JPH0114939Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0114939Y2 JPH0114939Y2 JP1983153594U JP15359483U JPH0114939Y2 JP H0114939 Y2 JPH0114939 Y2 JP H0114939Y2 JP 1983153594 U JP1983153594 U JP 1983153594U JP 15359483 U JP15359483 U JP 15359483U JP H0114939 Y2 JPH0114939 Y2 JP H0114939Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pipe
- tube
- liquid helium
- measuring
- heat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 24
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 24
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 13
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 19
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 3
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 3
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
従来は液体ヘリウム容器と測定器具とを門型状
等の断熱パイプで連結して液体ヘリウムを測定器
具内に送り測定部品を冷却してその低温における
性能を測るものであるが、この連結状態が不備だ
つたり操作が不慣れだつたりすると液体ヘリウム
のロスが目立ち、液体ヘリウムを無駄に消費して
しまうのである。
等の断熱パイプで連結して液体ヘリウムを測定器
具内に送り測定部品を冷却してその低温における
性能を測るものであるが、この連結状態が不備だ
つたり操作が不慣れだつたりすると液体ヘリウム
のロスが目立ち、液体ヘリウムを無駄に消費して
しまうのである。
しかしながら液体ヘリウムは非常に高価である
ので大学等の実験に使用する場合実験費用を大巾
に無駄に使用する結果となる。
ので大学等の実験に使用する場合実験費用を大巾
に無駄に使用する結果となる。
本願はこれ等の欠点に鑑み考案したもので液体
ヘリウムを有効に無駄なく使用することができ、
且つ操作も非常に簡単にできるようにした電気部
品性能測定用のクライオスタツトに関する考案で
ある。
ヘリウムを有効に無駄なく使用することができ、
且つ操作も非常に簡単にできるようにした電気部
品性能測定用のクライオスタツトに関する考案で
ある。
今、その目的を達するために実施例を説明すれ
ば、全体の構成は断熱性挿入パイプ１の上部に断
熱性の大径の測定筒２を設け、大径の測定筒２の
上部より下端に試料内挿筒３を設けたパイプ４を
挿入し、パイプ４の上端に蒸発ヘリウムガス放出
パイプ５を取付け、該放出パイプ５の上部に測定
筒２の上部とを気密に連結することができる支持
筒６の上部を気密に固定し、支持筒６の側面に測
定器具と連結する導線等の接続コネクター６ｂを
取付けて成るものである。
ば、全体の構成は断熱性挿入パイプ１の上部に断
熱性の大径の測定筒２を設け、大径の測定筒２の
上部より下端に試料内挿筒３を設けたパイプ４を
挿入し、パイプ４の上端に蒸発ヘリウムガス放出
パイプ５を取付け、該放出パイプ５の上部に測定
筒２の上部とを気密に連結することができる支持
筒６の上部を気密に固定し、支持筒６の側面に測
定器具と連結する導線等の接続コネクター６ｂを
取付けて成るものである。
断熱性挿入パイプ１は内外二重の内パイプ１ａ
と外パイプ１ｂとで形成され、内パイプ１ａは外
パイプより長く下に突出し、外パイプ１ｂは下端
は内パイプ１ａに気密に連結閉塞され、上端には
レジユーサー７の下端が気密に連結固定されてい
る。レジユーサー７の上端大径部には測定筒２が
気密に連結され、且つ測定筒２の上端には試料挿
