JPH01154247A - 診断方式 - Google Patents

診断方式

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JPH01154247A
JPH01154247A JP62312816A JP31281687A JPH01154247A JP H01154247 A JPH01154247 A JP H01154247A JP 62312816 A JP62312816 A JP 62312816A JP 31281687 A JP31281687 A JP 31281687A JP H01154247 A JPH01154247 A JP H01154247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diagnostic
processor
test
processors
interface
Prior art date
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Pending
Application number
JP62312816A
Other languages
English (en)
Inventor
Shukichi Moriyama
修吉 森山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH01154247A publication Critical patent/JPH01154247A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮血欠ヱ 本発明は診断方式に関し、特に試験診断の実行を制御す
る診断装置自身の試験診断に関する。
藍米亘韮 従来、この種の診断装置4は、第2図に示すように、試
験診断の実行を制御する診断プロセッサ(SVP)41
.42と、試験診断の対象である情報処理装置(LJN
T)2−i[i=0.−・−、n)、3−1に接続され
ている診断インタフェース1o1−+、1o2−;を制
御する診断インタフェース制御回路(DGtJ>43.
44と、診断パネル45.46とにより構成されている
また、診断装置4には診断プロセッサ41.42夫々に
対応するディスク記憶装置(DKS)15.16と、入
出力装置(KB、CRT>17゜18と、ライン1’)
ンタ(LP)19.20とが接続されている。
これら診断プロセッサ41.42は構成が同一のもので
、これら診断プロセッサ41.42がシステムの中核を
なし、システムの故障率が高いことなどからいわゆる二
重化されている。
診断インタフェース制御回路43.44も構成が同一の
ものとなっており、診断プロセッサ41゜42と同様な
理由で二重化されている。
診断プロセッサ41と診断インタフェース制御回路43
.44との間は制御インタフェース111゜112によ
り接続され、診断プロセッサ42と診断インタフェース
制御回路43.44との間は制御インタフェース121
.122により接続されている。
診断インタフェース制御回路43はインタフェースポー
ト部POiを介して診断インタフェース101−1によ
り情報処理装置2−iと接続され、診断インタフェース
制御回路44はインタフェースポート部Pliを介して
診断インタフェース102− iにより情報処理装置3
−1と接続されている。
診断パネル45.46は操作者が診断プロセッサ41.
42の試験診断を行うために設けられており、スイッチ
やランプなどにより構成されている。
診断プロセッサ41.42ともに故障などがなく正常に
動作しているときには、診断プロセッサ41は診断イン
タフェース制御回路43を制御して情報処理装置2−i
の試験診断を行い、診断プロセッサ42は診断インタフ
ェース制御回路44を制御して情報処理装置3−1の試
験診断を行うように動作する。
しかしながら、たとえば診断プロセッサ42に故障が発
生して異常状態となった場合には、診断プロセッサ42
は動作を停止し、診断プロセッサ41のみが動作を続行
することとなる。
この場合、診断プロセッサ41か診断インタフェース制
御回路43.44を両方とも制御して情報処理装置2−
i、 3−iの試験診断を行うように動作する。故障が
発生した診断プロセッサ42では操作者による診断パネ
ル46からの試験診断が行われる。
診断プロセッサ41に故障が発生した場合には、診断プ
ロセッサ42により上述と同様の処理動作が行われ、診
断プロセッサ41の処理動作が診断プロセッサ42によ
って肩代わりされる。故障が発生した診断プロセッサ4
1では操作者による診断パネル45からの試験診断が行
われる。
このような従来の診断装置4では、診断プロセッサ41
.42に故障が発生しても情報処理装置2−i、 3−
iの試験診断に支障をきたさないように診断プロセッサ
41.42が二重化されていたが、診断プロセッサ41
.712における試験診断が操作者によって診断パネル
45.46から行われているので、試験診断の正確性や
迅速性がプログラム化されて自動化されたものに比して
劣るため、診断プロセッサ41.42における故障の復
旧が遅れるという欠点がある。
1匪立旦尤 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、診断プロセッサの試験診断を自動的に行
うことができ、診断プロセッサの故障の復旧を迅速に行
うことができる診断方式の提供を目的とする。
発明の構成 本発明による診断方式は、複数の情報処理装置の診断が
複数の診断装置により行われる診断方式であって、前記
複数の診断装置が共通に接続される制御インタフェース
バスを設け、前記診断装置の1つに障害が生じたとき、
該診断装置を他の診断装置により前記制御インタフェー
スバスを介して診断するようにしたことを特徴とする。
