JPH01161141A - 熱定数測定装置 - Google Patents

熱定数測定装置

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JPH01161141A
JPH01161141A JP32195787A JP32195787A JPH01161141A JP H01161141 A JPH01161141 A JP H01161141A JP 32195787 A JP32195787 A JP 32195787A JP 32195787 A JP32195787 A JP 32195787A JP H01161141 A JPH01161141 A JP H01161141A
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JP
Japan
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sample
cover
light source
heating means
temperature
Prior art date
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Pending
Application number
JP32195787A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiaki Nunogaki
布垣 義明
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Sanki Engineering Co Ltd
Original Assignee
Sanki Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sanki Engineering Co Ltd filed Critical Sanki Engineering Co Ltd
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Publication of JPH01161141A publication Critical patent/JPH01161141A/ja
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  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業−1−の利用分野) 本発明は、金属、セラミック、高分子飼料等の熱三定数
、即ち熱拡散率、比熱、熱伝導率を測定するための熱定
数測定装置に関するものである。
(従来の技術) 従来、試料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加
熱手段と、試II載置部I−の試料の温度を検出ケる第
1 ;AA度検出手段と、この試別の周囲の雰囲気温度
を検出中ろ第2温度検出手段と、上記加熱手段の周囲を
覆−〕で、内部に真空引き可能な密閉空間を形成すると
ともに、−1一部に光入射窓を自′するカバーと、この
カバーの−1一方から上記光入射窓を介して上記試別を
照射1.てこれに熱エネルギをりえる光源どをf+i!
iえた熱定数測定装置が公知である(実公昭53−19
110号公報、同534、5036号公報)。
この装置において、光源はカバーとは別個に支枯され、
また加熱手段(」試料載置部の周囲に設けた台上に単に
載置するようにしただけのもので、その他からは支持さ
れていない。
そ(7て、試別を取替える際は、まず光源を移動さ且て
から、カバーを取外し、さらに加熱手段に電気を導くリ
ード線の取(=t IJねじを緩めた後、加熱手段を1
″j上ばて別の場所へ移動させ、試オニ1載置部を露出
させた後、試料の取替えを行い、続いて」1記とは逆の
順序で加熱手段、カバー、光源を元に戻すように形成さ
れている。
また、試料の熱定数の測定は、加熱手段により試料の周
囲を適宜温度の雰囲気に形成するとともに、上記光源に
より試料を照射することにより行われている。即ち、照
射光による試料の温度変化を測定して、この測定データ
を公知の式に適用することにより、ある温度にお0る試
料の熱定数が求められている。
(発明が解決しようとする問題点) 上記従来の装置では、カバーと光源とは別個に支持され
ているため、試料を取替える際に、その都度カバーを所
定位置に置き、さらに光源をその中心が、試料の中心上
に来るように位置決めする必要があり、手間がかかると
いう問題があった。
またカバーと光源とは別個に移動させるため、移動時に
両者がぶつからないように光源をカバーからある程度離
しておく必要があり、このためカバー外に散乱する光が
増えるとともに光源と試料との間の距離が長くなり試料
を照射4−る光の強さが弱くなる等の問題があった。