通用の円筒部８を上方に向け設けたフランジ９を
気密に固定すると共に円筒部８の上端に外方に向
け水平なフランジ１０を設け、後記する支持筒６
の下端のフランジ６ａと気密に連結できるように
形成してある。
と外パイプ１ｂとで形成され、内パイプ１ａは外
パイプより長く下に突出し、外パイプ１ｂは下端
は内パイプ１ａに気密に連結閉塞され、上端には
レジユーサー７の下端が気密に連結固定されてい
る。レジユーサー７の上端大径部には測定筒２が
気密に連結され、且つ測定筒２の上端には試料挿
通用の円筒部８を上方に向け設けたフランジ９を
気密に固定すると共に円筒部８の上端に外方に向
け水平なフランジ１０を設け、後記する支持筒６
の下端のフランジ６ａと気密に連結できるように
形成してある。
又、測定筒２内において内パイプ１ａの下端部
の円板１ａ−１と測定筒２の上端のフランジ９間
には試料内挿筒３を十分に内挿できる大きさのパ
イプ１１を気密に取付けてある。
の円板１ａ−１と測定筒２の上端のフランジ９間
には試料内挿筒３を十分に内挿できる大きさのパ
イプ１１を気密に取付けてある。
このようにして測定筒２を形成するものであ
り、更に内パイプ１ａ及び外パイプ１ｂ間、測定
筒２及びパイプ１１間等は真空断熱を施すもので
ある。
り、更に内パイプ１ａ及び外パイプ１ｂ間、測定
筒２及びパイプ１１間等は真空断熱を施すもので
ある。
これと別に下部を閉塞３ａし上部側面に通気孔
３ｂを設けた中空の試料内挿筒３の上端面３ｃに
小径のパイプ４を固定する。
３ｂを設けた中空の試料内挿筒３の上端面３ｃに
小径のパイプ４を固定する。
パイプ４の上端にはパイプ４よりやゝ大径のパ
イプ５を固定すると共にパイプ５の下部近くに孔
５ａを二箇穿つものである。
イプ５を固定すると共にパイプ５の下部近くに孔
５ａを二箇穿つものである。
パイプ５の上端は開放し、且つパイプ５の上部
近くに支持筒６の上端を気密に固定し、支持筒６
の下端に前記フランジ１０と同径のフランジ６ａ
を設けると共に支持筒６の側面の一箇所に接続コ
ネクター６ｂを有する横形円筒６ｃを設けるもの
である。
近くに支持筒６の上端を気密に固定し、支持筒６
の下端に前記フランジ１０と同径のフランジ６ａ
を設けると共に支持筒６の側面の一箇所に接続コ
ネクター６ｂを有する横形円筒６ｃを設けるもの
である。
１２は測定筒２に設けた真空封止弁である。
１３は液体ヘリウム容器を示すものである。
本願は前記構成よりして試料内挿筒３内に電気
部品等の試料を内挿した後、試料内挿筒３をパイ
プ１１内に内挿し、その後円筒部８のフランジ１
０と支持筒６のフランジ６ａとを気密に固定して
準備する。
部品等の試料を内挿した後、試料内挿筒３をパイ
プ１１内に内挿し、その後円筒部８のフランジ１
０と支持筒６のフランジ６ａとを気密に固定して
準備する。
その後断熱性挿入パイプ１を液体ヘリウム容器
１３の口部１３ａより挿入し、パイプ２と口部１
３ａとを気密に支持すると液体ヘリウム容器１３
に伝わる伝導熱（侵入熱）又は液体ヘリウム容器
内に設置されたヒーターにより液体ヘリウムは気
化して圧力が上昇するので低温ヘリウムガス又は
液体ヘリウムは断熱性挿入パイプ１の内パイプ１
ａを上昇してパイプ１１内に入り、試料内挿筒３
を冷却し気化したヘリウムガスはパイプ１１、孔
５ａ及びパイプ５を通つて外部に排気される。
１３の口部１３ａより挿入し、パイプ２と口部１
３ａとを気密に支持すると液体ヘリウム容器１３
に伝わる伝導熱（侵入熱）又は液体ヘリウム容器
内に設置されたヒーターにより液体ヘリウムは気
化して圧力が上昇するので低温ヘリウムガス又は
液体ヘリウムは断熱性挿入パイプ１の内パイプ１
ａを上昇してパイプ１１内に入り、試料内挿筒３
を冷却し気化したヘリウムガスはパイプ１１、孔
５ａ及びパイプ５を通つて外部に排気される。
そして試料の冷却による低温時の性能を電導線
等を介して外部の測定器により測定するものであ
る。
等を介して外部の測定器により測定するものであ
る。
本願は液体ヘリウム容器１３の口部１３ａに断
熱性挿入パイプ１を上部より挿入するだけである
ので作業が簡単で口部１３ａとパイプ１との気密
性も容易にできるため時間的に無駄がなく、従つ
て液体ヘリウムのうつし換えが不要となるので液
体ヘリウムの気化が少なく高価な液体ヘリウムを
有効に使用することができるものである。
熱性挿入パイプ１を上部より挿入するだけである
