JPH01161141A - 熱定数測定装置 - Google Patents
熱定数測定装置Info
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- JPH01161141A JPH01161141A JP32195787A JP32195787A JPH01161141A JP H01161141 A JPH01161141 A JP H01161141A JP 32195787 A JP32195787 A JP 32195787A JP 32195787 A JP32195787 A JP 32195787A JP H01161141 A JPH01161141 A JP H01161141A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業−1−の利用分野)
本発明は、金属、セラミック、高分子飼料等の熱三定数
、即ち熱拡散率、比熱、熱伝導率を測定するための熱定
数測定装置に関するものである。
、即ち熱拡散率、比熱、熱伝導率を測定するための熱定
数測定装置に関するものである。
(従来の技術)
従来、試料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加
熱手段と、試II載置部I−の試料の温度を検出ケる第
1 ;AA度検出手段と、この試別の周囲の雰囲気温度
を検出中ろ第2温度検出手段と、上記加熱手段の周囲を
覆−〕で、内部に真空引き可能な密閉空間を形成すると
ともに、−1一部に光入射窓を自′するカバーと、この
カバーの−1一方から上記光入射窓を介して上記試別を
照射1.てこれに熱エネルギをりえる光源どをf+i!
iえた熱定数測定装置が公知である(実公昭53−19
110号公報、同534、5036号公報)。
熱手段と、試II載置部I−の試料の温度を検出ケる第
1 ;AA度検出手段と、この試別の周囲の雰囲気温度
を検出中ろ第2温度検出手段と、上記加熱手段の周囲を
覆−〕で、内部に真空引き可能な密閉空間を形成すると
ともに、−1一部に光入射窓を自′するカバーと、この
カバーの−1一方から上記光入射窓を介して上記試別を
照射1.てこれに熱エネルギをりえる光源どをf+i!
iえた熱定数測定装置が公知である(実公昭53−19
110号公報、同534、5036号公報)。
この装置において、光源はカバーとは別個に支枯され、
また加熱手段(」試料載置部の周囲に設けた台上に単に
載置するようにしただけのもので、その他からは支持さ
れていない。
また加熱手段(」試料載置部の周囲に設けた台上に単に
載置するようにしただけのもので、その他からは支持さ
れていない。
そ(7て、試別を取替える際は、まず光源を移動さ且て
から、カバーを取外し、さらに加熱手段に電気を導くリ
ード線の取(=t IJねじを緩めた後、加熱手段を1
″j上ばて別の場所へ移動させ、試オニ1載置部を露出
させた後、試料の取替えを行い、続いて」1記とは逆の
順序で加熱手段、カバー、光源を元に戻すように形成さ
れている。
から、カバーを取外し、さらに加熱手段に電気を導くリ
ード線の取(=t IJねじを緩めた後、加熱手段を1
″j上ばて別の場所へ移動させ、試オニ1載置部を露出
させた後、試料の取替えを行い、続いて」1記とは逆の
順序で加熱手段、カバー、光源を元に戻すように形成さ
れている。
また、試料の熱定数の測定は、加熱手段により試料の周
囲を適宜温度の雰囲気に形成するとともに、上記光源に
より試料を照射することにより行われている。即ち、照
射光による試料の温度変化を測定して、この測定データ
を公知の式に適用することにより、ある温度にお0る試
料の熱定数が求められている。
囲を適宜温度の雰囲気に形成するとともに、上記光源に
より試料を照射することにより行われている。即ち、照
射光による試料の温度変化を測定して、この測定データ
を公知の式に適用することにより、ある温度にお0る試
料の熱定数が求められている。
(発明が解決しようとする問題点)
上記従来の装置では、カバーと光源とは別個に支持され
ているため、試料を取替える際に、その都度カバーを所
定位置に置き、さらに光源をその中心が、試料の中心上
に来るように位置決めする必要があり、手間がかかると
いう問題があった。
ているため、試料を取替える際に、その都度カバーを所
定位置に置き、さらに光源をその中心が、試料の中心上
に来るように位置決めする必要があり、手間がかかると
いう問題があった。
