JPH0115073Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、被検出物である金属体の接近又は通
過をその検出ヘツドで検出するいわゆる貫通形の
近接スイツチに関し、特にその検出ヘツドの構造
に関するものである。

このような貫通形近接スイツチを利用した検出
装置の従来例を第１図に示す。図において、１は
貫通形（環状）の検出ヘツド、２はこの検出ヘツ
ド１に収納された環状の検出コイル、３は検出ヘ
ツド１に挿通されたホースである。４は検出回路
部で、発振回路５、検波回路６、スイツチング回
路７、パワー回路８及びこれら各回路に電流を供
給する電源回路９等からなつている。なお、本例
では検出コイル２が収納された検出ヘツド１と、
検出回路部４は分離した場合を示したが、両者が
一体になつているものもある。

上記のような構成の検出装置において、検出コ
イル２には発振回路４から高周波電流が供給され
ており、ホース２が挿通された空間には磁界が形
成されている。いま、ホース２の一端から、例え
ばベアーリングのローラの如き被検出物を入れる
と、被検出物はホース２内を転動しながら他端に
移動する。このとき、被検出物が検出コイル２の
磁界内を通過すると、リアクタンスが変化して発
振回路５の発振が停止又は低下するので、この変
化を検波回路５で検出してスイツチング回路７を
作動させ、パワー回路８で増幅して出力端０から
信号を出力する。したがつて、被検出物が検出コ
イル２内を通過するごとに発生する出力信号をカ
ウンターでカウントすれば、検出コイル２内を通
過した被検出物の数を計数することができる。

しかしながら、上記のような従来の環状の検出
コイル２を検出ヘツド１とした貫通形近接スイツ
チにおいては、次のような問題がある。

(1) 検出コイル２による磁力線の分布は、検出コ
イル２に近いほど密度が高く、中心部になるほ
ど密度が低いので、検出コイル２内に被検出物
を通過させる場合は、その外周が検出コイル２
に近接していれば高い感度が得られるが、一方
に偏つたり中心部を通過する場合は高い感度は
得られない。したがつて、被検出物を高感度で
検出するためには、被検出物の外径とほゞ等し
いか又は僅かに大きい内径の検出ヘツド１を使
用することが必要である。このため、従来は、
被検出物の大きさが異なるごとに、これに適合
した検出ヘツド１と交換して感度を調整しなけ
ればならなかつたので、あらかじめ多種類の検
出ヘツドを準備しておかなければならず、きわ
めて不経済であつた。

(2) 検出ヘツド１の交換が面倒なばかりでなく、
交換の都度作業を中断しなければならないの
で、作業能率が低下する。

(3) 現場で検出ヘツド１を交換するので、検出コ
イル２の断線や故障を生じ易い。

(4) 検出ヘツド１の交換の手間を省くため、多種
類の検出ヘツド１を並設することも考えられる
が、設置スペースを広くとらなければならない
ので、好ましくない。

本考案は、上記のような問題点を解決すべくな
されたもので、被検出物の大きさが変つても検出
コイルを交換することなく、１台の検出ヘツドで
多種類の被検出物の存在を容易に検出できる近接
スイツチを得ることを目的としたものである。

本考案に係る近接スイツチは、上記の目的を達
成するため、高周波電流が供給される検出コイル
の磁界内に被検出物が接近又は通過することによ
つて生ずるリアクタンスの変化を検出して被検出
物の存在を検出する近接スイツチにおいて、非磁
性材料からなる本体に大きさの異なる複数個の貫
通穴を連続又は独立して設け、該貫通穴を囲繞し
て検出コイルを装着してなる検出ヘツドを用いた
ことを特徴とするものである。以下図面を用いて
本考案を説明する。

第２図は本考案の要部をなす検出ヘツドの実施
例の斜視図、第３図はそのＡ−Ａ断面斜視図であ
る。両図において、１０は検出ヘツド、１１は例
えば合成樹脂を成型してなる非磁性体のヘツド本
体で、大きさの異なる複数個（図には４個の場合
が示してある）の貫通穴１２が階段状に連続して
貫設されている。１３は貫通穴１２に近接しこれ
を囲繞して設けられた溝で、この溝には検出コイ
ルが装着される。１５は検出コイルの端子取出
穴、１６は検出ヘツド１０を取付けるためのねじ
穴である。

第４図は上記の検出ヘツド１０を使用した近接
スイツチにより、被検出物の近接又は通過を検出
するための装置の一例を示す構成図である。３ａ
〜３ｄは径の異なるホースで、検出ヘツド１０の
貫通穴１２のそれぞれの径に対応する位置に挿通
されている。１４はヘツド本体１１の溝１３に嵌
装され、接着剤で接着された検出コイルである。
なお、この検出コイル１４は、実施例では0.26mm
のポリエステル被覆線を80回巻回した抵抗１２Ω
のものを使用した。検出回路部４の構成は第１図
の従来例の場合とほぼ同じである。なお、５ａは
必要に応じて発振回路５に設けられる感度調整器
である。

