英ルツボの縦断面(底部)第 8A
図 従来法による石英ルツボの7t!升面(直胴部)内4i
jl 外側 第8B図
の縦断面図、第2図は、本発明の一実施例における炭素
電極を説明するための製造装置の横断面図、第3図は、
本発明の他の実施例を説明するための製造装置の縦断面
図、第4図は、本発明による石英ルツボの単結晶成長後
の内表面の租さを示すグラフ、第5図は、従来法による
石英ルツボの単結晶成長後の内表面の粗さを示すグラフ
、第6A図および第6B図は単結晶成長後のルツボ内表
面の点失透の状態を示す図面であり、第6A図は本発明
のルツボの内表面を、第6B図は従来のルツボの内表面
をそれぞれ示し、第7A図および第7B図は本発明のル
ツボの壁の縦断面の状態を示す図面、第8A図および第
8B図は従来のルツボの壁の縦断面の状態を示す図面で
ある。 1・・・型、2・・・支持回転軸、3・・・成形体、4
・・・透明石英ガラス1a、5・・・加熱源、51,5
2゜53・・・炭素電極、6・・・二酸化ケイ素粉末、
71・・・閉塞板、75・・・開口、8・・・高温ガス
雰囲気、9・・・供給タンク、91・・・撹拌プロペラ
、92・・・定量フィーダー、93・・・ノズル、10
・・・外部電源、11・・・支持部材、12・・・駆動
ローラ。 出頭人代理人 石 川 泰 男第 1 図 第 2 図 U 第3図 1mm 測定長〔mm〕 最大粗さ: 33.7μm 第 4 図 本発明による石英ルツボの単結晶成長後の内表面粗さm
m 測定長(: mm ) 最大粗さ二85μlη 第 5 図 従来法による石英ルツボの単結晶成長後の内表面粗さ第
6A ll] 本発明による石英ルツボの[Ii結晶成長後の内表面第
6B図 従来法による石英ルツボのI11結晶成長後の内表面第
7A図 本発明による石英ルツボの縦断面(直t+1ii1部)
外側 第7B図 本発明による石英ルツボの縦断面(底部)第 8A
図 従来法による石英ルツボの7t!升面(直胴部)内4i
jl 外側 第8B図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち少
なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を加熱処理して形成し
た半透明の石英ルツボを回転式の型内に嵌合し、前記型
を回転しながら前記石英ルツボ内に加熱源を挿入して石
英ルツボ内に高温ガス雰囲気を作り、この高温ガス雰囲
気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち
少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少量ずつ通過させ
て二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を溶融せしめ、こ
の溶融粉末を前記石英ルツボ内表面上に飛散せしめて付
着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラス層を前記石英
ルツボ内表面上に一体融合的に所定の厚さに形成するこ
とを特徴とする石英ルツボの製造方法。 2、前記石英ルツボの開口部を部分的に閉塞してその周
辺部をリング状に開口し、前記高温ガス雰囲気の高温ガ
スを前記石英ルツボ内表面に沿って移動せしめることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の石英ルツボの製
造方法。 3、加熱源として炭素電極間のアーク放電を用いること
を特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の石
英ルツボの製造方法。 4、炭素電極の数が3本であることを特徴とする特許請
求の範囲第3項記載の石英ルツボの製造方法。 5、前記二酸化ケイ素粉末の粒子の大きさが30〜1,
000μm、供給速度が5〜300g/分であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項のいずれか
1項に記載の石英ルツボの製造方法。 6、回転式の型を回転しながら前記型内に結晶性および
非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち少なくとも1種の二
酸化ケイ素粉末で構成された未溶融の石英ルツボ用予備
成形体を形成し、当該予備成形体内に加熱源を挿入して
予備成形体内に高温ガス雰囲気を作り当該予備成形体を
内部より高温加熱して溶融ガラス化すると同時に、この
高温ガス雰囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケイ
素粉末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少量
ずつ通過させて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を溶
融せしめ、この溶融粉末を前記予備成形体内表面上に飛
散せしめて付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラス
層を前記予備成形体内表面上に一体融合的に所定の厚さ
に形成することを特徴とする石英ルツボの製造方法。 7、前記予備成形体の開口部を部分的に閉塞してその周
辺部をリング状に開口し、前記高温ガス雰囲気の高温ガ
スを前記予備成形体内表面に沿って移動せしめることを
特徴とする特許請求の範囲第6項記載の石英ルツボの製
造方法。 8、加熱源として炭素電極間のアーク放電を用いること
を特徴とする特許請求の範囲第6項又は第7項記載の石
英ルツボの製造方法。 9、炭素電極の数が3本であることを特徴とする特許請
求の範囲第8項記載の石英ルツボの製造方法。 10、前記二酸化ケイ素粉末の粒子の大きさが30〜1
,000μm、供給速度が5〜300g/分であること
を特徴とする特許請求の範囲第6項乃至第9項のいずれ
か1項に記載の石英ルツボの製造方法。 11、結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち
少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を加熱処理して形成