またカバーと光源とは別個に移動させるため、移動時に
両者がぶつからないように光源をカバーからある程度離
しておく必要があり、このためカバー外に散乱する光が
増えるとともに光源と試料との間の距離が長くなり試料
を照射4−る光の強さが弱くなる等の問題があった。
両者がぶつからないように光源をカバーからある程度離
しておく必要があり、このためカバー外に散乱する光が
増えるとともに光源と試料との間の距離が長くなり試料
を照射4−る光の強さが弱くなる等の問題があった。
(問題点を解決するための手段)
−J二記従来の問題点を解決するために、本発明は、試
料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加熱手段と
、試料載置部」−の試料の温度を検出する第1温度検出
手段と、この試料の周囲の雰囲気温度を検出する第2/
fjL度検出手段と、」−記加熱手段の周囲を覆って、
内部に真空引き可能な密閉空間を形成するとともに、」
二部に光入射窓を有するカバーと、このカバーの」一方
から上記光入射窓を介して上記試料を照射してこれに熱
エネルギを与える光源とを備えた熱定数測定装置におい
て、−]二1カバーと光源とを一体化)2て形成した。
料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加熱手段と
、試料載置部」−の試料の温度を検出する第1温度検出
手段と、この試料の周囲の雰囲気温度を検出する第2/
fjL度検出手段と、」−記加熱手段の周囲を覆って、
内部に真空引き可能な密閉空間を形成するとともに、」
二部に光入射窓を有するカバーと、このカバーの」一方
から上記光入射窓を介して上記試料を照射してこれに熱
エネルギを与える光源とを備えた熱定数測定装置におい
て、−]二1カバーと光源とを一体化)2て形成した。
(実施例)
次に、本発明の一実施例を図面にしたがって説明する。
第1図以下は、本発明に係る熱定数at11定装置を示
し、試料載置部Iと、試料載置部Iの周囲を取囲む加熱
手段2と、試料載置部1−Lの試料3の温−4= 度を検出する第1熱電対4と、この試料3の周囲の雰囲
気温度を検出する第2熱電対5と、加熱手段2の周囲を
覆うカバー6と、この上方の光源7とが設けである。
し、試料載置部Iと、試料載置部Iの周囲を取囲む加熱
手段2と、試料載置部1−Lの試料3の温−4= 度を検出する第1熱電対4と、この試料3の周囲の雰囲
気温度を検出する第2熱電対5と、加熱手段2の周囲を
覆うカバー6と、この上方の光源7とが設けである。
このうち、試料載置部3は、中心部に円すいコイルばね
11により上向きに付勢された載置台12と、その外側
に立設した上部内側に断面矩形の溝を有する支柱I3と
、この溝に係合するとともに、試料3周縁部を上側から
押えるリンク14とからなっている。
11により上向きに付勢された載置台12と、その外側
に立設した上部内側に断面矩形の溝を有する支柱I3と
、この溝に係合するとともに、試料3周縁部を上側から
押えるリンク14とからなっている。
加熱手段2は、セラミック製の筒体の周囲にニクロム線
を巻いて形成した本体I5を適宜中間支持部材16を介
して左右両側の柱] 7.18により支持するように形
成したものである。即ち、第1図中左側の柱17はガイ
ド溝19(1きの外筒20内に、ガイド溝19と係合す
る突起部21を有する断面円形の棒材22を摺動可能に
嵌入させたもので(第2図)、右側の柱I8は中間部で
分割され、分割面の一方に凹溝を他方にこの凹溝内に嵌
入可能な凸条部を設げて形成したものである。そして、
ガイド溝19にl()って突起部2Iを移動させること
により、中間支持部材16を介して本体15を垂直方向
に、真直ぐ昇降させ、図示しないス)・ツバ−により棒
材22を上限位置で止めた後は、第2図に示すように突
起部21をガイド溝19の上側に出させて、外筒20の
北端面に沿って水平面内で回転させ、これにより本体1
5を上限位置の高さを保ったままで棒材22を中心とし
て左右に自由に回転させるようになっている。また、棒
材22を」1昇させると、中間支持部材16を介して柱
18を上下に分割し、本体15が棒材22を中心として
回転する際に、柱18の固定部である下部からの拘束を
解き、逆に棒材22を下降させた際には、柱18の分割
部の上下の凹凸部が嵌合して、本体15を下限定位置に
、がたつきなく支持出来るようにしである。
を巻いて形成した本体I5を適宜中間支持部材16を介