上記のように構成した本装置は、検出ヘツド１
０をねじ穴１６を利用して現場の所定の位置に取
付け貫通穴１２にそれぞれホース３ａ〜３ｄを装
着する。ついで、被検出部の大きさに対応してレ
ンジ切換スイツチ６ａを切換え、被検出物の大き
さに対応したホース（例えば３ａ）に被検出物を
入れゝば、前記第１図の従来例の場合と同様に、
ホース３ａ内を通過する被検出物の数をカウント
することができる。

この場合、第５図に示すように、各ホース３ａ
〜３ｄは３個所又は２個所で貫通穴１２の内壁に
当接するか又はこれに近接して配置されているの
で、この部分は磁束密度が高くなつている。した
がつて、各ホース３ａ〜３ｄの内径にほゞ等しい
外径の被検出物を通過させることにより、高感度
でこれを検出することができる。

被検出物の大きさが変つたときは、これに対応
したホース（例えば３ｃ）に被検出物を入れるこ
とにより、同様にして検出コイル１４内を通過す
る被検出物の数をカウントすることができる。こ
のように、本例によれば、大きさの異なる数種類
の被検出物を、検出ヘツド１０を交換することな
く、被検出物の大きさに対応したホースに被検出
物を入れるだけで容易に検出することができる。

第６図は本考案に係る検出ヘツドの他の実施例
を示す正面図で、ａはホースを挿通する複数個の
貫通穴１２ａ〜１２ｄをそれぞれ独立して設けた
場合、ｂはホースを挿通する複数個の丸い貫通穴
１２ｅを連続して設けた場合、ｃは同じく複数個
の丸い貫通穴１２ｆ〜１２ｉをそれぞれ独立して
設けた場合、ｄは中央に大きい丸い貫通穴１２ｊ
をまたその両側に径の異なる丸い貫通穴１２ｋ，
１２ｌをそれぞれ独立して設けたもので、いずれ
も貫通穴１２を囲繞して検出コイル１４が設けら
れている。またｅは径の異なる丸い貫通穴１２ｆ
〜１２ｋをそれぞれ設け、その外周に沿つて検出
コイル１４を設けたものである。

上記の実施例では、検出ヘツド１０の本体１１
に径の異なる３本又は４本のホースを挿通する貫
通穴を設けた場合を示したが、径の異なる２本以
上のホースを挿通できる連続又は独立した貫通穴
を設けたものであればよい。またコイル１４を本
体１１に設けた溝１３に装着した場合を示した
が、本体１１の表面に貼付けてもよくあるいは本
体に埋込んでもよい。さらに上記実施例ではベア
リングのローラを検出する場合について述べた
が、その他の被検出物も検出しうることは云うま
でもない。その他各部の形状、寸法等も上記実施
例に限定するものでなく、本考案の要旨を逸脱し
ない範囲で適宜変更することができる。

以上の説明から明らかなように、本考案によれ
ば、被検出物の大きさが異なつても、検出ヘツド
を交換することなく１台の検出ヘツドで多種類の
被検出物を検知できるので、経済的であるばかり
でなく、交換のために作業を中断することもない
ので作業能率を向上させることができる。また検
出ヘツドを交換する必要がないので、検出コイル
が断線したり故障を生じることがほとんどなく、
若し検出コイルが断線しても、検出コイルをヘツ
ド本体に貼付け又は溝に装着した場合は容易に交
換できる等、実施による効果きわめて大である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の近接スイツチの一例の構成図、
第２図は本考案の要部をなす検出ヘツドの実施例
の斜視図、第３図はそのＡ−Ａ断面斜視図、第４
図は本考案の使用例を示す構成図、第５図は本考
案実施例の作用説明図、第６図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，
ｅはそれぞれ本考案に係る検出ヘツドの他の実施
例の正面図である。 ４：検出回路部、１０：検出ヘツド、１１：ヘ
ツド本体、１２：貫通穴、１３：溝、１４：検出
コイル。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 高周波電流が供給される検出コイルの磁界内
   に被検出物が接近又は通過することによつて生
   ずるリアクタンスの変化を検出して被検出物の
   存在を検出する近接スイツチにおいて、非磁性
   材料からなる本体に大きさの異なる複数個の貫
   通穴を連続又は独立して設け、該貫通穴を囲繞
   して検出コイルを装着してなる検出ヘツドを用
   いたことを特徴とする近接スイツチ。 (2) 前記検出コイルを前記貫通穴を囲繞して設け
   た溝内に装着してなる実用新案登録請求の範囲
   第１項記載の近接スイツチ。