(問題点を解決するための手段) −J二記従来の問題点を解決するために、本発明は、試
料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加熱手段と
、試料載置部」−の試料の温度を検出する第1温度検出
手段と、この試料の周囲の雰囲気温度を検出する第2/
fjL度検出手段と、」−記加熱手段の周囲を覆って、
内部に真空引き可能な密閉空間を形成するとともに、」
二部に光入射窓を有するカバーと、このカバーの」一方
から上記光入射窓を介して上記試料を照射してこれに熱
エネルギを与える光源とを備えた熱定数測定装置におい
て、−]二1カバーと光源とを一体化)2て形成した。
(実施例) 次に、本発明の一実施例を図面にしたがって説明する。
第1図以下は、本発明に係る熱定数at11定装置を示
し、試料載置部Iと、試料載置部Iの周囲を取囲む加熱
手段2と、試料載置部1−Lの試料3の温−4= 度を検出する第1熱電対4と、この試料3の周囲の雰囲
気温度を検出する第2熱電対5と、加熱手段2の周囲を
覆うカバー6と、この上方の光源7とが設けである。
このうち、試料載置部3は、中心部に円すいコイルばね
11により上向きに付勢された載置台12と、その外側
に立設した上部内側に断面矩形の溝を有する支柱I3と
、この溝に係合するとともに、試料3周縁部を上側から
押えるリンク14とからなっている。
加熱手段2は、セラミック製の筒体の周囲にニクロム線
を巻いて形成した本体I5を適宜中間支持部材16を介
して左右両側の柱] 7.18により支持するように形
成したものである。即ち、第1図中左側の柱17はガイ
ド溝19(1きの外筒20内に、ガイド溝19と係合す
る突起部21を有する断面円形の棒材22を摺動可能に
嵌入させたもので(第2図)、右側の柱I8は中間部で
分割され、分割面の一方に凹溝を他方にこの凹溝内に嵌
入可能な凸条部を設げて形成したものである。そして、
ガイド溝19にl()って突起部2Iを移動させること
により、中間支持部材16を介して本体15を垂直方向
に、真直ぐ昇降させ、図示しないス)・ツバ−により棒
材22を上限位置で止めた後は、第2図に示すように突
起部21をガイド溝19の上側に出させて、外筒20の
北端面に沿って水平面内で回転させ、これにより本体1
5を上限位置の高さを保ったままで棒材22を中心とし
て左右に自由に回転させるようになっている。また、棒
材22を」1昇させると、中間支持部材16を介して柱
18を上下に分割し、本体15が棒材22を中心として
回転する際に、柱18の固定部である下部からの拘束を
解き、逆に棒材22を下降させた際には、柱18の分割
部の上下の凹凸部が嵌合して、本体15を下限定位置に
、がたつきなく支持出来るようにしである。
第1熱電対4は、適宜接着剤により試料3に温度検知可
能に取(t i:lる一方、第2熱電対5は加熱手段2
の本体I5内の適宜位置に、試料3の周囲の雰囲気温度
検知可能に取付けである。
カバー6は、加熱手段2の周囲を覆い、加熱手段2の下
方の底板23および底板23に形成した環状面内に装着
したOリング24とともに内部に密閉空間を形成してい
る。そして、図示しない真空ポンプにより、底板中心部
の貫通孔25を介してカバー6内を真空引き出来るよう
に形成しである。また、カバー6の平部に(J石英を嵌
め込んだ光入射窓26を設(〕るとともに、この上にカ
バー6と−・体的に光源7、例えはXeランプ、あるい
はIノーザ光卸を取付IJて、これにより光入射窓26
を介して試料3を瞬間的に照射(7て、これに光エネル
ギを与えるようにしである。
さらに、カバー6は、カバー6および光源7を覆うカバ
ーとともに柱28に取イー]()である。第3図に示す
ように、この柱28には逆′F字形の1M29が形成し
てあり、このW+¥29と基板3oに設(Jた突起部3
1とを係合さ且ることにより、柱28を回転することな
く垂直かつ真直ぐに昇降させ、上限位置でのみ一定角度
範囲内で、 一定高さを保ったままで回転出来るように
なっている。即ち、カバー6と光源7とを−・体的に第
1図に示す状態から、真直ぐに上昇させ、上限位置にて
、一定角度範囲内で、高さを変えることなく回転さ且、
また、その逆に元に戻し得るようになっており、カバー
6を正規の位置に置1)は光源7の位置調整は不要とな
っている。
なお、加熱手段2、および第1.第2熱電刻4゜5はリ
ード線およびカバー6内を気密に保つ貫通電極32を介
してカバー6の外部と電気的に接続されている。
次に、」−記構成からなる装置の取扱い手順について説
明する。
まず、第1図に示す状態で試料3が載置され、測定が完
了すると、加熱手段2の電源を切り、カバー6内を大気
圧にした後、カバー6および光源7を上昇させて、上限
位置にて水平回転させて、加熱手段2の北方から退避さ
せる。この場合、水平回転させた位置で、外力な(7て
カバー6および光源7はi//# 29の下部の水平部
分により支持される。