した半透明の石英ルツボを回転式の型内に嵌合し、前記
型を回転しながら前記石英ルツボ内に加熱源を挿入して
石英ルツボ内に高温ガス雰囲気を作り、この高温ガス雰
囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケイ素粉末のう
ち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少量ずつ通過さ
せて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を溶融せしめ、
この溶融粉末を前記石英ルツボ内表面上に飛散せしめて
付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラス層を所定の
厚さで前記石英ルツボ内表面上に一体融合的に有するこ
とを特徴とする石英ルツボ。 12、回転式の型を回転しながら前記型内に結晶性およ
び非結晶性の二酸化ケイ素粉末のうち少なくとも1種の
二酸化ケイ素粉末で構成された未溶融の石英ルツボ用予
備成形体を形成し、当該予備成形体内に加熱源を挿入し
て予備成形体内に高温ガス雰囲気を作り当該予備成形体
を内部より高温加熱して溶融ガラス化すると同時に、こ
の高温ガス雰囲気中に結晶性および非結晶性の二酸化ケ
イ素粉末のうち少なくとも1種の二酸化ケイ素粉末を少
量ずつ通過させて二酸化ケイ素粉末の少なくとも一部を
溶融せしめ、この溶融粉末を前記予備成形体内表面上に
飛散せしめて付着させ、実質的に無気泡の透明石英ガラ
ス層を所定の厚さで前記予備成形体内表面上に一体融合
的に有することを特徴とする石英ルツボ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30462487A JPH01148718A (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 石英るつぼの製造方法 |
| US07/278,591 US4935046A (en) | 1987-12-03 | 1988-12-01 | Manufacture of a quartz glass vessel for the growth of single crystal semiconductor |
| DE3888797T DE3888797T2 (de) | 1987-12-03 | 1988-12-02 | Verfahren zur Herstellung eines Quarzglasgefässes für Halbleiter-Einkristallzüchtung. |
| EP19880120166 EP0319031B1 (en) | 1987-12-03 | 1988-12-02 | Manufacture of a quartz glass vessel for the growth of single crystal semiconductor |
| US07/376,136 US4956208A (en) | 1987-12-03 | 1989-07-06 | Manufacture of a quartz glass vessel for the growth of single crystal semiconductor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30462487A JPH01148718A (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 石英るつぼの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01148718A true JPH01148718A (ja) | 1989-06-12 |
| JPH0422861B2 JPH0422861B2 (ja) | 1992-04-20 |
Family
ID=17935266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30462487A Granted JPH01148718A (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 石英るつぼの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01148718A (ja) |
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| WO2020145378A1 (ja) * | 2019-01-11 | 2020-07-16 | 株式会社Sumco | シリカガラスルツボの製造装置および製造方法 |
Families Citing this family (9)
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| EP2431338B1 (en) | 2009-04-28 | 2021-08-25 | Shin-Etsu Quartz Products Co., Ltd. | Silica vessel |
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| JP4922355B2 (ja) | 2009-07-15 | 2012-04-25 | 信越石英株式会社 | シリカ容器及びその製造方法 |
| JP4951040B2 (ja) | 2009-08-05 | 2012-06-13 | 信越石英株式会社 | シリカ容器及びその製造方法 |
| JP4969632B2 (ja) | 2009-10-14 | 2012-07-04 | 信越石英株式会社 | シリカ粉及びシリカ容器並びにそれらの製造方法 |
| JP5250097B2 (ja) | 2011-12-12 | 2013-07-31 | 信越石英株式会社 | 単結晶シリコン引き上げ用シリカ容器及びその製造方法 |
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