して左右両側の柱] 7.18により支持するように形
成したものである。即ち、第1図中左側の柱17はガイ
ド溝19(1きの外筒20内に、ガイド溝19と係合す
る突起部21を有する断面円形の棒材22を摺動可能に
嵌入させたもので(第2図)、右側の柱I8は中間部で
分割され、分割面の一方に凹溝を他方にこの凹溝内に嵌
入可能な凸条部を設げて形成したものである。そして、
ガイド溝19にl()って突起部2Iを移動させること
により、中間支持部材16を介して本体15を垂直方向
に、真直ぐ昇降させ、図示しないス)・ツバ−により棒
材22を上限位置で止めた後は、第2図に示すように突
起部21をガイド溝19の上側に出させて、外筒20の
北端面に沿って水平面内で回転させ、これにより本体1
5を上限位置の高さを保ったままで棒材22を中心とし
て左右に自由に回転させるようになっている。また、棒
材22を」1昇させると、中間支持部材16を介して柱
18を上下に分割し、本体15が棒材22を中心として
回転する際に、柱18の固定部である下部からの拘束を
解き、逆に棒材22を下降させた際には、柱18の分割
部の上下の凹凸部が嵌合して、本体15を下限定位置に
、がたつきなく支持出来るようにしである。
第1熱電対4は、適宜接着剤により試料3に温度検知可
能に取(t i:lる一方、第2熱電対5は加熱手段2
の本体I5内の適宜位置に、試料3の周囲の雰囲気温度
検知可能に取付けである。
能に取(t i:lる一方、第2熱電対5は加熱手段2
の本体I5内の適宜位置に、試料3の周囲の雰囲気温度
検知可能に取付けである。
カバー6は、加熱手段2の周囲を覆い、加熱手段2の下
方の底板23および底板23に形成した環状面内に装着
したOリング24とともに内部に密閉空間を形成してい
る。そして、図示しない真空ポンプにより、底板中心部
の貫通孔25を介してカバー6内を真空引き出来るよう
に形成しである。また、カバー6の平部に(J石英を嵌
め込んだ光入射窓26を設(〕るとともに、この上にカ
バー6と−・体的に光源7、例えはXeランプ、あるい
はIノーザ光卸を取付IJて、これにより光入射窓26
を介して試料3を瞬間的に照射(7て、これに光エネル
ギを与えるようにしである。
方の底板23および底板23に形成した環状面内に装着
したOリング24とともに内部に密閉空間を形成してい
る。そして、図示しない真空ポンプにより、底板中心部
の貫通孔25を介してカバー6内を真空引き出来るよう
に形成しである。また、カバー6の平部に(J石英を嵌
め込んだ光入射窓26を設(〕るとともに、この上にカ
バー6と−・体的に光源7、例えはXeランプ、あるい
はIノーザ光卸を取付IJて、これにより光入射窓26
を介して試料3を瞬間的に照射(7て、これに光エネル
ギを与えるようにしである。
さらに、カバー6は、カバー6および光源7を覆うカバ
ーとともに柱28に取イー]()である。第3図に示す
ように、この柱28には逆′F字形の1M29が形成し
てあり、このW+¥29と基板3oに設(Jた突起部3
1とを係合さ且ることにより、柱28を回転することな
く垂直かつ真直ぐに昇降させ、上限位置でのみ一定角度
範囲内で、 一定高さを保ったままで回転出来るように
なっている。即ち、カバー6と光源7とを−・体的に第
1図に示す状態から、真直ぐに上昇させ、上限位置にて
、一定角度範囲内で、高さを変えることなく回転さ且、
また、その逆に元に戻し得るようになっており、カバー
6を正規の位置に置1)は光源7の位置調整は不要とな
っている。
ーとともに柱28に取イー]()である。第3図に示す
ように、この柱28には逆′F字形の1M29が形成し
てあり、このW+¥29と基板3oに設(Jた突起部3
1とを係合さ且ることにより、柱28を回転することな
く垂直かつ真直ぐに昇降させ、上限位置でのみ一定角度
範囲内で、 一定高さを保ったままで回転出来るように
なっている。即ち、カバー6と光源7とを−・体的に第
1図に示す状態から、真直ぐに上昇させ、上限位置にて
、一定角度範囲内で、高さを変えることなく回転さ且、
また、その逆に元に戻し得るようになっており、カバー
6を正規の位置に置1)は光源7の位置調整は不要とな
っている。
なお、加熱手段2、および第1.第2熱電刻4゜5はリ
ード線およびカバー6内を気密に保つ貫通電極32を介
してカバー6の外部と電気的に接続されている。
ード線およびカバー6内を気密に保つ貫通電極32を介
してカバー6の外部と電気的に接続されている。