さらに、1記同様に加熱手段2を上y1′さ且て、)、
限イア装置にて水<IZ回転させて試料3の周囲から退
避さ且る1、この場合も、上記同様に水平回転さ且た位
置にて、外力なしで加熱手段2は外筒20の−)一端面
により支楯される。
また、このように加熱手段2は一定の軌跡に沿って一定
の範囲内で重力だ(Jて、丁で持」−げたり、戻したり
する場合のような無秩序な動きをしないノーめ、試14
4載置)1り1との間の隙間か小さくてら、移動時に両
者がぶつかり合い破損することはない。
このため、この隙間を小ざくして試]13に刻する加熱
効果を高めるようにしである。
さらに、加熱手段2は一定の範囲内で動くだ()である
のでり−1・線34を若干余裕を乙って取イマ1(Jる
だ(Jで、加熱手段2の移動時に、その都度その取イマ
1けねじを緩めてリード線34を取外す必要もなくなっ
ている。
ついで、試料載置部Iの試113を取替え′ζ、上記と
は逆の順序で加熱手段2等を元に戻し、第1図に示す状
態にする4゜ (発明の効果) 以上の説明より明らかなように、本発明によれば、カバ
ーと光源とを一体化して形成しである1゜このため、試
料取替えの際、カバーを正規の位置に置くだ(Jで、光
源の位置を調整する必要がi、7く、迅速に行うことが
出来るだ1)でなく、光源の位置のばらつきもなくなり
測定精度も向−1−させろことが出来る。
また、カバーと光源との間の移動がないため、試1′1
取替えの際の両者のぶつかり合いを心配する必要もなく
、両者を近接させて設(Jることか出来、この結果光源
からの光かカバー外に逃げるのを少なくするとと6に、
試オ′−1を照射する先の強さを増すことが出来、この
点からも測定精度の向上に寄与し得るという効果を奏4
゛ろ。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る熱定数測定装置の断面図、第2図
は加熱手段の文盲構造を示す一部破断斜視図、第3図(
Jカバーの支持構造を示ず一部破断斜視図である。 1・・・試料載置部、2・・加熱手段、3・・試料、4
−・第1熱電対、5 第2熱電対、6 カバー、7光源
、26・光入射窓。 特許出願人 三鬼エンヂニアリング株式会社代 理 人
 弁理士 前出 葆 はが2名第3図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加
    熱手段と、試料載置部上の試料の温度を検出する第1温
    度検出手段と、この試料の周囲の雰囲気温度を検出する
    第2温度検出手段と、上記加熱手段の周囲を覆って、内
    部に真空引き可能な密閉空間を形成するとともに、上部
    に光入射窓を有するカバーと、このカバーの上方から上
    記光入射窓を介して上記試料を照射してこれに熱エネル
    ギを与える光源とを備えた熱定数測定装置において、上
    記カバーと光源とを一体化したことを特徴とする熱定数
    測定装置。
JP32195787A 1987-12-16 1987-12-16 熱定数測定装置 Pending JPH01161141A (ja)

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JP32195787A JPH01161141A (ja) 1987-12-16 1987-12-16 熱定数測定装置

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JP32195787A JPH01161141A (ja) 1987-12-16 1987-12-16 熱定数測定装置

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ID=18138314

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JP32195787A Pending JPH01161141A (ja) 1987-12-16 1987-12-16 熱定数測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0334900A (ja) * 1989-06-30 1991-02-14 Pentel Kk 装飾体および装飾体の製造方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5831543A (ja) * 1981-08-19 1983-02-24 Nec Home Electronics Ltd 半導体装置の製造方法
JPS60250239A (ja) * 1984-05-28 1985-12-10 Bridgestone Corp 熱分析装置
JPS6245157U (ja) * 1985-09-10 1987-03-18

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