及ハヨ 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、本発明の一実施例による診断装置1は
、試験診断の実行を制御する診断プロセッサ(SVP)
11.12と、試験診断の対象である情報処理装置(U
NT)2−i (i =O。
・・・・・・、n)、3−iに接続されている診断イン
タフェース101−i、102−iを制御する診断イン
タフェース制御回路(DGtJ)13.14とにより構
成されている。
また、診断装置1には診断プロセッサ11,12夫々に
対応するディスク記憶装置(DKS>15.16と、入
出力装置(KB、CRT>17゜18と、ラインプリン
タ(LP)19.20とが接続されている。
これら診断プロセッサ11.12および診断インタフェ
ース制御回路13.14は第2図に示した従来例の診断
装置4と同様に夫々構成が同一であり、いわゆる二重化
されている。
診断プロセッサ11.12と診断インタフェース制御回
i?813.14との間は制御インタフェースバス10
3により接続されている。
診断インタフェース制御回路13はインタフェースポー
ト部POiを介して診断インタフェース101−1によ
り情報処理装置2−iと接続され、また診断インタフェ
ース制御回f?81 liはインタフェースポート部P
1iを介して診断インタフェース102−iにより情報
処理装置3−iと接続されている。
診断プロセッサ11.12ともに故障などがなく1常に
動作しているときには、診断プロセッサ11は制御イン
タフェースバス103を介して診断インタフェース制御
回路13を制御して情報処理装置2−iの試験診断を行
い、診断プロセッサ12は制御インタフェースバス10
3を介して診断インタフェース制御回路14を制御して
情報処理装置3哨の試験診断を行うように動作する。
ここで、たとえば診断プロセッサ12に故障が発生して
異常状態となった場合には、診断プロセッサ12は動作
を停止し、診断プロセッサ11のみが動作を続行するこ
ととなる。
この場合、診断プロセッサ11が制御インタフェースバ
ス103を介して診断インタフェース制御回路13.1
4を両方とも制御して情報処理装置2−i、 3−iの
試験診断を行うように動作する。
また、診断プロセッサ11は予めプログラムされた試験
診断手順によって、制御インタフェースバス103を介
して故障が発生した診断プロセッサ12の試験診断を行
うように動作する。
診断プロセッサ11に故障が発生した場合には、診断プ
ロセッサ12により上述と同様の処理動1ヤが行われ、
診断プロセッサ11の処理動作が診断プロセッサ12に
よって肩代わりされるとともに、制御インタフェースバ
ス103を介して故障が発生した診断プロセッサ11の
試験診断を行うように動作する。
このように、二重化された診断プロセッサ11゜12夫
々を制御インタフェースバス103により共通に接続し
、診断プロセッサ11.12の一方に故障が発生したと
きに他方の診断プロセッサ12゜11により制御インタ
フェースバス103を介して直接故障が発生した診断プ
ロセッサ11.12の試験診断を行うようにすることに
よって、故障が発生した診断プロセッサ11.12の試
験診断を自動的に行うことができる。よって、診断プロ
セッサ11.12における故障の復旧を迅速に行うこと
ができる。
発明の詳細 な説明したように本発明によれば、複数の情報処理装置
の診断を行う診断装置各々を制御インタフェースバスに
より共通に接続し、診断装置の1つに障害が生じたとき
、該診断装置を他の診断装置によりこの制御インタフェ
ースバスを介して診断するようにすることによって、診
断プロセッサの試験診断を自動的に行うことができ、診
断プロセッサの故障の復旧を迅速に行うことができると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は従来例の構成を示すブロック図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・診断装置 2−1〜2−n。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の情報処理装置の診断が複数の診断装置により行わ
    れる診断方式であって、前記複数の診断装置が共通に接
    続される制御インタフェースバスを設け、前記診断装置
    の1つに障害が生じたとき、該診断装置を他の診断装置
    により前記制御インタフェースバスを介して診断するよ
    うにしたことを特徴とする診断方式。
JP62312816A 1987-12-10 1987-12-10 診断方式 Pending JPH01154247A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62312816A JPH01154247A (ja) 1987-12-10 1987-12-10 診断方式

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62312816A JPH01154247A (ja) 1987-12-10 1987-12-10 診断方式

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JPH01154247A true JPH01154247A (ja) 1989-06-16

Family

ID=18033757

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JP62312816A Pending JPH01154247A (ja) 1987-12-10 1987-12-10 診断方式

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