次に、」−記構成からなる装置の取扱い手順について説
明する。
明する。
まず、第1図に示す状態で試料3が載置され、測定が完
了すると、加熱手段2の電源を切り、カバー6内を大気
圧にした後、カバー6および光源7を上昇させて、上限
位置にて水平回転させて、加熱手段2の北方から退避さ
せる。この場合、水平回転させた位置で、外力な(7て
カバー6および光源7はi//# 29の下部の水平部
分により支持される。
了すると、加熱手段2の電源を切り、カバー6内を大気
圧にした後、カバー6および光源7を上昇させて、上限
位置にて水平回転させて、加熱手段2の北方から退避さ
せる。この場合、水平回転させた位置で、外力な(7て
カバー6および光源7はi//# 29の下部の水平部
分により支持される。
さらに、1記同様に加熱手段2を上y1′さ且て、)、
限イア装置にて水<IZ回転させて試料3の周囲から退
避さ且る1、この場合も、上記同様に水平回転さ且た位
置にて、外力なしで加熱手段2は外筒20の−)一端面
により支楯される。
限イア装置にて水<IZ回転させて試料3の周囲から退
避さ且る1、この場合も、上記同様に水平回転さ且た位
置にて、外力なしで加熱手段2は外筒20の−)一端面
により支楯される。
また、このように加熱手段2は一定の軌跡に沿って一定
の範囲内で重力だ(Jて、丁で持」−げたり、戻したり
する場合のような無秩序な動きをしないノーめ、試14
4載置)1り1との間の隙間か小さくてら、移動時に両
者がぶつかり合い破損することはない。
の範囲内で重力だ(Jて、丁で持」−げたり、戻したり
する場合のような無秩序な動きをしないノーめ、試14
4載置)1り1との間の隙間か小さくてら、移動時に両
者がぶつかり合い破損することはない。
このため、この隙間を小ざくして試]13に刻する加熱
効果を高めるようにしである。
効果を高めるようにしである。
さらに、加熱手段2は一定の範囲内で動くだ()である
のでり−1・線34を若干余裕を乙って取イマ1(Jる
だ(Jで、加熱手段2の移動時に、その都度その取イマ
1けねじを緩めてリード線34を取外す必要もなくなっ
ている。
のでり−1・線34を若干余裕を乙って取イマ1(Jる
だ(Jで、加熱手段2の移動時に、その都度その取イマ
1けねじを緩めてリード線34を取外す必要もなくなっ
ている。
ついで、試料載置部Iの試113を取替え′ζ、上記と
は逆の順序で加熱手段2等を元に戻し、第1図に示す状
態にする4゜ (発明の効果) 以上の説明より明らかなように、本発明によれば、カバ
ーと光源とを一体化して形成しである1゜このため、試
料取替えの際、カバーを正規の位置に置くだ(Jで、光
源の位置を調整する必要がi、7く、迅速に行うことが
出来るだ1)でなく、光源の位置のばらつきもなくなり
測定精度も向−1−させろことが出来る。
は逆の順序で加熱手段2等を元に戻し、第1図に示す状
態にする4゜ (発明の効果) 以上の説明より明らかなように、本発明によれば、カバ
ーと光源とを一体化して形成しである1゜このため、試
料取替えの際、カバーを正規の位置に置くだ(Jで、光
源の位置を調整する必要がi、7く、迅速に行うことが
出来るだ1)でなく、光源の位置のばらつきもなくなり
測定精度も向−1−させろことが出来る。
また、カバーと光源との間の移動がないため、試1′1
取替えの際の両者のぶつかり合いを心配する必要もなく
、両者を近接させて設(Jることか出来、この結果光源
からの光かカバー外に逃げるのを少なくするとと6に、
試オ′−1を照射する先の強さを増すことが出来、この
点からも測定精度の向上に寄与し得るという効果を奏4
゛ろ。
取替えの際の両者のぶつかり合いを心配する必要もなく
、両者を近接させて設(Jることか出来、この結果光源
からの光かカバー外に逃げるのを少なくするとと6に、
試オ′−1を照射する先の強さを増すことが出来、この
点からも測定精度の向上に寄与し得るという効果を奏4
゛ろ。
第1図は本発明に係る熱定数測定装置の断面図、第2図
は加熱手段の文盲構造を示す一部破断斜視図、第3図(
Jカバーの支持構造を示ず一部破断斜視図である。 1・・・試料載置部、2・・加熱手段、3・・試料、4
−・第1熱電対、5 第2熱電対、6 カバー、7光源
、26・光入射窓。 特許出願人 三鬼エンヂニアリング株式会社代 理 人
弁理士 前出 葆 はが2名第3図 第2図
は加熱手段の文盲構造を示す一部破断斜視図、第3図(
Jカバーの支持構造を示ず一部破断斜視図である。 1・・・試料載置部、2・・加熱手段、3・・試料、4