ので作業が簡単で口部１３ａとパイプ１との気密
性も容易にできるため時間的に無駄がなく、従つ
て液体ヘリウムのうつし換えが不要となるので液
体ヘリウムの気化が少なく高価な液体ヘリウムを
有効に使用することができるものである。
本願は叙上のように断熱性挿入パイプ１の上部
に断熱性の大径の測定筒２を設け、大径の測定筒
２の上部より下端に試料内挿筒３を設けたパイプ
４を挿入し、パイプ４の上端に蒸発ヘリウムガス
放出パイプ５を取付け、該放出パイプ５の上に測
定筒２の上部とを気密に連結することができる支
持筒６の上部を気密に固定し、支持筒６の側面に
測定器具と連結する導線等の接続コネクター６ｂ
を取付けて成るので操作が簡単で操作時間が短い
ので高価な液体ヘリウムのうつし換え時に要する
気化を極少量ですませることができるため液体ヘ
リウム又は低温ヘリウムガスを所望する試料の部
分に確実且つ十分に注入し、試料を冷却すること
ができ、無駄な液体ヘリウムの気化を極力少なく
することにより試験費用の節約に役立つばかり
か、構成が簡単であるので取扱いが容易迅速に行
うことができる等の効果を有するものである。
に断熱性の大径の測定筒２を設け、大径の測定筒
２の上部より下端に試料内挿筒３を設けたパイプ
４を挿入し、パイプ４の上端に蒸発ヘリウムガス
放出パイプ５を取付け、該放出パイプ５の上に測
定筒２の上部とを気密に連結することができる支
持筒６の上部を気密に固定し、支持筒６の側面に
測定器具と連結する導線等の接続コネクター６ｂ
を取付けて成るので操作が簡単で操作時間が短い
ので高価な液体ヘリウムのうつし換え時に要する
気化を極少量ですませることができるため液体ヘ
リウム又は低温ヘリウムガスを所望する試料の部
分に確実且つ十分に注入し、試料を冷却すること
ができ、無駄な液体ヘリウムの気化を極力少なく
することにより試験費用の節約に役立つばかり
か、構成が簡単であるので取扱いが容易迅速に行
うことができる等の効果を有するものである。
第１図は本願の実施例を示す全体の断面図、第
２図は使用状態を示す側面図である。
２図は使用状態を示す側面図である。
Claims (1)
- 断熱性挿入パイプ１の上部に断熱性の大径の測
定筒２を設け、大径の測定筒２の上部より下端に
試料内挿筒３を設けたパイプ４を挿入し、パイプ
４の上端に蒸発ヘリウムガス放出パイプ５を取付
け、該放出パイプ５の上部に測定筒２の上部とを
気密に連結することができる支持筒６の上部を気
密に固定し、支持筒６の側面に測定器具と連結す
る導線等の接続コネクター６ｂを取付けて成るク
ライオスタツト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1983153594U JPS6061674U (ja) | 1983-10-03 | 1983-10-03 | クライオスタツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1983153594U JPS6061674U (ja) | 1983-10-03 | 1983-10-03 | クライオスタツト |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6061674U JPS6061674U (ja) | 1985-04-30 |
| JPH0114939Y2 true JPH0114939Y2 (ja) | 1989-05-02 |
Family
ID=30339772
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1983153594U Granted JPS6061674U (ja) | 1983-10-03 | 1983-10-03 | クライオスタツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6061674U (ja) |
-
1983
- 1983-10-03 JP JP1983153594U patent/JPS6061674U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6061674U (ja) | 1985-04-30 |
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