−・第1熱電対、5 第2熱電対、6 カバー、7光源
、26・光入射窓。 特許出願人 三鬼エンヂニアリング株式会社代 理 人
弁理士 前出 葆 はが2名第3図 第2図
Claims (1)
- (1)試料載置部と、この試料載置部の周囲を取囲む加
熱手段と、試料載置部上の試料の温度を検出する第1温
度検出手段と、この試料の周囲の雰囲気温度を検出する
第2温度検出手段と、上記加熱手段の周囲を覆って、内
部に真空引き可能な密閉空間を形成するとともに、上部
に光入射窓を有するカバーと、このカバーの上方から上
記光入射窓を介して上記試料を照射してこれに熱エネル
ギを与える光源とを備えた熱定数測定装置において、上
記カバーと光源とを一体化したことを特徴とする熱定数
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32195787A JPH01161141A (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | 熱定数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32195787A JPH01161141A (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | 熱定数測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01161141A true JPH01161141A (ja) | 1989-06-23 |
Family
ID=18138314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32195787A Pending JPH01161141A (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | 熱定数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01161141A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0334900A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Pentel Kk | 装飾体および装飾体の製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5831543A (ja) * | 1981-08-19 | 1983-02-24 | Nec Home Electronics Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| JPS60250239A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-10 | Bridgestone Corp | 熱分析装置 |
| JPS6245157U (ja) * | 1985-09-10 | 1987-03-18 |
-
1987
- 1987-12-16 JP JP32195787A patent/JPH01161141A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5831543A (ja) * | 1981-08-19 | 1983-02-24 | Nec Home Electronics Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| JPS60250239A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-10 | Bridgestone Corp | 熱分析装置 |
| JPS6245157U (ja) * | 1985-09-10 | 1987-03-18 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0334900A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-14 | Pentel Kk | 装飾体および装飾体の製造方法 |
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